二極管開關(guān)速度對(duì)雙脈沖測(cè)試條件下IGBT開關(guān)特性的影響

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二極管開關(guān)速度對(duì)雙脈沖測(cè)試條件下IGBT開關(guān)特性的影響

測(cè)試電路：

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IGBT開通和關(guān)斷過程描述：

圖1 IGBT開通過程波形

開通過程簡(jiǎn)述：

a)階段1(0—t1)：在此階段，柵極電流開始對(duì)柵電容CGE充電，但是VGE

b)階段2(tl—t2)：在t1時(shí)刻，VGE>Vth，溝道開啟，電子開始通過溝道注入到基區(qū)，同時(shí)背面的集電極開始向基區(qū)內(nèi)注入空穴，集電極開始產(chǎn)生電流IC，此時(shí)IC

c)階段3(t2—t3)：在t2時(shí)刻，IC=IL，流過續(xù)流二極管的電流降低至0，二極管內(nèi)部載流子開始復(fù)合。

d)階段4(t3—t4)：續(xù)流二極管內(nèi)部載流子已經(jīng)完成復(fù)合，續(xù)流二極管兩端電壓開始上升，這導(dǎo)致IGBT兩端的電壓下降和柵極集電極電容CGC放電。此時(shí)IGBT電流Ic形成過沖，過沖的大小與CGC大小有密切關(guān)系，CGC越大，IC過沖越大。

e)階段5(t4—t5)：在t4時(shí)刻，VGE將調(diào)整以適應(yīng)IC的過沖，在t5時(shí)刻，二極管反向恢復(fù)完成，VGE將會(huì)略微下降，使IGBT可以承受負(fù)載電流IL。在此階段，柵極發(fā)射極電壓VGE保持恒定，柵極電流流入至柵極集電極電容CGC，集電極發(fā)射極兩端電壓隨著CGC放電而下降。

f)階段6(t6—t7)：在t6時(shí)刻，VCE下降到使IGBT進(jìn)入飽和狀態(tài)，柵極反射極電壓增加以維持IL，當(dāng)VCE衰減穩(wěn)定后，穩(wěn)定值即為飽和導(dǎo)通壓降VCE(sat)，到此開通過程完全結(jié)束。

圖2 IGBT關(guān)斷過程波形

關(guān)斷過程簡(jiǎn)述：

a)階段1(0—t1)，在t=0時(shí)刻，開關(guān)S動(dòng)作，lGBT開始關(guān)斷，柵極通過RG開始放電，VGE下降。這導(dǎo)致通過溝道注入到基區(qū)的電子數(shù)量變少，但是由于感性負(fù)載的存在，通過抽取N基區(qū)中多余的電子和空穴來(lái)抑制IC的減小。

b)階段2(tl—t3)在t1時(shí)刻，基區(qū)內(nèi)剩余電荷降為0，耗盡區(qū)開始形成。在VCE較小時(shí)，柵壓維持在VGP(VGP的大小與柵極電阻RG成正比)，當(dāng)VCE超過一定限度時(shí)，柵壓開始下降。

c)階段3(t3—t6)在t3時(shí)刻，VCE達(dá)到電路外加電壓VDC，耗盡區(qū)不再展寬，此時(shí)集電極電路IC迅速下降，由于IC的下降在負(fù)載電感上感生一個(gè)負(fù)電壓，此時(shí)VCE過沖到最大值，感生電壓使續(xù)流回路導(dǎo)通，負(fù)載電流轉(zhuǎn)移到續(xù)流回路。IGBT關(guān)斷完成。

在IGBT開關(guān)過程中通常用開通延遲td(on)、關(guān)斷延遲td(off)、上升時(shí)間tr和下降時(shí)間tf來(lái)進(jìn)行描述。圖5是IGBT整個(gè)開關(guān)過程的波形。

圖3 IGBT整個(gè)開關(guān)過程波形