哪位大蝦推薦個(gè)測(cè)試元器件管腳可焊性的裝置啊，謝謝啦
2012-10-26 12:40:45
的CANDT一致性測(cè)試系統(tǒng)，該設(shè)備可自動(dòng)化完成CAN節(jié)點(diǎn)物理層、鏈路層及應(yīng)用層一致性測(cè)試，是當(dāng)前CAN總線測(cè)試領(lǐng)域唯一能夠進(jìn)行完善的物理層自動(dòng)化測(cè)試并導(dǎo)出報(bào)表的儀器設(shè)備。 用戶(hù)只需要在測(cè)試頁(yè)面勾選所需測(cè)試項(xiàng)
2018-11-22 16:36:25
CH32V307評(píng)估板是否可跑Linux？
2023-03-28 20:46:36
汽車(chē)在出廠之前，從研發(fā)設(shè)計(jì)到整車(chē)下線要經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的檢測(cè)，以確保產(chǎn)品的質(zhì)量以及各分系統(tǒng)工作的可靠性和安全性。隨著汽車(chē)電子技術(shù)的發(fā)展，測(cè)試項(xiàng)目和測(cè)試要求越來(lái)越多，測(cè)試系統(tǒng)的可擴(kuò)展性受到更多的關(guān)注。
2019-10-11 08:06:38
都應(yīng)通過(guò)這樣的測(cè)試。依我看，JEDEC制定的標(biāo)準(zhǔn)應(yīng)該涵蓋這類(lèi)測(cè)試。您說(shuō)呢？” 客戶(hù)的質(zhì)疑是對(duì)的。為使GaN被廣泛使用，其可靠性需要在預(yù)期應(yīng)用中得到證明，而不是僅僅通過(guò)硅材料配方合格認(rèn)證（silicon
2018-09-10 14:48:19
外部輸入的。內(nèi)建自測(cè)試可以簡(jiǎn)化測(cè)試步驟，而且無(wú)需昂貴的測(cè)試儀器和設(shè)備（如ATE設(shè)備），但它增加了芯片設(shè)計(jì)的復(fù)雜性。
2011-12-15 09:35:34
的問(wèn)題，可靠性解決的是一段時(shí)間以后的問(wèn)題。Quality的問(wèn)題解決方法往往比較直接，設(shè)計(jì)和制造單位在產(chǎn)品生產(chǎn)出來(lái)后，通過(guò)簡(jiǎn)單的測(cè)試就可以知道產(chǎn)品性能是否達(dá)到SPEC的要求，這種測(cè)試在IC的設(shè)計(jì)和制造單位就可以
2019-11-23 09:59:07
的問(wèn)題，可靠性解決的是一段時(shí)間以后的問(wèn)題。Quality的問(wèn)題解決方法往往比較直接，設(shè)計(jì)和制造單位在產(chǎn)品生產(chǎn)出來(lái)后，通過(guò)簡(jiǎn)單的測(cè)試就可以知道產(chǎn)品性能是否達(dá)到SPEC的要求，這種測(cè)試在IC的設(shè)計(jì)和制造單位就可以
2019-11-26 16:59:02
被內(nèi)透光照明方式所取代，而LED是內(nèi)透光照明的絕佳選擇，并有助于減少光干擾和光污染問(wèn)題?！ 〉诙琇ED色彩豐富，出射光單色性好。單色LED出射光的單色性較好，這是由LED芯片的發(fā)光原理所決定的，采用
2012-12-18 22:02:11
(LTE)能否成功部署，一大部分取決于系統(tǒng)中不同組件的兼容性，以及彼此之間能否有效地互通。通過(guò)一致性測(cè)試(Conformance Testing)，可確保這些組件的性能符合3GPP規(guī)格所定義的最低要求
2019-06-06 06:41:14
削弱以至于消失，電路和系統(tǒng)的可測(cè)試性急劇下降，測(cè)試成本在電路和系統(tǒng)總成本中所占的比例不斷上升，常規(guī)測(cè)試方法正面臨著日趨嚴(yán)重的測(cè)試困難。PCB可測(cè)試性設(shè)計(jì)技術(shù)要概述在電路的邏輯設(shè)計(jì)完成后，通常是以手工
2018-09-19 16:17:24
是什么在推動(dòng)著可制造性設(shè)計(jì)（DFM）的進(jìn)程？可制造性設(shè)計(jì)（DFM）有哪些優(yōu)點(diǎn)？
2021-04-26 06:04:32
PCB可測(cè)性設(shè)計(jì)
2009-03-26 22:20:36
