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傳感器和物聯(lián)網(wǎng) （IoT） 技術(shù)正迅速擴(kuò)展到工業(yè)、商業(yè)，甚至是消費(fèi)領(lǐng)域中。隨著這種技術(shù)擴(kuò)展，越來(lái)越需要確保來(lái)自相關(guān)傳感器及其前端接口電路的數(shù)據(jù)保持完整性。
當(dāng)單個(gè)接口IC支持多個(gè)傳感器時(shí)，數(shù)據(jù)完整性的潛在問(wèn)題會(huì)變得更加嚴(yán)重，因?yàn)閱蝹€(gè)IC的問(wèn)題可能會(huì)損壞一組讀數(shù)。這可能會(huì)進(jìn)而導(dǎo)致對(duì)感測(cè)情況評(píng)估不正確，造成不合適甚至危險(xiǎn)的系統(tǒng)操作。
本文將介紹傳感器到處理器的信號(hào)鏈中，軟硬（瞬態(tài)）故障以及傳感器讀數(shù)不準(zhǔn)確的各種根源。
傳感器到處理器的信號(hào)路徑
最終影響任何傳感器讀數(shù)完整性的因素都始于圖1中所示信號(hào)鏈的三個(gè)主要功能塊。這些功能塊是：
傳感器及其引線
信號(hào)調(diào)節(jié)IC中的模擬前端，以模數(shù)轉(zhuǎn)換器 （ADC） 為中心
連接到系統(tǒng)處理器的數(shù)字I/O
傳感器到處理器的基本信號(hào)路徑圖
圖 1：傳感器到處理器的基本信號(hào)路徑在原則上只包含一些基本功能，但實(shí)用的接口 IC 提供了許多附加功能和特性。
在多通道系統(tǒng)中，通?；旌狭烁鞣N類型的傳感器，如熱電偶、電阻溫度檢測(cè)器 （RTD） 和壓力傳感器。當(dāng)然，傳感器可能會(huì)發(fā)生故障，或者其互連引線可能會(huì)形成開(kāi)路，或者與相鄰的引線、電源軌或接地形成短路。
根據(jù)傳感器的類型，其引線的故障可能會(huì)立即表現(xiàn)為讀數(shù)“偏離標(biāo)度”。相反，某些故障模式會(huì)導(dǎo)致不準(zhǔn)確但看起來(lái)合理的信號(hào)。此外，某些傳感器（如 RTD）需要外部激勵(lì)電流，而此電流必須在設(shè)定范圍內(nèi)才能提供有效讀數(shù)。鑒于這些原因，可取的做法是：測(cè)試傳感器與模擬前端之間信號(hào)路徑的連續(xù)性，并檢查信號(hào)是否保持在允許的最小和最大限值之間，但最好使用不受 ADC 潛在問(wèn)題影響的模擬電路。
這不僅提供準(zhǔn)確的讀數(shù)，而且還能使系統(tǒng)決策算法在運(yùn)行時(shí)根據(jù)這些讀數(shù)，采用可信度極高的源數(shù)據(jù)。
但是，所有這些額外的檢查和平衡會(huì)增加額外的元器件，需要更大的占用空間和額外的設(shè)計(jì)時(shí)間。
自詢問(wèn)式 IC 確保傳感器數(shù)據(jù)的完整性
為了滿足對(duì)高完整性數(shù)據(jù)的需求，同時(shí)對(duì)設(shè)計(jì)時(shí)間和占用空間的影響最小，Analog Devices 推出了 AD7124-8BCPZ-RL7，這是一種以傳感器為中心的 ADC 和接口，其功能遠(yuǎn)遠(yuǎn)超出了基本的信號(hào)調(diào)節(jié)和轉(zhuǎn)換。該產(chǎn)品包括多種信號(hào)和自診斷功能，以確保數(shù)據(jù)完整性。
Analog Devices 的 AD7124 以傳感器為中心的 ADC 和接口示意圖
圖 2：AD7124 是以傳感器為中心的 ADC 和接口，其功能遠(yuǎn)超基本的信號(hào)調(diào)節(jié)和轉(zhuǎn)換，包括多種信號(hào)和自診斷功能，用于確保數(shù)據(jù)的完整性。
