0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

pcb設(shè)計(jì)最常見的焊點(diǎn)失效原因分析

PCB線路板打樣 ? 來源:CLTPHP ? 作者:CLTPHP ? 2021-01-25 11:56 ? 次閱讀

焊點(diǎn)可靠性通常是電子系統(tǒng)設(shè)計(jì)中的一個痛點(diǎn)。各種各樣的因素都會影響焊點(diǎn)的可靠性,并且其中任何一個因素都會大大縮短焊點(diǎn)的使用壽命。在設(shè)計(jì)和制造過程中正確識別和緩解焊點(diǎn)失效的潛在原因可以防止在產(chǎn)品生命周期后期出現(xiàn)代價(jià)高昂且難以解決的問題。這里介紹一些要考慮的最常見的焊點(diǎn)失效原因。

1.灌封,底部填充和保形涂料產(chǎn)生的意外應(yīng)力

2.意外的溫度循環(huán)極限

3.機(jī)械過應(yīng)力事件

4. PCBA過度約束的情況

5.焊接缺陷

當(dāng)灌封擴(kuò)大時,焊球會承受壓力。

電子行業(yè)中經(jīng)常使用灌封,涂層,鉚釘材料和其他密封劑來防止可能會損壞組件的環(huán)境條件。但是,這些聚合物材料的熱和機(jī)械性能可能會發(fā)生很大變化。

如果在設(shè)計(jì)過程中不了解涂層和灌封的材料特性,它們會產(chǎn)生復(fù)雜的負(fù)載條件,從而不利地影響焊點(diǎn)的可靠性。例如,如果組件被浸涂,則涂層將在諸如球柵陣列(BGA)和四方扁平無引線(QFN)之類的組件下方流動。涂層將在熱循環(huán)過程中膨脹,并可能會將元件“提離”電路板,從而在焊點(diǎn)上施加拉應(yīng)力。

某些組件安裝條件和灌封/涂層應(yīng)用技術(shù)可能會在組件焊點(diǎn)上產(chǎn)生不必要的應(yīng)力,例如拉伸應(yīng)力。根據(jù)所用灌封/涂層的材料特性,這些應(yīng)力可能足夠大,以至于嚴(yán)重影響焊點(diǎn)疲勞壽命。

指定灌封或涂層時要考慮的最重要的材料特性是玻璃化轉(zhuǎn)變溫度,模量和熱膨脹系數(shù)-高于和低于玻璃化轉(zhuǎn)變溫度。玻璃化溫度是指材料在硬/玻璃狀和軟/橡膠狀稠度之間轉(zhuǎn)變的溫度。

在“ 焊料疲勞原因和預(yù)防” 博客中了解有關(guān)玻璃過渡對澆鑄,涂料和底部填充的影響的更多信息

灌封的一個常見問題是,當(dāng)產(chǎn)品設(shè)計(jì)過程中未完全理解的材料與玻璃化轉(zhuǎn)變溫度過高有關(guān)時。在某些用于電子灌封的聚合物中,當(dāng)材料冷卻到其玻璃化轉(zhuǎn)變溫度以下時,彈性模量可以增加20倍。

如果熱循環(huán)在這種材料的玻璃化轉(zhuǎn)變溫度以下延伸,則在冷停留期間焊料所承受的應(yīng)力和由此產(chǎn)生的蠕變應(yīng)變將很高且會損壞。這種作用會大大降低疲勞壽命。

此處提到的示例只是一些復(fù)雜而有害的加載條件中的一部分,這些條件可能是由于不完全了解灌封,涂層或底部填充的熱和機(jī)械材料特性而導(dǎo)致的。

這是有關(guān)與灌封和涂層相關(guān)的可靠性問題的在線研討會的絕佳資源。

錄制的網(wǎng)絡(luò)研討會討論涂料和灌封。

意外焊點(diǎn)故障的另一個常見原因是電子系統(tǒng)所經(jīng)歷的溫度循環(huán)參數(shù)的不正確表征。例如,開/關(guān)周期,暴露在直射的陽光下,在不同氣候和其他幾種來源之間的傳播會給印刷電路板元器件(PCBA)或組件增加意想不到的溫度波動。

為了生成電子系統(tǒng)最準(zhǔn)確的可靠性指標(biāo),在運(yùn)行有限元分析(FEA)模擬或物理產(chǎn)品鑒定之前,必須詳細(xì)表征其將經(jīng)歷的溫度循環(huán)。

此外,如果組件中包含灌封或其他聚合物,則如果未正確確定最高和最低溫度,則遇到上述玻璃化轉(zhuǎn)變問題的風(fēng)險(xiǎn)會增加。

當(dāng)在機(jī)械事件(例如沖擊,跌落,在線測試,電路板去面板化,連接器插入或PCBA插入)中焊點(diǎn)承受過大負(fù)載時,就會發(fā)生機(jī)械過應(yīng)力故障。

