失效分析在生產(chǎn)建設(shè)中極其重要,失效分析的限期往往要求很短,分析結(jié)論要正確無誤,改進(jìn)措施要切實(shí)可行。 1 失效分析思路的內(nèi)涵 失效分析 思路是指導(dǎo)失效分析全過程的思維路線,是在
2012-04-25 11:13:08
11833 
失效分析(FA)是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。
2023-09-06 10:28:051331 
`失效分析與檢測(cè)技術(shù) 隨著人們對(duì)半導(dǎo)體產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高，失效分析工作也越來越凸顯其重要的地位，通過對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行失效分析，我們可以找出失效機(jī)理進(jìn)而策劃提高產(chǎn)品成品率和可靠性的方案。 而采取
2017-12-01 09:17:03
`北京汐源科技有限公司隨著電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體產(chǎn)品不斷的更新?lián)Q代，在國(guó)家對(duì)高科技產(chǎn)業(yè)的大力支持下，汐源科技同時(shí)也為電子、半導(dǎo)體行業(yè)提供良好的保障。汐源科技是一家以電子產(chǎn)品失效分析技術(shù)服務(wù)以及電子材料銷售
2016-04-24 19:58:56
(2)完全失效 (3)輕度失效 (4)危險(xiǎn)性(嚴(yán)重)失效 (5)災(zāi)難性(致命)失效 失效分析的分類 失效分析的分類一般按分析的目的不同可分為: (1) 狹義的失效分析 主要目
2011-11-29 16:46:42
失效分析是芯片測(cè)試重要環(huán)節(jié)，無論對(duì)于量產(chǎn)樣品還是設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)亦或是客退品，失效分析可以幫助降低成本，縮短周期。常見的失效分析方法有Decap，X-RAY，IV，EMMI，F(xiàn)IB，SEM，EDX
2019-12-16 10:16:21
分析委托方發(fā)現(xiàn)失效元器件，會(huì)對(duì)失效樣品進(jìn)行初步電測(cè)判斷，再次會(huì)使用良品替換確認(rèn)故障。如有可能要與發(fā)現(xiàn)失效的人員進(jìn)行交流，詳細(xì)了解原始數(shù)據(jù)，這是開展失效分析工作關(guān)鍵一步。確認(rèn)其失效機(jī)理，失效機(jī)理是指失效
2020-08-07 15:34:07
失效分析方法---PCB失效分析該方法主要分為三個(gè)部分，將三個(gè)部分的方法融匯貫通，不僅能幫助我們?cè)趯?shí)際案例分析過程中能夠快速地解決失效問題，定位根因；還能根據(jù)我們建立的框架對(duì)新進(jìn)工程師進(jìn)行培訓(xùn)，方便
2020-03-10 10:42:44
內(nèi)容包含失效分析方法，失效分析步驟，失效分析案例，失效分析實(shí)驗(yàn)室
2020-04-02 15:08:20
`失效分析方法累積1.OM 顯微鏡觀測(cè)，外觀分析2.C-SAM（超聲波掃描顯微鏡）（1）材料內(nèi)部的晶格結(jié)構(gòu)，雜質(zhì)顆粒，夾雜物，沉淀物，（2） 內(nèi)部裂紋。（3）分層缺陷。（4）空洞，氣泡，空隙等。3.
