0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫(xiě)文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

一種新的原子力顯微鏡測(cè)量微小電流

電子設(shè)計(jì) ? 來(lái)源:eeweb ? 作者: Andres GomezRodrígu ? 2021-05-20 06:46 ? 次閱讀

一組研究人員在ADI公司的幫助下創(chuàng)建了一種新的原子力顯微鏡。特別是,他們使用跨阻放大器測(cè)量了由壓電效應(yīng)產(chǎn)生的微小電流,該跨阻放大器包含在電流-電壓轉(zhuǎn)換器中。這項(xiàng)名為“通過(guò)直接壓電力顯微鏡揭示的壓電產(chǎn)生的電荷圖”的工作發(fā)表在科學(xué)雜志《自然通訊》上。

o4YBAGCmHM-AWKOcAALyD2Sgoes077.png

圖1:反相放大器拓?fù)涫疽鈭D,其中跨阻放大器的R1 = 0。

只有如此,ADI公司才提供測(cè)量微小電流所需的放大器,其零件號(hào)為ADA4530。此類(lèi)組件由一個(gè)飛安輸入偏置電流靜電計(jì)放大器組成,該放大器在跨阻配置中裝有1 TeraOhm電阻作為反饋電阻。在整個(gè)測(cè)量過(guò)程中,降低電子設(shè)備箱的環(huán)境濕度是關(guān)鍵因素,而在允許的最大偏置下工作旨在減小ADA4530的超低輸入偏置電流。使用ADI AD8429,具有反相放大器拓?fù)涞母郊与妷悍糯笃魑挥诨プ杩沟妮敵龆?。借助這種串聯(lián)的放大器,研究人員能夠直接測(cè)量幾種壓電材料產(chǎn)生的電荷。

o4YBAGCmHO-AHpeSAASigojdikw336.png

圖2:尖端掃描幾個(gè)反平行鐵電疇的壓電表面時(shí)記錄的電流(毫微安標(biāo)度)。有兩張圖片,當(dāng)筆尖從左向右旋轉(zhuǎn)(軌跡)時(shí)以及筆尖從右向左旋轉(zhuǎn)(軌跡)時(shí)。僅當(dāng)放大器的泄漏電流低于此水平時(shí),才可以測(cè)量如此少量的電流。

原子力顯微鏡(AFM)是材料表征中最活躍的技術(shù)之一。這一重要的繁榮在于這種顯微鏡的多功能性:不僅可以看到材料,而且還可以研究無(wú)法測(cè)量的其他特性,例如其電,磁或熱特性。這種多功能性使AFM成為一種用于材料表征的意義深遠(yuǎn)的技術(shù),該技術(shù)本身已經(jīng)假設(shè)一個(gè)行業(yè),其每年的利潤(rùn)報(bào)告為4億美元。

該研究集中于壓電材料的壓電產(chǎn)生的電荷的映射。壓電是一種性質(zhì),其中由于施加到材料上的機(jī)械應(yīng)力而由材料產(chǎn)生電荷。在這項(xiàng)特殊的研究中,材料由一根細(xì)小的針頭(納米尺寸的AFM針尖)施加壓力。尖端施加的力在100微牛頓的范圍內(nèi),并測(cè)量在材料中產(chǎn)生的電荷。對(duì)于周期性極化的鈮酸鋰,每種材料收集到的總電荷為5fC,雙峰鐵氧體為25fC,鋯鈦酸鉛為90fC。這種新模式增強(qiáng)了原子力顯微鏡技術(shù),將其作為可用于材料研究的關(guān)鍵未來(lái)技術(shù),并為在納米級(jí)電子計(jì)數(shù)開(kāi)辟了未來(lái)。

o4YBAGCmHQaALjb5AANklOu4jXo746.png

圖3:電子盒的圖紙,可以在其中記錄微小的產(chǎn)生電流。為了測(cè)量這種電荷的產(chǎn)生,必須使用超低泄漏電流放大器,因此所產(chǎn)生的電流不會(huì)流過(guò)電子盒。通過(guò)使用這種放大器,會(huì)吸收極少量的電流,并且會(huì)損失電流,但是可以測(cè)量和記錄絕大部分電流。

o4YBAGCmHRSAVqauAAMkSC-_sug375.png

圖4:從新的DPFM模式獲得的3D成分映射。對(duì)于由周期性極化鈮酸鋰組成的樣品,既獲得了電產(chǎn)生的電荷,又獲得了其機(jī)電行為。

參考:通過(guò)直接壓電顯微鏡,A.Gomez等人,Nature Communications(2017),DOI:10.1038 / s41467-017-01361-2揭示的壓電產(chǎn)生的電荷圖譜。

編輯:hfy

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫(xiě)或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問(wèn)題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 反相放大器
    +關(guān)注

    關(guān)注

    5

    文章

    87

    瀏覽量

    21623
  • 顯微鏡
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    532

    瀏覽量

    22959
  • 跨阻放大器
    +關(guān)注

    關(guān)注

    8

    文章

    66

    瀏覽量

    20970
收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    利用原子顯微鏡測(cè)量硅蝕刻速率

    本文提出了一種利用原子顯微鏡(AFM)測(cè)量硅蝕刻速率的簡(jiǎn)單方法,應(yīng)用硅表面的天然氧化物層作為掩膜,通過(guò)無(wú)損摩擦化學(xué)去除部分天然氧化物,暴露
    發(fā)表于 04-22 14:06 ?1557次閱讀
    利用<b class='flag-5'>原子</b><b class='flag-5'>力</b><b class='flag-5'>顯微鏡</b><b class='flag-5'>測(cè)量</b>硅蝕刻速率

