高斯計的測試精度

●精度的概念

高斯計&特斯拉計作為測試磁場強度的測試計量儀器，它的測試精度就尤為重要。

※精密度

精密度(precision of measurement)系指在相同條件下，對被測量進行多次反復測量，測得值之間的一致(符合)程度。從測量誤差的角度來說，精密度所反映的是測得值的隨機誤差。精密度高，不一定正確度高。也就是說，測得值的隨機誤差小，不一定其系統(tǒng)誤差亦小。

※正確度

正確度(correctness of measurement)系指被測量的測得值與其“真值”的接近程度。從測量誤差的角度來說，正確度所反映的是測得值的系統(tǒng)誤差。正確度高，不一定精密度高。也就是說，測得值的系統(tǒng)誤差小，不一定其隨機誤差亦小。

※精確度

精確度亦稱準確度(accuracy of measurement)系指被測量的測得值之間的一致程度以及與其“真值”的接近程度，即是精密度和正確度的綜合概念。從測量誤差的角度來說，精確度(準確度)是測得值的隨機誤差和系統(tǒng)誤差的綜合反映。

在實際工作中，對計量結(jié)果的評價考量的是綜合性的因素，只有在某些特定的場合才對精密度和正確度單獨考慮。通常所說的測量精度或計量器具的精度，一般即指精確度(準確度)，也就是說實際上“精度”已成為“精確度”(準確度)的習慣上的簡稱。

●探頭對測量精度的影響

根據(jù)霍爾效應(yīng)原理制成的特斯拉計（高斯計）在測量磁場中，有著廣泛的應(yīng)用。高斯計是由作為傳感器的霍爾探頭及儀表整機兩部分組成。其中探頭內(nèi)霍爾元件的尺寸、性能與封裝結(jié)構(gòu)對磁場測量的準確度起著關(guān)鍵的作用。
霍爾效應(yīng)特斯拉計對均勻、恒定磁場測量的準確度一般在5%—0.5%，高精度的測量準確度可以達到0.05%。但對磁體表面的非均勻磁場的測量就談不上準確度了。往往是不同的儀表或同型號的儀表，不同的探頭或同一支探頭的不同側(cè)面，去測量同一磁體表面、同一位置（應(yīng)該說看上去是同一位置）的磁場時，顯示的結(jié)果大不一樣，誤差可以超過20%，甚至達到50%。造成上述差別的原因有兩點：
※霍爾元件封裝的位置不同

不同探頭內(nèi)霍爾元件封裝的位置不同，或元件不在探頭兩側(cè)的中部。

這些探頭在均勻磁場中，不會因位置上的改變而感受到磁場的改變，測量數(shù)據(jù)也不會因位置的不同而帶來誤差；當用不同的探頭去測磁體表面發(fā)散的、不均勻的磁場時，雖然表面看上去是放到了同一位置，而內(nèi)部霍爾元件感受到的并不是同一位置的磁場，感受到的場值不同，測量結(jié)果當然不一樣。見不同磁體磁場示意圖。

一般，對于徑向探頭，厚度越小，內(nèi)部霍爾元件離表面越近，測量表面磁場顯示讀數(shù)越大。采用超薄探頭去測表面磁場時讀數(shù)可以高于常規(guī)探頭20%以上（被測磁體尺寸越小，磁體表面曲率越大，表面磁場越不均勻，測量數(shù)據(jù)差別越大），但是無論多薄的探頭，其內(nèi)部對磁場敏感的部分與磁體表面總有一個間距，不可能為零距離。所以說，不可能測到真正的表面磁場。只能說，使用的探頭越薄，讀數(shù)越能反映出磁體的表面磁場。

※霍爾元件的敏感區(qū)尺寸不同

不同型號的霍爾探頭內(nèi)，所封裝霍爾元件的敏感區(qū)尺寸不同。

早期的霍爾元件，如鍺、硅霍爾元件，尺寸一般為4×2㎜2，也有6×3㎜2、8×4㎜2、最小為1.5×1.5㎜2。這種霍爾元件有效的敏感區(qū)基本上是元件本身的尺寸，面積大。若用這種霍爾元件來對磁力線發(fā)散的小磁體、磁體邊角部分或多極充磁的表磁進行測量，僅能反映出通過該元件表面的磁感應(yīng)強度的平均值，此值必定小于該區(qū)域的最大值。

如果改用敏感區(qū)小的霍爾元件，如砷化鎵霍爾元件，其敏感區(qū)的有效面積約為0.1×0.1～0.2×0.2㎜2遠遠小于霍爾元件的面積。這種霍爾元件就更能反映出表面磁場的場分布，所測到的最大值也更接近該區(qū)域的最大磁感應(yīng)強度實際值。
由前面的分析可以看出，表面磁場的實際值（即真實值）用霍爾效應(yīng)法是根本不可能測到的。也就是說不可能找到建立一種統(tǒng)一的、共同的表面磁場的量值標準。只能去謀求測出更加接近表面磁場實際值的方法。