2020-03-28 12:15:30
失效分析案例案例1：大電流導(dǎo)致器件金屬融化 某產(chǎn)品在用戶現(xiàn)場(chǎng)頻頻出現(xiàn)損壞，經(jīng)過對(duì)返修單板進(jìn)行分析，發(fā)現(xiàn)大部分返修單板均是某接口器件失效，對(duì)器件進(jìn)行解剖后，在金相顯微鏡下觀察，發(fā)現(xiàn)器件是由于EOS導(dǎo)致
2009-12-01 16:31:42
`一般來說，集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免，隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高，失效分析工作也顯得越來越重要，通過芯片失效分析，可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)
2016-05-04 15:39:25
請(qǐng)幫忙提供fm25v10-g MTBF（平均無故障時(shí)間）數(shù)據(jù)和失效分析相關(guān)報(bào)告 以上來自于百度翻譯 以下為原文請(qǐng)幫忙提供FM25V10-G MTBF(平均無故障時(shí)間)數(shù)據(jù)和失效分析相關(guān)報(bào)告
2018-09-06 15:32:01
`v失效：產(chǎn)品失去規(guī)定的功能。v失效分析：為確定和分析失效器件的失效模式，失效機(jī)理，失效原因和失效性質(zhì)而對(duì)產(chǎn)品所做的分析和檢查。v失效模式：失效的表現(xiàn)形式。v失效機(jī)理：導(dǎo)致器件失效的物理，化學(xué)變化
2011-11-29 17:13:46
`本文將普通的LED的功能和設(shè)計(jì)總結(jié)，指出一些常見的故障原因，并介紹適合每個(gè)類型的故障修復(fù)方法?！縇ED 失效分析報(bào)告（英文）[hide][/hide]`
2011-10-25 16:13:54
不當(dāng)使用都可能會(huì)損傷芯片，使得芯片在使用過程中出現(xiàn)失效。芯片失效涉及的分析非常復(fù)雜、需要的技術(shù)方法較多。 金鑒實(shí)驗(yàn)室擁有一支經(jīng)驗(yàn)豐富的LED失效分析技術(shù)團(tuán)隊(duì)，針對(duì)LED芯片失效分析，金鑒實(shí)驗(yàn)室首先會(huì)明確
2020-10-22 09:40:09
不當(dāng)使用都可能會(huì)損傷芯片，使得芯片在使用過程中出現(xiàn)失效。芯片失效涉及的分析非常復(fù)雜、需要的技術(shù)方法較多。 金鑒實(shí)驗(yàn)室擁有一支經(jīng)驗(yàn)豐富的LED失效分析技術(shù)團(tuán)隊(duì)，針對(duì)LED芯片失效分析，金鑒實(shí)驗(yàn)室首先會(huì)明確
2020-10-22 15:06:06
MLCC樣品失效分析方法匯總MLCC失效原因在產(chǎn)品正常使用情況下，失效的根本原因是MLCC 外部或內(nèi)部存在如開裂、孔洞、分層等各種微觀缺陷。這些缺陷直接影響到MLCC產(chǎn)品的電性能、可靠性，給產(chǎn)品質(zhì)量
2020-03-19 14:00:37
請(qǐng)各位大蝦們幫忙！朋友問我了解Memory 芯片的失效分析，他對(duì)于這方面的知識(shí)點(diǎn)很匱乏，我該從哪些方面給他講解呢？
2015-07-27 16:31:58
及PCBA的失效現(xiàn)象進(jìn)行失效分析，通過一系列分析驗(yàn)證，找出失效原因，挖掘失效機(jī)理，對(duì)提高產(chǎn)品質(zhì)量，改進(jìn)生產(chǎn)工藝，仲裁失效事故有重要意義。2、服務(wù)對(duì)象印制電路板及組件（PCB&PCBA）生產(chǎn)商：確認(rèn)
2020-02-25 16:04:42
FA電子封裝失效分析培訓(xùn)主辦單位：上海耀谷管理咨詢有限公司聯(lián)系方式：lucy@yaogu.org 總機(jī)
2009-02-19 09:54:39
，Interposer+TSV，PoP，甚至WLP等，與其對(duì)應(yīng)的新失效模式也層出不窮，因此封裝級(jí)別的失效分析顯得日趨重要。有些封測(cè)領(lǐng)域的大廠已經(jīng)擁有自己的失效分析實(shí)驗(yàn)室，而有些工廠則在搭建中或沒有自己的實(shí)驗(yàn)室，只能依靠
2016-07-18 22:29:06
