Tektronix 宣佈，推出Thunderbolt技術(shù)的全自動(dòng)發(fā)射器 （TX） 相容性測(cè)試解決方案，提供業(yè)界最快的測(cè)試執(zhí)行及回應(yīng)速度。Tektronix還宣布推出可加速Thunderbolt接收器 （Rx） 測(cè)試工作的設(shè)定
2012-06-29 09:14:56
943 泰克公司日前宣布，推出業(yè)內(nèi)針對(duì)PCI Express 3.0標(biāo)準(zhǔn)的，最靈活和最完整的自動(dòng)化發(fā)射器 (Tx) 和接收器 (Rx) 一致性與調(diào)試測(cè)試解決方案。
2012-11-07 17:28:411488 所謂有圖有真相，CFan已經(jīng)評(píng)測(cè)過OPPO Reno3 Pro（驍龍765）和vivo X30 Pro（Exynos 980），下面咱們就來看看兩款產(chǎn)品在基準(zhǔn)測(cè)試軟件中的跑分對(duì)比。
2020-09-10 09:46:555617 
本文我們將為大家?guī)韮身?xiàng)對(duì)比測(cè)試，分別是：
1、XX2530&CR6248_5V2.1A對(duì)比測(cè)試
2、XX2530&CR6248_12V1A對(duì)比測(cè)試
2021-09-07 16:26:304553 
一、無源晶振和有源晶振測(cè)試結(jié)果對(duì)比 1．無源晶振測(cè)試 ??LR35使用無源晶振常溫頻偏測(cè)試結(jié)果為：1.5KHz左右 ??但是在高低溫速率1的條件下存在丟包或者無法進(jìn)行透?jìng)鲉栴}，前期通過更換不同大小
2023-04-20 11:47:106507 其場(chǎng)景的測(cè)試評(píng)估：可以通過GUI界面來進(jìn)行信號(hào)對(duì)比、事件查詢、信號(hào)邊界檢查、信號(hào)序列的正確性判斷以及信號(hào)調(diào)理；也可以通過腳本語言實(shí)現(xiàn)復(fù)雜場(chǎng)景的評(píng)估。本文會(huì)介紹測(cè)試級(jí)
2023-07-31 23:31:44609 
美商國(guó)家儀器(NI)宣布其測(cè)試平臺(tái)現(xiàn)可支持 802.11ac Tx/Rx 無線局域網(wǎng)絡(luò)(WLAN)芯片與裝置的測(cè)試作業(yè)。
2012-02-05 10:46:26989 專用 測(cè)試引線 配用
2024-03-14 23:23:28
現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試 灌溉測(cè)試儀套件
2024-03-14 22:12:01
絕緣 電信 測(cè)試夾 塑料
2024-03-14 20:37:40
測(cè)試點(diǎn)/測(cè)試插座/測(cè)試插針
2023-03-30 17:34:49
測(cè)試環(huán) 磷青銅 鍍銀 綠色
2023-03-30 17:34:53
測(cè)試適配器
2024-03-14 20:31:07
接收端鏈路均衡測(cè)試（Rx LEQ）進(jìn)入環(huán)回模式進(jìn)行誤碼率測(cè)試
2020-12-02 06:49:35
對(duì)比6種測(cè)試電流大小方法的優(yōu)缺點(diǎn)
2021-08-30 06:39:09
：1.1 )進(jìn)行了BIST的數(shù)字端口測(cè)試，產(chǎn)生的內(nèi)部正弦信號(hào)可以由FPGA正常接收，也對(duì)比了PRBS信號(hào)源，ok；1.2 )FPGA內(nèi)部產(chǎn)生數(shù)據(jù)，通過Loop Test回環(huán)對(duì)比，驗(yàn)證了數(shù)字接口回來的數(shù)據(jù)
2018-08-22 09:19:41
3 線電路測(cè)試器 測(cè)試3線電路和接地連通性
2024-03-14 20:33:47
1. 錄音做對(duì)比，需要用到各種專門的測(cè)試音源和噪聲，設(shè)備涉及到模擬人工設(shè)備，聲卡，聲音編輯器等。標(biāo)準(zhǔn)的錄音測(cè)試構(gòu)成如下圖：可以分三個(gè)部分：第一部分是說話聲Speech和噪聲Noise單獨(dú)錄音；第二部
