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天線計量的測試方法

iIeQ_mwrfnet ? 來源:與非網(wǎng) ? 作者:與非網(wǎng) ? 2020-09-19 10:55 ? 次閱讀

1、研究背景

隨著通信技術(shù)的發(fā)展,天線向3D波束賦形和智能化演變,就天線測試設(shè)施而言,傳統(tǒng)的遠場測試系統(tǒng)測試速度慢,投資高。

后來出現(xiàn)了球面近場測量系統(tǒng),測試速度得以提高,設(shè)備投資得以降低,使得快速測量3D方向圖成為可能。對未來5G天線的測試,每個天線需要測試多種波束賦形的模式(也許超過100種),則測試工作量是巨大的。所以如何進一步提高測試速度、降低測試成本,是需要研究的。

2、測試方法

甚近場測量場地:近年來的新技術(shù),不依賴電波暗室,這主要是因為在感應(yīng)近場區(qū),由于磁場的閉環(huán)特性,測量探頭對磁場的擾動影響要輕微一些。在測得甚近場區(qū)域的磁場幅度、相位參量以后,需要進行數(shù)據(jù)處理才能換算得到遠場輻射特性。

3、測試結(jié)果

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
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原文標題:不依賴微波暗室的天線計量測試技術(shù)

文章出處:【微信號:mwrfnet,微信公眾號:微波射頻網(wǎng)】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請注明出處。

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