工作地點(diǎn)：深圳薪酬：15萬/年左右簡(jiǎn)歷投遞至icy.wu@careerco.cn 失效分析工程師職位描述：1、負(fù)責(zé)產(chǎn)品在驗(yàn)證、生產(chǎn)和客戶應(yīng)用過程中的失效分析，判定失效模型和機(jī)理，并提供解決和改進(jìn)方案
2013-07-24 19:01:18
科技名詞定義中文名稱：失效分析 英文名稱：failure analysis 其他名稱：損壞分析 定義：對(duì)運(yùn)行中喪失原有功能的金屬構(gòu)件或設(shè)備進(jìn)行損壞原因分析研究的技術(shù)。 所屬學(xué)科：簡(jiǎn)介 失效分析
2011-11-29 16:39:42
，必須對(duì)所發(fā)生的失效案例進(jìn)行失效分析。為了讓大家更直觀更深入的了解pcba失效分析，專門開設(shè)了專業(yè)的pcba失效分析課程，邀請(qǐng)了30年失效分析專家親自授課，針對(duì)pcba及元器件失效分析進(jìn)行深入講解
2016-12-15 17:47:53
失效分析基本概念定義：對(duì)失效電子元器件進(jìn)行診斷過程。1、進(jìn)行失效分析往往需要進(jìn)行電測(cè)量并采用先進(jìn)的物理、冶金及化學(xué)的分析手段。2、失效分析的目的是確定失效模式和失效機(jī)理，提出糾正措施，防止這種失效
2016-12-09 16:07:04
軍用電子器件的失效分析
2016-04-19 11:55:13
半導(dǎo)體失效分析項(xiàng)目介紹，主要包括點(diǎn)針工作站（Probe Station）、反應(yīng)離子刻蝕（RIE）、微漏電偵測(cè)系統(tǒng)（EMMI）、X-Ray檢測(cè)，缺陷切割觀察系統(tǒng)（FIB系統(tǒng)）等檢測(cè)試驗(yàn)。
2020-11-26 13:58:28
可否增加一個(gè)電子元、器件失效分析的模塊？
2013-03-09 15:38:39
蘇州納米所可靠性與失效分析中心秉承加工平臺(tái)公共服務(wù)方面的特性，在對(duì)外提供支撐和服務(wù)過程中多方發(fā)現(xiàn)用戶的共性需求，以檢測(cè)能力與市場(chǎng)需求完美契合為目標(biāo)不斷完善。目前本中心在電子材料、元器件、封裝、SMT
2018-06-04 16:13:50
電子元器件失效分析與典型案例系統(tǒng)地介紹了電子元器件失效分析技術(shù)及典型分析案例。全書分為基礎(chǔ)篇和案例篇。基礎(chǔ)篇闡述電子元器件失效分析的目的和意義、失效分析程序、失效分析技術(shù)以及失效分析主要儀器設(shè)備
2019-03-19 15:31:46
一般來說，集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免，隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高，失效分析工作也顯得越來越重要，通過芯片失效分析，可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)
2011-11-29 11:34:20
一般來說，集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免，隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高，失效分析工作也顯得越來越重要，通過芯片失效分析，可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)
2013-01-07 17:20:41
晶片驗(yàn)證測(cè)試及失效分析
2012-07-18 17:24:41
器件的一套掩模成本可能超過130 萬美元。因此器件缺陷造成的損失代價(jià)極為高昂。在這種條件下，通過驗(yàn)證測(cè)試，分析失效原因，減少器件缺陷就成為集成電路制造中不可少的環(huán)節(jié)。晶片驗(yàn)證測(cè)試及失效分析[hide][/hide]
2011-11-29 11:52:32
元器件失效分析的幾個(gè)關(guān)鍵點(diǎn)
2021-06-08 06:12:14
`以IGBT、MOSFET為主的電力電子器件通常具有十分廣泛的應(yīng)用，但廣泛的應(yīng)用場(chǎng)景也意味著可能會(huì)出現(xiàn)各種各樣令人頭疼的失效情況，進(jìn)而導(dǎo)致機(jī)械設(shè)備發(fā)生故障！因此，正確分析電力電子器件的失效情況，對(duì)于