2019-09-23 09:05:05
測(cè)試元件 脈沖發(fā)生器測(cè)試儀
2024-03-14 20:50:37
EtherCAT主站代碼和方案-含ZedBoard測(cè)試數(shù)據(jù)對(duì)比
2016-09-20 16:09:37
振動(dòng)測(cè)試儀
2024-03-14 20:41:56
振動(dòng)測(cè)試儀
2024-03-14 20:41:51
MIPI DSI測(cè)試的時(shí)候?yàn)槭裁床煌?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試點(diǎn)測(cè)試波形不一樣，為什么更靠近RX端接收波形更準(zhǔn)確？在傳輸線中間打線測(cè)信號(hào)上升沿會(huì)有回勾呢，探頭使用的有源探頭。
2019-06-17 17:56:30
概覽本文討論了巔峰對(duì)決：NI 5665 與傳統(tǒng)臺(tái)式儀器對(duì)比 這一視頻中所演示的設(shè)置細(xì)節(jié)。在此演示中，比較了NI PXIe-5665與Agilent PXA的測(cè)試性能與速度。視頻并不是關(guān)于兩個(gè)儀器的技術(shù)指標(biāo)對(duì)比，而是現(xiàn)場(chǎng)測(cè)試的對(duì)比。
2019-06-05 06:33:01
多線纜 纜線測(cè)試器
2024-03-14 20:36:43
SparkRDMA基于BigDataBench 性能對(duì)比測(cè)試
2020-05-04 13:16:09
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
測(cè)試元件 LCR 測(cè)試儀
2024-03-14 21:39:21
測(cè)試點(diǎn)/測(cè)試插座/測(cè)試插針 4Pin H7.00mm 12.00 x 2.50mm 黃銅
2023-09-18 18:32:58
測(cè)試點(diǎn)/測(cè)試插座/測(cè)試插針 2Pin H9.50mm 6.65 x 2.50mm Brass
2023-09-18 18:32:58
本帖最后由 24不可說 于 2018-8-18 20:44 編輯
使用JEET運(yùn)動(dòng)藍(lán)牙耳機(jī)也有一周多了，簡(jiǎn)單的總結(jié)一下幾種對(duì)比測(cè)試的情況。一、不同環(huán)境：在我的生活節(jié)奏中，能接觸到的環(huán)境分別
2018-08-18 19:52:23
者中的性價(jià)比是最高的，可支持電流波形顯示存儲(chǔ)回放。具有相對(duì)高的測(cè)試精度和采樣率，可以支持電源供電的電流測(cè)試和作為電流表串入測(cè)試的兩種方式，而且也是國(guó)產(chǎn)制造。幾種電流功耗測(cè)試分析儀設(shè)備的參數(shù)對(duì)比： 最后
2020-12-28 22:59:20
如果我想要 DTM 測(cè)試，我可以使用 43 &44，只有 uart，還是需要使用 46 &47 有 DTM rx。
2023-03-14 11:50:27
2.3、用QRCT測(cè)試接收靈敏度2.3.1、RX界面設(shè)置說明打開QCRT后，點(diǎn)擊RX按鈕，進(jìn)入到如下RX設(shè)置界面，以下是RX各測(cè)試項(xiàng)說明：Channel：設(shè)置待測(cè)試的信道；HT Mode：設(shè)置待測(cè)試
2019-09-20 09:05:06
：選取了測(cè)試場(chǎng)景之后，針對(duì)內(nèi)存測(cè)試的特點(diǎn)設(shè)計(jì)用例，對(duì)APP內(nèi)存變化作對(duì)比；將測(cè)試場(chǎng)景轉(zhuǎn)化為腳本，長(zhǎng)時(shí)間運(yùn)行泛靈犀功能，比較操作前后內(nèi)存的變化來評(píng)估測(cè)試APP的內(nèi)存4）執(zhí)行：將采集到的數(shù)據(jù)以圖形的形式
2020-06-09 16:17:08
