?
功率器件
由于IGBT技術(shù)的進步,自從SPM系列首次在工業(yè)市場出現(xiàn)以來,一直不斷地經(jīng)歷著升級。隨著亞微米設計規(guī)則的引入,不僅芯片尺寸減小的速度加快,同時電流密度大幅度地增加。最新一代的IGBT芯片實現(xiàn)了關(guān)斷損耗和導通壓降之間更好的性能平衡關(guān)系,同時確保擁有足夠的SOA。圖1表示IGBT技術(shù)方面的改進。顯然,V5 IGBT具有出色的器件性能,從而可以在更小的封裝中增大功率容量。
低功耗運作常常需要更快的開關(guān)速度,這造成了恢復電流的增加和dv/dt的升高,會帶來較大的電磁干擾(EMI)、高浪涌電壓和電機泄漏電流。在SPM系列的開發(fā)過程中,已經(jīng)考慮了EMI問題,并優(yōu)化了柵極驅(qū)動的設計,犧牲高開關(guān)速度以控制集成IGBT的開關(guān)速度。正是由于IGBT具有低導通壓降,能夠保持總體功耗不變,同時實現(xiàn)低EMI特性。圖2所示為SPM的典型dv/dt特性。在其額定電流下,開啟和關(guān)斷dv/dt低于5kV/μs。
此外,為了獲得更佳的ESD保護,在柵極和發(fā)射極之間使用了具有足夠的箝位電壓的多硅背靠背二極管。2,350×2,350平方微米的芯片面積能夠獲得HBM 2.5kV和MM 300V的ESD電平。使用集成式保護二極管,所有的SPM產(chǎn)品都達到工業(yè)標準ESD電平。
?
圖1. SPM制造過程中IGBT的改進
?
圖2. 開關(guān)dv/dt特性(Vpn=300V、Vcc=15V、25度、20A額定電流)
由于成本效益的原因,HVIC和LVIC設計為具有最少的必要功能,特別適合于消費電器的逆變器驅(qū)動。設計方面的考慮包括:借助精細工藝技術(shù)減小芯片尺寸;由3V饋入微控制器直接驅(qū)動有效的“高電平”接口;低功耗;更高的抗噪聲能力;抗溫度變化的更好穩(wěn)定性等等。
HVIC的一個特性是內(nèi)置高電平偏移功能,如圖3所示,能夠?qū)碜晕?a target="_blank">控制器的PWM輸入直接轉(zhuǎn)換至高邊功率器件。此外,使用外部充電反向電容,可以采用單一控制電源驅(qū)動SPM。
?
圖3. 高邊驅(qū)動器配置
另一方面,HVIC對于外部噪聲敏感,因為其信號是通過脈沖信號和SR鎖存器進行轉(zhuǎn)換的。對于這種脈沖驅(qū)動HVIC,高dv/dt開關(guān)驅(qū)動IGBT是最危險的開關(guān)類型。假設從漏極看LDMOS寄生電容是CM,高邊IGBT的導通dv/dt是dVS/dt,CM必須采用大電流(CM*dVS/dt)充電,才能使LDMOS漏極電壓跟隨快速變化的VB電壓,該電壓通過自舉電容CBS與VS耦合。大充電電流在R1和R2上引起過大的壓降,從而誤觸發(fā)SR鎖存器。
為了克服噪聲敏感性,因此開發(fā)了具有獨特拓撲的噪聲消除器,如圖3所示。V/I轉(zhuǎn)換器將電平變換器的輸出轉(zhuǎn)換成電流信息。對于具有高dv/dt的共模噪聲,V/I轉(zhuǎn)換器會給出相同的輸出。但是,對于正常運作,V/I轉(zhuǎn)換器輸出是互不相同的,因為兩個LDMOS中只有一個工作于正常的電平轉(zhuǎn)換器運作狀態(tài)。這樣可以方便地確定V/I轉(zhuǎn)換器的輸出是否是由于噪聲引起。一旦噪聲消除器識別出有共模噪聲侵入,它便吸收V/I轉(zhuǎn)換器的電流輸出。然后,V/I轉(zhuǎn)換器重建電壓信號,這個信號來自V/I轉(zhuǎn)換器的電流輸出,在VB和VS電源軌之間擺動。最后,經(jīng)放大的信號送到SR鎖存器。
V/I和I/V轉(zhuǎn)換的另一個優(yōu)點是允許負VS電壓不再受電路的閾值電壓支配。由于其獨特的拓撲,飛兆半導體的HVIC展示了出色的噪聲免疫能力,能夠耐受高達50V/ns的高dv/dt噪聲,并且擴展負電壓運作范圍,在VBS=15V左右達到VS=-10V。
LVIC負責所有的保護功能及其向微控制器的反饋。它的保護電路檢測控制電源電壓、LVIC溫度以及帶外部并聯(lián)電阻的IGBT集電極電流,并在錯誤狀態(tài)中斷IGBT的操作。有關(guān)的保護應該不受溫度和電源電壓的影響。例如在表1中給出了LVIC中過電流保護的探測電平。
?
