嵌入式內存芯片的測試和修復 提高了芯片的產量和質量

汽車中蓬勃發(fā)展的電子內容已經實現(xiàn)了許多創(chuàng)新，以幫助提高汽車的安全性和舒適性，同時優(yōu)化汽車的總體成本。這使得芯片的設計具有高集成度和增加的嵌入式存儲器內容，允許在單個器件中實現(xiàn)多種功能。然而，汽車電子的快速增長在制造，維護方面帶來了多重挑戰(zhàn)。 ，以及對此類系統(tǒng)的支持。由于惡劣的環(huán)境和物理空間限制，汽車電子元件應設計為具有極高的可靠性，并且易于支持和維護。另一個挑戰(zhàn)是通過顯著提高制造產量來實現(xiàn)這些大批量產品的較低規(guī)模經濟，而制造產量主要由芯片內的嵌入式存儲器控制。

據SAE（汽車工程師協(xié)會）報道，汽車中的電子內容正在增長，到2010年接近40％的汽車成本將在電子產品中。典型的汽車電子設備包括多個電子控制單元（ECU），以解決從發(fā)動機管理，排放和安全控制到駕駛員信息系統(tǒng)（例如儀表板儀表和導航控制）的各種功能。電子設備的安全性和可靠性至關重要，因為它們在惡劣的環(huán)境條件下運行 - 40至300℃。這種性能需要強大的設計和制造流程，以確保在極端條件下運行。

汽車行業(yè)在電子子系統(tǒng)的設計，制造和服務方面面臨著多重挑戰(zhàn)。設計和制造工程團隊在保持最高質量的產品的同時，面臨著最小化設計和制造測試成本的相互矛盾的要求。對幾個電子模塊的有限訪問給維修技術人員帶來了嚴峻的挑戰(zhàn)并增加了維護成本。

BIST 在過去十年中，芯片設計人員已開始采用結構化測試方法來解決其中的一些挑戰(zhàn)。內置自測試（BIST）是許多大型設計中部署的關鍵測試方法之一，用于測試芯片內的邏輯和嵌入式存儲器。它涉及在設計中嵌入BIST邏輯，以自動生成測試并驗證設計是否存在制造缺陷，從而避免完全外部測試生成。

在汽車電子生命周期的每個階段進行經濟性測試至關重要BIST，在制造過程中可以大大降低測試成本。 BIST在最小化維護開銷方面也有助于該領域。例如，ECU可以被編程為定期運行自檢（由嵌入式BIST供電），可以在控制面板上進行監(jiān)控。這避免了訪問每個ECU的需要，其中一些ECU可能位于難以到達的汽車區(qū)域。

隨著汽車電子技術的復雜化，增加了越來越多的智能，為儀表板帶來了更多信息。這意味著增加電子產品中的嵌入式存儲器內容由于嵌入式存儲器會極大地影響芯片的整體良率，因此必須采用強大的測試和修復方法，以便以最佳的產量生產出高質量的芯片。

備件

備件b》在存儲器中獲得產量提高的一種方法是在制造維修期間使用冗余或備用元件。從歷史上看，嵌入式存儲器已經可以自我測試但不可修復。對于給定的存儲器，可以使用足夠的量和適當類型的冗余元件來修復嵌入式存儲器。但是，確定適合給定內存的內容需要內存設計知識和所考慮的過程節(jié)點的故障歷史信息。

僅此一項是一項挑戰(zhàn)，但提供正確的冗余元素并不完全解決這個問題。了解如何檢測和定位內存缺陷并分配冗余元素需要制造缺陷分布知識。借助嵌入式邏輯，我們可以通過冗余測試和修復存儲器，從而提高制造良率。