P C B 可測(cè)性設(shè)計(jì)布線規(guī)則之建議― ― 從源頭改善可測(cè)率PCB 設(shè)計(jì)除需考慮功能性與安全性等要求外，亦需考慮可生產(chǎn)與可測(cè)試。這里提供可測(cè)性設(shè)計(jì)建議供設(shè)計(jì)布線工程師參考。1. 每一個(gè)銅箔電路支點(diǎn)
2009-03-26 21:32:46
For Manufacture）：可制造性設(shè)計(jì)?！ ?.1 PCB 印制電路板（Printed Circuit Board（縮寫(xiě)為：PCB））：印制電路或印制線路成品板的通稱(chēng)，簡(jiǎn)稱(chēng)印制板。它包括
2023-04-14 16:17:59
更多的附加價(jià)值。為了順利地實(shí)施這些措施，在產(chǎn)品科研開(kāi)發(fā)階段，就必須有相應(yīng)的考慮。1、什么是可測(cè)試性 可測(cè)試性的意義可理解為：測(cè)試工程師可以用盡可能簡(jiǎn)單的方法來(lái)檢測(cè)某種元件的特性，看它能否滿(mǎn)足預(yù)期
2014-11-19 11:47:21
產(chǎn)品設(shè)計(jì)的可測(cè)試性(De sign For Testability. OFT) 也是產(chǎn)品可制造性的主要內(nèi)容從生產(chǎn)角度考慮也是設(shè)計(jì)的工藝性之一。它是指在設(shè)計(jì)時(shí)考慮產(chǎn)品性能能夠檢測(cè)的難易程度，也就是說(shuō)
2016-07-28 10:08:06
SMT元器件可焊性檢測(cè)方法 1.焊槽滋潤(rùn)法 焊槽滋潤(rùn)法是most原始的元器件可焊性測(cè)驗(yàn)辦法之一，它是一種經(jīng)過(guò)目測(cè)(或經(jīng)過(guò)放大 鏡)進(jìn)行評(píng)估的測(cè)驗(yàn)辦法，其根本測(cè)驗(yàn)程序?yàn)?將樣品浸漬于焊劑后取出
2021-10-08 13:37:50
TekExpress一致性自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)的功能有哪些？TekExpress一致性自動(dòng)測(cè)試平臺(tái)的組成部分有哪些？
2021-04-09 06:05:46
、Hsync和Vsync需要加粗,做”立體包地”處理，隔離層走線。
04 VGA接口的PCB可制造性設(shè)計(jì)
焊盤(pán)大小和間距
VGA接口的PCB需要焊接多個(gè)焊盤(pán)，焊盤(pán)的大小和間距直接影響到焊接質(zhì)量和穩(wěn)定性，需要
2023-12-25 13:44:27
、Hsync和Vsync需要加粗,做”立體包地”處理，隔離層走線。
04 VGA接口的PCB可制造性設(shè)計(jì)
焊盤(pán)大小和間距
VGA接口的PCB需要焊接多個(gè)焊盤(pán)，焊盤(pán)的大小和間距直接影響到焊接質(zhì)量和穩(wěn)定性，需要
2023-12-25 13:40:35
本文首先簡(jiǎn)單介紹W/TD 雙模手機(jī)收發(fā)機(jī)的整體架構(gòu)，然后對(duì)WCDMA 和TD-SCDMA 協(xié)議中外部收發(fā)機(jī)的信號(hào)流程進(jìn)行可復(fù)用性分析，并從上行和下行兩個(gè)方面分析了外部收發(fā)機(jī)中可復(fù)用的功能模塊。本文的分析基于3GPP-Release 7 版本。
2021-06-01 06:57:57
dft可測(cè)試性設(shè)計(jì)，前言可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法之一：掃描設(shè)計(jì)方法可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法之二：標(biāo)準(zhǔn)IEEE測(cè)試訪問(wèn)方法可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法之三：邏輯內(nèi)建自測(cè)試可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法之四：通過(guò)MBIST測(cè)試寄存器總結(jié)...