AD7124 是一款四通道、低噪聲、低功耗、24 位、三角積分 （Σ-Δ） 型器件。采樣率范圍從略高于每秒 1 個(gè)樣本（對(duì)多種傳感器及其應(yīng)用來(lái)說(shuō)已經(jīng)足夠）到每秒 19，200 個(gè)樣本。在最低采樣率下，該器件耗電 255 微安 （μA）。由于其設(shè)計(jì)強(qiáng)調(diào)低噪聲（低于 25 納伏 （nV） rms），以及內(nèi)部電壓基準(zhǔn)的低漂移 （10 ppm/°C），該器件的讀數(shù)精度得到了提升。
AD7124 本身采用 32 引線 LFCSP 和 24 引線 TSSOP 封裝。其靈活的數(shù)字 I/O 支持 3 線和 4 線 SPI、QSPI、MICROWIRETM 和 DSP 兼容接口。
AD7124 采用兩種技術(shù)解決了前面提到的傳感器引線問(wèn)題：信號(hào)限制警報(bào)和燒毀電流測(cè)試。信號(hào)限制警報(bào)使用過(guò)壓/欠壓警報(bào)監(jiān)視器，來(lái)檢查四對(duì)模擬輸入連接中每一對(duì)的絕對(duì)電壓（圖 3）。該電壓必須在規(guī)定的范圍內(nèi)，以滿足規(guī)格書(shū)中的規(guī)格。
傳感器基本驗(yàn)證示意圖
圖 3：使用信號(hào)限制警報(bào)對(duì)傳感器引線進(jìn)行基本驗(yàn)證時(shí)，可采用基于硬件且設(shè)置了固定最小值/最大值的比較器。
燒毀電流測(cè)試使用一對(duì)互補(bǔ)的可編程電流阱和電流源。通過(guò)在傳感器引線中灌拉一對(duì)預(yù)定義的電流，AD7124 可以驗(yàn)證其完整性（圖 4）。全開(kāi)或全關(guān)的電流將轉(zhuǎn)換為所選的待測(cè)模擬輸入線對(duì)。
灌拉一對(duì)預(yù)定義電流的示意圖
圖 4：通過(guò)在傳感器引線中灌拉一對(duì)預(yù)定義的電流，AD7124 可以驗(yàn)證其完整性。
滿量程讀數(shù)（或接近值）可能意味著前端傳感器處于開(kāi)路狀態(tài)。如果測(cè)得的電壓為 0 伏，則可能表明傳感器已短路。錯(cuò)誤寄存器中會(huì)設(shè)置相應(yīng)的標(biāo)志位，以指示錯(cuò)誤的發(fā)生和類型。
最后，對(duì)于用戶提供外部基準(zhǔn)而非使用內(nèi)部基準(zhǔn)（通常使用 RTD 或應(yīng)變片完成）的應(yīng)用，AD7124 會(huì)檢查所有外部轉(zhuǎn)換基準(zhǔn)電壓是否正確無(wú)誤。
驗(yàn)證前端和 ADC
雖然外部傳感器及其引線出現(xiàn)問(wèn)題的可能性最大，但驗(yàn)證前端/轉(zhuǎn)換 IC 本身的性能仍然至關(guān)重要?？赡艹鲆?guī)格或完全失效的功能包括：
內(nèi)部 ADC 電壓基準(zhǔn)
可編程增益放大器 （PGA），用于放大輸入信號(hào)以匹配 ADC 量程，從而實(shí)現(xiàn)最高分辨率
低壓差穩(wěn)壓器 （LDO），用于提供所需的傳感器激勵(lì)
IC 的內(nèi)部電源軌
ADC 本身
為了測(cè)試信號(hào)鏈的模擬部分，AD7124 會(huì)調(diào)用基于硬件和固件的自檢。隨后產(chǎn)生 20 毫伏 （mV） 信號(hào)，而該信號(hào)可在內(nèi)部傳送到四個(gè)差分輸入通道中的任一個(gè)，然后進(jìn)行數(shù)字化。這樣做有多個(gè)目的：驗(yàn)證輸入通道多路復(fù)用器和 ADC 的基本操作；還可以通過(guò)更改 PGA 的增益設(shè)置并檢查得到的 ADC 讀數(shù)，對(duì) PGA 進(jìn)行評(píng)估。
ADC 也是潛在問(wèn)題的根源之一。AD7124 采用完善的 Σ-Δ 轉(zhuǎn)換器架構(gòu)，內(nèi)含 1 位調(diào)制器和必需的數(shù)字濾波器。ADC 性能的全面測(cè)試同時(shí)采用模擬和數(shù)字技術(shù)。
