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保護(hù)FPGA的配置
隨著系統(tǒng)上電，基于SRAM的FPGA將從外部源加載其配置。引導(dǎo)源可以是存儲(chǔ)器件，如串行EEPROM或Flash ，也可以是智能器件，如微控制器。針對(duì)初始化位流，所有的FPGA都具有某種類型的循環(huán)冗余校驗(yàn)(CRC)，在啟動(dòng)結(jié)束時(shí)進(jìn)行測(cè)試，檢驗(yàn)傳送是否完整。如果在位流中檢測(cè)到一個(gè)差錯(cuò)，F(xiàn)PGA將無法初始化。這可以防止系統(tǒng)產(chǎn)生錯(cuò)誤的(也可能是危險(xiǎn)的)操作。大多數(shù)的FPGA將通過對(duì)一個(gè)外部引腳置位，來告知系統(tǒng)控制器初始化失敗，請(qǐng)求另一個(gè)初始化序列，以期取得配置成功。在遇到以下幾種情況時(shí)，會(huì)發(fā)生初始化位流的損壞情況：
* 引導(dǎo)存儲(chǔ)器的硬件故障
* 存儲(chǔ)器內(nèi)容保存的問題
* 蓄意篡改
* 存儲(chǔ)器內(nèi)容被擦除
* 電氣噪聲
利用FPGA設(shè)計(jì)高可靠性的汽車系統(tǒng)時(shí)，為了正確處理這些情況，必須遵循以下四個(gè)基本步驟：
第一步是使用具有片上閃存的非易失性SRAM FPGA。這改變了從外部存儲(chǔ)器引導(dǎo)配置載入FPGA內(nèi)部的方式。采用將引導(dǎo)源移入同一塊芯片的方法消除了許多常見的初始化失敗模式。這種類型的集成設(shè)計(jì)還提升了初始化速度，可在即時(shí)啟動(dòng)系統(tǒng)中使用這種FPGA。
第二步是添加一個(gè)可靠的外部自行引導(dǎo)器件(圖1) 。FPGA的一個(gè)主要特點(diǎn)是能夠現(xiàn)場(chǎng)重復(fù)編程。對(duì)汽車系統(tǒng)而言，這一特性允許下載新的程序，用于授權(quán)的現(xiàn)場(chǎng)更新，修復(fù)設(shè)計(jì)錯(cuò)誤或添加額外的功能。不過，在傳輸和對(duì)存儲(chǔ)器編程期間，數(shù)據(jù)流可能被損壞，而且損壞的數(shù)據(jù)流會(huì)阻止正確的FPGA初始化。為了應(yīng)對(duì)更新過程中的損壞，在外部存儲(chǔ)器件中已復(fù)制了初始化代碼，稱為“golden”的廠家備份。即便有任何問題，存儲(chǔ)在內(nèi)部存儲(chǔ)器的配置代碼都可以使該系統(tǒng)得到恢復(fù)。通過添加第二個(gè)引導(dǎo)器件，就能夠保證廠家備份，或至少可以具有“間接恢復(fù)”系統(tǒng)的功能。
圖1 FPGA雙引導(dǎo)系統(tǒng)
第三步是保護(hù)存儲(chǔ)在外部存儲(chǔ)器件中的位流備份，采用位流加密來保護(hù)引導(dǎo)配置代碼(圖2)。許多車用FPGA系列支持128位AES位流加密，以防止逆向工程和未經(jīng)授權(quán)地對(duì)設(shè)計(jì)進(jìn)行更改。在外部引導(dǎo)器件中存儲(chǔ)著加密的配置代碼，可以在初始化時(shí)譯碼，然后再移入SRAM單元。同樣的加密機(jī)制也可以用來將一個(gè)新的配置代碼載入內(nèi)部閃存。
圖2 外部引導(dǎo)的AEC譯碼或Flash編程位流。
第四個(gè)也是最后一個(gè)步驟是“鎖定”FPGA，以防止未經(jīng)許可進(jìn)入存儲(chǔ)配置。用非易失性FPGA內(nèi)部的可編程寄存器控制對(duì)內(nèi)部配置存儲(chǔ)器的訪問?？赡艿慕M合情況如下：1)解鎖。 2)可解密鎖定－通過編程接口提供的128位密鑰能夠使器件解鎖。3)永久鎖定－器件被永久鎖定。
為了進(jìn)一步加強(qiáng)器件的安全性，可用一次性可編程(OTP)模式。一旦器件設(shè)置成這個(gè)模式，就不可能擦除閃存的內(nèi)容或?qū)ζ骷俅尉幊獭?
