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電子發(fā)燒友網(wǎng)>EDA/IC設(shè)計(jì)>傳統(tǒng)MEMS-IC 設(shè)計(jì)方法和驗(yàn)證的機(jī)構(gòu)化方法介紹

傳統(tǒng)MEMS-IC 設(shè)計(jì)方法和驗(yàn)證的機(jī)構(gòu)化方法介紹

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2010-02-24 11:44:048

無線溫度驗(yàn)證系統(tǒng) 支持多種驗(yàn)證 溫度壓力一體記錄儀

的區(qū)域內(nèi)無法使用有線的溫度驗(yàn)證儀對設(shè)備進(jìn)行驗(yàn)證,這個(gè)時(shí)候就需要選擇無線的來代替有線。傳統(tǒng)的溫度測試方法需要人工手持溫度計(jì)進(jìn)行測試,不僅費(fèi)時(shí)費(fèi)力,還容易受到環(huán)境因素的干
2023-12-20 10:10:23

MEMS-IC設(shè)計(jì)的新平臺(tái)和結(jié)構(gòu)化方法

本文介紹了一種MEMS 器件設(shè)計(jì),及在Cadence Virtuoso 設(shè)計(jì)環(huán)境與集成電子產(chǎn)品一起仿真的新方法。采用德州儀器的數(shù)字微反射鏡器件(DMD)的例子,我們展示新的MEMS - IC 設(shè)計(jì)方法如何可
2010-09-23 11:42:150

面向未來的IC設(shè)計(jì)方法

面向未來的IC設(shè)計(jì)方法
2009-03-28 15:09:59604

MEMS振蕩器激勵(lì)新方法

MEMS 振蕩器激勵(lì)新方法 研究MEMS/NEMS振蕩器諧振頻率的激勵(lì)和探測,其目的是完成超小力的探測、微機(jī)械混頻器和濾波器的制作等。使微
2009-06-08 13:53:09776

一種全新的深亞微米IC設(shè)計(jì)方法

一種全新的深亞微米IC設(shè)計(jì)方法 本文分析了傳統(tǒng)IC設(shè)計(jì)流程存在的一些缺陷,并且提出了一種基于Logical Effort理論的全新IC設(shè)計(jì)方法。 眾所周知,傳統(tǒng)IC設(shè)計(jì)流
2009-12-27 13:28:50615

采用PC的IC工具降低MEMS設(shè)計(jì)方法

采用PC的IC工具降低MEMS設(shè)計(jì)方法     鑒于MEMS工藝源自光刻微電子工藝,所以人們很自然會(huì)考慮用IC設(shè)計(jì)工具來創(chuàng)建MEMS器件的
2010-03-11 14:23:33467

基于SystemVerilog語言的驗(yàn)證方法學(xué)介紹

文章主要介紹《VMM for SystemVerilog》一書描述的如何利用SystemVerilog語言,采用驗(yàn)證方法學(xué)以及驗(yàn)證庫開發(fā)出先進(jìn)驗(yàn)證環(huán)境。文章分為四部分,第一部分概述了用SystemVerilog語言驗(yàn)證復(fù)雜S
2011-05-09 15:22:0252

ASIC靜態(tài)驗(yàn)證方法

介紹了基于深亞微米 CMOS 工藝A S IC 電路設(shè)計(jì)流程中的靜態(tài)驗(yàn)證方法。將這種驗(yàn)證方法與以往的動(dòng)態(tài)驗(yàn)證方法進(jìn)行了比較, 結(jié)果表明, 前者比后者更加高效和準(zhǔn)確。由此可以說明, 靜態(tài)驗(yàn)證
2011-06-21 15:05:000

基于覆蓋率的功能驗(yàn)證方法

隨著半導(dǎo)體技術(shù)的發(fā)展,驗(yàn)證已經(jīng)逐漸成為大規(guī)模集成電路設(shè)計(jì)的主要瓶頸。首先介紹傳統(tǒng)的功能驗(yàn)證方法并剖析其優(yōu)缺點(diǎn),然后引入傳統(tǒng)方法的一種改進(jìn)基于覆蓋率的驗(yàn)證方法,最后
2011-06-29 10:46:0622

基于結(jié)構(gòu)組件庫的MEMS設(shè)計(jì)方法

提出了一種基于結(jié)構(gòu)組件庫的 MEMS 概念設(shè)計(jì)方法。給出了結(jié)構(gòu)組件的表征形式,探討了基于功能分解的結(jié)構(gòu)組件模型獲取方法,借以形成支持概念設(shè)計(jì)的結(jié)構(gòu)組件模型庫。闡明了MEMS概念設(shè)
2011-07-27 16:49:0734