2019-10-11 09:50:49
電子封裝失效分析 發(fā)布單位：上海耀谷管理咨詢有限公司聯(lián)系人：Eva Gu: 021-58550119 eva.gu@yaogu.org
2010-10-19 12:30:10
`整體失效分析的基本流程圖。首先要確定失效模式，即怎樣失效，然后進(jìn)行電性分析（EFA，Electrical Failure Analysis）,即通過電性分析完成缺陷位置的粗略定位。EFA包括樣品
2017-12-07 16:28:00
目前，隨著現(xiàn)代生活中的人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求不斷提高，芯片的失效分析、可靠性分析也越來越得到關(guān)注和重視，失效分析是通過對(duì)現(xiàn)場(chǎng)使用失效樣品、可靠性試驗(yàn)失效樣品或篩選失效樣品的檢測(cè)與解剖分析，得出
2013-06-24 17:04:20
失效分析（FA）是一門發(fā)展中的新興學(xué)科，近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。在提高產(chǎn)品質(zhì)量，技術(shù)開發(fā)
2020-04-07 10:11:36
咨詢下，深圳哪里有關(guān)于芯片失效分析培訓(xùn)的課程嗎？最近有人想?yún)⒓优嘤?xùn)。
2016-09-28 09:59:42
`芯片失效分析探針臺(tái)測(cè)試簡(jiǎn)介：可以便捷的測(cè)試芯片或其他產(chǎn)品的微區(qū)電信號(hào)引出功能，支持微米級(jí)的測(cè)試點(diǎn)信號(hào)引出或施加，配備硬探針和牛毛針，宜特檢測(cè)實(shí)驗(yàn)室可根據(jù)樣品實(shí)際情況自由搭配使用，外接設(shè)備可自由搭配
2020-10-16 16:05:57
標(biāo)題：芯片失效分析方法及步驟目錄：失效分析方法失效分析步驟失效分析案例失效分析實(shí)驗(yàn)室介紹
2020-04-14 15:08:52
`芯片失效分析步驟1. 開封前檢查，外觀檢查，X光檢查，掃描聲學(xué)顯微鏡檢查。2. 開封顯微鏡檢查。3. 電性能分析，缺陷定位技術(shù)、電路分析及微探針分析。4. 物理分析，剝層、聚焦離子束(FIB
2020-05-18 14:25:44
失效分析就是要分析損壞的產(chǎn)品從而為改進(jìn)設(shè)計(jì)或明確責(zé)任提供素材的工作。但是從行業(yè)來看，目前很多公司特別是中小型公司的失效分析做的并不好。 中國(guó)有句俗話叫：“吃一塹，長(zhǎng)一智”，《論語(yǔ)》中也有“不貳過
2011-12-01 10:10:25
失效分析屬于芯片反向工程開發(fā)范疇。芯片失效分析主要提供封裝去除、層次去除、芯片染色、芯片拍照、大圖彩印、電路修改等技術(shù)服務(wù)項(xiàng)目 失效分析流程： 1、外觀檢查，識(shí)別crack，burnt
2012-09-20 17:39:49
芯片IC可靠性測(cè)試、靜電測(cè)試、失效分析芯片可靠性驗(yàn)證 ( RA)芯片級(jí)預(yù)處理(PC) & MSL試驗(yàn) 、J-STD-020 & JESD22-A113 ；高溫存儲(chǔ)試驗(yàn)(HTSL
2020-04-26 17:03:32
，必須對(duì)所發(fā)生的失效案例進(jìn)行失效分析?！ ?b class="flag-6" style="color: red">失效分析的基本程序 要獲得PCB失效或不良的準(zhǔn)確原因或者機(jī)理，必須遵守基本的原則及分析流程，否則可能會(huì)漏掉寶貴的失效信息，造成分析不能繼續(xù)或可能得到錯(cuò)誤
2018-09-20 10:59:15
概述了滾動(dòng)軸承失效分析的基本概念及意義;著重論述了失效的基本模式、影響軸承失效的因素、軸承失效分析的工作思路及方法;對(duì)軸承失效預(yù)測(cè)預(yù)防的前景也做了一些探討。
2009-12-18 11:21:45
50 失效分析中的模式思維方法:對(duì)事故模式和失效模式的歸納總結(jié)，從中引伸出預(yù)防事故或失效的新認(rèn)識(shí)或新概念.關(guān)健詞:失效模式;失效分析;安全性工程
2009-12-18 11:28:1034 論述了油氣管道的失效模式和失效原因，以及完整性管理的概念、流程和關(guān)健技術(shù)。對(duì)失效分析和完整性管理的關(guān)系進(jìn)行了討論，認(rèn)為失效分析是油氣管道完整性管理的基礎(chǔ);完整性
