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電子發(fā)燒友網(wǎng)>測(cè)量?jī)x表>高度加速壽命測(cè)試是什么 高度加速壽命測(cè)試技術(shù)細(xì)節(jié)

高度加速壽命測(cè)試是什么 高度加速壽命測(cè)試技術(shù)細(xì)節(jié)

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什么是間歇工作壽命試驗(yàn) (IOL)?

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基于虛擬儀器的無(wú)線電高度表動(dòng)態(tài)測(cè)試系統(tǒng)總體設(shè)計(jì)

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2020-11-25 06:15:00

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如何延長(zhǎng)電池壽命?

本文就充放電過(guò)程的溫度控制技術(shù)、電池充電電源短路保護(hù)與選擇電池充電器以延長(zhǎng)電池壽命等芯片應(yīng)用的方案配置作介紹。
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2010-04-13 09:37:53583

基于PCI總線的無(wú)線電高度測(cè)試系統(tǒng)

  O 引言   本文對(duì)高度表的組成和工作原理進(jìn)行分析,確定被測(cè)試項(xiàng)目。重點(diǎn)對(duì)被測(cè)參數(shù)進(jìn)行分析
2010-12-22 09:48:57782

大功率晶體管的步進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)

加速壽命試驗(yàn)廣泛地用于在短時(shí)間內(nèi)預(yù)測(cè)元器件的壽命。本文介紹用步進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)估計(jì) 大功率晶體管 的激活能和壽命。本試驗(yàn)采用溫度斜坡模型,試驗(yàn)結(jié)果在和經(jīng)驗(yàn)數(shù)據(jù)做比
2011-07-23 11:23:3350

基于Gibbs抽樣的繼電器加速壽命試驗(yàn)分析

針對(duì)繼電器貯存壽命的町靠性評(píng)估問(wèn)題,根據(jù)生存分析理論,提出基于BoxCox變換的步進(jìn)加速壽命試驗(yàn)?zāi)P汀?紤]多個(gè)環(huán)境應(yīng)力,結(jié)合累積失效模型,運(yùn)用基于Gibbs抽樣的MCMC方法,給出先
2011-08-09 16:27:0019

環(huán)形腔氦氖激光器加速壽命試驗(yàn)分析

文中假設(shè)環(huán)形腔氦氖激光器的工作壽命分布規(guī)律,在大電流應(yīng)力下滿足威布爾分布,選取電流作為加速應(yīng)力,對(duì)環(huán)形腔氦氖激光器進(jìn)行加速壽命試驗(yàn)。通過(guò)最小二乘法對(duì)試驗(yàn)數(shù)據(jù)進(jìn)行處理,試
2012-02-13 15:24:5033

電子元器件加速壽命試驗(yàn)方法的比較

加速壽命試驗(yàn)分為恒定應(yīng)力、步進(jìn)應(yīng)力和序進(jìn)應(yīng)力加速壽命試驗(yàn)。將一定數(shù)量的樣品分成幾組,對(duì)每組施加一個(gè)高于額定值的固定不變的應(yīng)力,在達(dá)到規(guī)定失效數(shù)或規(guī)定失效時(shí)間后停止
2012-04-23 15:31:4576

加速度陀螺儀測(cè)試上位機(jī)軟件

藍(lán)宙電子加速度陀螺儀測(cè)試上位機(jī)軟件藍(lán)宙電子加速度陀螺儀測(cè)試上位機(jī)軟件藍(lán)宙電子加速度陀螺儀測(cè)試上位機(jī)軟件
2016-01-21 14:45:0441

提升OLED壽命已實(shí)現(xiàn) 壽命不再是OLED推廣難題?

日本九州大學(xué)研究人員設(shè)法大幅增加TADF OLED發(fā)射器壽命,達(dá)到約8倍。這是通過(guò)對(duì)設(shè)備結(jié)構(gòu)進(jìn)行一個(gè)簡(jiǎn)單修改實(shí)現(xiàn)的,即將兩個(gè)薄(1-3mm)層Liq(一種含鋰分子)置于空穴阻擋層的兩側(cè)。研究人員采用的TADF設(shè)備,壽命僅約85小時(shí)(LT95)。這是采用了“極端亮度”以加速測(cè)試
2016-04-07 14:07:268076

LED壽命測(cè)試:LED加速老化測(cè)試技術(shù)