請(qǐng)問大家測(cè)試AD9361 RX EVM的指標(biāo)大概是多少？我說下我測(cè)到的數(shù)據(jù)：2.4G wifi20MHz帶寬的標(biāo)準(zhǔn)信號(hào)輸入，EVM只有-37dB，和指標(biāo)的-42dB差了5dB5G wifi20MHz
2019-01-10 14:24:16
測(cè)試設(shè)備網(wǎng)絡(luò)時(shí)測(cè)試頁面卡住/網(wǎng)絡(luò)掛掉或測(cè)試丟包怎么解決？打入rk給的gmac rx tx_delay動(dòng)態(tài)補(bǔ)丁設(shè)備會(huì)奔潰怎么解決？打入rk給的gmac rx tx_delay動(dòng)態(tài)補(bǔ)丁執(zhí)行操作找到的rx_delay tx_delay為空沒有輸出的“O”怎么解決？
2022-03-04 06:28:09
高壓放大器對(duì)比測(cè)試西安安泰電子科技有限公司
2016-09-29 17:02:55
企業(yè)號(hào)測(cè)試專欄企業(yè)號(hào)測(cè)試專欄企業(yè)號(hào)測(cè)試專欄企業(yè)號(hào)測(cè)試專欄企業(yè)號(hào)測(cè)試專欄
2021-11-22 09:26:58
測(cè)試 測(cè)試測(cè)試測(cè)試
2021-11-22 09:26:58
本文內(nèi)容本文描述了PCI Express 2.0版標(biāo)準(zhǔn)對(duì)接收機(jī)(RX)抖動(dòng)容限測(cè)試的要求，同時(shí)還解釋了J-BERT N4903B高性能串行BERT如何利用其完整的抖動(dòng)容限測(cè)試能力，來有效地滿足這些要求，
2010-07-26 12:00:04
0 PCB飛針測(cè)試詳細(xì)介紹 :什么是飛針測(cè)試？飛針測(cè)試是一個(gè)檢查PCB電性功能的方法（開短路測(cè)試）之一。飛測(cè)試機(jī)是一個(gè)在制造環(huán)境測(cè)試PCB的系統(tǒng)。不是使用在傳統(tǒng)
2007-10-16 12:44:2912628 系統(tǒng)測(cè)試、單元測(cè)試、集成測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試、回歸測(cè)試
單元測(cè)試：?jiǎn)卧?b class="flag-6" style="color: red">測(cè)試是對(duì)軟件中的基本組成單位進(jìn)行
2008-10-22 12:38:391651 黑盒測(cè)試與白盒測(cè)試區(qū)別
黑盒測(cè)試 黑盒測(cè)試也稱功能測(cè)試或數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)測(cè)試，它是在已知產(chǎn)品所應(yīng)具有的功能，通
2008-10-22 12:40:028981 黑盒測(cè)試、白盒測(cè)試、單元測(cè)試、集成測(cè)試、系統(tǒng)測(cè)試、驗(yàn)收測(cè)試的區(qū)別黑盒測(cè)試：已知產(chǎn)品的功能設(shè)計(jì)規(guī)格，可以進(jìn)行測(cè)試證明每個(gè)實(shí)現(xiàn)了的功能是否符
2008-10-22 12:43:172363 基于對(duì)FPGA系統(tǒng)失效機(jī)理的深入分析, 提出了軟件測(cè)試技術(shù)在FPGA測(cè)試中的應(yīng)用, 并分析了其可行性; 通過對(duì)比FPGA與軟件系統(tǒng)的異同, 歸納出FPGA特有的測(cè)試要求，從而在軟件測(cè)試技術(shù)的基礎(chǔ)
2011-09-29 17:41:2165 MIPI標(biāo)準(zhǔn)綜述 M-PHY 概況 M-PHY的測(cè)試 TX 測(cè)試 RX 測(cè)試 S參數(shù)和阻抗測(cè)試 DigRF, UniPro 和LLI 協(xié)議的測(cè)試
2011-12-16 14:34:15202 本節(jié)內(nèi)容主要是為了讓用戶快速了解服務(wù)器測(cè)試策略與方法，能夠用于選型測(cè)試中。在此僅僅以最重要的性能、內(nèi)存緩存性能、數(shù)據(jù)庫(kù)網(wǎng)絡(luò)應(yīng)用輔以基本對(duì)比測(cè)試來考察不同服務(wù)器間的
