ATE（Automatic Test Equipment）測(cè)試機(jī)在半導(dǎo)體領(lǐng)域是指檢驗(yàn)IC（集成電路）功能完整性的設(shè)備，隨著工藝制程逐漸精進(jìn)，單位芯片面積內(nèi)容納的晶體管數(shù)量也與日俱增，芯片復(fù)雜度
2022-01-21 09:10:16
5313 ATE(Auto Test Equipment) 在測(cè)試工廠完成. 大致是給芯片的輸入管道施加所需的激勵(lì)信號(hào)，同時(shí)監(jiān)測(cè)芯片的輸出管腳，看其輸出信號(hào)是否是預(yù)期的值。有特定的測(cè)試平臺(tái)。
2023-11-01 15:32:521467 
本文以ATE為基礎(chǔ)，討論了 集成電路測(cè)試的基本原理和測(cè)試方法，并進(jìn)行了故 障分析.
2023-11-01 15:39:48844 
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 (ATE)對(duì)PLL（鎖相環(huán)）進(jìn)行測(cè)試時(shí)，我們首先要明白PLL在系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）中的重要性。
2023-11-01 15:43:10683 
3、開關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)（電源測(cè)試ATE）TopFer 6800 4、LED電源綜合測(cè)試系統(tǒng)TopFer 6900 5、電源測(cè)試系統(tǒng)（電源測(cè)試ATE）TopSmart 1100 深圳源儀電子
2013-07-09 09:49:42
最近剛學(xué)習(xí)dsp，這是一個(gè)電源芯片，但對(duì)這個(gè)功能圖分析的不是很透徹，求大神幫忙解釋下！??！
2013-11-07 00:05:19
FT測(cè)試，英文全稱Final Test，是芯片出廠前的最后一道攔截。測(cè)試對(duì)象是針對(duì)封裝好的chip，對(duì)封裝好了的每一個(gè)chip進(jìn)行測(cè)試，是為了把壞的chip挑出來，檢驗(yàn)的是封裝的良率。
FT測(cè)試
2023-08-01 15:34:26
芯片IC可靠性測(cè)試、靜電測(cè)試、失效分析芯片可靠性驗(yàn)證 ( RA)芯片級(jí)預(yù)處理(PC) & MSL試驗(yàn) 、J-STD-020 & JESD22-A113 ；高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)(HTSL
2020-04-26 17:03:32
主要分三大類：芯片功能測(cè)試、性能測(cè)試、可靠性測(cè)試，芯片產(chǎn)品要上市三大測(cè)試缺一不可。功能測(cè)試看芯片對(duì)不對(duì) 是測(cè)試芯片的參數(shù)、指標(biāo)、功能性能測(cè)試看芯片好不好 由于芯片在生產(chǎn)制造過程中，有無數(shù)可能的引入
2021-01-29 16:13:22
，如示波器，電源等，同時(shí)探針臺(tái)提供樣品細(xì)節(jié)可視化功能，協(xié)助芯片設(shè)計(jì)人員對(duì)失效芯片進(jìn)行分析在顯微鏡的輔助下，使用探針接觸芯片管腳，給芯片加電，觀察芯片加電后的功耗表現(xiàn)。芯片失效分析探針臺(tái)測(cè)試probe
2020-10-16 16:05:57
%的成本能代表的。芯片需要做哪些測(cè)試呢？主要分三大類：芯片功能測(cè)試、性能測(cè)試、可靠性測(cè)試，芯片產(chǎn)品要上市三大測(cè)試缺一不可。功能測(cè)試看芯片對(duì)不對(duì)性能測(cè)試看芯片好不好可靠性測(cè)試看芯片牢不牢功能測(cè)試，是測(cè)試芯片
2020-09-02 18:07:06
)，特性分析（characterization), 量產(chǎn)準(zhǔn)備的經(jīng)驗(yàn)。最好能夠懂ATE測(cè)試。 如果對(duì)于以上工作經(jīng)驗(yàn)比較豐富，對(duì)ATE測(cè)試比較精通的，可以給到MTS（STAFF）的級(jí)別，工資可以開的較高
2015-03-10 08:51:22
DDR-1500高性能測(cè)試測(cè)量采集分析系統(tǒng)的解決方案和產(chǎn)品特點(diǎn)有哪些?