LED壽命測(cè)試:LED加速老化測(cè)試技術(shù)
2017-02-08 02:23:3148

Vishay新款高可靠性VY1 Compact系列瓷片式電容器通過(guò)偏壓85/85加速壽命測(cè)試

日前,Vishay Intertechnology, Inc.(NYSE 股市代號(hào):VSH)宣布,其VY1 Compact系列交流線路瓷片式安規(guī)電容器通過(guò)了“偏壓85/85”加速壽命測(cè)試
2017-02-13 10:14:00214

多媒體加速高清設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試應(yīng)用

本文檔介紹了多媒體加速高清設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)試應(yīng)用。
2017-09-12 14:34:253

基于脈沖式無(wú)線電高度表系統(tǒng)的射頻通道測(cè)試方式

針對(duì)脈沖式無(wú)線電高度表系統(tǒng)原位性能檢測(cè)需求,提出了一種基于射頻通道的測(cè)試方法,并研制出相應(yīng)檢測(cè)設(shè)備。該設(shè)備采用天線耦合方式與機(jī)載設(shè)備對(duì)接,綜合運(yùn)用數(shù)字化精密延時(shí)和脈沖調(diào)制、解調(diào)技術(shù),實(shí)現(xiàn)了對(duì)模擬脈沖
2017-11-02 11:45:471

射頻連接器有多長(zhǎng)的壽命 如何測(cè)試

對(duì)于一條射頻測(cè)試 電纜組件 ,應(yīng)用工程師不僅關(guān)心其出廠時(shí)的指標(biāo),而且更加關(guān)心其使用壽命。 射頻電纜組件的壽命取決于三個(gè)因素:電纜本身的抗彎曲性能,電纜和 接頭 之間的良好連接及其抗彎曲性能,接頭
2018-04-16 18:19:004444

電工電子產(chǎn)品加速壽命試驗(yàn)_加速因子的計(jì)算及試驗(yàn)條件

本文首先介紹了加速壽命試驗(yàn)概念與加速壽命試驗(yàn)類型,其次介紹了試驗(yàn)的條件與壽命試驗(yàn)常見(jiàn)的物理模型,最后介紹了加速因子的計(jì)算與加速壽命試驗(yàn)方法。
2018-05-14 08:31:2370498

什么是壽命試驗(yàn)_高加速壽命試驗(yàn)是什么意思

本文首先介紹了壽命試驗(yàn)的優(yōu)點(diǎn)和壽命試驗(yàn)的類別,其次介紹了壽命試驗(yàn)設(shè)計(jì)方法與高加速壽命試驗(yàn)的概念,最后介紹了高加速壽命試驗(yàn)功能及其優(yōu)點(diǎn)。
2018-05-14 09:07:134859

壽命試驗(yàn)的可靠性測(cè)試詳解

本文首先介紹了可靠性測(cè)試的概念與分類,其次介紹了壽命測(cè)試屬于可靠性測(cè)試及其作用,最后介紹了有效的壽命測(cè)試項(xiàng)目及壽命試驗(yàn)相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)。
2018-05-14 09:40:4616177

微動(dòng)開關(guān)壽命測(cè)試電路圖

微動(dòng)開關(guān)壽命測(cè)試是一個(gè)重要的環(huán)節(jié)。筆者設(shè)計(jì)了一款微動(dòng)開關(guān)壽命測(cè)試電路,現(xiàn)介紹如下。
2019-02-07 08:33:005747

基于Xilinx FPGA的Memcached硬件加速器的介紹

本教程討論基于Xilinx FPGA的Memcached硬件加速器的技術(shù)細(xì)節(jié),該硬件加速器可為10G以太網(wǎng)端口提供線速M(fèi)emcached服務(wù)。
2018-11-27 06:41:003433

淺談LED燈具壽命測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)和方案

LED產(chǎn)品目前倍受青睞的一個(gè)重要原因是其節(jié)能和壽命因素,節(jié)能是非常容易看到的,而壽命測(cè)試一直是讓業(yè)界深感困惑。
2019-01-01 04:16:006407

要想電流測(cè)得準(zhǔn),一定不能忽視的技術(shù)細(xì)節(jié)(第二講)

要想電流測(cè)得準(zhǔn),一定不能忽視的技術(shù)細(xì)節(jié)(第二講)
2019-07-02 11:40:482480

美國(guó)能源部公布第三份基于長(zhǎng)期加速壽命測(cè)試的LED驅(qū)動(dòng)器可靠性報(bào)告

據(jù)外媒報(bào)道,美國(guó)能源部(DOE)日前公布了第三份基于長(zhǎng)期加速壽命測(cè)試的LED驅(qū)動(dòng)器可靠性報(bào)告。美國(guó)能源部固態(tài)照明(SSL)研究人員認(rèn)為,最新的結(jié)果都證實(shí)了加速壓力測(cè)試(AST)方法,在各種惡劣條件下都顯示出了良好的性能。此外,測(cè)試結(jié)果及測(cè)定的失敗因素都能告知驅(qū)動(dòng)器開發(fā)人員進(jìn)一步提升可靠性的相關(guān)策略。
2019-08-23 14:34:281475