應(yīng)力過大的故障通常很難預(yù)測,因此很難防止。沖擊測試研究表明,最佳解決方案是此類故障的隨機(jī)故障分布。

o4YBAGAOQO-ASQFqAAT4qpNVgTQ718.png

沿IMC的骨折

焊點(diǎn)過應(yīng)力故障通常表現(xiàn)為沿金屬間連接(IMC)的焊坑或焊縫破裂。焊盤凹坑是指在焊點(diǎn)銅焊盤下方的層壓板中的凹坑狀裂紋。IMC是銅墊和焊料結(jié)合形成Cu 3 Sn或Cu 6 Sn 5的區(qū)域。這是焊點(diǎn)最脆的區(qū)域,這就是為什么它是最容易承受過應(yīng)力的區(qū)域的原因。

通常在較細(xì)間距的組件(主要是BGA)上或使用特別脆的層壓板時會出現(xiàn)這種類型的故障。焊盤縮孔是一個嚴(yán)重的問題,因?yàn)樗?jīng)常導(dǎo)致痕量的斷裂。與通常在大部分焊點(diǎn)中發(fā)生的疲勞裂紋相反,當(dāng)機(jī)械過應(yīng)力失效表現(xiàn)為焊縫斷裂時,它們通常沿著IMC發(fā)生。

由于機(jī)械事件故障在很大程度上取決于PCB邊界條件和幾何形狀,因此通常建議使用FEA來預(yù)測機(jī)械應(yīng)力過大的風(fēng)險(xiǎn)。使用其他方法很難預(yù)測復(fù)雜的加載條件或板形。另外,F(xiàn)EA允許應(yīng)變和曲率量化。

這是討論如何減少與電子組件有關(guān)的與沖擊有關(guān)的故障的重要資源。

錄制的網(wǎng)絡(luò)研討會討論了機(jī)械沖擊的可靠性保證。

pIYBAGAOQP-AagUmAAJYAy04hZo481.png

約束條件下電路的熱機(jī)械反射

PCBA的過度約束條件包括:

· 組件鏡像

· 電路板安裝條件

· 連接到外殼

它們經(jīng)常被忽略,會對焊點(diǎn)的壽命產(chǎn)生重大影響。

安裝點(diǎn)和其他電路板約束對熱膨脹,機(jī)械沖擊事件和振動期間的電路板應(yīng)變大小和位置有很大影響。

約束會降低電路板的順應(yīng)性,并產(chǎn)生電路板應(yīng)變,這可能會導(dǎo)致位置過緊的元件過早出現(xiàn)焊點(diǎn)故障。此外,安裝點(diǎn)的總體布局將直接影響PCBA可能的模式形狀。

如果不能很好地理解這些模式形狀,則可以以將敏感組件放置在高板應(yīng)變區(qū)域中的方式設(shè)計(jì)板。FEA是解決此問題的強(qiáng)大工具,因?yàn)樗褂脩艨梢缘煌陌惭b條件。

元器件鏡像是另一個常見的過度約束條件,可能會對焊點(diǎn)壽命產(chǎn)生負(fù)面影響。鏡像是指兩個組件在PCBA兩側(cè)相似位置中的位置。

o4YBAGAOQQ-ADTzwAAJZb0KnZUY388.png

模擬控制板和鏡像板

鏡像會限制電路板的運(yùn)動,從而降低了組件的封裝合規(guī)性,這會在焊點(diǎn)中產(chǎn)生額外的應(yīng)力。研究表明,組件鏡像可以將疲勞壽命減少2或3倍。

這里有大量資源,討論了系統(tǒng)級別對焊點(diǎn)可靠性的影響。

錄制的網(wǎng)絡(luò)研討會討論了系統(tǒng)級別對焊點(diǎn)可靠性的影響。

如果焊點(diǎn)質(zhì)量較差,上述所有緩解策略都無法防止焊點(diǎn)可靠性問題。因此,必須使用信譽(yù)良好的制造商并嚴(yán)格控制流程來構(gòu)造PCBA。

存在各種各樣的焊點(diǎn)缺陷,它們會對可靠性產(chǎn)生負(fù)面影響。PCBA到達(dá)現(xiàn)場之前,應(yīng)進(jìn)行焊點(diǎn)的橫截面和外觀檢查,以確保達(dá)到制造質(zhì)量指標(biāo)。
編輯:hfy

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 焊點(diǎn)
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    106

    瀏覽量

    12640
  • PCBA
    +關(guān)注

    關(guān)注

    23

    文章

    1472

    瀏覽量

    51005
收藏 人收藏

    評論

    相關(guān)推薦

    PCB失效原因與案例分析

    PCB失效原因與案例分析
    發(fā)表于 08-16 16:11

    PCB設(shè)計(jì)焊點(diǎn)過密的優(yōu)化方式分析

    PCB設(shè)計(jì)焊點(diǎn)過密,易造成波峰連焊,焊點(diǎn)間漏電。下面小編為大家來分析PCB設(shè)計(jì)焊點(diǎn)過密的優(yōu)化方
    發(fā)表于 09-18 15:31