在 AD7124 中，如果調(diào)制器輸出包含 20 個(gè)連續(xù)的 1 或 0，則表示調(diào)制器的一個(gè)軌或另一個(gè)軌已飽和，并且會(huì)設(shè)置錯(cuò)誤標(biāo)志位。同樣，IC 在自啟動(dòng)偏移校準(zhǔn)之后，檢查 ADC 偏移系數(shù)是否在 0x7FFFF 和 0xF80000 之間。如果系數(shù)超出此范圍，則會(huì)設(shè)置另一個(gè)錯(cuò)誤標(biāo)志位。最后，在滿量程校準(zhǔn)期間，數(shù)字濾波器的任何溢出都會(huì)設(shè)置另一個(gè)錯(cuò)誤標(biāo)志位。
內(nèi)外部電源和電源軌也是潛在的問(wèn)題來(lái)源。許多傳感器需要少量激勵(lì)功率，而這通常由模擬前端 IC 內(nèi)的小型、低噪聲 LDO 提供。
AD7124 以兩種方式檢查其 LDO 輸出。首先，LDO 的輸出可以在內(nèi)部路由至 ADC，并與預(yù)期值進(jìn)行比較。其次，獨(dú)立于 ADC 的硬件比較器會(huì)持續(xù)監(jiān)測(cè) LDO 相對(duì)于 IC 基準(zhǔn)值的變化。如果低于預(yù)設(shè)閾值，則會(huì)設(shè)置錯(cuò)誤標(biāo)志位。因此，可以在初始化期間評(píng)估 LDO，也可以持續(xù)進(jìn)行評(píng)估，而不會(huì)不斷消耗處理器資源。
為了進(jìn)一步確信，可以（在一定程度上）檢查用于監(jiān)測(cè)電源的測(cè)試電路，方法是將測(cè)試電路的輸入接地（標(biāo)稱 0 伏），然后檢查數(shù)字讀數(shù)。AD7124 通過(guò)檢查所需的 0.1 微法 （μF） 去耦電容器是否存在并已連接，進(jìn)一步確保數(shù)據(jù)的完整性。方法是指示 AD7124 通過(guò)其內(nèi)部開(kāi)關(guān)物理斷開(kāi)去耦電容器，然后檢查 LDO 輸出。如果 LDO 電壓下降，則去耦電容器未通電。同樣，這也會(huì)設(shè)置錯(cuò)誤標(biāo)志位。
當(dāng)然，每個(gè) IC 都具有最高溫度額定值，超出該值將超出規(guī)格，甚至?xí)⒓匆l(fā)故障。因此，AD7124 內(nèi)置一個(gè)傳感器，可隨時(shí)提供芯片溫度讀數(shù)，典型精度為 ±0.5°C。
數(shù)字錯(cuò)誤怎么辦？
到目前為止，我們已經(jīng)了解了如何確保模擬傳感器或轉(zhuǎn)換功能的性能和精度。但是，在部署了許多此類傳感器的惡劣電氣工業(yè)環(huán)境中，存在影響數(shù)字電子設(shè)備的噪聲、EMI/RFI 和瞬變問(wèn)題。因此，必須確保內(nèi)部數(shù)字電路的性能，以及系統(tǒng)處理器的接口連接，以確保數(shù)據(jù)以及任何讀寫操作的穩(wěn)健性。
AD7124 從以下操作和特性開(kāi)始，通過(guò)多管齊下的方式實(shí)現(xiàn)這一點(diǎn)：
檢查主時(shí)鐘的性能。在設(shè)置輸出數(shù)據(jù)速率、濾波器建立時(shí)間以及濾波器陷波頻率時(shí)，需要使用主時(shí)鐘。主時(shí)鐘由獨(dú)立且可隨時(shí)回讀的向上計(jì)數(shù)寄存器進(jìn)行檢查。
通過(guò)特殊時(shí)鐘計(jì)數(shù)器，檢查每個(gè) SPI 讀寫操作中使用的 SCLK 脈沖數(shù)。該數(shù)值應(yīng)為 8 的倍數(shù)（所有 SPI 操作均使用 8、16、32、40 或 48 個(gè)時(shí)鐘脈沖）。
AD7124 檢查讀寫操作是否僅對(duì)有效的寄存器地址進(jìn)行尋址。
這些步驟處理內(nèi)部操作，但不能確保處理器接口及其數(shù)據(jù)的完整性。為了提供極高的數(shù)據(jù)可信度，用戶可以指示 AD7124 實(shí)施循環(huán)冗余校驗(yàn) （CRC） 多項(xiàng)式校驗(yàn)和算法。校驗(yàn)和確保只將有效數(shù)據(jù)寫入寄存器，并允許驗(yàn)證從寄存器讀取的數(shù)據(jù)（圖 5）。請(qǐng)注意，校驗(yàn)和是一種高可信度技術(shù)，甚至能夠檢測(cè)單比特錯(cuò)誤，但無(wú)法糾正這些錯(cuò)誤。