基于LED芯片使用壽命的實(shí)驗(yàn)測(cè)試方案

隨著LED生產(chǎn)技術(shù)水平的提高,產(chǎn)品的壽命和可靠性大為改觀,LED的理論壽命為10萬(wàn)小時(shí),如果仍采用常規(guī)的正常額定應(yīng)力下的壽命試驗(yàn),很難對(duì)產(chǎn)品的壽命和可靠性做出較為客觀的評(píng)價(jià),而我們?cè)囼?yàn)的主要目的是,通過(guò)壽命試驗(yàn)掌握LED芯片光輸出衰減狀況,進(jìn)而推斷其壽命。
2019-10-04 16:44:00977

基于利用MEMS加速計(jì)傳感器提高電池壽命的設(shè)計(jì)方案

低功耗可利用MEMS加速計(jì)(Accelerometer)傳感器來(lái)增加電池壽命。傳感器變得越來(lái)越省電,所嵌入的各種功能也有助于減少整體系統(tǒng)能耗。
2019-11-05 15:36:37936

電瓶人們最關(guān)心的問(wèn)題—壽命

單體電池壽命定義和測(cè)試程序已被人們普遍接受并形成許多標(biāo)準(zhǔn),測(cè)試壽命時(shí),可保證不過(guò)充、過(guò)放,也就不會(huì)提前失效,與單體不同。 電瓶修復(fù) 電池組的壽命測(cè)試目前的做法不科學(xué),在一定程度上限制了動(dòng)力鋰電池
2020-02-27 14:32:461477

基于采用LabWindows/CVI虛擬儀器技術(shù)實(shí)現(xiàn)高度測(cè)試系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

高度測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試對(duì)象是一部由鋸齒波信號(hào)調(diào)制的調(diào)頻連續(xù)波、恒定差拍自動(dòng)跟蹤式c波段的某型無(wú)線電高度表。該高度表由發(fā)射組合、接收組合、伺服輸出組合和收發(fā)鑒頻組合組成,其工作原理如圖1所示。
2020-08-28 09:52:25723

HALT和HASS測(cè)試方法對(duì)電信PCB組件的重要性是什么?

當(dāng)涉及到 PCB 組裝時(shí),穩(wěn)健測(cè)試的重要性不可低估,因?yàn)樽罱K產(chǎn)品的功效取決于 PCB 。對(duì)于電信行業(yè)中使用的 PCB ,它們需要通過(guò)以下程序進(jìn)行嚴(yán)格的測(cè)試: l 高度加速壽命測(cè)試或 HALT
2020-11-02 19:29:542476

揭秘賽靈思計(jì)算平臺(tái)ACAP技術(shù)細(xì)節(jié)

? 在日前召開的FPGA領(lǐng)域的學(xué)術(shù)頂會(huì)--2019年“FPGA國(guó)際研討會(huì)”上,賽靈思發(fā)表了兩篇長(zhǎng)論文,詳細(xì)介紹了賽靈思“自適應(yīng)計(jì)算加速平臺(tái)”ACAP的系統(tǒng)架構(gòu)和技術(shù)細(xì)節(jié)。本文將對(duì)ACAP的主要架構(gòu)
2021-01-04 09:53:242928

大功率半導(dǎo)體激光器加速壽命測(cè)試方法

大功率半導(dǎo)體激光器的應(yīng)用領(lǐng)域越來(lái)越廣泛,其可靠性非常重要,且壽命是衡量可靠性的重要指標(biāo)之一。然而,大功率激光器的工作壽命還沒(méi)有一個(gè)國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)定義,也沒(méi)有標(biāo)準(zhǔn)的加速檢測(cè)方法。
2021-03-24 15:55:046

液位高度測(cè)量方案簡(jiǎn)述

要求掃描測(cè)量4瓶膠水的高度 首先先把要測(cè)量的4瓶膠水整齊的放在運(yùn)動(dòng)裝置上,固定90度鏡頭位置,并以陶瓷量塊高度作為一個(gè)基準(zhǔn)線。 ? 本次測(cè)試采用立儀科技H4UC全量程控制器,鏡頭采用D35A7R16
2022-06-28 15:46:03903

