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微放電的局部檢測(cè)法及全局檢測(cè)法介紹

h1654155282.3538 ? 來(lái)源:陳翠 ? 作者:電工學(xué)習(xí)網(wǎng) ? 2019-09-07 11:24 ? 次閱讀

一、局部檢測(cè)

1、光電倍增檢測(cè)法

光電倍增檢測(cè)法檢測(cè)微放電是一種非常有效的檢測(cè)方法。它是利用電子二次倍增器件曝光的照片來(lái)檢測(cè)放電,這種電子二次倍增可以使來(lái)自電子二次倍增材料表面或是在真空系統(tǒng)中存在的參與氣體分子電離。把光纖通過一個(gè)小孔放在射頻部件的內(nèi)部,并盡可能地接近放電區(qū)域,把光纖的另一端接到放在真空罐外的光電倍增器上,光電倍增器上的任何輸出都有可能在示波器上顯示,并且去觸發(fā)一個(gè)電子二次倍增事件檢測(cè)器。

這種檢測(cè)方法對(duì)于微放電檢測(cè)可以準(zhǔn)確判斷放電,但是需要預(yù)先準(zhǔn)確地判斷放電位置,并且還需要在器件上打孔,這僅對(duì)于試驗(yàn)件還可以測(cè)量,但是會(huì)影響器件的其他性能,因此不是一種實(shí)驗(yàn)室常用的檢測(cè)微放電的方法。

2、電子探針檢測(cè)法

電子探針檢測(cè)法是利用安裝在被測(cè)件內(nèi)的探頭檢測(cè)電子濃度的變化來(lái)檢測(cè)微放電現(xiàn)象。微放電現(xiàn)象的發(fā)生總是伴隨著大量自由電子的產(chǎn)生,微波設(shè)備中的電子濃度可以通過在預(yù)計(jì)微放電發(fā)生的區(qū)域插入一個(gè)帶正電的探頭來(lái)進(jìn)行測(cè)量,帶負(fù)電的電子探針被探頭吸附,從而在探頭中產(chǎn)生一個(gè)微小但是可以檢測(cè)的電流,電流的數(shù)值可以被用來(lái)表示電子濃度。

這種檢測(cè)方法非常易于實(shí)現(xiàn),因此在許多測(cè)試中作為一個(gè)普遍的選擇。但是,這種檢測(cè)方法也有一些缺點(diǎn),如需要一個(gè)電路來(lái)放大微弱電流,從而檢測(cè)速度較慢,在使用中主要是作為輔助檢測(cè);同時(shí),對(duì)于包括表面放電機(jī)理在內(nèi)的放電來(lái)說這不總是一個(gè)合適的檢測(cè)方法;最后,與光電倍增檢測(cè)法一樣需要在被測(cè)件上預(yù)先設(shè)計(jì)好孔,從而造成微放電測(cè)試的局限性。

二、全局檢測(cè)法

1、殘余物質(zhì)檢測(cè)

殘余物質(zhì)檢測(cè)法是采用一個(gè)質(zhì)譜儀,檢測(cè)在電子二次倍增放電器件釋放的污染物和出現(xiàn)的水分。由于用鋁或帶有涂層加工成的元件,在加工過程中,材料表面能吸收水分,在電子二次倍增放電期間此水分被釋放,當(dāng)電子二次倍增放電放生時(shí),包含有膠、環(huán)氧樹脂和其他非金屬化合物的那些合成元件將放出碳?xì)浠衔餁怏w。經(jīng)過真空罐的接入端把質(zhì)譜儀作為真空系統(tǒng)一個(gè)部分裝入,用一個(gè)真空閥門來(lái)隔離明暗的質(zhì)樸頭,這樣阻止在正常操作時(shí)和用特別不干凈元件時(shí)所產(chǎn)生的不必要的污染。

這種檢測(cè)方法檢測(cè)速度較慢,不能檢測(cè)快速微放電瞬間,微放電發(fā)生和設(shè)備的檢測(cè)有一定的時(shí)延。

2、近載波噪聲檢測(cè)法

微放電是一種諧振現(xiàn)象,并且會(huì)增加載波附近頻率的噪聲,如果能采取方法濾除載波,則在載波附近頻段內(nèi)噪聲電平的提高可以被頻譜儀檢測(cè)到。如果這種檢測(cè)設(shè)備和一個(gè)低噪聲放大器聯(lián)合使用,就是一種靈敏度非常高的檢測(cè)方法。

這種方法可以用于單載波或多載波信號(hào),但不適用于脈沖模式下工作,因?yàn)槊}沖會(huì)產(chǎn)生諧波,如果脈沖長(zhǎng)度和形式選擇不當(dāng),則脈沖會(huì)在測(cè)試頻段內(nèi)產(chǎn)生諧波。這種方法的另一個(gè)問題就是,其他導(dǎo)致噪聲的現(xiàn)象會(huì)被誤認(rèn)為微放電現(xiàn)象的發(fā)生,如測(cè)試系統(tǒng)中接頭松動(dòng)等也會(huì)導(dǎo)致類似微放電的噪聲。

3、諧波檢測(cè)法

諧波檢測(cè)法是所用的最可靠的檢測(cè)方法之一。它是利用微放電會(huì)產(chǎn)生輸入信號(hào)的諧波分量來(lái)檢測(cè)放電現(xiàn)象。使用諧波檢測(cè)法,為了優(yōu)化操作,在輸入前端需要濾去高功率放大器和信號(hào)源自身非線性所產(chǎn)生的諧波分量,也需要在輸出端很好地耦合微放電非線性作用,即信號(hào)產(chǎn)生的諧波分量。

