內(nèi)存泄漏的檢測方法

內(nèi)存泄露（Memory leak）指的是，在程序中動態(tài)申請的內(nèi)存，在使用完后既沒有釋放，又無法被程序的其他部分訪問。內(nèi)存泄露是在開發(fā)大型程序中最令人頭疼的問題，以至于有人說，內(nèi)存泄露是無法避免的。其實(shí)不然，防止內(nèi)存泄露要從良好的編程習(xí)慣做起，另外重要的一點(diǎn)就是要加強(qiáng)單元測試（Unit Test），而valgrind就是這樣一款優(yōu)秀的工具。

（1）：程序發(fā)生內(nèi)存泄露的條件及各種情況：

a： 內(nèi)存申請忘記釋放（malloc，free（）；new，delete）；

b：申請內(nèi)存大小不正確（（char＊）malloc（0））；

c：free（）函數(shù)使用不正確（int a［］；free（a）釋放了棧區(qū)參數(shù)）；

d：一段內(nèi)存釋放多次（1個malloc，多個free（））；

（2）：檢測程序是否發(fā)生內(nèi)存泄露：

方法有二：

a：模仿用戶長時間使用設(shè)備；

b：針對某個具體的測試用例。