    PCB失效可能是這些原因導(dǎo)致的

    使用電烙鐵對失效焊點(diǎn)進(jìn)行補(bǔ)焊處理或大剪刀進(jìn)行強(qiáng)力剪裁PCB,那么再分析就無從下手了,失效的現(xiàn)場已經(jīng)破壞了。特別是在
    發(fā)表于 09-20 10:55

    超全面PCB失效分析

    使用電烙鐵對失效焊點(diǎn)進(jìn)行補(bǔ)焊處理或大剪刀進(jìn)行強(qiáng)力剪裁PCB,那么再分析就無從下手了,失效的現(xiàn)場已經(jīng)破壞了。特別是在
    發(fā)表于 09-20 10:59

    失效分析方法---PCB失效分析

    分析故障樹的方法: 針對PCB/PCBA的常見板級失效現(xiàn)象,我們通過建立各種失效模式的根因故障樹,并在實(shí)戰(zhàn)中持續(xù)積累、提煉、更新,從深度和廣
    發(fā)表于 03-10 10:42

    超實(shí)在技巧分享:PCB設(shè)計(jì)焊點(diǎn)過密怎么優(yōu)化?

    PCB設(shè)計(jì)焊點(diǎn)過密,易造成波峰連焊,焊點(diǎn)間漏電。那么有什么好的方式來優(yōu)化下么?本文小編就來為大家來分析PCB設(shè)計(jì)
    發(fā)表于 12-27 01:10 ?1283次閱讀

    PCB設(shè)計(jì)焊點(diǎn)過密的優(yōu)化方式有哪些

    PCB設(shè)計(jì)焊點(diǎn)過密,易造成波峰連焊,焊點(diǎn)間漏電。下面小編為大家來分析PCB設(shè)計(jì)焊點(diǎn)過密的優(yōu)化方
    的頭像 發(fā)表于 08-19 14:38 ?1463次閱讀

    PCB設(shè)計(jì)焊點(diǎn)過密怎樣來優(yōu)化這個問題

    PCB設(shè)計(jì)焊點(diǎn)過密,易造成波峰連焊,焊點(diǎn)間漏電。
    發(fā)表于 08-21 10:39 ?428次閱讀

    13種最常見PCB設(shè)計(jì)錯誤,我們該如何避免這些錯誤

    NCAB為工程師、設(shè)計(jì)師以及所有PCB設(shè)計(jì)與制造過程的參與者創(chuàng)建了一個工具,這個工具總結(jié)了一些可能對PCB成品產(chǎn)生不良影響的常見設(shè)計(jì)錯誤,以及如何避免這些錯誤的發(fā)生。 導(dǎo)致錯誤的原因
    發(fā)表于 09-25 14:29 ?1837次閱讀

    PCBA加工中焊點(diǎn)失效原因是什么

    過程中也會遇到PCBA焊點(diǎn)失效問題,需要進(jìn)行分析找出原因,以免再次出現(xiàn)焊點(diǎn)失效情況。 PCBA加
    發(fā)表于 06-24 17:01 ?1018次閱讀

    PCB熔錫不良失效分析

    )。 2.EDS分析 說明:失效焊點(diǎn)PAD上無明顯錫膏(Sn)附著,未發(fā)現(xiàn)異常元素, C元素約占30%(助焊劑主要成分之一)。 3.斷面金相分析 說明:斷面
    的頭像 發(fā)表于 08-10 14:25 ?2212次閱讀

    PCBA加工焊點(diǎn)失效原因及解決方法

      一站式PCBA智造廠家今天為大家講講PCBA加工焊點(diǎn)失效是什么原因?PCBA加工焊點(diǎn)失效的解決方法。
    的頭像 發(fā)表于 06-25 09:27 ?747次閱讀

    pcb常見缺陷原因與措施

    。因此,為了確保 PCB 設(shè)計(jì)和制造的質(zhì)量,我們需要了解 PCB 常見缺陷及其原因,并采取相應(yīng)的措施來解決和預(yù)防這些問題。 一、常見缺陷與
    的頭像 發(fā)表于 08-29 16:40 ?1836次閱讀

    光耦失效的幾種常見原因分析

    光耦失效的幾種常見原因分析? 光耦是一種光電耦合器件,由發(fā)光二極管和光探測器組成。它能夠?qū)㈦娏餍盘栟D(zhuǎn)換為光信號,或者將光信號轉(zhuǎn)換為電流信號。但是,由于各種
    的頭像 發(fā)表于 11-20 15:13 ?3559次閱讀

    BGA焊點(diǎn)失效分析——冷焊與葡萄球效應(yīng)

    BGA(Ball Grid Array)是一種高密度的表面貼裝封裝技術(shù),它將芯片的引腳用焊球代替,并以網(wǎng)格狀排列在芯片的底部,通過回流焊與印刷電路板(PCB)上的焊盤連接。然而,BGA也存在一些可靠性問題,其中最常見的就是焊點(diǎn)
    的頭像 發(fā)表于 12-27 09:10 ?877次閱讀