基于MEMS的無創(chuàng)胎心檢測方法

本項(xiàng)目基于VTI公司的SCA600C13H1G型MEMS加速度傳感器,提出一種無創(chuàng)胎心檢測方法,研制出一種簡單易學(xué)、直觀準(zhǔn)確的介于胎心聽診器和多普勒胎兒監(jiān)護(hù)儀之間的臨床診斷和孕婦自檢的醫(yī)療
2011-09-01 14:21:492306

基于Logical Effort理論的全新IC設(shè)計(jì)方法

本文分析了傳統(tǒng)IC設(shè)計(jì)流程存在的一些缺陷,并且提出了一種基于Logical Effort理論的全新IC設(shè)計(jì)方法。
2012-03-12 11:55:441249

基于UVM的CAN模塊自驗(yàn)證方法

基于UVM的CAN模塊自驗(yàn)證方法_熊濤
2017-01-08 14:47:533

基于譜估計(jì)的雷達(dá)信號(hào)模型驗(yàn)證方法_劉文釗

基于譜估計(jì)的雷達(dá)信號(hào)模型驗(yàn)證方法_劉文釗
2017-03-16 10:12:350

MEMS制造中精確測量薄膜厚度的方法研究與比較_陳莉

MEMS制造中精確測量薄膜厚度的方法研究與比較_陳莉
2017-03-19 18:58:182

Mems陀螺零漂的方法

詳細(xì)介紹了陀螺零漂的方法
2017-10-14 09:27:3210

IC設(shè)計(jì)流程和方法復(fù)旦講義

IC設(shè)計(jì)流程和方法復(fù)旦講義
2017-10-18 10:13:5522

基于FPGA的新型元器件驗(yàn)證方法的分析以及優(yōu)點(diǎn)

應(yīng)用于宇航領(lǐng)域的新型元器件必須經(jīng)過嚴(yán)格的性能功能的驗(yàn)證,傳統(tǒng)驗(yàn)證平臺(tái)是針對特定的待驗(yàn)證器件設(shè)計(jì)的,不同的器件需要設(shè)計(jì)不同的驗(yàn)證平臺(tái),使得驗(yàn)證工作周期長、成本高、可移植性差。本文介紹基于FPGA
2017-11-17 03:00:451027

基于FPGA的驗(yàn)證平臺(tái)及有效的SoC驗(yàn)證過程和方法

設(shè)計(jì)了一種基于FPGA的驗(yàn)證平臺(tái)及有效的SoC驗(yàn)證方法,介紹了此FPGA驗(yàn)證軟硬件平臺(tái)及軟硬件協(xié)同驗(yàn)證架構(gòu),討論和分析了利用FPGA軟硬件協(xié)同系統(tǒng)驗(yàn)證SoC系統(tǒng)的過程和方法。利用此軟硬件協(xié)同驗(yàn)證
2017-11-17 03:06:0113138

有關(guān)FPGA設(shè)計(jì)驗(yàn)證的相關(guān)方法介紹-ppt資料下載

有關(guān)FPGA設(shè)計(jì)驗(yàn)證的相關(guān)方法
2018-04-03 15:01:4110

如何將CMOS ICMEMS融合到物聯(lián)網(wǎng)邊緣智能器件設(shè)計(jì)中?

。實(shí)際上,許多IoT邊緣器件會(huì)在單個(gè)封裝中集成多個(gè)芯片,將電子器件與MEMS設(shè)計(jì)分開。Tanner AMS IC設(shè)計(jì)流程支持單芯片或多芯片技術(shù),因而有助于成功實(shí)現(xiàn)IoT邊緣器件的設(shè)計(jì)和驗(yàn)證。不過,本文將著重介紹在單個(gè)芯片上融合CMOS ICMEMS設(shè)計(jì)的獨(dú)特挑戰(zhàn)。
2018-08-02 18:55:164557

基于DPI-C接口的UVM驗(yàn)證平臺(tái)設(shè)計(jì)與實(shí)現(xiàn)介紹

的增大以及設(shè)計(jì)周期的壓縮,傳統(tǒng)驗(yàn)證技術(shù)已經(jīng)不能再滿足日益增長的驗(yàn)證需求,驗(yàn)證方法學(xué)應(yīng)運(yùn)而生,目前,UVM驗(yàn)證方法學(xué)已經(jīng)成為應(yīng)用最廣泛的方法學(xué)。
2020-01-27 17:21:006132

半導(dǎo)體IC的清洗方法

介紹了半導(dǎo)體IC制程中存在的各種污染物類型及其對IC制程的影響和各種污染物的去除方法, 并對濕法和干法清洗的特點(diǎn)及去除效果進(jìn)行了分析比較。
2021-04-09 09:55:2170

