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電子發(fā)燒友網(wǎng)>模擬技術(shù)>AlN/AIGaN/GaN MIS-HEMT器件制作

AlN/AIGaN/GaN MIS-HEMT器件制作

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氮化鎵器件介紹與仿真

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貿(mào)澤備貨GaN Systems的新款GS-EVB-AUD-xx1-GS 音頻評(píng)估板

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Teledyne e2v HiRel新增兩款大功率GaN HEMT

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GaN HEMT在電機(jī)設(shè)計(jì)中有以下優(yōu)點(diǎn)

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書籍:《炬豐科技-半導(dǎo)體工藝》文章:GaN 半導(dǎo)體材料與器件手冊(cè)編號(hào):JFSJ-21-059III族氮化物半導(dǎo)體的光學(xué)特性介紹III 族氮化物材料的光學(xué)特性顯然與光電應(yīng)用直接相關(guān),但測(cè)量光學(xué)特性
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《漲知識(shí)啦21》之增強(qiáng)型 HEMT器件的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)

GaN 基高電子遷移率場(chǎng)效應(yīng)管(HEMT)在高頻大功率器件方面具有突出的優(yōu)勢(shì),并在其應(yīng)用領(lǐng)域已取得重要進(jìn)展,但GaNHEMT器件大功率應(yīng)用的最大挑戰(zhàn)是其normally-on特性。對(duì)于傳統(tǒng)
2020-09-21 09:53:013557

GaN HEMT增強(qiáng)型器件技術(shù)路線及關(guān)鍵科學(xué)問題

在實(shí)際應(yīng)用中,為實(shí)現(xiàn)失效安全的增強(qiáng)模式(E-mode)操作,科研人員廣泛研究了基于凹槽柵結(jié)構(gòu)的MIS柵、p-GaN regrowth柵增強(qiáng)型GaN HEMT器件。在實(shí)際的器件制備過程中,精確控制柵極凹槽刻蝕深度、減小凹槽界面態(tài)密度直接影響器件閾值電壓均勻性
2020-10-09 14:18:508850

GaN HEMT氮化鎵晶體管的應(yīng)用優(yōu)勢(shì)

IR-HiRel氮化鎵(GaN)比硅具有根本的優(yōu)勢(shì)。特別是高臨界電場(chǎng)使得GaN-HEMTs成為功率半導(dǎo)體器件的研究熱點(diǎn)。與硅MOSFET相比,GaN-HEMTs具有優(yōu)異的動(dòng)態(tài)導(dǎo)通電阻和較小的電容
2021-08-27 11:40:032516

納微專家談:氮化鎵GaN HEMT有體二極管嗎?

工程師于是感到非常困惑,GaN HEMT可以反向?qū)?,那到底有還是沒有體二極管?
2021-03-15 09:41:078331

英飛凌和松下攜手加速650V GaN功率器件GaN技術(shù)開發(fā)

 對(duì)于許多設(shè)計(jì)來說,氮化鎵(GaN)比硅具有根本的優(yōu)勢(shì)。與硅MOSFET相比,氮化鎵HEMT具有出色的特定動(dòng)態(tài)導(dǎo)通電阻和更小的電容,因此更適于做高速開關(guān)。
2021-09-08 18:03:541518

關(guān)于AlNGaN的刻蝕對(duì)比研究—江蘇華林科納半導(dǎo)體

引言 AlN、GaN及其合金因其寬帶隙和獨(dú)特的性能被廣泛應(yīng)用于光電子領(lǐng)域,例如基于AlGaN的紫外線發(fā)光二極管(UV-LEDs) ,激光二極管(LD),AlGaN/GaN異質(zhì)結(jié)構(gòu)場(chǎng)效應(yīng)晶體管
2022-01-14 11:16:262494

GaN HEMT概述/分類/結(jié)構(gòu)/工作原理

氮化鎵高電子遷移率晶體管GaN HEMT(High Electron Mobility Transistors)作為寬禁帶(WBG)功率半導(dǎo)體器件的代表,器件在高頻功率應(yīng)用方面有巨大的潛力。GaN材料相比于 Si 和SiC 具有更高的電子遷移率、飽和電子速度和擊穿電場(chǎng),如圖1所示。
2022-02-10 15:27:4318442