將基于多項(xiàng)式的 CRC 校驗(yàn)和添加到 SPI 寫入和 SPI 讀取事務(wù)的示意圖（點(diǎn)擊放大）
圖 5：將基于多項(xiàng)式的 CRC 校驗(yàn)和添加到 SPI 寫入（左）和 SPI 讀?。ㄓ遥┦聞?wù)，以檢測(cè)單比特錯(cuò)誤。
啟用后，此操作將計(jì)算數(shù)據(jù)塊的校驗(yàn)和，并將其附加到每個(gè)讀寫事務(wù)的末尾。為了確保寄存器寫入成功，需要回讀寄存器，以驗(yàn)證存儲(chǔ)的校驗(yàn)和與根據(jù)數(shù)據(jù)計(jì)算得出的校驗(yàn)和是否相符。
在惡劣的電氣環(huán)境中，即使是存儲(chǔ)器也可能出現(xiàn)比特錯(cuò)誤。為了對(duì)片載寄存器中的此類錯(cuò)誤進(jìn)行高級(jí)校驗(yàn)，AD7124 每次都會(huì)針對(duì)以下情況的一系列操作計(jì)算校驗(yàn)和：
存在寄存器寫入周期時(shí)
存在偏移/滿量程校準(zhǔn)時(shí)
器件執(zhí)行單個(gè)轉(zhuǎn)換周期，ADC 在轉(zhuǎn)換完成后進(jìn)入待機(jī)模式時(shí)
退出連續(xù)讀取模式時(shí)
為了增強(qiáng)穩(wěn)健性，還會(huì)評(píng)估內(nèi)部只讀存儲(chǔ)器 （ROM）。上電時(shí)，所有寄存器均初始化為存儲(chǔ)在 ROM 中的默認(rèn)值。此時(shí)會(huì)對(duì) ROM 內(nèi)容執(zhí)行 CRC 計(jì)算。如果計(jì)算出來(lái)的值與存儲(chǔ)的 CRC 結(jié)果不同，則表示存在至少一個(gè)單比特錯(cuò)誤。
AD7124 還可為多種類型的傳感器提供激勵(lì)，并可通過(guò)放大器和 PGA 對(duì)傳感器輸出信號(hào)進(jìn)行調(diào)節(jié)和縮放。為了提供極高的穩(wěn)健性，AD7124 包含許多內(nèi)部寄存器，用于初始化、建立所需的功能模式和參數(shù)，以及標(biāo)記各種錯(cuò)誤和故障。
使用 AD7124 評(píng)估板快速啟動(dòng) AD7124 設(shè)計(jì)
AD7124 是一個(gè)復(fù)雜的系統(tǒng)，具有許多設(shè)計(jì)可能性和性能。它并非簡(jiǎn)單的“即插即用型”傳感器接口 IC。為了便于學(xué)習(xí)，并使設(shè)計(jì)人員能夠快速熟悉各種潛在功能，Analog Devices 還提供了 EVAL-CN0376-SDPZ 評(píng)估板（圖 6）。
Analog Devices 的 EVAL-CN0376-SDPZ 評(píng)估板圖片
圖 6：EVAL-CN0376-SDPZ 評(píng)估板可加快設(shè)計(jì)導(dǎo)入的速度，并允許全面運(yùn)用 AD7124 的眾多功能和特性。
該評(píng)估板包含所需的電源和外部元器件，以便將 AD7124 連接到各種實(shí)際使用的傳感器以及處理器。該板由基于 Windows PC 的 CN-0376 評(píng)估軟件提供支持，該軟件通過(guò) USB 端口進(jìn)行通信，以配置和捕獲評(píng)估板中的數(shù)據(jù)。
總結(jié)
許多關(guān)鍵決策都是由嵌入系統(tǒng)處理器中的高級(jí)算法做出，如今這種決策方式在很多情況下因人工智能 （AI） 而得到改善。這些算法運(yùn)行、得出結(jié)論并采取行動(dòng)所依據(jù)的原始數(shù)據(jù)必須具有高度的完整性，這一點(diǎn)比以往任何時(shí)候都更為重要。AD7124 等 IC 可顯著提高數(shù)據(jù)的可信度，確保信號(hào)鏈中的每個(gè)鏈路（從引線和傳感器接口到自身的性能和功能）都按預(yù)期運(yùn)行且未受損壞。
來(lái)源；電子說(shuō)
工商網(wǎng)監(jiān)
評(píng)論