2009-12-18 11:31:136 詳細(xì)介紹了半導(dǎo)體器件及電路的失效分析
2010-07-17 16:10:2960 LED失效分析方法簡(jiǎn)介
和半導(dǎo)體器件一樣，發(fā)光二極管(LED)早期失效原因分析是可靠性工作的重要部分，是提高LED可靠性的積極主動(dòng)的
2009-11-20 09:43:531357 判斷失效的模式, 查找失效原因和機(jī)理, 提出預(yù)防再失效的對(duì)策的技術(shù)活動(dòng)和管理活動(dòng)稱為失效分析。
2012-03-15 14:21:36121 通過實(shí)例綜述了目前國(guó)內(nèi)集成電路失效分析技術(shù)的現(xiàn)狀和發(fā)展方向, 包括: 無損失效分析技術(shù)、信號(hào)尋跡技術(shù)、二次效應(yīng)技術(shù)、樣品制備技術(shù)和背面失效定位技術(shù), 為進(jìn)一步開展這方面的
2012-03-15 14:35:47113 你是否長(zhǎng)時(shí)間糾纏于線路板的失效分析?你是否花費(fèi)大量精力在樣板調(diào)試過程中?你是否懷疑過自己的原本正確的設(shè)計(jì)?
2012-03-26 16:33:032266 電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《功率MOSFET在汽車電子應(yīng)用中的失效分析.pdf》資料免費(fèi)下載
2017-04-17 11:38:0012 電子元器件失效分析與典型案例！資料來源網(wǎng)絡(luò)，如有侵權(quán)，敬請(qǐng)見諒
2015-11-19 14:50:370 電子元器件失效分析技術(shù)
2017-01-24 16:15:38139 熱分析技術(shù)在PCB失效分析的應(yīng)用介紹
2017-04-13 08:38:041 一般來說，集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免，隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高，失效分析工作也顯得越來越重要，通過芯片失效分析，可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)
2017-09-27 14:44:4215 對(duì)于這種失效問題，我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù)，來使得PCB在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證，本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù)，供參考借鑒。
2019-05-16 16:24:546376 本視頻主要詳細(xì)介紹了電子元器件失效分析方法，分別是拔出插入法、感官辨別法、電源拉偏法、換上備件法。
2019-05-21 15:56:078115 IC集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免，隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高，失效分析工作也顯得越來越重要，通過芯片失效分析，可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計(jì)與操作中的不當(dāng)?shù)葐栴}。華碧實(shí)驗(yàn)室整理資料分享芯片IC失效分析測(cè)試。
2021-05-20 10:19:202646 2mmHM連接器短路失效分析說明。
2021-04-19 09:43:332 出現(xiàn)同一類問題是非?？膳碌?。 失效分析基本概念 定義：對(duì)失效電子元器件進(jìn)行診斷過程。 1、進(jìn)行失效分析往往需要進(jìn)行電測(cè)量并采用先進(jìn)的物理、冶金及化學(xué)的分析手段。 2、失效分析的目的是確定失效模式和失效機(jī)理，提出糾正
2021-05-07 11:43:164589 
LLC電路設(shè)計(jì)原理及電路失效分析綜述