選擇車用級(jí)的通過AEC - Q100認(rèn)證的非易失性FPGA時(shí)，審查制造商的非易失閃存的耐久性和數(shù)據(jù)保存指標(biāo)是很重要的，這將確保車輛運(yùn)行時(shí)和處于貯藏溫度時(shí)FPGA都能正確保存其存儲(chǔ)器內(nèi)容。例如，LatticeXP2是唯一非易失性的通過AEC - Q100認(rèn)證的SRAM /Flash FPGA，它能滿足所有這些系統(tǒng)的要求。LatticeXP2的片上閃存允許大范圍地對(duì)整個(gè)器件進(jìn)行存儲(chǔ)器測(cè)試，確保即使器件在最高溫度下連續(xù)工作，至少10年內(nèi)存儲(chǔ)器的內(nèi)容都不會(huì)丟失。
SRAM軟錯(cuò)誤損壞檢測(cè)(SED)
來自宇宙射線的中子和封裝材料中的帶電α粒子的輻射會(huì)造成軟錯(cuò)誤，它會(huì)改變存儲(chǔ)單元的存儲(chǔ)內(nèi)容。這種現(xiàn)象首先成為DRAM中的一個(gè)問題，要求能對(duì)高可靠性應(yīng)用中的大容量存儲(chǔ)系統(tǒng)進(jìn)行錯(cuò)誤檢測(cè)和糾錯(cuò)。由于器件的尺寸不斷縮小，對(duì)某些系統(tǒng)而言，SRAM中的軟錯(cuò)誤概率已相當(dāng)大。
用于汽車應(yīng)用的高性能FPGA將邏輯配置數(shù)據(jù)存儲(chǔ)在SRAM單元。由于FPGA中SRAM單元數(shù)量和密度的增加，軟錯(cuò)誤改變系統(tǒng)可編程邏輯行為的概率也隨之增加。設(shè)計(jì)者已經(jīng)采取了各種辦法來解決該問題，其中大部分涉及用戶用于設(shè)計(jì)的知識(shí)產(chǎn)權(quán)(IP)核。雖然這種方法提供了一個(gè)解決方案，但它也占用了寶貴的可編程資源，并可能會(huì)影響性能。然而，這些缺陷是可以避免的。例如，LatticeXP2 FPGA內(nèi)有用硬件實(shí)現(xiàn)的軟錯(cuò)誤檢測(cè)器，它不會(huì)影響系統(tǒng)性能或器件的熱耗散。
在這些非易失性FPGA中的SED硬件有一個(gè)訪問FPGA SRAM配置存儲(chǔ)器的接口，還有SED控制器電路和一個(gè)存儲(chǔ)當(dāng)前位流CRC的32位寄存器(圖3)。SED功能需要使用幾個(gè)I/O引腳，要占用4個(gè)專用的輸入引腳和4個(gè)專用的輸出引腳。這些引腳用于使能和啟動(dòng)SED檢測(cè)，還能指明SED的工作狀態(tài)。
圖3、LatticeXP2 FPGA具有SRAM軟錯(cuò)誤監(jiān)測(cè)功能。
SED工作期間，控制電路從FPGA的SRAM配置存儲(chǔ)器讀取串行數(shù)據(jù)流數(shù)據(jù)，并計(jì)算CRC。然后，計(jì)算出的CRC與預(yù)期的存儲(chǔ)在32位寄存器中的CRC進(jìn)行比較。如果這兩個(gè)CRC值不匹配，說明配置存儲(chǔ)器中有差錯(cuò)，并設(shè)置一個(gè)外部信號(hào)為高電平，指明有差錯(cuò)。對(duì)應(yīng)出錯(cuò)信號(hào)，用戶可以有幾種選擇：忽略這個(gè)差錯(cuò)；使用外部處理器記錄這個(gè)差錯(cuò)；或從原來的引導(dǎo)器件重新載入SRAM配置。
LatticeXP2 FPGA能夠滿足所有這些系統(tǒng)的要求。其片上閃存允許統(tǒng)一的系統(tǒng)測(cè)試，保證器件即使在最高溫度下連續(xù)工作，最少10年不會(huì)引起存儲(chǔ)內(nèi)容的丟失或產(chǎn)生系統(tǒng)故障。此外，雙引導(dǎo)功能和硬件實(shí)現(xiàn)的SED檢測(cè)功能對(duì)SRAM內(nèi)容損壞提供了安全保證，不會(huì)影響器件性能或用戶邏輯的運(yùn)行。
應(yīng)用上述四種配置保護(hù)技術(shù)的FPGA設(shè)計(jì)具有高度可靠的啟動(dòng)和初始化功能，可以保護(hù)更新，阻止下載、刪除或修改初始化配置的企圖。此外，整合SED管理邏輯的設(shè)計(jì)還增加了保護(hù)措施，防止由帶電粒子導(dǎo)致的改變運(yùn)行配置的情況。將啟動(dòng)和SED保護(hù)進(jìn)行整合的方法使汽車系統(tǒng)設(shè)計(jì)人員能夠構(gòu)建完整可靠的FPGA設(shè)計(jì)，同時(shí)不必?fù)?dān)心配置被蓄意篡改或環(huán)境對(duì)器件造成的損壞。
作者：Kerry Howell
工商網(wǎng)監(jiān)
評(píng)論