2021-07-22 09:10:42
pcb 可測(cè)性設(shè)計(jì)pcb 可測(cè)性設(shè)計(jì)pcb 可測(cè)性設(shè)計(jì)
2013-10-25 14:41:27
testability information model)模型,該模型在表示方法上與EDA軟件相兼容,可結(jié)合功能相關(guān)性和故障模式相關(guān)性方便地對(duì)電子系統(tǒng)進(jìn)行測(cè)試性分析?！娟P(guān)鍵詞】：測(cè)試性;;試性建模;;ESTIM
2010-04-22 11:28:58
誰(shuí)有聚星公司射頻一致性測(cè)試的程序啊，求一個(gè)做參考，！
2017-07-14 18:11:38
為什么需要進(jìn)行WiMAX協(xié)議一致性測(cè)試看完你就知道
2021-04-15 06:16:57
`于博士電源完整性詳解文章學(xué)習(xí)，還有信號(hào)完整性視頻以及仿真軟件教程等學(xué)習(xí)資料關(guān)注于博士信號(hào)完整性，還有更多內(nèi)容可學(xué)習(xí)，定時(shí)更新學(xué)習(xí)資料。覺(jué)得有用的可幫忙頂貼一下。`
2017-08-16 10:38:02
基于行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)、國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)的可靠性測(cè)試方法企業(yè)設(shè)計(jì)的可靠性測(cè)試方法
2021-03-08 07:55:20
可掃描觸發(fā)器的作用有哪些？標(biāo)準(zhǔn)IEEE測(cè)試訪問(wèn)方法主要有哪些應(yīng)用領(lǐng)域？可測(cè)試性設(shè)計(jì)方法有哪幾種？分別有哪些優(yōu)點(diǎn)？
2021-08-09 07:23:28
在貴司提供的“緩存”視頻教程及例程中，提到了有關(guān)配置內(nèi)存可緩存性的問(wèn)題，在StarterWare中其對(duì)應(yīng)函數(shù)為“”，但是沒(méi)有對(duì)其進(jìn)行展開(kāi)說(shuō)明。我對(duì)該操作的理解有些疑問(wèn)。我對(duì)它的理解是這樣的：內(nèi)存可
2020-05-21 07:29:59
各位大爺覺(jué)得可靠性測(cè)試有沒(méi)有必要做？
2016-07-07 17:25:55
=***0.5pt]可維修性等級(jí)分類(lèi)、可維修性測(cè)試項(xiàng)目、測(cè)試用例[size=***0.5pt]2.5[size=***0.5pt]可生產(chǎn)性測(cè)試項(xiàng)目及測(cè)試用例[size=***0.5pt]可生產(chǎn)性評(píng)估指標(biāo)
2011-03-28 22:33:18
的安全性，降低社會(huì)成本，目前各國(guó)***普遍使用新車(chē)安全度評(píng)價(jià)系統(tǒng)也就是NCAP（New Car Assessment Program），即新車(chē)碰撞測(cè)試。這是最能考驗(yàn)汽車(chē)安全性的測(cè)試。NCAP最早
2019-05-16 06:11:12
的焊盤(pán)上，然后用電解電鍍的方法為其加厚一層金屬。這種方式可減小交叉干擾和提高信號(hào)完整性，并且引腳數(shù)量多時(shí)占用空間更小。
需要注意的是，BGA扇出的設(shè)計(jì)需要考慮到信號(hào)完整性、靜電保護(hù)、電源分層以及信噪比等
2023-05-30 19:52:30
哪里可以做信號(hào)完整性測(cè)試，信號(hào)質(zhì)量測(cè)試，USB2.0測(cè)試，3.0測(cè)試，眼圖測(cè)試等等