2021-04-09 06:43:50
網(wǎng)絡(luò)測(cè)試 NetWork 分析儀
2024-03-14 22:30:52
現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 電源質(zhì)量和能量分析儀
2024-03-14 22:33:48
軟件。1. 分析基站天線的和公司其他產(chǎn)品線的測(cè)試需求，并制定自動(dòng)化測(cè)試方案；2. 結(jié)合自動(dòng)化測(cè)試方案，設(shè)計(jì)和開發(fā)無線測(cè)試工具平臺(tái)；3. 提供產(chǎn)線的測(cè)試和校準(zhǔn)解決方案，培訓(xùn)和指導(dǎo)自動(dòng)化測(cè)試人員；4. 部署測(cè)試
2014-09-19 23:01:02
，需要通信領(lǐng)域ATE自動(dòng)化測(cè)試開發(fā)的高級(jí)人才加入，愿意到上海/昆山來工作嗎？高級(jí)ATE測(cè)試開發(fā)工程師崗位職責(zé)：負(fù)責(zé)開發(fā)和維護(hù)本部門的自動(dòng)化測(cè)試平臺(tái)和輔助工具軟件。1. 分析基站天線，基站功放，直放站
2014-10-09 23:14:25
本帖最后由 一只耳朵怪 于 2018-5-28 10:25 編輯
萬能的論壇，可以分享一個(gè)ATE labview編寫的測(cè)試程序源代碼嗎？比如測(cè)試簡(jiǎn)單的就好，電源，萬用表啥型號(hào)的都沒有關(guān)系。謝謝
2018-05-27 17:57:35
ATE測(cè)試工程師崗位職責(zé)：1、負(fù)責(zé)IC產(chǎn)品量產(chǎn)測(cè)試的開發(fā)，包括測(cè)試規(guī)范的制定，loadboard設(shè)計(jì)，ATE測(cè)試程序的開發(fā)及調(diào)試；2、負(fù)責(zé)量產(chǎn)測(cè)試的維護(hù)，以及測(cè)試數(shù)據(jù)的整理和分析；3、配合設(shè)計(jì)和市場(chǎng)
2013-08-20 11:57:41
ATE測(cè)試工程師崗位職責(zé)：1、負(fù)責(zé)IC產(chǎn)品量產(chǎn)測(cè)試的開發(fā)，包括測(cè)試規(guī)范的制定，loadboard設(shè)計(jì)，ATE測(cè)試程序的開發(fā)及調(diào)試；2、負(fù)責(zé)量產(chǎn)測(cè)試的維護(hù)，以及測(cè)試數(shù)據(jù)的整理和分析；3、配合設(shè)計(jì)和市場(chǎng)
2013-08-06 11:35:53
求助各位大神如何使用ATE對(duì)CPLD進(jìn)行測(cè)試？？？對(duì)CPLD進(jìn)行測(cè)試的思路與流程是怎樣的？
2013-02-17 16:14:53
矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀對(duì)放大器性能進(jìn)行測(cè)試的方法有哪些？
2019-08-07 06:57:17
隨著設(shè)備尺寸的縮小，工程師正在尋找縮小DCDC電源設(shè)計(jì)解決方案的方法。如何縮小電源芯片設(shè)計(jì)并解決由此產(chǎn)生的熱性能挑戰(zhàn)?
