LitePoint端對端覆蓋解決方案解決5G的測試挑戰(zhàn)

日前， LitePoint參加了由DIGITIMES主辦的5G行動通訊技術(shù)趨勢論壇，并且產(chǎn)品經(jīng)理溫中義先生在論壇上主講 “5G Sub-6GHz與毫米波測試考量”

2000年5月成立至今，LitePoint協(xié)助客戶解決無線測試的挑戰(zhàn)，其所提供的無線測試解決方案從最前緣之晶片設(shè)計端的驗(yàn)證開始，橫亙晶片量產(chǎn)、通訊模組測試，一直到整個產(chǎn)品的系統(tǒng)開發(fā)、製造、大量生產(chǎn)等所有重要環(huán)節(jié)，其最為業(yè)界所稱道的在于能夠協(xié)助客戶進(jìn)行跨生態(tài)系統(tǒng)、供應(yīng)鏈的掌控，確保製程製造能力的改善，縮短上市時間，并獲得快速產(chǎn)能提升，追逐最大的獲利。

這場簡報聚焦于5G測試挑戰(zhàn)，由于Sub-6GHz與毫米波頻譜所延伸的測試挑戰(zhàn)是產(chǎn)業(yè)界目前最夯的議題，目前3GPP所制定的5G通訊標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)從R15進(jìn)階到R16標(biāo)準(zhǔn)，可以看到5G應(yīng)用逐漸從大頻寬與高速資料傳輸?shù)牡湫蛻?yīng)用中，開始往更大的智慧型應(yīng)用發(fā)展，尤其看好快速反應(yīng)的超低延遲應(yīng)用，舉凡車聯(lián)網(wǎng)、工業(yè)物聯(lián)網(wǎng)，整合企業(yè)專網(wǎng)服務(wù)的智慧製造，以及從微波通訊技術(shù)出發(fā)的低軌道衛(wèi)星通訊應(yīng)用，嘗試解決在荒郊野外大量感測器與電子裝置的連接問題，尤其當(dāng)網(wǎng)路基礎(chǔ)架構(gòu)開始擺脫以都會城鎮(zhèn)為主的佈局，一場即將到來的廣域物聯(lián)網(wǎng)革命就要啟動。

溫中義指出，5G裝置從2020年初統(tǒng)計的200個，在8個月內(nèi)快速變成400個，成長速度只會愈來愈快，而Sub-6GHz(FR1頻段)與mmWave(FR2頻段)的設(shè)計架構(gòu)，有相當(dāng)大的差異，尤其是mmWave的天線模組(Antenna Module)設(shè)計，目前透過新興的AiP技術(shù)使用，天線陣列IC的發(fā)展直接影響未來5G智慧型手機(jī)的功能，以發(fā)展趨勢來看，消費(fèi)性電子產(chǎn)品勢必在外觀尺寸不變的條件下，要塞進(jìn)去更多不同天線的現(xiàn)實(shí)中，直接面對射頻(RF)規(guī)格的測試挑戰(zhàn)。

在電信營運(yùn)商的基礎(chǔ)架構(gòu)中也開啟全新的轉(zhuǎn)變，在3G、4G網(wǎng)路中所看到的無線接取網(wǎng)路(RAN)，到了5G世代后，透過大量軟體所做的功能區(qū)隔，讓5G基礎(chǔ)架構(gòu)變得更有彈性，但是為了減輕電信營運(yùn)商在資本支出的負(fù)擔(dān)，于是O-RAN聯(lián)盟開啟了白牌電信硬體設(shè)備的開放標(biāo)準(zhǔn)規(guī)格步伐，打破過去獨(dú)佔(zhàn)的電信設(shè)備商市場，為臺灣的資通訊業(yè)者找到新的商機(jī)，并摩拳擦掌準(zhǔn)備搶進(jìn)此一新興市場。

這當(dāng)中MIMO技術(shù)隨著多個天線的組合而增加測試的困難度，考慮多個載波聚合(CA)的使用場景，就必須選擇一個正確的測試設(shè)定來節(jié)省測試流程，而空中傳輸(OTA) Chamber的測試選擇，這牽涉到OTA測試所需要的複雜Link Budget參數(shù)計算，還有諸如DC Offset等眾多關(guān)鍵參數(shù)都會影響測試的結(jié)果與線性的特性，所以測試的狀況非常複雜，如果再考慮適當(dāng)?shù)淖詣踊瘻y試軟體之搭配與選擇，這就是一個完整的5G測試解決方案之所以成為關(guān)鍵要角的主因。

LitePoint提供的端對端覆蓋解決方案，協(xié)助客戶解決5G的測試挑戰(zhàn)，而最重要的，當(dāng)產(chǎn)品從工程驗(yàn)證要移轉(zhuǎn)到大量生產(chǎn)的量產(chǎn)階段時，工程驗(yàn)證測試所建立的測試模型可以快速移到生產(chǎn)線上來進(jìn)行大量量產(chǎn)測試，現(xiàn)場的LitePoint展示攤位中，還展出5G量產(chǎn)的測試解決方案，為5G裝置的放量生產(chǎn)預(yù)做完整的準(zhǔn)備。

原文標(biāo)題：LitePoint解決5G裝置大量量產(chǎn)的測試挑戰(zhàn)

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