2021-07-22 09:54:03144 芯片失效分析服務(wù)簡(jiǎn)介 一般來說，集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免，隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高，失效分析工作也顯得越來越重要，通過芯片失效分析，可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到
2021-10-15 11:46:083857 PCB的失效分析服務(wù)介紹
2021-10-18 17:13:17850 
哲學(xué)上有句話說：找到了真正的問題，也就成功了一半。 LED在生產(chǎn)和使用過程中往往受到各種應(yīng)力和環(huán)境因素的影響，達(dá)不到預(yù)期的壽命或功能，即發(fā)生失效現(xiàn)象。失效分析是一門新興發(fā)展中的學(xué)科，在提高產(chǎn)品質(zhì)量
2021-11-04 10:13:37571 不當(dāng)使用都可能會(huì)損傷芯片，使得芯片在使用過程中出現(xiàn)失效。芯片失效涉及的分析非常復(fù)雜、需要的技術(shù)方法較多。 ? 金鑒實(shí)驗(yàn)室擁有一支經(jīng)驗(yàn)豐富的LED失效分析技術(shù)團(tuán)隊(duì)，針對(duì)LED芯片失效分析，金鑒實(shí)驗(yàn)室首先會(huì)明確分析對(duì)象的背景，確認(rèn)
2021-11-01 11:14:411728 失效分析在產(chǎn)品的可靠性質(zhì)量保證和提高中發(fā)揮著重要作用，在產(chǎn)品的研發(fā)、生產(chǎn)、使用中都需要引入失效分析工作。金鑒實(shí)驗(yàn)室提供電子元器件失效分析的檢測(cè)服務(wù)，金鑒實(shí)驗(yàn)室擁有專業(yè)LED質(zhì)量工程師團(tuán)隊(duì)及高精度電子
2021-11-01 10:56:011327 結(jié)合金鑒實(shí)驗(yàn)室的大數(shù)據(jù)分析總結(jié)，金鑒工程師總結(jié)出關(guān)于燒燈珠失效分析，并且金鑒實(shí)驗(yàn)室對(duì)此特推出燒燈珠失效分析檢測(cè)服務(wù)，總結(jié)了以下可能的一些原因： 1.芯片內(nèi)部缺陷。 2.引線鍵合工藝不當(dāng)，鍵合線尺寸
2021-11-04 10:05:18515 談?wù)刄V LED失效分析案子，金鑒實(shí)驗(yàn)室提供 “UV LED失效分析檢測(cè)” 服務(wù)，找出的原因有哪些： ? 1. 發(fā)熱量大 ? 目前UV LED的發(fā)光效率偏低，不同的波段，其出光效率不太相同，波段
2021-11-02 17:27:19633 哲學(xué)上有句話說：找到了真正的問題，也就成功了一半。 LED在生產(chǎn)和使用過程中往往受到各種應(yīng)力和環(huán)境因素的影響，達(dá)不到預(yù)期的壽命或功能，即發(fā)生失效現(xiàn)象。失效分析是一門新興發(fā)展中的學(xué)科，在提高產(chǎn)品質(zhì)量
2021-11-06 09:35:14538 不同種類的金屬材料和結(jié)構(gòu)件，在載荷、溫度、介質(zhì)等力學(xué)及環(huán)境因素作用下，經(jīng)常以磨損、腐蝕、斷裂、變形等方式失效。為了避免和預(yù)防事故發(fā)生，失效分析對(duì)新材料、新工業(yè)、新技術(shù)的發(fā)展。對(duì)產(chǎn)品設(shè)計(jì)、制造技術(shù)改進(jìn)
2021-12-17 11:52:15882 
PCB在實(shí)際可靠性問題失效分析中，同一種失效模式，其失效機(jī)理可能是復(fù)雜多樣的，因此就如同查案一樣，需要正確的分析思路、縝密的邏輯思維和多樣化的分析手段，方能找到真正的失效原因。在此過程中，任何
2022-02-11 15:19:0126 失效分析是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。失效分析是確定芯片失效機(jī)理的必要手段。失效分析為有效的故障診斷提供了必要的信息。失效分析
2022-10-12 11:08:484175 電子元器件失效分析技術(shù)和案例-附件
2022-10-17 14:25:0515 電容器件失效分析技術(shù)，介紹常見的電容器件失效機(jī)理。
多層片狀陶介電容器由陶瓷介質(zhì)、端電極、金屬電極三種材料構(gòu)成，失效形式為
金屬電極和陶介之間層錯(cuò)，電氣表現(xiàn)為受外力（如輕輕彎曲板子或用烙鐵頭碰一