2019-11-08 13:28:01
`Reflow 回流焊測(cè)試試驗(yàn)主要是模擬芯片焊接在PCB板上的高溫條件。模擬芯片在焊接的過(guò)程中的可靠性試驗(yàn)。芯片在焊接過(guò)程中，因?yàn)閮?nèi)部有濕度，高溫焊接操作下，會(huì)發(fā)生膨脹，頂壞芯片。Reflow溫度曲線的峰值，可提前預(yù)測(cè)溫度條件，后期合理有效控制各參數(shù)設(shè)置，可避免造成的損失。宜特實(shí)驗(yàn)室提供解答~`
2020-05-15 13:58:57
隨著集成電路的發(fā)展，越來(lái)越多的ASIC和SoC開(kāi)始使用嵌入式SRAM來(lái)完成數(shù)據(jù)的片上存取功能。但嵌入式SRAM的高密集性物理結(jié)構(gòu)使得它很容易在生產(chǎn)過(guò)程中產(chǎn)生物理故障而影響芯片的良率，所以，SRAM
2019-10-25 06:28:55
和TD-SCDMA頻譜分析儀等功能，從滿(mǎn)足終端生產(chǎn)測(cè)試需求及研發(fā)需求的角度出發(fā)，可廣泛應(yīng)用于TD-SCDMA終端生產(chǎn)中的板級(jí)校準(zhǔn)和整機(jī)測(cè)試，以及TD-SCDMA終端芯片制造和終端研發(fā)設(shè)計(jì)等領(lǐng)域，同時(shí)也可應(yīng)于TD-SCDMA終端射頻一致性測(cè)試的認(rèn)證系統(tǒng)。
2019-07-24 06:58:36
可移植代碼有什么重要性如何使用抽象層設(shè)計(jì)可移植代碼求一種可移植軟件的設(shè)計(jì)方案
2021-04-26 06:57:29
為什么要關(guān)注電機(jī)測(cè)試的同步性？如何保證電機(jī)測(cè)試的同步性？
2021-05-08 07:47:13
如何克服ACS測(cè)試系統(tǒng)和SMU的可靠性測(cè)試挑戰(zhàn)？
2021-05-11 06:11:18
傳統(tǒng)測(cè)試系統(tǒng)由于專(zhuān)用性強(qiáng)、相互不兼容、擴(kuò)展性差、缺乏通用化、模塊化，不能共享軟硬件組成，不僅使開(kāi)發(fā)效率低下，而且使得開(kāi)發(fā)一套復(fù)雜測(cè)試系統(tǒng)的價(jià)格高昂。 目前，傳統(tǒng)的分析儀表正在更新?lián)Q代，向數(shù)字化
2019-08-15 06:57:25
微波電磁環(huán)境測(cè)試系統(tǒng)是由哪些部分組成的？如何去測(cè)試微波電磁環(huán)境測(cè)試系統(tǒng)的可行性？
2021-05-25 06:11:15
不論DUT 是固定在測(cè)試系統(tǒng)的夾具上，或是位在幾碼外的測(cè)試室中，要進(jìn)行準(zhǔn)確的修正有時(shí)相當(dāng)困難。固定在夾具上的量測(cè)極具挑戰(zhàn)性，因?yàn)槁窂酵ǔ?huì)包括從同軸纜線轉(zhuǎn)換到微帶線式（microstripbased）的短路、開(kāi)路和負(fù)載上。
2019-10-11 06:46:54
什么是可測(cè)試性？為什么要發(fā)展測(cè)試友好技術(shù)？如何去改進(jìn)可測(cè)試性？
2021-04-13 06:54:39
如何改進(jìn)電路設(shè)計(jì)規(guī)程來(lái)提高可測(cè)試性？
2021-04-26 06:49:51
如何用可重構(gòu)射頻前端簡(jiǎn)化LTE設(shè)計(jì)復(fù)雜性？
2021-05-24 07:10:08
選擇藍(lán)牙模塊時(shí)需要考慮哪些因素？如何確保藍(lán)牙設(shè)計(jì)通過(guò)EMI一致性測(cè)試 ？
2021-05-07 06:25:48