2021-09-29 10:38:37
新區(qū)浦建路優(yōu)優(yōu)國(guó)際廣場(chǎng)產(chǎn)品線：芯片測(cè)試儀器cobham ATE主要用C， C++ ，VC 語言What is the primary objective?Develop testsolution
2016-03-11 18:16:08
目前需要對(duì)一款電源芯片進(jìn)行功能性能測(cè)試，主要從哪方面入手呢？
2016-10-19 18:40:18
高性能 ADC 使 ATE 系統(tǒng)準(zhǔn)確達(dá)到全新水平
2019-07-31 14:22:08
多年來，大量工廠、綜合軍用和航空航天測(cè)試系統(tǒng)都要求高端的自動(dòng)化測(cè)試設(shè)備（ATE）。傳統(tǒng)上，一套完整的ATE 系統(tǒng)需要集成適合的軟件和硬件來搭建—這通常需要幾個(gè)月的時(shí)間來
2009-07-25 10:32:59
36 基于對(duì)IC 測(cè)試接口原理和系統(tǒng)結(jié)構(gòu)的闡釋，具體針對(duì)型號(hào)為SL431L 的電源芯片，提出改進(jìn)測(cè)試電路的方法，電壓測(cè)試值的波動(dòng)范圍小于3mV。關(guān)鍵詞:測(cè)試系統(tǒng)結(jié)構(gòu)，測(cè)試接口，芯片
2009-12-19 15:10:3333 并行測(cè)試技術(shù)已成為一種比較流行的測(cè)試模式,將ATE集成技術(shù)引入并行測(cè)試對(duì)其系統(tǒng)有著很重要的優(yōu)化作用。文章中介紹了并行測(cè)試系統(tǒng)中COTS儀器和開關(guān)選型,開關(guān)網(wǎng)絡(luò)設(shè)計(jì)、PTUA設(shè)計(jì)
2010-07-15 16:28:2517 圖1所示的數(shù)字可編程精密電阻可在定制設(shè)計(jì)的 ATE（自動(dòng)測(cè)試設(shè)備）中用作微處理器驅(qū)動(dòng)的電源負(fù)載。IC1 是一個(gè) 8 位 電流輸出型 DAC，即DAC08型DAC ，它驅(qū)動(dòng)電流-電壓變換器 IC2A，IC2A
2010-07-16 10:00:021244 
6000 ATE系列電源測(cè)試系統(tǒng)測(cè)效率測(cè)到100%
2012-10-10 12:05:47927 本文首先介紹了芯片行業(yè)常用的測(cè)試方法和ATE（ Automatic Test Equipment)測(cè)試的一般原理。根據(jù)ADP2381穩(wěn)壓芯片的系統(tǒng)構(gòu)架和特點(diǎn)給出了該芯片的主要測(cè)試指標(biāo)。結(jié)合ATE測(cè)試
2016-01-04 15:10:4929 8000ate測(cè)試自動(dòng)化步驟與程序設(shè)計(jì)注意點(diǎn)。
2016-08-15 17:35:2534 基于ATE的DSP測(cè)試方法
2017-10-20 08:31:5527 本文首先介紹了ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)發(fā)展線路，其次闡述了ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的作用及原理、特點(diǎn)、優(yōu)勢(shì)，最后介紹了ATE自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)的功能、功能平臺(tái)及使用領(lǐng)域。
2018-05-23 16:47:4031654 EngineerIt-電源性能測(cè)量一 基本測(cè)試概述
2019-04-15 06:09:003280 盡管業(yè)界廣泛采用IJTAG（IEEE 1687）測(cè)試架構(gòu)進(jìn)行芯片級(jí)測(cè)試，但很多公司在芯片級(jí)測(cè)試向量轉(zhuǎn)換，以及自動(dòng)測(cè)試設(shè)備 (ATE) 調(diào)試測(cè)試保留了非常不同的方法。因此，每個(gè)特定芯片必須由 DFT 工程師編寫測(cè)試向量，然后由測(cè)試工程師進(jìn)行轉(zhuǎn)換，以便在每種測(cè)試儀類型上調(diào)試每個(gè)場(chǎng)景。
2019-10-11 15:36:233514 
ATE-8602開關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)適用于AC/DC或DC/DC之電源供應(yīng)器、適配器、電池充電器等開關(guān)電源的特性測(cè)試，量身訂作并優(yōu)化標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試項(xiàng)目，測(cè)試效能佳，符合大量生產(chǎn)測(cè)試要求