一種簡易的MEMS陀螺儀標(biāo)定方法

一種簡易的MEMS陀螺儀標(biāo)定方法
2021-06-11 14:31:0016

MEMS陀螺捷聯(lián)慣導(dǎo)系統(tǒng)標(biāo)定方法綜述

MEMS陀螺捷聯(lián)慣導(dǎo)系統(tǒng)標(biāo)定方法綜述
2021-08-05 16:54:135

仿真和模擬用于IC驗(yàn)證方法

  基于 HDL 的軟件仿真很可能仍然是首選的驗(yàn)證引擎,尤其是在驗(yàn)證過程的早期階段(例如,在 IP 和子系統(tǒng)級(jí)別),因?yàn)樗砹艘环N經(jīng)濟(jì)、易于使用且快速上手的方法- 設(shè)置 EDA 工具。
2022-07-05 09:22:162677

Linux的QSPI驅(qū)動(dòng)移植方法驗(yàn)證方法

本文主要講述了Linux的QSPI驅(qū)動(dòng)移植方法驗(yàn)證方法。
2023-04-14 10:20:411915

U-boot的QSPI驅(qū)動(dòng)移植方法驗(yàn)證方法

本文主要講述了U-boot的QSPI驅(qū)動(dòng)移植方法驗(yàn)證方法。在產(chǎn)品調(diào)試階段,U-boot的driver子系統(tǒng)包含了豐富的外設(shè)驅(qū)動(dòng),方便外設(shè)功能驗(yàn)證與調(diào)試。
2023-04-14 10:21:501833

基于形式驗(yàn)證的高效RISC-V處理器驗(yàn)證方法

隨著RISC-V處理器的快速發(fā)展,如何保證其正確性成為了一個(gè)重要的問題。傳統(tǒng)的測試方法只能覆蓋一部分錯(cuò)誤情況,而且無法完全保證處理器的正確性。因此,基于形式驗(yàn)證方法成為了一個(gè)非常有前途的方法,可以更加全面地驗(yàn)證處理器的正確性。本文將介紹一種基于形式驗(yàn)證的高效RISC-V處理器驗(yàn)證方法。
2023-06-02 10:35:17976

藥典包裝容器密封性方法驗(yàn)證

密封完整性檢查方法驗(yàn)證是為了證明針對不同包裝形式,選用的試驗(yàn)方法滿足相應(yīng)的檢測要求,關(guān)注方法靈敏度的考察,明確檢測方法的檢出能力。在方法驗(yàn)證時(shí)應(yīng)結(jié)合所選擇的方法開展方法學(xué)的驗(yàn)證,系統(tǒng)的方法學(xué)研究
2023-07-27 14:51:45527

ic驗(yàn)證是封裝與測試么?

ic驗(yàn)證是封裝與測試么?? IC驗(yàn)證是現(xiàn)代電子制造過程中非常重要的環(huán)節(jié)之一,它主要涉及到芯片產(chǎn)品的驗(yàn)證、測試、批量生產(chǎn)以及質(zhì)量保證等方面。 IC驗(yàn)證包含兩個(gè)重要的環(huán)節(jié),即芯片設(shè)計(jì)驗(yàn)證和芯片生產(chǎn)驗(yàn)證
2023-08-24 10:42:13464

Cadence IC的兩種參數(shù)掃描方法

參數(shù)掃描工具在電路的設(shè)計(jì)和驗(yàn)證階段非常有用,通過掃描某個(gè)變量的一組值可以輕松找到此參數(shù)的最佳值,減少手動(dòng)優(yōu)化的次數(shù)。以下將介紹在Cadence IC中兩種參數(shù)掃描的方法。
2023-09-11 15:52:403008

介紹一種測量MEMS梳狀驅(qū)動(dòng)器微電容的方法

本文介紹了一種測量MEMS梳狀驅(qū)動(dòng)器動(dòng)、靜態(tài)電容的方法。采用了的峰值檢測方法對調(diào)制信號(hào)進(jìn)行解調(diào),提高了動(dòng)態(tài)電容的精度。
2023-10-17 15:02:06470

MEMS的制造方法展望

和封裝成本。本文討論不同的半導(dǎo)體 MEMS 制造方法及其進(jìn)展。 半導(dǎo)體 MEMS 的重要性 MEMS 主要是傳感器系統(tǒng),可以控制或感測化學(xué)、光學(xué)或物理量,例如流體、加速度或輻射。MEMS 設(shè)備/傳感器擁有與外界的電氣接口,通常通過 IC 實(shí)現(xiàn),IC 提供必要的智能,使設(shè)備能
2023-11-24 09:19:31287

開源VHDL驗(yàn)證方法 (OSVVM)

電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《開源VHDL驗(yàn)證方法 (OSVVM).docx》資料免費(fèi)下載
2023-12-26 09:57:580

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