本文介紹了汽車(chē)PCM耐久性測(cè)試系統(tǒng)的整體設(shè)計(jì)思路和測(cè)試規(guī)范，重點(diǎn)討論了關(guān)鍵子系統(tǒng)的設(shè)計(jì)原理，并通過(guò)原型樣機(jī)對(duì)幾種PCM模塊長(zhǎng)久性測(cè)試，驗(yàn)證了該系統(tǒng)的可靠性和通用性。
2021-05-17 06:53:06
關(guān)于嵌入式等軟件可靠性、安全性測(cè)試與評(píng)估的資料，希望有幫助。
2019-06-17 16:53:48
信號(hào)完整性設(shè) 計(jì)在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)中越來(lái)越受到重視，而信號(hào)完整性的測(cè)試手段種類(lèi)繁多，有頻域，也有時(shí)域的，還有一些綜合性的手段，比如誤碼測(cè)試。這些手段并非任何情況下都適 合使用，都存在這樣那樣的局限性，合適
2019-06-03 06:53:10
你好，我們目前正在使用“CyPress EZ-USB FX3 CysB3KIT-1001開(kāi)發(fā)工具包”進(jìn)行內(nèi)部開(kāi)發(fā)工作。我們的需求是展示我們的USB符合性測(cè)試能力，并希望利用這個(gè)工具包運(yùn)行相同的。在這
2019-04-11 11:42:13
引信軟件安全性測(cè)試系統(tǒng)有什么特點(diǎn)？怎樣利用虛擬儀器技術(shù)去開(kāi)發(fā)引信軟件安全性測(cè)試系統(tǒng)？
2021-04-09 07:01:56
什么是信號(hào)處理器？信號(hào)處理器測(cè)試現(xiàn)狀如何？怎樣去提高信號(hào)處理器的測(cè)試性？
2021-05-10 06:55:08
HP公司DFM統(tǒng)計(jì)調(diào)查表明:產(chǎn)品總成本60%取決于產(chǎn)品的最初設(shè)計(jì);75％的制造成本取決于設(shè)計(jì)說(shuō)明和設(shè)計(jì)規(guī)范;70－80％的生產(chǎn)缺陷是由于設(shè)計(jì)原因造成的。可制造性設(shè)計(jì)DFM（Design For Manufacture）是保證PCB設(shè)計(jì)質(zhì)量的最有效的方法。所以好好學(xué)習(xí)dfm吧。。。[hide] [/hide]
2011-12-20 11:25:05
改進(jìn)PCB電路設(shè)計(jì)規(guī)程提高可測(cè)試性隨著微型化程度不斷提高，元件和布線技術(shù)也取得巨大發(fā)展，例如BGA外殼封裝的高集成度的微型IC，以及導(dǎo)體之間的絕緣間距縮小到0.5mm，這些僅是其中的兩個(gè)
2017-11-06 09:11:17
改進(jìn)PCB電路設(shè)計(jì)規(guī)程提高可測(cè)試性隨著微型化程度不斷提高，元件和布線技術(shù)也取得巨大發(fā)展，例如BGA外殼封裝的高集成度的微型IC，以及導(dǎo)體之間的絕緣間距縮小到0.5mm，這些僅是其中的兩個(gè)
2017-11-06 10:33:34
可接觸的電路節(jié)點(diǎn)越來(lái)越少；二是像在線測(cè)試( In-Circuit-Test )這些方法的應(yīng)用受到限制。為了解決這些問(wèn)題，可以在電路布局上采取相應(yīng)的措施，采用新的測(cè)試方法和采用創(chuàng)新性適配器解決方案
2015-01-14 14:34:27
改進(jìn)電路設(shè)計(jì)規(guī)程提高可測(cè)試性 隨著微型化程度不斷提高，元件和布線技術(shù)也取得巨大發(fā)展，例如BGA外殼封裝的高集成度的微型IC，以及導(dǎo)體之間
2009-05-24 23:01:19