2020-04-14 17:16:29632 1、ATE-8603開關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)(DC-DC)開放性軟件架構(gòu)平臺(tái)： -支持含有GPIB/RS-232或RS-485/I C/CAN接口儀器； 測(cè)試項(xiàng)目編輯功能；測(cè)試程序編輯功能；測(cè)試報(bào)告編輯
2020-04-14 17:38:59715 ATE-8601電源適配器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)現(xiàn)有硬件配置適用于AC輸入DC輸出之電源適配器之綜合性能測(cè)試，系統(tǒng)采用PC機(jī)內(nèi)嵌式結(jié)構(gòu)，Windows軟件操作界面，軟件可以按客戶要求定制或功能升級(jí)，軟件
2020-04-12 09:51:04931 1、ATE-8603開關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)(DC-DC)開放性軟件架構(gòu)平臺(tái)： -支持含有GPIB/RS-232或RS-485/I C/CAN接口儀器； 測(cè)試項(xiàng)目編輯功能；測(cè)試程序編輯功能；測(cè)試報(bào)告編輯
2020-04-22 10:31:44955 ATE-8601電源適配器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)現(xiàn)有硬件配置適用于AC輸入DC輸出之電源適配器之綜合性能測(cè)試，系統(tǒng)采用PC機(jī)內(nèi)嵌式結(jié)構(gòu)，Windows軟件操作界面，軟件可以按客戶要求定制或功能升級(jí)，軟件
2020-04-22 09:32:501566 1、ATE-8603開關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)(DC-DC)開放性軟件架構(gòu)平臺(tái)： -支持含有GPIB/RS-232或RS-485/I C/CAN接口儀器； 測(cè)試項(xiàng)目編輯功能；測(cè)試程序編輯功能；測(cè)試報(bào)告編輯
2020-04-28 14:44:37488 1、ATE-8603開關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)(DC-DC)開放性軟件架構(gòu)平臺(tái)： -支持含有GPIB/RS-232或RS-485/I C/CAN接口儀器； 測(cè)試項(xiàng)目編輯功能；測(cè)試程序編輯功能；測(cè)試報(bào)告編輯
2020-05-12 16:33:101080 產(chǎn)品特點(diǎn)：Product features 1、ATE-8603開關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)(DC-DC)開放性軟件架構(gòu)平臺(tái)： -支持含有GPIB/RS-232或RS-485/I C/CAN接口儀器； 測(cè)試
2020-05-15 10:15:58951 1、ATE-8600電源PCBA連板自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)適用于電源供應(yīng)器、適配器、電池充電器等開關(guān)電源的PCBA連板的特性測(cè)試，量身訂作并優(yōu)化標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試項(xiàng)目，測(cè)試效能佳，符合大量生產(chǎn)測(cè)試要求
2020-05-15 10:25:031098 ATE-8602開關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng) 1、開放性軟件架構(gòu)平臺(tái)： -支持含有GPIB/RS-232或RS-485/I C/CAN接口儀器；測(cè)試項(xiàng)目編輯功能；測(cè)試程序編輯功能；測(cè)試報(bào)告編輯功能；統(tǒng)計(jì)分析
2020-05-15 10:55:31501 ATE-8200LED驅(qū)動(dòng)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng) 1、專門使用于LED驅(qū)動(dòng)電源的綜合性能測(cè)試； 2、可支持同時(shí)一次測(cè)多顆待測(cè)物，可支持左右自動(dòng)轉(zhuǎn)換，大幅提升生產(chǎn)線產(chǎn)能； 3、針對(duì)LED驅(qū)動(dòng)電源特性提供
2020-05-18 13:23:44912 ATE核心配置提供了構(gòu)建更智能的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)所需的儀器，機(jī)械，安全和電源基礎(chǔ)架構(gòu)
2020-07-27 16:13:03842 昨天晚上收到了一個(gè)盆友留言，說公司里面采用自動(dòng)化測(cè)試儀器 chroma8000 來對(duì)成品開關(guān)電源進(jìn)行測(cè)試，里面的好多關(guān)于電源的專業(yè)英語術(shù)語根本就看不懂，想請(qǐng)教一下電源的一些專業(yè)術(shù)語。 看了這個(gè)留言