2012-06-14 17:34:411128 由于在迭代開發(fā)模式中需要執(zhí)行大量的回歸測(cè)試，針對(duì)其測(cè)試項(xiàng)目重復(fù)率高的特點(diǎn)，提出了一種Web自動(dòng)化回歸測(cè)試框架來改進(jìn)全手工的作業(yè)。通過對(duì)現(xiàn)有測(cè)試工具和測(cè)試腳本技術(shù)的對(duì)比
2012-11-23 11:08:5018 傳言AMD RX 490將在本月發(fā)布（12月8日或13日），成為年度旗艦卡。對(duì)比GTX 1070，RX 490在3D Mark FireStrike的三項(xiàng)測(cè)試中都蓋過了GTX 1070，幅度約5%~13%。
2016-12-02 16:30:473370 
白盒測(cè)試和黑盒測(cè)試是軟件測(cè)試的兩種基本方法。 白盒測(cè)試又稱結(jié)構(gòu)測(cè)試、透明盒測(cè)試、邏輯驅(qū)動(dòng)測(cè)試或基于代碼的測(cè)試。白盒測(cè)試是一種測(cè)試用例設(shè)計(jì)方法，盒子指的是被測(cè)試的軟件，白盒指的是盒子是可視的，你清楚
2017-11-02 11:18:0718223 
不差錢差在哪 LED與LCD拆解對(duì)比測(cè)試 本周三我們PChome電腦之家推出了圍繞在LCD與LED兩代技術(shù)產(chǎn)品的應(yīng)用性對(duì)比測(cè)試（差距一目了然 LCD與LED對(duì)比應(yīng)用對(duì)比測(cè)試），看過本篇文章的對(duì)比測(cè)試
2018-01-23 01:00:0010824 
為了驗(yàn)證該系統(tǒng)的可靠性，我們采用圖3.9中的測(cè)試方法對(duì)1M的厚膜電阻進(jìn)行了電壓噪聲測(cè)試，其中Rx為待測(cè)阻值為1M的厚膜電阻，Rt為400K繞線電阻，R1為25K可變繞線電阻，R2為10K繞線電阻。
2018-03-28 15:30:002068 
針對(duì)碟式分離機(jī)轉(zhuǎn)鼓在運(yùn)行情況下應(yīng)力測(cè)試難的問題，在碟式分離機(jī)轉(zhuǎn)鼓試驗(yàn)臺(tái)上，對(duì)兩種不同的結(jié)構(gòu)（單個(gè)轉(zhuǎn)鼓和轉(zhuǎn)鼓組件）開展了無線動(dòng)態(tài)應(yīng)力測(cè)試，并結(jié)合有限元仿真進(jìn)行了對(duì)比研究。采用WiFi無線通訊技術(shù)進(jìn)行
2018-03-02 15:53:240 雙工器的測(cè)試指標(biāo)包括從ANT至TX之間、ANT至RX的插入損耗，TX和RX之間的隔離，以及三個(gè)端口的駐波。
2018-03-20 08:40:012734 小米在3月27日下午發(fā)布了，然后大家發(fā)現(xiàn)在GeekBench上以為是小米7的手機(jī)，其實(shí)就是小米MIX 2S。新機(jī)的外觀變動(dòng)不大，主要是升級(jí)了驍龍845和雙攝，拍照我們之后有專門的對(duì)比測(cè)試，而我們這次
2018-04-03 08:28:0010753 在穿越頻率附近，注入信號(hào)和輸出信號(hào)幅值一般都有幾十mV, 示波器測(cè)量精度完全可以信任，下圖是示波器和最傳統(tǒng)的環(huán)路響應(yīng)測(cè)試設(shè)備網(wǎng)絡(luò)分析儀測(cè)試結(jié)果對(duì)比，兩者的測(cè)試結(jié)果幾乎沒有區(qū)別。
2018-07-13 10:24:309279 當(dāng)前使用量最大的 Java 版本是 8，所以測(cè)試者用 Java 8 與 Java 11 進(jìn)行對(duì)比測(cè)試。GC 是影響 Java 性能的關(guān)鍵因素，所以測(cè)試自然也基于 GC，在 G1 GC 和并行 GC 下分別進(jìn)行了測(cè)試。
2019-02-01 01:46:003397 是德科技(NYSE：KEYS)推出全新的發(fā)射機(jī)(Tx)和接收機(jī)(Rx)綜合測(cè)試解決方案，提供滿足外圍設(shè)備互連或 PCIExpress? 5.0 技術(shù)(PCIe? Gen5)標(biāo)準(zhǔn)要求的卓越速度和裕量。