表1. LVIC (典型值0.5V) 的過電流探測電平
錯誤信號用于通知系統(tǒng)控制器保護功能是否已經(jīng)激活。錯誤信號輸出是在低電平有效的集電極開路配置。它一般通過上拉電阻被拉升至3.3V到15V。當錯誤發(fā)生時,錯誤線拉低,低邊IGBT的所有柵極被中斷。如果錯誤是過電流引起的,輸出則出現(xiàn)一個脈沖,然后自動復位。首選的低信號持續(xù)時間取決于它的應用。例如,對于家電首選幾毫秒,但是在工業(yè)應用中首選一至兩倍的IGBT開關(guān)頻率。SPM的LVIC提供外部電容,并根據(jù)各種要求設定該持續(xù)時間。
自舉二極管
除了基本的三相逆變器拓撲,更多的集成是半導體公司面臨的挑戰(zhàn)之一。約束不是技術(shù)問題,受限的是成本和封裝尺寸。從這一點來看,自舉二極管似乎成為集成的合適器件。實際上,市場上已出現(xiàn)了數(shù)種內(nèi)置自舉二極管的產(chǎn)品,但是從技術(shù)角度來看,其方式略有不同。其中之一是使用HVIC上的高壓結(jié)終止區(qū)域作為自舉二極管。其應用局限于額定值在100W以下的低功率應用,因為這種方式具有較大的正向壓降和較差的動態(tài)特性。功率在400W左右時,采用分立FRD作為自舉二極管,但是由于其封裝尺寸有限,沒有串聯(lián)電阻(RBS),因此需要對大充電流進行特殊處理,尤其在初始的充電期間。在高于400W的應用中,最常見的應用是將分立FRD和分立電阻進行組合。這種方式的唯一缺點是占用空間較大和相應的成本增高。
在SPM的開發(fā)中,采用了新設計的自舉二極管,其設計目標是減小芯片尺寸和獲得適中的正向壓降,以得到20Ω串聯(lián)電阻的等效作用。如圖4所示,其壓降特性等同于串聯(lián)電阻和普通FRD。借助于這種特殊自舉二極管的優(yōu)點,能夠?qū)崿F(xiàn)更多的集成同時保持最低的成本。
?
圖4. 內(nèi)置自舉二極管的正向壓降
封裝
開發(fā)SPM封裝的主要因素是改善性價比,同時提升熱循環(huán)和功率循環(huán)等封裝的可靠性。因此,以往用于IC和LSI產(chǎn)品的轉(zhuǎn)模封裝技術(shù)被用于功率模塊。與具有塑料或環(huán)氧樹脂外殼的普通功率模塊相比,SPM具有相對簡單的結(jié)構(gòu):功率芯片和IC安裝在銅引線框架上,基底材料與框架連接,最后在環(huán)氧樹脂中模塑成型。
在封裝設計中散熱是重要的問題,因為它決定了模塊的功率容量限制,且與隔離特性有著很大的折衷平衡關(guān)系。轉(zhuǎn)模封裝SPM系列根據(jù)功率額定值和應用,采用幾種隔離基底,如表2所示。
?
表2. SPM系列的封裝基底
借助現(xiàn)有的可變形基底的優(yōu)點,可在Mini-DIP SPM封裝中實現(xiàn)600V 3A到30A的功率額定值,同時保持PCB管腳布局和價格的競爭力,如圖5所示。
?
圖5. 不同電流額定值下SPM產(chǎn)品系列的結(jié)和外殼之間的熱阻
除了更高的可靠性和熱性能之外,制定模式的靈活性是DBC(直接相連銅)基底的另一個優(yōu)點。這樣可以針對多種應用提供派生產(chǎn)品,比如功率因數(shù)校正、開關(guān)磁阻電機等,在此只需改變DBC,而其它封裝要素保持不變。
DBC的大批量生產(chǎn)還存在幾個有待解決的技術(shù)問題,采用絲網(wǎng)印刷、多芯片安裝技術(shù)以及傳送帶回流焊和助焊劑清理工藝,開發(fā)DBC基底和引線框架的多芯片安裝和連接技術(shù)。通過回流焊溫度曲線調(diào)整,獲得接近零的焊接空洞,增加熔解區(qū)域之間的溫度斜坡,優(yōu)化焊料和絲網(wǎng)印刷掩模設計。通過模擬和實驗方法,調(diào)適封裝的熱翹曲以優(yōu)化DBC基底的銅層厚度。
結(jié)論
受到成本因素的約束,SPM設計所需的綜合技術(shù)包括功率器件、驅(qū)動器IC、封裝以及系統(tǒng)優(yōu)化。對于實際的批量生產(chǎn),組裝和測試也是非常重要的。目前,SPM已將自身定位于最強大的低功率電機驅(qū)動逆變器解決方案,而其發(fā)展將會越來越快。
評論
查看更多