的設(shè)計(jì)者在設(shè)計(jì)的最初階段就必須考慮芯片的工程樣片測(cè)試和產(chǎn)品測(cè)試手段，以便縮短芯片上市時(shí)間，并在滿(mǎn)足產(chǎn)品成品率的測(cè)試覆蓋率的前提下，盡量降低芯片的產(chǎn)品測(cè)試成本?，F(xiàn)有的可測(cè)性手段包括JTAG，BIST
2011-12-12 17:58:16
新手求教，我在測(cè)試SN74ALS245的功能性測(cè)試的時(shí)候，VdriveHi，VdriveLO，VCompareHi，VCompareLo均應(yīng)該如何設(shè)置呢，有什么可參考東西呢，小白求教，使用的是J750測(cè)試機(jī)
2023-03-29 21:14:34
求一款Cadence的高級(jí)可制造性設(shè)計(jì)解決方案
2021-04-26 06:25:07
在編程中，用ERTM關(guān)閉全局中斷來(lái)實(shí)現(xiàn)函數(shù)的可重入性有什么附加影響？
2018-08-09 11:12:14
本帖最后由 ウ·玥·シラカ 于 2012-11-22 22:45 編輯
求助各位大俠~小弟半年前開(kāi)始接觸電性測(cè)試現(xiàn)在有一份題目,必須考試過(guò)關(guān),才能維持生計(jì)所以希望各路大俠相助幫忙解決,小弟感激不盡!{:4:}
2012-11-22 22:40:57
干擾、傳輸特性及受干擾設(shè)備能否負(fù)荷耐受性測(cè)試，驗(yàn)證設(shè)備是否符合相關(guān)電磁兼容性標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范；找出設(shè)備設(shè)計(jì)及生產(chǎn)過(guò)程中，在EMC 方面之盲點(diǎn)。在客戶(hù)安裝和使用設(shè)備時(shí)，提供了既真實(shí)又有效之?dāng)?shù)據(jù)，因此，EMC 測(cè)試
2008-09-12 17:49:36
電磁兼容性EMC如何測(cè)試與整改
2021-03-11 07:09:44
電路板制板可測(cè)試性的定義可簡(jiǎn)要解釋為：電路板測(cè)試工程師在檢測(cè)某種元件的特性時(shí)應(yīng)該盡可能使用最簡(jiǎn)單的方法來(lái)測(cè)試，以確定該元件能是否到達(dá)預(yù)期的功能需求。進(jìn)一步含義即： 1 檢測(cè)產(chǎn)品是否符合技術(shù)規(guī)范
2018-09-14 16:25:59
電路板改板設(shè)計(jì)中的可測(cè)試性技術(shù)電路板制板可測(cè)試性的定義可簡(jiǎn)要解釋為：電路板測(cè)試工程師在檢測(cè)某種元件的特性時(shí)應(yīng)該盡可能使用最簡(jiǎn)單的方法來(lái)測(cè)試，以確定該元件能是否到達(dá)預(yù)期的功能需求。進(jìn)一步含義即：麥|斯
2013-10-09 10:57:40
本帖最后由 gk320830 于 2015-3-4 13:43 編輯
電路板設(shè)計(jì)可測(cè)試性技術(shù)電路板制板可測(cè)試性的定義可簡(jiǎn)要解釋為：電路板測(cè)試工程師在檢測(cè)某種元件的特性時(shí)應(yīng)該盡可能使用最簡(jiǎn)單
2013-10-08 11:26:12
本帖最后由 gk320830 于 2015-3-7 13:19 編輯
電路板設(shè)計(jì)可測(cè)試性技術(shù)電路板制板可測(cè)試性的定義可簡(jiǎn)要解釋為：電路板測(cè)試工程師在檢測(cè)某種元件的特性時(shí)應(yīng)該盡可能使用最簡(jiǎn)單
2013-10-16 11:41:06