用于低溫應(yīng)用的GaN器件

作者研究了四個(gè)商用 GaN 器件在 400 K 和 4.2 K 之間的寬溫度范圍內(nèi)的性能。據(jù)作者介紹,正如原始文章中所報(bào)道的,所有測(cè)試的器件都可以在低溫下成功運(yùn)行,性能整體有所提高。然而,不同的 GaN HEMT 技術(shù)意味著器件柵極控制的顯著變化。
2022-07-25 09:20:28933

下一代GaN功率IC可以共同集成肖特基二極管和耗盡型HEMT

納米電子和數(shù)字技術(shù)研究與創(chuàng)新中心 Imec 在 2021 年國際電子器件會(huì)議(IEEE IEDM 2021)上展示了其最新研究成果。通過在基于 p 型氮化鎵 (GaNHEMT 的 200-V
2022-07-26 08:02:43837

肖特基二極管和耗盡型 HEMT 與200-V GaN IC的單片集成

Imec 展示了高性能肖特基勢(shì)壘二極管和耗盡型 (d-mode) 高電子遷移率晶體管 (HEMT) 在基于 p 型氮化鎵 (GaNHEMT 的 200-V GaN- 上的成功共集成。在 200 毫米基板上開發(fā)的 on-SOI 智能功率集成電路 (IC) 平臺(tái)。
2022-07-29 15:34:03837

新的GaN技術(shù)簡(jiǎn)化了驅(qū)動(dòng)基于GaNHEMT

雖然乍一看似乎比較簡(jiǎn)單,但這些器件的柵極驅(qū)動(dòng)器電路需要仔細(xì)設(shè)計(jì)。首先,通常關(guān)閉的基于 GaNHEMT 需要負(fù)電壓來將其關(guān)閉并將其保持在關(guān)閉狀態(tài),從而避免意外開啟。
2022-07-29 09:27:171367

增強(qiáng)型GaN HEMT的漏極電流特性?

已經(jīng)為基于 GaN 的高電子遷移率晶體管(HEMT)的增強(qiáng)模式開發(fā)了兩種不同的結(jié)構(gòu)。這兩種模式是金屬-絕緣體-半導(dǎo)體 (MIS) 結(jié)構(gòu),2具有由電壓驅(qū)動(dòng)的低柵極泄漏電流,以及柵極注入晶體管 (GIT
2022-07-29 09:19:44762

用于電動(dòng)機(jī)的GaN器件

。基于氮化鎵 (GaN) 的高電子遷移率晶體管 (HEMT) 器件具有卓越的電氣特性,是高壓和高開關(guān)頻率電機(jī)控制應(yīng)用中 MOSFET 和 IGBT 的有效替代品。我們?cè)谶@里的討論集中在 GaN HEMT 晶體管在高功率密度電動(dòng)機(jī)應(yīng)用的功率和逆變器級(jí)中提供的優(yōu)勢(shì)。
2022-08-08 09:15:48816

分析毫米波GaN器件熱電效應(yīng)

針對(duì)熱效應(yīng)機(jī)理和熱電模型,我們將著重考慮熱導(dǎo)率和飽和速率隨晶格溫度的變化。由于熱電效應(yīng)最直接的外部反映是就是直流I-V特性,因此這里主要模擬GaN HEMT器件的直流特性曲線。通過編寫 Silvaco程序來模擬 GaN HEMT器件的特性曲線,再與實(shí)驗(yàn)曲線作對(duì)比,獲得準(zhǔn)確的模型參數(shù)。
2022-09-08 10:44:051571

高功率GaN HEMT的可靠性設(shè)計(jì)

,達(dá) 2,000 cm2/V·s 的 1.3 倍電子遷移率,這意味著與 RDS(ON) 和擊穿電壓相同的硅基器件相比,GaN RF 高電子遷移率晶體管(HEMT)的尺寸要小得多。因此,GaN RF HEMT 的應(yīng)用超出了蜂窩基站和國防雷達(dá)范疇,在所有 RF 細(xì)分市場(chǎng)中獲得應(yīng)用。
2022-09-19 09:33:211670

GaN HEMT基本概述、分類及工作原理

氮化鎵高電子遷移率晶體管GaN HEMT(High Electron Mobility Transistors)作為寬禁帶(WBG)功率半導(dǎo)體器件的代表,器件在高頻功率應(yīng)用方面有巨大的潛力。GaN材料相比于 Si 和SiC 具有更高的電子遷移率、飽和電子速度和擊穿電場(chǎng),如圖1所示。
2022-09-27 10:30:173330