2020-10-29 20:41:47978 Ivan將帶來他近三十年的芯片ATE測(cè)試技術(shù)管理經(jīng)驗(yàn)和先進(jìn)運(yùn)營(yíng)管理方法學(xué)，為摩爾精英測(cè)試服務(wù)業(yè)務(wù)帶來增長(zhǎng)新動(dòng)能。
2020-11-30 17:32:461630 電源資料：電源設(shè)計(jì)過程中器件和材料的測(cè)試和分析資料
2020-12-15 15:18:200 高性能 ADC 使 ATE 系統(tǒng)準(zhǔn)確達(dá)到全新水平
2021-03-21 16:41:048 越小，這是因?yàn)殡娏髅芏却笮?huì)決定芯片的光功率和熱功率大小，同時(shí)溫度也會(huì)影響芯片的發(fā)光效率。那么應(yīng)該如何分析LED芯片的發(fā)光發(fā)熱性能并加以利用？下面我們將通過金鑒顯微光熱分布測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試分析，和大家一起一探究竟。
2021-04-30 09:55:443151 
基于ATE的集成電路測(cè)試原理和方法綜述
2021-06-17 09:34:44115 ATE-8602開關(guān)電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng) 1、開放性軟件架構(gòu)平臺(tái)： 支持含有GPIB/RS-232或RS-485/I C/CAN接口儀器；測(cè)試項(xiàng)目編輯功能；測(cè)試程序編輯功能；測(cè)試報(bào)告編輯功能；統(tǒng)計(jì)分析
2021-12-14 11:56:34644 ATE-8201LED驅(qū)動(dòng)電源連板自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng) 1、專門針對(duì)led驅(qū)動(dòng)電源多連板PCBA特性優(yōu)化的標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試項(xiàng)目，測(cè)試效能佳； 2、特別針對(duì)生產(chǎn)在線測(cè)試使用所需，系統(tǒng)軟件功能操作簡(jiǎn)單； 3、彈性架構(gòu)
2021-12-17 10:17:28950 源儀電子ATE測(cè)試系統(tǒng)是針對(duì)適配器/手機(jī)充電器等小功率低價(jià)值電源產(chǎn)品的生產(chǎn)測(cè)試而設(shè)計(jì)的經(jīng)濟(jì)型自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)，主要由電子負(fù)載，功率表和一臺(tái)變頻電源組成，實(shí)現(xiàn)過流、短路、功率等多機(jī)并行測(cè)試，平均單機(jī)測(cè)試時(shí)間3~5秒，最大滿足產(chǎn)能需求。
2022-05-13 16:51:222926 ATE電源測(cè)試儀的適用范圍： ATE電源測(cè)試儀在電源行業(yè)中扮演了一個(gè)非常重要的角色，它的使用范圍非常廣泛，有著非常大的功能和作用，可以說我們的電源產(chǎn)品已經(jīng)離不開它了。如果沒有了它，各類電源產(chǎn)品的性能
2022-06-09 15:25:45716 電源、通信電源、移動(dòng)電源、手機(jī)充電器、逆變器電源、LED電源、工業(yè)電源等產(chǎn)品進(jìn)行性能質(zhì)量檢測(cè)的儀器設(shè)備，也是研發(fā)、質(zhì)檢、生產(chǎn)等部門檢測(cè)電源性能的測(cè)試設(shè)備。 ATE耐高壓電源自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的特點(diǎn)： 1、節(jié)省人工、降低制造成本、
2022-06-16 14:54:24816 源儀電子ATE電源自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)適用范圍： ATE電源自動(dòng)測(cè)試設(shè)備適用于交流- DC/DC交流(DC同步輸出)/DC-DC電源產(chǎn)品的綜合性能測(cè)試，一般市面上常用的電源測(cè)試基本上都使用。但是用戶選擇
2022-06-27 15:55:361090 
、模擬電網(wǎng)電源、系統(tǒng)控制設(shè)備以及高精度測(cè)量設(shè)備，輔以配置靈活、操作簡(jiǎn)單的自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試逆變器的電氣性能，主要應(yīng)用于光伏逆變器等出廠測(cè)試、研發(fā)測(cè)試、認(rèn)證測(cè)試。 光伏并網(wǎng)逆變器ATE測(cè)試系統(tǒng)的拓?fù)浣Y(jié)構(gòu)如下圖所示： ATE系
2023-01-13 10:09:091208 