電路板制板可測(cè)試性的定義可簡(jiǎn)要解釋為：電路板測(cè)試工程師在檢測(cè)某種元件的特性時(shí)應(yīng)該盡可能使用最簡(jiǎn)單的方法來(lái)測(cè)試，以確定該元件能是否到達(dá)預(yù)期的功能需求。進(jìn)一步含義即： 1 檢測(cè)產(chǎn)品是否符合技術(shù)規(guī)范
2018-11-27 10:01:40
華天電力專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)絕緣電阻測(cè)試儀（又稱(chēng)絕緣電阻表），解析來(lái)為大家分享絕緣測(cè)試的重要性。絕緣在電氣系統(tǒng)中起著非常重要的作用。如果沒(méi)有電絕緣，則導(dǎo)體中流動(dòng)的電流會(huì)與其他導(dǎo)體發(fā)生短路，或者對(duì)人員造成觸電危險(xiǎn)
2020-12-23 11:18:11
【作者】：張益;霍珊珊;【來(lái)源】：《清華大學(xué)學(xué)報(bào)(自然科學(xué)版)》2009年S2期【摘要】：針對(duì)當(dāng)前網(wǎng)絡(luò)存儲(chǔ)系統(tǒng)可生存性評(píng)估缺乏系統(tǒng)的評(píng)估指標(biāo)和量化評(píng)估方法的現(xiàn)狀,提出了量化評(píng)估指標(biāo)體系和基于多指標(biāo)
2010-04-24 09:43:16
剛剛接觸PCBA可靠性，感覺(jué)和IC可靠性差異蠻大，也沒(méi)有找到相應(yīng)的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)。請(qǐng)問(wèn)大佬們?cè)谧鯬CBA可靠性時(shí)是怎么做的，測(cè)試條件是根據(jù)什么設(shè)定？
2023-02-15 10:21:14
想紋一下PCB腐蝕性測(cè)試ISA71.04的測(cè)試方法和檢驗(yàn)方法？另外哪些實(shí)驗(yàn)室可以做這個(gè)測(cè)試6
2018-12-21 11:37:29
請(qǐng)問(wèn)那類(lèi)型示波器可做眼圖測(cè)試？
2019-03-12 11:36:37
；原理：將連接器按規(guī)定速率進(jìn)行完全插合或拔出，記錄相應(yīng)的力值。（二）耐久性測(cè)試目的：評(píng)估反復(fù)插拔對(duì)連接器的影響，模擬實(shí)際使用中連接器的插拔狀況。原理：按照規(guī)定速率連續(xù)插拔連接器直至達(dá)到規(guī)定次數(shù)。 （三
2018-02-26 13:19:23
設(shè)計(jì)主要是針對(duì)目前ICT裝備情況。將后期產(chǎn)品制造的測(cè)試問(wèn)題在電路和表面安裝印制板SMB設(shè)計(jì)時(shí)就考慮進(jìn)去。提高可測(cè)性設(shè)計(jì)要考慮工藝設(shè)計(jì)和電氣設(shè)計(jì)兩個(gè)方面的要求。 2.4.1 工藝設(shè)計(jì)的要求 定位的精度
2018-09-17 17:33:34
頻率
測(cè)試的重要
性體現(xiàn)在哪？希望大家能給與我?guī)椭粍俑屑ぁ?/div>
2015-09-04 14:48:32
物理層的一致性測(cè)試作為近 10 多年來(lái)示波器最主要的用途之一，一直是產(chǎn)業(yè)界最常提到的名詞之一。本文嘗試將物理層一致性測(cè)試的含義，要素與目的及未來(lái)發(fā)展趨勢(shì)做一個(gè)簡(jiǎn)單的探討和說(shuō)明。(如無(wú)特別說(shuō)明，本文后續(xù)提到的一致性測(cè)試均指物理層一致性測(cè)試)。
2019-08-12 07:17:19