CG2H80060D?C波段GaN HEMT管芯CREE

Wolfspeed的CG2H80060D是種氮化鎵(GaN)高電子遷移率晶體管(HEMT)。與硅或砷化鎵相比較,GaN具備優(yōu)異的性能指標(biāo);CG2H80060D包含更高的擊穿場(chǎng)強(qiáng);更高的飽和電子漂移
2022-11-01 09:29:51593

低壓GaN器件,為什么還未被廣泛應(yīng)用

電子發(fā)燒友網(wǎng)報(bào)道(文/梁浩斌)從消費(fèi)電子電源類產(chǎn)品開始,GaN拉開了巨大市場(chǎng)發(fā)展空間的序幕,并逐漸往數(shù)據(jù)中心、汽車OBC甚至主驅(qū)逆變器等領(lǐng)域滲透。主流應(yīng)用的650V GaN HEMT在充電頭、以及
2022-12-13 07:10:04656

GaN HEMT 模型初階入門:非線性模型如何幫助進(jìn)行 GaN PA 設(shè)計(jì)?(第一部分,共兩部分)

GaN HEMT 模型初階入門:非線性模型如何幫助進(jìn)行 GaN PA 設(shè)計(jì)?(第一部分,共兩部分)
2022-12-26 10:16:25805

GaN功率HEMT設(shè)計(jì)+GaN寬帶功率放大器設(shè)計(jì)

GaN功率HEMT設(shè)計(jì)+GaN寬帶功率放大器設(shè)計(jì)
2023-01-30 14:17:44556

氮化鎵E-HEMT器件在反激快充應(yīng)用中的測(cè)試對(duì)比

隨著GaN器件在一線品牌(小米、OPPO、華為、VIVO、聯(lián)想等)大功率適配器等應(yīng)用場(chǎng)景的優(yōu)勢(shì)展示和產(chǎn)品推出,推動(dòng)了GaN器件在更廣泛的電源領(lǐng)域的使用,使GaN器件的成本價(jià)格與市面主流的Si器件相當(dāng)
2023-02-02 17:20:25836

用熱反射測(cè)溫技術(shù)測(cè)量GaN HEMT的瞬態(tài)溫度

第三代半導(dǎo)體器件CaN高電子遷移率晶體管(HEMT)具備較高的功率密度,同時(shí)具有較強(qiáng)的自熱效應(yīng),在大功率工作條件下會(huì)產(chǎn)生較高的結(jié)溫。根據(jù)半導(dǎo)體器件可靠性理論,器件的工作溫度、性能及可靠性有著極為密切的聯(lián)系,因此準(zhǔn)確檢測(cè)GaN HEMT的溫度就顯得極為重要。
2023-02-13 09:27:521084

絕緣柵HEMT器件界面固定電荷分析

的平帶電壓解析模型,然后考慮柵絕緣層和勢(shì)壘層界面電荷對(duì)兩個(gè)模型進(jìn)行對(duì)比,提取出了MIS-HEMT和MOS-HEMT兩種器件的有效界面電荷密度。
2023-02-13 09:33:581173

Al2O3/AIN/AIGaN/GaN MIS-HEMT器件結(jié)構(gòu)與特性

通過AlN柵介質(zhì)層MIS-HEMT和Al2O3柵介質(zhì)層MOS-HEMT器件對(duì)比研究發(fā)現(xiàn),PEALD沉積AlN柵絕緣層可以大幅改善絕緣柵器件的界面和溝道輸運(yùn)特性;但是由于材料屬性和生長(zhǎng)工藝的局限性
2023-02-14 09:16:411278

AIN/AIGaN/GaN MIS異質(zhì)結(jié)構(gòu)C-V分析

C-V測(cè)試是研究絕緣柵HEMT器件性能的重要方法,采用Keithley 4200半導(dǎo)體表征系統(tǒng)的CVU模塊測(cè)量了肖特基柵和絕緣柵異質(zhì)結(jié)構(gòu)的C-V特性。
2023-02-14 09:17:15943

AIN/AIGaN/GaN MIS-HEMT器件直流特性

關(guān)態(tài)漏電是制約HEMT器件性能提升的重要因素之一,采用絕緣柵HEMT器件結(jié)構(gòu)可以有效減小器件關(guān)態(tài)漏電。圖1給出了S-HEMT、MIS-HEMT、MOS-HEMT三種器件結(jié)構(gòu)的關(guān)態(tài)柵漏電曲線,漏極電壓Vd設(shè)定在0V,反向柵極電壓從0V掃描至-10V,正向柵電壓掃描至5V。
2023-02-14 09:18:541887