這種檢測(cè)方法有多個(gè)優(yōu)點(diǎn):檢測(cè)系統(tǒng)易于搭建,檢測(cè)放電非??於铱煽?,尤其在多載波微放電發(fā)生時(shí)間非常短的條件下使用諧波檢測(cè)法就非常有用。但是,這種檢測(cè)方法與近載波噪聲檢測(cè)類似,可能會(huì)出現(xiàn)非微放電產(chǎn)生的諧波分量被誤認(rèn)為放電現(xiàn)象,因此,在使用中要與其他檢測(cè)方法(不包括近載波噪聲檢測(cè)法)一起來(lái)判斷放電。在實(shí)際應(yīng)用中,隨著使用的頻率提高,對(duì)于檢測(cè)設(shè)備提出了更苛刻的要求,對(duì)于使用帶來(lái)了條件的限制。

4、前后向功率檢測(cè)法

前后向功率檢測(cè)法是通過用功率計(jì)觀測(cè)被測(cè)件的反射功率和輸入功率來(lái)檢測(cè)放電現(xiàn)象。在不同的微波部件連接中失配會(huì)導(dǎo)致反射功率,在一個(gè)良好設(shè)計(jì)的系統(tǒng)中,對(duì)每一個(gè)不同部件間的匹配連接進(jìn)行了良好設(shè)計(jì)時(shí)反射功率很小,而高Q器件只是在一個(gè)特定頻率(或幾個(gè)特定頻率)上良好匹配,如果發(fā)生放電電子諧振現(xiàn)象,則會(huì)導(dǎo)致器件的失諧和匹配能力下降,從而導(dǎo)致反射功率的增加,進(jìn)而作為放電判斷的依據(jù)。

這種檢測(cè)方法在一般情況下檢測(cè)非常靈敏可靠,因?yàn)閹缀鯖]有其他情況造成失配,從而被誤判為放電;而且在脈沖模式下可以很好的工作,因?yàn)椴恍枰^測(cè)信號(hào)的頻譜。但是,對(duì)于匹配較差的器件和低Q器件,這種檢測(cè)方法檢測(cè)就不夠靈敏。

5、前后向功率調(diào)零檢測(cè)法

前后向功率調(diào)零檢測(cè)法,利用了微放電過程中放電對(duì)信號(hào)幅度和相位的改變建立的,是目前應(yīng)用中最靈敏的微放電檢測(cè)方法。它是用一個(gè)電橋耦合器把來(lái)自被測(cè)件的反射功率和通過器件的一部分信號(hào)進(jìn)行衰減調(diào)幅調(diào)相以達(dá)到等幅反向狀態(tài),從而實(shí)現(xiàn)調(diào)零電平。只要前向和反向功率發(fā)生變化,就會(huì)導(dǎo)致調(diào)零狀態(tài)變化,從而認(rèn)為是發(fā)生了放電。

這種檢測(cè)方法非常靈敏,因?yàn)橹灰跋蚝头聪蚬β拾l(fā)生一點(diǎn)改變,調(diào)零電平就會(huì)發(fā)生變化,從而判斷微放電;并且調(diào)零檢測(cè)法可以在脈沖模式下很好的工作。但是,這種檢測(cè)方法在一些特定的情況下也會(huì)發(fā)生誤判,如測(cè)試系統(tǒng)中接頭松動(dòng),被測(cè)件有雜質(zhì),或者測(cè)試中波導(dǎo)系統(tǒng)晃動(dòng)等都會(huì)造成反射功率發(fā)生一點(diǎn)變化,從而可能被誤判為放電。

6、調(diào)幅法

調(diào)幅法是在輸入前端將一個(gè)小調(diào)制的低頻信號(hào)幅度調(diào)制到射頻信號(hào)送入測(cè)試鏈路,由于調(diào)幅深度低,在微放電發(fā)生之前,頻譜只有載波信號(hào)和邊頻信號(hào),其余分量幾乎淹沒在噪聲中。微放電時(shí),信號(hào)能量由載波和調(diào)幅邊頻信號(hào)向近載波噪聲遷移,由于微放電的非線性作用,會(huì)引起邊頻信號(hào)的諧波,由于載波能量向周圍噪聲遷移的變化,調(diào)制在其上的邊頻信號(hào)的諧波以更高的幅度增大,從變化后的頻譜中,可以清晰地觀測(cè)到邊頻信號(hào)以及它的諧波變化,依據(jù)這種前后劇烈變化檢測(cè)微放電效應(yīng)。

這種檢測(cè)方法設(shè)備簡(jiǎn)單,而且檢測(cè)相對(duì)靈敏,尤其是對(duì)于臨近微放電閾值時(shí)更為敏感,因此,它適合來(lái)檢測(cè)微弱的放電現(xiàn)象。但是,這種檢測(cè)方法檢測(cè)是通過近載波的邊頻分量變化來(lái)檢測(cè)放電,所以在多載波和脈沖模式下不適合用此方法來(lái)檢測(cè)放電。同時(shí),這種方法目前只是進(jìn)行了理論研究,進(jìn)行的工程試驗(yàn)相對(duì)較少,因此,還需要進(jìn)一步研究。

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