2019-02-22 14:02:204749 呢?且看小編為您帶來詳細(xì)對(duì)比。 此次對(duì)比,我們的將集中于售價(jià)接近的哈弗H9汽油四驅(qū)豪華型和榮威RX8四驅(qū)玩家定制之星際穿越版(后面將簡(jiǎn)稱為:哈弗H9和榮威RX8)。兩款車的售價(jià)分別為24.98萬和24.68萬,幾乎相近的售價(jià)和定位,讓這兩款車成為了消費(fèi)者在購(gòu)車之際
2019-04-30 21:31:28447 主要從問題出發(fā)，引入接口測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容并與前端測(cè)試進(jìn)行簡(jiǎn)單對(duì)比，總結(jié)兩者之前的區(qū)別與聯(lián)系。但該部分只交代了怎么做和如何做？并沒有解釋為什么要做？
2019-05-26 09:44:584382 
UPS電源的工作過程多且時(shí)間長(zhǎng)，往往需要?jiǎng)佑枚嗯_(tái)示波器和高壓差分探頭同時(shí)測(cè)試，記錄數(shù)據(jù)也相對(duì)比較麻煩，今天給大家推薦一種新的測(cè)試方法，“傻瓜式”操作，測(cè)試時(shí)間節(jié)省80％！
2019-07-06 10:25:402324 STM32各系列MCU性能對(duì)比及測(cè)試說明
2020-03-04 10:20:3711966 先在AWorks系統(tǒng)下分別測(cè)試AWTK的Debug版本和Release版本，進(jìn)行AWTK自身對(duì)比，然后在Linux系統(tǒng)下測(cè)試AWTK，與AWorks平臺(tái)進(jìn)行簡(jiǎn)單對(duì)比，對(duì)比AWTK跨平臺(tái)表現(xiàn)，最后在Linux下，找?guī)讉€(gè)功能接近、用到的控件也接近的Qt范例進(jìn)行粗略對(duì)比。
2020-03-09 09:53:496446 
。此次我們簡(jiǎn)單展示了GMC的METRACELL BT PRO測(cè)試電池的原理及與其他測(cè)試原理的不同之處，用以對(duì)比學(xué)習(xí)。 當(dāng)我們提到電池測(cè)試時(shí)，最主要的就是尋找加速老化現(xiàn)象來檢查電池的健康狀態(tài)(SOH)，從而檢查電池的性能。不過，這個(gè)檢查并不像通常說的那樣簡(jiǎn)單，一個(gè)很
2020-04-03 15:12:43971 軟件測(cè)試的測(cè)試對(duì)象：多個(gè)測(cè)試的特點(diǎn)
2020-06-29 11:15:022843 α測(cè)試和β測(cè)試的區(qū)別
2020-06-29 11:22:4925177 目前各生產(chǎn)線上的產(chǎn)品大多數(shù)有了防水的要求，因此運(yùn)用氣密性測(cè)試儀進(jìn)行氣密性防水測(cè)試也越來越廣泛，氣密性測(cè)試儀又稱為氣密性檢測(cè)儀，防水測(cè)試儀，防水檢測(cè)儀，密封性測(cè)試儀，密封性檢測(cè)儀。根據(jù)測(cè)試方法
2020-07-06 15:34:562527 ，我們選擇了市售的13款品牌電源進(jìn)行對(duì)比測(cè)試，結(jié)果其中有2款虛標(biāo)，還有3款的性能不合格，高達(dá)23%的不合格率也是我們沒有想到的。
2020-07-12 10:47:159333 ，Radeon RX 6800 在該測(cè)試的平均功率為 208W，峰值為 269W。記錄的平均溫度為 60℃，但在這個(gè)很短的測(cè)試（約為 60 秒）結(jié)束時(shí)，可能達(dá)到了 63℃。 IT之家了解到，目前，泄露的具體數(shù)據(jù)
2020-11-14 11:50:443493 目前各生產(chǎn)線上的產(chǎn)品大多數(shù)有了防水的要求，因此運(yùn)用氣密性測(cè)試儀進(jìn)行氣密性防水測(cè)試也越來越廣泛，氣密性測(cè)試儀又稱為氣密性檢測(cè)儀，防水測(cè)試儀，防水檢測(cè)儀，密封性測(cè)試儀，密封性檢測(cè)儀。