AlN鈍化器件電流崩塌分析

本研究采用PEALD沉積AlN材料作柵絕緣層的同時(shí),利用其作為器件表面鈍化層材料,本節(jié)即采用脈沖測(cè)試方法研究了PEALD沉積AlN鈍化器件的電流崩塌特性,并將其與常規(guī)的PECVD沉積SiN鈍化層材料進(jìn)行了對(duì)比分析。
2023-02-14 09:31:49667

一款GaN HEMT內(nèi)匹配功率放大器設(shè)計(jì)過程詳解

一款GaN HEMT內(nèi)匹配功率放大器設(shè)計(jì)過程詳解 張書源,鐘世昌 發(fā)表于 2020-01-22 16:55:00 模擬技術(shù) +關(guān)注 0 引言 近年來,寬禁帶材料與微波功率器件發(fā)展非常迅猛。GaN材料
2023-02-17 09:52:430

GaN HEMT外延材料表征技術(shù)研究進(jìn)展

氮化鎵 ( GaN) 作為第三代半導(dǎo)體材料的典型代表,具有高擊穿電場(chǎng)強(qiáng)度和高熱導(dǎo)率 等優(yōu)異的物理特性,是制作高頻微波器件和大功率電力電子器件的理想材料。GaN 外延材料的 質(zhì)量決定了高電子遷移率
2023-02-20 11:47:22876

絕緣柵GaN基平面功率開關(guān)器件技術(shù)

GaN基功率開關(guān)器件能實(shí)現(xiàn)優(yōu)異的電能轉(zhuǎn)換效率和工作頻率,得益于平面型AlGaN/GaN異質(zhì)結(jié)構(gòu)中高濃度、高遷移率的二維電子氣(2DEG)。圖1示出絕緣柵GaN基平面功率開關(guān)的核心器件增強(qiáng)型AlGaN/GaN MIS/MOS-HEMT的基本結(jié)構(gòu)。
2023-04-29 16:50:00793

ROHM具有業(yè)界高性能的650V耐壓GaN HEMT

全球知名半導(dǎo)體制造商ROHM(以下簡(jiǎn)稱“ROHM”)將650V耐壓的GaN(Gallium Nitride:氮化鎵)HEMT*1“GNP1070TC-Z”、“GNP1150TCA-Z”投入量產(chǎn)
2023-05-18 16:34:23465

GaN HEMT大信號(hào)模型

GaN HEMT 為功率放大器設(shè)計(jì)者提供了對(duì) LDMOS、GaAs 和 SiC 技術(shù)的許多改進(jìn)。更有利的特性包括高電壓操作、高擊穿電壓、功率密度高達(dá) 8W/mm、fT 高達(dá) 25 GHz 和低靜態(tài)
2023-05-24 09:40:011375

GaN HEMT工藝全流程

GaN HEMT(高電子遷移率晶體管:High Electron Mobility Transistor)是新一代功率半導(dǎo)體,具有低工作電阻和高抗損性,有望應(yīng)用于大功率和高頻電子設(shè)備。
2023-05-25 15:14:061222

GaN單晶襯底顯著改善HEMT器件電流崩塌效應(yīng)

襯底材料和GaN之間純?cè)谳^大的晶格失配和熱失配,外延層中往往存在大量的缺陷,使得HEMT器件中存在較強(qiáng)電流崩塌效應(yīng),影響器件的性能發(fā)揮。
2023-06-14 14:00:551654

實(shí)測(cè)干貨分享!1200V GaN HEMT功率器件動(dòng)態(tài)特性測(cè)試

點(diǎn)擊上方 “泰克科技” 關(guān)注我們! (本文轉(zhuǎn)載自公眾號(hào): 功率器件顯微鏡 ,分享給大家交流學(xué)習(xí)) GaN HEMT功率器件實(shí)測(cè)及其測(cè)試注意事項(xiàng)。氮化鎵器件是第三代半導(dǎo)體中的典型代表,具有極快的開關(guān)
2023-07-17 18:45:02711

