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      下一代定制設(shè)計平臺可將設(shè)計人員工作效率提高5倍

      PCB線路板打樣 ? 來源：LONG ? 2019-08-08 15:40 ? 次閱讀

      加利福尼亞州圣何塞 ， Dec。 1,2015 /PRNewswire/- 凱德斯設(shè)計系統(tǒng)公司(納斯達克股票代碼：CDNS)今天宣布推出新的Virtuoso?Advanced-Node平臺，該平臺可用于所有先進的10nm FinFET設(shè)計。這種下一代定制設(shè)計平臺可將設(shè)計人員的工作效率提高5倍，并為新興的7nm技術(shù)提供初始支持。

      為了應(yīng)對高級節(jié)點FinFET設(shè)計帶來的挑戰(zhàn)，Cadence?Virtuoso高級節(jié)點平臺的創(chuàng)新功能使設(shè)計人員能夠更好地管理復(fù)雜性和過程效果。關(guān)鍵功能包括：

      多圖案化和顏色感知布局：支持四個以上的多圖案層進行設(shè)計分解，使用戶可以更高效地工作通過訪問各種著色選項

      電感設(shè)計(EAD)：允許設(shè)計人員在設(shè)計周期中解決寄生和電遷移(EM)效應(yīng)，而不是等到設(shè)計完成，從而將設(shè)計周期時間縮短了30%

      基于模塊生成器(ModGen)的設(shè)備陣列流程：支持陣列內(nèi)路由，大大減少了設(shè)計迭代次數(shù)并將設(shè)計人員的工作效率提高多達25倍

      10nm自定義布線：支持新的設(shè)計規(guī)則，大大簡化了布局創(chuàng)建，并最大限度地減少了在10nm工藝設(shè)計時普遍存在的著色誤差

      設(shè)計中的物理驗證系統(tǒng)(iPVS)：使布局工程師能夠即時檢測和f正在實施設(shè)計時出現(xiàn)ix錯誤，這可以大大減少設(shè)計規(guī)則錯誤，同時將整體設(shè)計人員的工作效率提高多達15%

      聲明：本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人，不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學習之用，如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題，請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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