2020-12-26 19:16:26998 一、基準(zhǔn)測(cè)試簡(jiǎn)介 1、什么是基準(zhǔn)測(cè)試 數(shù)據(jù)庫(kù)的基準(zhǔn)測(cè)試是對(duì)數(shù)據(jù)庫(kù)的性能指標(biāo)進(jìn)行定量的、可復(fù)現(xiàn)的、可對(duì)比的測(cè)試。 基準(zhǔn)測(cè)試與壓力測(cè)試 基準(zhǔn)測(cè)試可以理解為針對(duì)系統(tǒng)的一種壓力測(cè)試。但基準(zhǔn)測(cè)試不關(guān)心業(yè)務(wù)邏輯
2021-01-06 16:01:351447 
手機(jī)顯示屏的功耗測(cè)試，需要根據(jù)實(shí)際應(yīng)用情況來進(jìn)行，測(cè)試時(shí)應(yīng)適當(dāng)降低全屏亮度，突出顯示屏的功耗和發(fā)光特性。在測(cè)試手機(jī)顯示屏亮度時(shí)，既要測(cè)試全屏亮度，又要測(cè)試平均顯示亮度。手機(jī)顯示屏在不同的環(huán)境下，發(fā)光特性和對(duì)比度也不相同，測(cè)試對(duì)比度時(shí)，有暗室對(duì)比度和亮室對(duì)比度之分。
2021-03-22 15:16:05619 ATX-100系列是一款高速的導(dǎo)通線束測(cè)試儀，測(cè)試通道可靈活擴(kuò)展。兼容智能化測(cè)試軟件及大型數(shù)據(jù)庫(kù)，幫助客戶進(jìn)行數(shù)據(jù)對(duì)比分析。每次開機(jī)系統(tǒng)自檢，以確保測(cè)試系統(tǒng)準(zhǔn)確、可靠運(yùn)行。
2021-04-13 09:22:4320 在PCB電性能測(cè)試中，測(cè)試方法多種多樣，而電容測(cè)試法是一種很重要的手段。文章從電容的基本原理入手，引入電容測(cè)試法在PCB電性能測(cè)試中的應(yīng)用。通過與普通的開短路測(cè)試法進(jìn)行對(duì)比，找出電容測(cè)試法的優(yōu)勢(shì)，并以實(shí)際案例進(jìn)行分析，體現(xiàn)出電容測(cè)試法在PCB電性能測(cè)試中的重要作用。
2021-10-15 16:22:453119 
文章目錄1）什么是軟件測(cè)試？測(cè)試的目的：軟件測(cè)試的特點(diǎn)：軟件測(cè)試信息流：軟件測(cè)試的對(duì)象：2）嵌入式軟件測(cè)試2.1 嵌入式軟件2.2 嵌入式軟件測(cè)試嵌入式軟件測(cè)試的特點(diǎn)：3）嵌入式軟件測(cè)試與普通軟件
2021-10-21 13:06:0829 濟(jì)南三泉中石實(shí)驗(yàn)儀器生產(chǎn)的高壓放電法檢漏儀常見的密封性測(cè)試方法對(duì)比: ? 色水法 微生物挑戰(zhàn)法 高壓放電法 ? 將式樣放水中，抽真空后通過對(duì)測(cè)試物上有無氣泡冒出，或者真空還原后色水是否進(jìn)入測(cè)試
2021-11-08 17:04:013999 
UPS電源的工作過程多且時(shí)間長(zhǎng)，往往需要?jiǎng)佑枚嗯_(tái)示波器和高壓差分探頭同時(shí)測(cè)試，記錄數(shù)據(jù)也相對(duì)比較麻煩，今天給大家推薦一種新的測(cè)試方法，“傻瓜式”操作，測(cè)試時(shí)間節(jié)省80％！一、前言在研發(fā)和測(cè)試
2021-11-08 15:06:029 Vcsel失效性分析和老化對(duì)比，VCSEL失效性分析測(cè)試方案
2021-12-03 17:38:242418 
無風(fēng)高低溫試驗(yàn)箱與傳統(tǒng)高低溫試驗(yàn)箱測(cè)試對(duì)比，助力鋰電研發(fā)精準(zhǔn)
2022-06-13 14:35:281995 什么是功能測(cè)試？ 進(jìn)行功能測(cè)試以確保應(yīng)用程序的功能符合需求規(guī)范。這是黑盒測(cè)試，不涉及應(yīng)用程序源代碼的詳細(xì)信息。在執(zhí)行功能測(cè)試時(shí)，重點(diǎn)應(yīng)放在應(yīng)用程序主要功能的用戶友好性上。要首先執(zhí)行功能測(cè)試，我們需要