下）和溫度沖擊（如烙鐵焊接）時(shí)電容時(shí)好時(shí)壞。
2022-10-24 14:40:282 SMT PCBA失效分析
2023-01-05 14:18:42914 程中出現(xiàn)了大量的失效問題。 對(duì)于這種失效問題，我們需要用到一些常用的失效分析技術(shù)，來使得PCB在制造的時(shí)候質(zhì)量和可靠性水平得到一定的保證，本文總結(jié)了十大失效分析技術(shù)，供參考借鑒。
2023-04-10 14:16:22749 BGA失效分析與改善對(duì)策
2023-04-11 10:55:48577 失效分析為設(shè)計(jì)工程師不斷改進(jìn)或者修復(fù)芯片的設(shè)計(jì)，使之與設(shè)計(jì)規(guī)范更加吻合提供必要的反饋信息。
2023-05-13 17:16:251367 出現(xiàn)同一類問題是非?？膳碌?。失效分析基本概念定義：對(duì)失效電子元器件進(jìn)行診斷過程。1、進(jìn)行失效分析往往需要進(jìn)行電測(cè)量并采用先進(jìn)的物理、冶金及化學(xué)的分析手段。2、失效分析的目的是確定失效模式和失效機(jī)理，提出糾
2021-06-26 10:42:531186 
集成電路封裝失效分析就是判斷集成電路失效中封裝相關(guān)的失效現(xiàn)象、形式（失效模式），查找封裝失效原因，確定失效的物理化學(xué)過程（失效機(jī)理），為集成電路封裝糾正設(shè)計(jì)、工藝改進(jìn)等預(yù)防類似封裝失效的再發(fā)生，提升
2023-06-21 08:53:40572 為了防止在失效分析過程中丟失封裝失效證據(jù)或因不當(dāng)順序引人新的人為的失效機(jī)理，封裝失效分析應(yīng)按一定的流程進(jìn)行。
2023-06-25 09:02:30315 
BGA失效分析與改善對(duì)策
2023-06-26 10:47:41438 
半導(dǎo)體失效分析? 半導(dǎo)體失效分析——保障電子設(shè)備可靠性的重要一環(huán) 隨著電子科技的不斷發(fā)展，電子設(shè)備已成為人們生活和工作不可或缺的一部分，而半導(dǎo)體也是電子設(shè)備中最基本的組成部分之一。其作用是將電能轉(zhuǎn)化
2023-08-29 16:29:08737 集成電路失效分析 隨著現(xiàn)代社會(huì)的快速發(fā)展，人們對(duì)集成電路（Integrated Circuit，簡(jiǎn)稱IC）的需求越來越大，IC在各種電子設(shè)備中占據(jù)著至關(guān)重要的地位，如手機(jī)、電腦、汽車等都需要使用到
2023-08-29 16:35:13628 本文涵蓋HIP失效分析、HIP解決對(duì)策及實(shí)戰(zhàn)案例。希望您在閱讀本文后有所收獲，歡迎在評(píng)論區(qū)發(fā)表您的想法。
2023-10-16 15:06:08299 
介紹LGA器件焊接失效分析及對(duì)策
2023-11-15 09:22:14349 
FPC在后續(xù)組裝過程中，連接器發(fā)生脫落。在對(duì)同批次的樣品進(jìn)行推力測(cè)試后，發(fā)現(xiàn)連接器推力有偏小的現(xiàn)象。據(jù)此進(jìn)行失效分析，明確FPC連接器脫落原因。
2023-11-20 16:32:22312 
損壞的器件不要丟，要做失效分析！
2023-11-23 09:04:42182 
▼關(guān)注公眾號(hào)：工程師看海▼ 失效分析一直伴隨著整個(gè)芯片產(chǎn)業(yè)鏈，復(fù)雜的產(chǎn)業(yè)鏈中任意一環(huán)出現(xiàn)問題都會(huì)帶來芯片的失效問題。芯片從工藝到應(yīng)用都會(huì)面臨各種失效風(fēng)險(xiǎn)，筆者平時(shí)也會(huì)參與到失效分析中，這一期就對(duì)失效
2023-12-20 08:41:04531 
DIPIPM是雙列直插型智能功率模塊的簡(jiǎn)稱，由三菱電機(jī)于1997年正式推向市場(chǎng)，迄今已在家電、工業(yè)和汽車空調(diào)等領(lǐng)域獲得廣泛應(yīng)用。本講座主要介紹DIPIPM的基礎(chǔ)、功能、應(yīng)用和失效分析技巧，旨在幫助讀者全面了解并正確使用該產(chǎn)品。
2023-12-22 15:15:27241 
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