基于AIGaN/GaN型結(jié)構(gòu)的氣敏傳感器對(duì)于CO的傳感性

摘要:研究了基于AlGaN/GaN型結(jié)構(gòu)的氣敏傳感器對(duì)于CO的傳感性.制備出AlGaN/GaN型氣敏傳感器器件,并測(cè)試得到了器件在50℃時(shí)對(duì)于不同濃度(1%,9000,8000,5000
2023-09-01 16:22:490

CGD 的 ICeGaN HEMT 榮獲臺(tái)積電歐洲創(chuàng)新區(qū)“最佳演示”

英國劍橋 - Cambridge GaN Devices (CGD) 是一家無晶圓廠環(huán)保科技半導(dǎo)體公司,開發(fā)了一系列高能效 GaN 功率器件,致力于打造更環(huán)保的電子器件。CGD 今日宣布
2023-10-10 17:12:15201

AlGaN/GaN結(jié)構(gòu)的氧基數(shù)字蝕刻

寬帶隙GaN基高電子遷移率晶體管(HEMTs)和場(chǎng)效應(yīng)晶體管(fet)能夠提供比傳統(tǒng)Si基高功率器件更高的擊穿電壓和電子遷移率。常關(guān)GaN非常需要HEMT來降低功率并簡(jiǎn)化電路和系統(tǒng)架構(gòu),這是GaN HEMT技術(shù)的主要挑戰(zhàn)之一。凹進(jìn)的AlGaN/GaN結(jié)構(gòu)是實(shí)現(xiàn)常關(guān)操作的有用選擇之一。
2023-10-10 16:21:11293

GaN相關(guān)產(chǎn)品:助力應(yīng)用產(chǎn)品進(jìn)一步節(jié)能和小型化

一般而言,GaN器件具有優(yōu)異的低導(dǎo)通電阻和高速開關(guān)性能,因而作為有助于降低各種電源的功耗和實(shí)現(xiàn)外圍元器件小型化的器件被寄予厚望。然而,器件的使用面臨著柵極耐壓、控制IC(負(fù)責(zé)GaN器件的驅(qū)動(dòng)控制
2023-10-25 15:45:02236

GaN HEMT器件結(jié)構(gòu)解析

了很多關(guān)注,由寬禁帶半導(dǎo)體所制備的功率器件可作為具有低導(dǎo)通電阻的高壓開關(guān),可以取代硅功率器件。此外,寬禁帶異質(zhì)結(jié)場(chǎng)效應(yīng)晶體管具有較高的載流子密度和二維電子氣通道,以及較大的臨界電場(chǎng)強(qiáng)度等物理特性,其中的氮化鎵 (Gallium Nitride, GaN)已被認(rèn)為可制備極佳的功率開關(guān)。
2023-11-09 11:26:43439

GaN HEMT為什么不能做成低壓器件

GaN HEMT為什么不能做成低壓器件? GaN HEMT(氮化鎵高電子遷移率晶體管)是一種迅速嶄露頭角的高頻功率器件,具有很高的電子遷移率、大的電子飽和漂移速度、高的飽和電子流動(dòng)速度以及較低的電阻
2023-12-07 17:27:20337

安世半導(dǎo)體宣布推出新款GaN FET器件

基礎(chǔ)半導(dǎo)體器件領(lǐng)域的高產(chǎn)能生產(chǎn)專家 Nexperia(安世半導(dǎo)體)近日宣布推出新款 GaN FET 器件,該器件采用新一代高壓 GaN HEMT 技術(shù)和專有銅夾片 CCPAK 表面貼裝封裝,為工業(yè)和可再生能源應(yīng)用的設(shè)計(jì)人員提供更多選擇。
2023-12-13 10:38:17312

微波GaN HEMT 技術(shù)面臨的挑戰(zhàn)

報(bào)告內(nèi)容包含: 微帶WBG MMIC工藝 GaN HEMT 結(jié)構(gòu)的生長(zhǎng) GaN HEMT 技術(shù)面臨的挑戰(zhàn)
2023-12-14 11:06:58178

氮化鎵功率器件結(jié)構(gòu)和原理

氮化鎵功率器件是一種新型的高頻高功率微波器件,具有廣闊的應(yīng)用前景。本文將詳細(xì)介紹氮化鎵功率器件的結(jié)構(gòu)和原理。 一、氮化鎵功率器件結(jié)構(gòu) 氮化鎵功率器件的主要結(jié)構(gòu)是GaN HEMT(氮化鎵高電子遷移率
2024-01-09 18:06:41667

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