2023-01-03 17:07:351215 TPT中的測(cè)試用例用信號(hào)特征和函數(shù)調(diào)用描述被測(cè)系統(tǒng)的刺激。您可以用連續(xù)的測(cè)試步驟對(duì)簡(jiǎn)單的測(cè)試進(jìn)行建模。對(duì)于更復(fù)雜的測(cè)試用例，TPT提供了混合狀態(tài)機(jī)和測(cè)試步驟的圖形化建模。無論應(yīng)用哪種方法，由于使用了
2022-11-25 11:15:50608 
漏電起痕試驗(yàn)儀是用于絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定且是是工業(yè)生產(chǎn)中需進(jìn)行的一項(xiàng)測(cè)試。國(guó)內(nèi)主要依據(jù)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)是GB/T 4207-2012《固體絕緣材料耐電痕化指數(shù)和相比電痕化指數(shù)的測(cè)定方法》，通過實(shí)際測(cè)試及相關(guān)行業(yè)的討論，測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)根據(jù)實(shí)際情況也會(huì)發(fā)生相應(yīng)的變動(dòng)
2023-02-07 10:35:37622 
RX9626-C醫(yī)用注射針管（針）韌性測(cè)試儀由智能控制器（由CPU、主板、LCD顯示屏、電源等部分組成）、定位機(jī)構(gòu)、擺動(dòng)機(jī)構(gòu)、夾具等部分組成。RX9626-C醫(yī)用注射針管（針）韌性測(cè)試儀全機(jī)自動(dòng)化
2023-02-10 17:08:39367 
判斷針管剛性測(cè)試儀是否適合最簡(jiǎn)單直接的方法是看標(biāo)準(zhǔn)是否一致，您可以直接咨詢醫(yī)療器械檢測(cè)設(shè)備供應(yīng)商針管剛性測(cè)試儀的測(cè)試儀標(biāo)準(zhǔn)，簡(jiǎn)單對(duì)比一下就可以知道。
以上就是針管剛性測(cè)試儀適用范圍的簡(jiǎn)單介紹，本文由威夏科技原創(chuàng)提供，希望對(duì)您有所幫助。
2023-03-07 17:40:33604 
RX9626-C醫(yī)用注射針管（針）韌性測(cè)試儀夾具上，并受到一定的壓力和彎曲力，在規(guī)定的角度下反復(fù)測(cè)試。 測(cè)試通過后，注射器針頭應(yīng)不折斷，表明其具有足夠的強(qiáng)度和耐力以進(jìn)行安全
2023-03-31 17:30:55683 
之前我們用泰克示波器做過百兆、千兆以太網(wǎng)測(cè)試，現(xiàn)在我們用是德方案來測(cè)試對(duì)比下兩個(gè)品牌的優(yōu)勢(shì)和特點(diǎn)。首先看下測(cè)試環(huán)境，此次我們使用一臺(tái)是德MSO9404A示波器主機(jī)，搭配1132A探頭放大器
2023-04-19 10:33:37615 
低溫測(cè)試，必須先將其“凍透”，再次通電進(jìn)行測(cè)試。2、開機(jī)，對(duì)樣品進(jìn)行性能測(cè)試，對(duì)比性能與常溫相比是否正常。3、進(jìn)行老化測(cè)試，觀察是否有數(shù)據(jù)對(duì)比錯(cuò)誤。4、升溫到+9
2023-05-08 11:29:03650 
可測(cè)性設(shè)計(jì)(DFT)之可測(cè)試性評(píng)估詳解
可測(cè)試性設(shè)計(jì)的定性標(biāo)準(zhǔn)：
測(cè)試費(fèi)用：
一測(cè)試生成時(shí)間
-測(cè)試申請(qǐng)時(shí)間
-故障覆蓋
一測(cè)試存儲(chǔ)成本(測(cè)試長(zhǎng)度)
自動(dòng)測(cè)試設(shè)備的一可用性
2023-09-01 11:19:34459 
IGBT7與IGBT4在伺服驅(qū)動(dòng)器中的對(duì)比測(cè)試
2023-12-14 11:31:08232 
雷卯防靜電元件SM712測(cè)試數(shù)據(jù)展示對(duì)比
2024-03-20 08:02:3964 
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