，一個(gè)為負(fù)電壓軌供電。這種配置不但笨重，且成本高昂。 DPS一般與自動(dòng)測(cè)試設(shè)備(ATE)和其他測(cè)量設(shè)備搭配使用。ATE是一種電腦控制機(jī)械設(shè)備，自動(dòng)驅(qū)動(dòng)傳統(tǒng)的手動(dòng)電子測(cè)試設(shè)備來評(píng)估功能、質(zhì)量、性能和應(yīng)力測(cè)試。這些ATE需要配套的DPS提供四象限電
2023-03-17 13:20:01369 電源芯片是現(xiàn)代電子產(chǎn)品中不可或缺的關(guān)鍵組件之一，它負(fù)責(zé)將輸入電能轉(zhuǎn)化為穩(wěn)定、可靠的輸出電源供應(yīng)給其他電路。而測(cè)試座則是用于對(duì)電源芯片進(jìn)行性能檢測(cè)和功能驗(yàn)證的工具。
2023-07-03 14:38:30237 鍵盤模組ATE手感測(cè)試機(jī)的功能？|深圳市磐石測(cè)控儀器有限公司
2023-08-28 09:45:35504 
電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《ADATE320單芯片ATE解決方案.pdf》資料免費(fèi)下載
2023-09-08 18:09:081 電源ATE測(cè)試在短路保護(hù)測(cè)試中不僅可以提高測(cè)試效率，而且還提供智能數(shù)據(jù)分析，幫助短路測(cè)試實(shí)現(xiàn)高精準(zhǔn)度，也為企業(yè)降低了測(cè)試成本。
2023-09-11 18:21:19368 
ATE-8601電源適配器自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)系統(tǒng)現(xiàn)有硬件配置適用于AC輸入DC輸出之電源適配器之綜合性能測(cè)試，系統(tǒng)采用PC機(jī)內(nèi)嵌式結(jié)構(gòu)，WINOOWs軟件操作界面，軟件可以按客戶要求定制或功能升級(jí)，軟件
2023-10-07 17:06:41274 電源芯片測(cè)試貫穿著研發(fā)、設(shè)計(jì)、生產(chǎn)過程的始終，目的就是為了通過反復(fù)檢測(cè)來確保電源芯片的性能、質(zhì)量和可靠性，保證正常工作運(yùn)行。電源芯片測(cè)試涉及到許多測(cè)試項(xiàng)目，并且有著具體的測(cè)試規(guī)范標(biāo)準(zhǔn)和方法。本文納米軟件將介紹電源芯片輸入電壓范圍的測(cè)試規(guī)范。
2023-10-19 15:15:41476 
對(duì)于初次使用的buck電源芯片，如何做模塊性能測(cè)試？ Buck電源芯片是一種常見的降壓型升壓轉(zhuǎn)換器芯片，可以將高電壓轉(zhuǎn)換為低電壓，被廣泛應(yīng)用于各種電子設(shè)備中。當(dāng)初次使用Buck電源芯片時(shí)，您必須
2023-10-23 09:40:59458 ATECLOUD-POWER電源測(cè)試系統(tǒng)滿足電源常規(guī)測(cè)試指標(biāo)，用電源測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試電源高壓，不僅可以提升測(cè)試數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性，還可以自動(dòng)分析數(shù)據(jù)，所測(cè)數(shù)據(jù)也可以生成數(shù)據(jù)報(bào)告并導(dǎo)出，方便用戶分析、管理數(shù)據(jù)，提升電源性能，實(shí)現(xiàn)智能化改造。
2023-10-24 16:34:181227 芯片電源電流測(cè)試是為了測(cè)試S.M.P.S.的輸入電流有效值INPUT CURRENT。電流測(cè)試是芯片電源測(cè)試的項(xiàng)目之一，用來檢測(cè)電路或設(shè)備的電流負(fù)載是否正常，保證其正常工作防止過載，評(píng)估芯片電源的電氣特性。
2023-10-25 16:54:54620 
測(cè)試過程是否有誤？制造過程是否存在缺陷？設(shè)計(jì)是否存在偏差？用戶提出的設(shè)計(jì)需求是否存在矛盾？
隨著芯片設(shè)計(jì)的發(fā)展，芯片內(nèi)部的集成度越來越高，芯片測(cè)試也面臨著挑戰(zhàn)：如何加大測(cè)試覆蓋率？如何在有效時(shí)間內(nèi)進(jìn)行測(cè)試并控制測(cè)試成本？
2023-10-27 12:43:052805 
DFT PLL向量，ATE怎么用？ 自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（ATE）對(duì)PLL（鎖相環(huán)）進(jìn)行測(cè)試時(shí)，我們首先要明白PLL在系統(tǒng)級(jí)芯片（SoC）中的重要性。它是SoC中關(guān)鍵的時(shí)鐘或信號(hào)同步部件，其性能直接影響
2023-10-30 11:44:17662 