    顯微成像與精密測(cè)量:共聚焦、光學(xué)顯微鏡測(cè)量顯微鏡的區(qū)分

    共聚焦顯微鏡一種光學(xué)顯微鏡,也可以被稱為測(cè)量顯微鏡。能夠進(jìn)行二維和三維成像,是光學(xué)顯微鏡技術(shù)中
    的頭像 發(fā)表于 05-11 11:38 ?755次閱讀
    <b class='flag-5'>顯微</b>成像與精密<b class='flag-5'>測(cè)量</b>:共聚焦、光學(xué)<b class='flag-5'>顯微鏡</b>與<b class='flag-5'>測(cè)量</b><b class='flag-5'>顯微鏡</b>的區(qū)分

    揭秘:顯微鏡的加速技術(shù)  

        近代儀器發(fā)展史上,顯微技術(shù)直隨著人類(lèi)科技進(jìn)步而不斷的快速發(fā)展,科學(xué)研究及材料發(fā)展也隨著新的顯微技術(shù)的發(fā)明,而推至前所未有的微小世界。原子
    發(fā)表于 06-19 17:22

    原子顯微鏡工作原理及應(yīng)用范圍

    原子顯微鏡(Atomic Force Microscope, AFM),主要原理是藉由針尖與試片間的原子作用力,使懸臂梁產(chǎn)生微細(xì)位移,以測(cè)得樣品表面形貌起伏。
    發(fā)表于 11-13 09:48

    用于精確測(cè)量界面的MAC模式原子顯微鏡

    用于精確測(cè)量界面的MAC模式原子顯微鏡
    發(fā)表于 10-15 11:28

    使用MACMode原子顯微鏡處理液體中的金納米粒子應(yīng)用筆記

    使用MACMode?原子顯微鏡處理液體中的金納米粒子 - 應(yīng)用筆記
    發(fā)表于 10-23 10:37

    Piezoresponse顯微鏡應(yīng)用說(shuō)明

    Piezoresponse顯微鏡 - 應(yīng)用說(shuō)明
    發(fā)表于 10-31 09:12

    是德科技原子顯微鏡的應(yīng)用顆粒表征

    原子顯微鏡在顆粒表征中的應(yīng)用 - 應(yīng)用簡(jiǎn)報(bào)
    發(fā)表于 11-05 10:31

    原子顯微鏡工作原理及其應(yīng)用

    原子顯微鏡及其應(yīng)用原子顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡
    發(fā)表于 12-04 12:23 ?36次下載

    原子顯微鏡三維形貌圖象分析

    原子顯微鏡是以掃描隧道顯微鏡基本原理發(fā)展起來(lái)的掃描探針顯微鏡。原子
    發(fā)表于 09-08 17:47 ?19次下載

    納米級(jí)原子顯微鏡diy圖解

    顯微鏡可讓我們看到肉眼無(wú)法觀察的結(jié)構(gòu),實(shí)在是太棒了!光學(xué)顯微鏡能看到微米等級(jí)(1/1,000毫米)結(jié)構(gòu),然而原子顯微鏡更可讓我們看到納米(
    的頭像 發(fā)表于 09-20 11:20 ?1.1w次閱讀

    【應(yīng)用案例】掃描隧道顯微鏡STM

    比它的同類(lèi)原子顯微鏡更加高的分辨率。此外,掃描隧道顯微鏡在低溫下(4K)可以利用探針尖端精確操縱原子,因此它在納米科技既是重要的
    的頭像 發(fā)表于 07-04 13:12 ?2198次閱讀
    【應(yīng)用案例】掃描隧道<b class='flag-5'>顯微鏡</b>STM

    顯微鏡的結(jié)構(gòu)和使用方法 顯微鏡分為哪三個(gè)部分

    顯微鏡一種用于放大觀察微小物體的光學(xué)儀器。它通過(guò)對(duì)物體的光線進(jìn)行放大和調(diào)節(jié),使我們能夠看到肉眼無(wú)法觀察到的微小細(xì)節(jié)。顯微鏡廣泛應(yīng)用于生物學(xué)
    的頭像 發(fā)表于 01-25 14:19 ?2477次閱讀

    原子顯微鏡AFM測(cè)試與案例分享

    顯微鏡一種可用來(lái)研究包括絕緣體在內(nèi)的固體材料表面結(jié)構(gòu)的分析儀器,研究物質(zhì)的表面結(jié)構(gòu)及性質(zhì),以納米級(jí)分辨率獲得表面結(jié)構(gòu)信息。 原子顯微鏡A
    的頭像 發(fā)表于 03-01 10:59 ?1304次閱讀
    <b class='flag-5'>原子</b><b class='flag-5'>力</b><b class='flag-5'>顯微鏡</b>AFM測(cè)試與案例分享

    開(kāi)爾文探針顯微鏡檢測(cè)的是什么信號(hào)

    開(kāi)爾文探針顯微鏡(Kelvin Probe Force Microscope, KPFM)是一種高分辨率的掃描探針顯微鏡,主要用于表面電荷和電勢(shì)的
    的頭像 發(fā)表于 08-27 16:12 ?644次閱讀