測(cè)試套件加速 SPE 汽車設(shè)計(jì)

測(cè)試套件加速 SPE 汽車設(shè)計(jì)
2023-01-05 09:43:38489

萬(wàn)能試驗(yàn)機(jī)高度在不同行業(yè)的應(yīng)用

高度的精準(zhǔn)控制和測(cè)量。在進(jìn)行高度控制和測(cè)量時(shí),需要注意操作細(xì)節(jié)和安全問(wèn)題,保證測(cè)試結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。
2023-03-14 14:21:15343

汽車電子壽命測(cè)試概念及技術(shù)細(xì)節(jié)

壽命測(cè)試是對(duì)組件、子系統(tǒng)或系統(tǒng)在其預(yù)期或指定的使用壽命條件下進(jìn)行的測(cè)試。它的目的是評(píng)估和驗(yàn)證產(chǎn)品在實(shí)際使用壽命期間的可靠性和性能。
2023-07-25 11:51:11417

可靠性證明測(cè)試高度加速壽命測(cè)試

壽命測(cè)試是一種重要的可靠性測(cè)試方法,用于評(píng)估組件、子系統(tǒng)或系統(tǒng)在預(yù)期或指定的使用壽命條件下的性能和可靠性。壽命測(cè)試旨在模擬實(shí)際應(yīng)用環(huán)境中物品所面臨的各種因素和應(yīng)力,例如時(shí)間、溫度、振動(dòng)、沖擊、電壓等,并通過(guò)持續(xù)的測(cè)試和監(jiān)測(cè)來(lái)觀察物品在這些條件下的行為。
2023-08-01 16:31:20505

PCB的環(huán)境測(cè)試有哪些類型

加速試驗(yàn)包括高加速壽命試驗(yàn)(HALT)和高加速應(yīng)力篩檢(HASS)。這些測(cè)試評(píng)估產(chǎn)品在受控環(huán)境下的可靠性,包括高溫、高濕和設(shè)備通電時(shí)的振動(dòng)/沖擊測(cè)試。目標(biāo)是模擬可能導(dǎo)致新產(chǎn)品即將失效的條件。在測(cè)試期間,產(chǎn)品在模擬環(huán)境中進(jìn)行監(jiān)控。電子產(chǎn)品的環(huán)境試驗(yàn)通常包括在一個(gè)小的環(huán)境室中進(jìn)行試驗(yàn)。
2023-08-17 13:43:08291

加速壽命測(cè)試HALT HASS HASA

加速壽命測(cè)試HALT、高加速應(yīng)力篩選測(cè)試HASS和高加速應(yīng)力稽核測(cè)試HASA,都是可靠性測(cè)試的方法,用于評(píng)估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)和可靠性。可靠性高加速壽命測(cè)試圖源:華南檢測(cè)中心HALT測(cè)試
2023-08-18 08:35:29611

可靠性測(cè)試中HALT實(shí)驗(yàn)與HASS實(shí)驗(yàn)的區(qū)別

電子產(chǎn)品高加速壽命測(cè)試HALT、高加速應(yīng)力篩選測(cè)試HASS,都是可靠性測(cè)試的方法,用于評(píng)估電子產(chǎn)品在惡劣環(huán)境下的性能表現(xiàn)和可靠性。那他們之前的區(qū)別是什么呢,跟隨本文來(lái)一起了解。
2024-01-30 10:25:44206

加速壽命試驗(yàn)對(duì)焊點(diǎn)的可靠性評(píng)估

加速壽命試驗(yàn)是加速電子產(chǎn)品在實(shí)際使用中會(huì)出現(xiàn)的損壞因素,以比實(shí)際使用更短的時(shí)間引發(fā)失效,藉此鑒定產(chǎn)品是否符合設(shè)計(jì)要求,以及對(duì)失效模式分析并提出改進(jìn)方案。
2024-01-31 09:28:50168

快充技術(shù)會(huì)影響電池壽命嗎?

快充技術(shù)可能會(huì)對(duì)電池壽命產(chǎn)生一定的影響。雖然快充技術(shù)能夠顯著縮短充電時(shí)間,但是大電流和高電壓的充電方式可能會(huì)加速電池的損耗,導(dǎo)致電池壽命的縮短。具體來(lái)說(shuō),快充技術(shù)通常需要更高的充電電壓或電流,這會(huì)
2024-02-06 15:44:29612

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