兩種方法： 時(shí)域和頻域測(cè)試，如下： ?方法1. ATE time measurement unit （ TMU）測(cè)試。（時(shí)域，需要額外的TMU license，因此常不采用。） 實(shí)施步驟：ATE
2023-10-30 11:48:16435 
的儀器，不必受限于單個(gè)ATE廠商的有限產(chǎn)品。是針對(duì)數(shù)字芯片、邏輯芯片、傳感器、MCU單片機(jī)、MEMS、消費(fèi)類電子芯片、電源芯片等芯片測(cè)試的高集成度自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)解決方案。北京漢通達(dá)科技有限公司為聯(lián)合儀器產(chǎn)
2021-12-09 09:24:33117 開關(guān)電源電性能測(cè)試需要做諧波測(cè)試，它是屬于輸入特性方面的測(cè)試。
2023-11-03 14:18:57557 
ate測(cè)試系統(tǒng)是什么？為什么要選擇ate電源測(cè)試系統(tǒng)？ ATE測(cè)試系統(tǒng)是自動(dòng)測(cè)試設(shè)備（Automatic Test Equipment）的縮寫。它是一種用于對(duì)電子、電氣和機(jī)械產(chǎn)品進(jìn)行功能和性能測(cè)試
2023-11-07 10:01:41734 ate測(cè)試系統(tǒng)一般由哪些電源測(cè)試設(shè)備組成？ ATE（Automated Test Equipment）測(cè)試系統(tǒng)一般由以下幾種電源測(cè)試設(shè)備組成： 1. 直流電源（DC Power Supply
2023-11-07 10:01:43538 作為一名測(cè)試工程師，你的工作并不容易。降低成本和提高系統(tǒng)吞吐量的壓力一直存在。本文中，我們將討論影響系統(tǒng)吞吐量的關(guān)鍵因素以及如何降低ATE測(cè)試成本。
2023-11-08 14:59:51370 
芯片電源輸入電流怎么測(cè)試？ 芯片電源輸入電流的測(cè)試是一項(xiàng)關(guān)鍵的工作，它能夠幫助我們了解電源系統(tǒng)的性能和穩(wěn)定性。在本文中，我們將詳細(xì)介紹如何進(jìn)行芯片電源輸入電流測(cè)試，并提供一些實(shí)用的技巧和建議。 首先
2023-11-09 09:42:29726 功能和性能測(cè)試。而在ATE測(cè)試中，有一些關(guān)鍵事項(xiàng)需要注意，以確保測(cè)試的準(zhǔn)確性和可靠性。在本文中，我將詳盡、詳實(shí)、細(xì)致地介紹這些事項(xiàng)。 首先，ATE測(cè)試前需要充分了解被測(cè)試設(shè)備的需求和規(guī)格。這包括了解設(shè)備的功能、性能和質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)。了解這些信息可以幫助測(cè)試人員制
2023-11-09 15:30:41278 如何測(cè)試電源芯片負(fù)載調(diào)整率呢？有哪些測(cè)試規(guī)范呢？ 電源芯片的負(fù)載調(diào)整率是指電源芯片在負(fù)載變化時(shí)，輸出電壓的調(diào)整速度。測(cè)試電源芯片的負(fù)載調(diào)整率是非常重要的，它能夠評(píng)估電源芯片在實(shí)際使用中對(duì)負(fù)載變化
2023-11-09 15:30:46632 效地利用電能。 開關(guān)電源測(cè)試系統(tǒng)ATE（Automatic Test Equipment）是用于測(cè)量和評(píng)估開關(guān)電源性能的測(cè)試設(shè)備。ATE可以根據(jù)開關(guān)電源的規(guī)格和性能要求，通過多種測(cè)試方法來評(píng)估其效率。 在ATE測(cè)試中，通常需要進(jìn)行以下幾個(gè)方面的測(cè)試： 1. 輸入電流測(cè)試：通過
2023-11-10 15:29:15750 過溫保護(hù)測(cè)試是電源模塊保護(hù)功能測(cè)試項(xiàng)目之一，也是電源模塊測(cè)試的重要測(cè)試指標(biāo)，以保證電源模塊過溫保護(hù)功能正常，確保電源模塊不受損壞。用ate測(cè)試軟件測(cè)試電源模塊過溫保護(hù)，不僅可以保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性，還可以多維度分析數(shù)據(jù)，指導(dǎo)電源的設(shè)計(jì)和生產(chǎn)。
2023-11-14 14:56:57453 
電源芯片測(cè)試旨在檢測(cè)電源管理芯片的質(zhì)量和性能，保證其可以長(zhǎng)期穩(wěn)定工作。電源芯片測(cè)試的參數(shù)主要有輸入/輸出電壓、輸出電流、效率、溫度、功耗等。本文將對(duì)電源芯片測(cè)試參數(shù)以及測(cè)試注意事項(xiàng)進(jìn)行介紹。