信號(hào)完整性設(shè)計(jì)在產(chǎn)品開(kāi)發(fā)中越來(lái)越受到重視，而信號(hào)完整性的測(cè)試手段種類(lèi)繁多，有頻域，也有時(shí)域的，還有一些綜合性的手段，比如誤碼測(cè)試。這些手段并非任何情況下都適合使用，都存在這樣那樣的局限性，合適選用，可以做到事半功倍，避免走彎路。
2019-08-26 06:32:33
， 包含控制導(dǎo)引、BMS模擬、協(xié)議一致性及故障模擬等測(cè)試功能；內(nèi)置新型合金電阻絲材料，采用耗能方式工作，散熱采用強(qiáng)制風(fēng)冷方式，風(fēng)機(jī)采用小型軸流風(fēng)機(jī)，具有風(fēng)量大，散
2022-12-09 15:57:06
;·大液晶顯示測(cè)試過(guò)程曲線、PVC操作面板 ·進(jìn)口頂級(jí)品牌傳感器系統(tǒng)，測(cè)試精度在行業(yè)內(nèi)遙遙領(lǐng)先，有效的保證了試驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性·配備微型打印機(jī),可打印設(shè)備序
2023-03-14 11:42:44
的耐用性和穩(wěn)定性。其中，撕裂強(qiáng)度是衡量這些材料耐用性和穩(wěn)定性的重要指標(biāo)之一。 撕裂強(qiáng)度測(cè)試是評(píng)估材料抵抗撕裂性能的重要方法，通過(guò)使用撕裂強(qiáng)度測(cè)試儀和埃萊
2023-09-18 10:02:02
鋁制軟膏管連續(xù)性測(cè)試儀 在制藥領(lǐng)域，藥用軟管的使用廣泛且重要。為了確保藥品的安全性和質(zhì)量，藥用軟管需要經(jīng)過(guò)嚴(yán)格的質(zhì)量控制，而藥用軟管連續(xù)性測(cè)試儀在其中發(fā)揮著關(guān)鍵作用。藥用軟管連續(xù)性測(cè)試
2023-09-28 13:33:22
、原理和使用方法。注射器密合性負(fù)壓測(cè)試儀主要測(cè)試注射器的密合性能和負(fù)壓性能，通過(guò)模擬實(shí)際注射過(guò)程中注射器受到的負(fù)壓和密封性能的測(cè)試，可以有效地評(píng)估注射器的性能和質(zhì)量。該儀器適用
2023-10-12 16:39:21
和注意事項(xiàng)。注射器密合性正壓測(cè)試儀主要用于檢測(cè)注射器的密合性和正壓性能，通過(guò)模擬實(shí)際注射過(guò)程中注射器受到的壓力和密封性能的測(cè)試，可以有效地評(píng)估注射器的性能和質(zhì)量。該
2023-11-01 11:21:22
密合性負(fù)壓測(cè)試儀主要測(cè)試注射器的密合性能和負(fù)壓性能，通過(guò)模擬實(shí)際注射過(guò)程中注射器受到的負(fù)壓和密封性能的測(cè)試，可以有效地評(píng)估注射器的性能和質(zhì)量。該儀器適用于各種類(lèi)型
2023-11-03 11:54:47
和注意事項(xiàng)。注射器密合性正壓測(cè)試儀主要用于檢測(cè)注射器的密合性和正壓性能，通過(guò)模擬實(shí)際注射過(guò)程中注射器受到的壓力和密封性能的測(cè)試，可以有效地評(píng)估注射器的性能和質(zhì)量。該
2023-11-08 16:50:29
一次性注射器滑動(dòng)性測(cè)試儀 介紹/濟(jì)南三泉智能科技有限公司醫(yī)用注射器滑動(dòng)性能測(cè)試儀是一款用于檢測(cè)注射器滑動(dòng)性能的醫(yī)療設(shè)備，通過(guò)模擬實(shí)際使用過(guò)程中推桿的滑動(dòng)距離和滑動(dòng)速度，對(duì)注射器的滑動(dòng)性能進(jìn)行評(píng)估
2024-02-26 14:20:30
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