2023-11-15 15:39:11600 ATE(Automatic Test Equipment)自動(dòng)測(cè)試設(shè)備是用于檢測(cè)電子產(chǎn)品、電氣設(shè)備的自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)，是電測(cè)行業(yè)首選的一種測(cè)試方式，被廣泛應(yīng)用于通信、消費(fèi)電子、汽車電子、智能家居、半導(dǎo)體、電源模塊、醫(yī)療電子、航天航空等領(lǐng)域。
2023-11-16 14:31:24782 
ATE測(cè)試需要根據(jù)測(cè)試目標(biāo)和項(xiàng)目設(shè)計(jì)測(cè)試程序，并且準(zhǔn)備測(cè)試用到的測(cè)試儀器，比如示波器、萬用表、頻譜分析儀等，連接測(cè)試儀器和待測(cè)品，通過ate測(cè)試設(shè)備控制并進(jìn)行測(cè)試，并對(duì)測(cè)試結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析，生成數(shù)據(jù)報(bào)告。
2023-11-24 14:51:28323 
電源管理芯片如今被廣泛應(yīng)用在各種電子設(shè)備中，為電路和設(shè)備提供穩(wěn)定可靠地的電力。電源管理芯片的效率影響著電源芯片的性能以及電子設(shè)備的功耗和續(xù)航能力，因此電源管理芯片的效率測(cè)試是必不可少的環(huán)節(jié)。
2023-11-27 15:21:49418 儀器型號(hào)，快速測(cè)試。用開關(guān)電源ate測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試，簡(jiǎn)化了測(cè)試程序，只需在系統(tǒng)中設(shè)置好溫度、電壓、負(fù)載、測(cè)試次數(shù)、測(cè)試時(shí)長(zhǎng)等條件便可一鍵運(yùn)行測(cè)試，觀察和分析測(cè)試數(shù)據(jù)及結(jié)果。
2023-11-28 15:34:47286 
車載電源測(cè)試是為了檢測(cè)電源的各項(xiàng)指標(biāo)和性能，判斷其是否符合設(shè)計(jì)要求，滿足車載設(shè)備的使用。車載電源測(cè)試項(xiàng)目一般包含輸出電壓/電流測(cè)試、效率測(cè)試、過載保護(hù)測(cè)試、穩(wěn)定性和可靠性測(cè)試等。用車載電源ate
2023-11-30 14:19:11289 半導(dǎo)體測(cè)試設(shè)備主要包括三類：ATE、探針臺(tái)、分選機(jī)。其中測(cè)試功能由測(cè)試機(jī)實(shí)現(xiàn)，而探針臺(tái)和分選機(jī)實(shí)現(xiàn)的則是機(jī)械功能，將被測(cè)晶圓/芯片揀選至測(cè)試機(jī)進(jìn)行檢測(cè)。
2023-12-04 17:30:33770 以上就是峰值負(fù)載功率的測(cè)試方法，可以看到該方法在測(cè)試過程中需要不斷的記錄數(shù)據(jù)，手動(dòng)記錄數(shù)據(jù)比較浪費(fèi)時(shí)間，而且容易出錯(cuò)，需要的測(cè)試時(shí)間也長(zhǎng)。因此，為了提高測(cè)試速度和數(shù)據(jù)記錄速度，可以使用開關(guān)電源ate測(cè)試系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試。
2023-12-19 15:55:48236 電源芯片短路電流指通過芯片的電流，包括正常工作電流和異常情況下的短路電流，進(jìn)行芯片的短路電流測(cè)試可以評(píng)估芯片的工作性能和可靠性，提高芯片的生產(chǎn)效率和質(zhì)量。測(cè)量芯片短路電流的原理是將測(cè)試電路與芯片的兩個(gè)引腳相連接，通入一定的測(cè)試電流，利用測(cè)試儀器讀取相應(yīng)的電流值，從而計(jì)算出芯片的短路電流大小。
2023-12-26 16:49:07646 
納米軟件ATE自動(dòng)測(cè)試設(shè)備包含軟件ATE測(cè)試系統(tǒng)以及測(cè)試中需要的硬件設(shè)備，軟硬件會(huì)集成在一個(gè)機(jī)柜中，方便測(cè)試。ATE測(cè)試系統(tǒng)采取B/S架構(gòu)，無代碼開發(fā)，對(duì)操作人員沒有高技術(shù)要求，可快速上手測(cè)試。自動(dòng)化測(cè)試系統(tǒng)在測(cè)試過程中實(shí)時(shí)自動(dòng)采集記錄數(shù)據(jù)，并對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行多維度分析，快速定位問題。
2023-12-28 15:55:30190 3月14日消息，集成電路ATE供應(yīng)商悅芯科技自主研發(fā)的高性能存儲(chǔ)器芯片自動(dòng)化生產(chǎn)測(cè)試系統(tǒng)-TM8000，于近期通過國(guó)際競(jìng)標(biāo)獲得行業(yè)龍頭及標(biāo)桿企業(yè)數(shù)億元人民幣的設(shè)備采購訂單。
2024-03-15 10:22:03247
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