0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

離子注入工藝的設(shè)計(jì)與計(jì)算簡(jiǎn)介

電子工程師 ? 來源:芯片工藝技術(shù) ? 作者:芯片工藝技術(shù) ? 2020-11-20 10:03 ? 次閱讀

介紹工藝之前,我們先聊一下昨天一個(gè)朋友提到的日本日新的離子注入設(shè)備。日本日新是全球3大離子注入設(shè)備商之一。

1973年的時(shí)候,該公司就開始做離子注入的工藝設(shè)備。

目前的主要業(yè)務(wù)設(shè)備如上表。詳細(xì)的可以去它主頁了解。

重點(diǎn)介紹激光領(lǐng)域用到的一款設(shè)備:

主要是注入H離子用的,可以達(dá)到400KeV的H+離子注入。

主頁:http://www.nissin-ion.co.jp/en/sitemap.html

2016年,日本日新離子機(jī)株式會(huì)社與揚(yáng)州經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)簽訂了合作協(xié)議。日新株式會(huì)社將在揚(yáng)州經(jīng)濟(jì)技術(shù)開發(fā)區(qū)投資興建離子注入機(jī)設(shè)備生產(chǎn)廠。

離子注入工藝參數(shù)

00

離子注入就像上圖一樣,把離子砸到晶圓中。涉及到使用的力度、數(shù)量、角度,砸進(jìn)去的深度等。

或許大家看注入機(jī)設(shè)備規(guī)格的時(shí)候,會(huì)注意到在討論能量范圍的時(shí)候,KeV注明是單電荷。

我們知道擴(kuò)散源以原子的形態(tài)被打入等離子發(fā)生室內(nèi),其核外電子被電離游走掉,有的原子被電離掉一個(gè)電子、有的兩個(gè)、甚至3個(gè),電離出來的電阻越多,需要的能力越大。因此在一鍋Plasma中,一價(jià)的離子是最多的。

一般的離子注入機(jī)都有電荷的能力,原理大家可以想象高中學(xué)的什么庫侖作用力吧,帶的電荷不同,電磁場(chǎng)中獲得的動(dòng)量不同。設(shè)備可以選擇工藝需要的價(jià)態(tài)離子進(jìn)行注入。

如果單電荷可以做到400KeV的能量的話,對(duì)應(yīng)3+離子可以做到1200KeV,可以直接倍速關(guān)系。

離子注入的關(guān)鍵工藝是如何控制摻雜劑量、注入深度等。

例如上圖As注入到Si晶格中,As離子進(jìn)入硅之后,不斷和硅原子碰撞,逐步損失能量,最后停下來,停下來的位置是隨機(jī)的,大部分不在晶格上的,也就沒有電活性。

1963年Lindhard,Scharff 和 Schiott首先確立了注入離子在靶內(nèi)的分布理論。簡(jiǎn)稱LSS理論。

LSS理論就是討論離子是靶內(nèi)是如何停下來的,靠靶的原子核或者核外電子。再給他們二位起個(gè)名字叫阻止本領(lǐng)。

https://wenku.baidu.com/view/5935cde8970590c69ec3d5bbfd0a79563c1ed43c.html更詳細(xì)的知識(shí)可以看文庫文件。

如果我們只知道需要摻雜的劑量,和離子能量,如何計(jì)算注入離子在靶材中的濃度和深度

例如一個(gè)140KeV的B+離子,注入150mm的6寸硅片上,注入劑量Q=5*1014/cm2,襯底濃度2*1016/cm3.

估算注入離子的投影射程,標(biāo)準(zhǔn)偏差、峰值濃度、結(jié)深。

如果注入時(shí)間1分鐘,估算所需束流。

另外注入到其他襯底材料的時(shí)候,同樣的離子,和硅單晶比的話,晶格常數(shù)越大的,越容易注入,晶格常數(shù)越小,越難注入。就好比往雞蛋籃子里面丟沙子一樣的道理,縫隙越大越容易塞進(jìn)去。

不過不同注入能力的離子注入設(shè)備,價(jià)格也相差不少呢,比如第三代半導(dǎo)體這種,也要上千W,一臺(tái)設(shè)備也要占地大幾十平的房間,真是燒錢的老母雞,就是不知道能不能下金蛋。

責(zé)任編輯:xj

原文標(biāo)題:離子注入工藝的設(shè)計(jì)與計(jì)算

文章出處:【微信公眾號(hào):芯片工藝技術(shù)】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 晶圓
    +關(guān)注

    關(guān)注

    52

    文章

    4743

    瀏覽量

    127285
  • 晶格
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    93

    瀏覽量

    9164
  • 離子注入
    +關(guān)注

    關(guān)注

    3

    文章

    26

    瀏覽量

    10310

原文標(biāo)題:離子注入工藝的設(shè)計(jì)與計(jì)算

文章出處:【微信號(hào):dingg6602,微信公眾號(hào):芯片工藝技術(shù)】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    華瑞微電子科技榮獲離子注入機(jī)專利

    該專利揭示了一款專用于集成電路生產(chǎn)線的離子注入機(jī),屬于半導(dǎo)體加工設(shè)備技術(shù)領(lǐng)域。該設(shè)備主要由支撐框架、離子注入機(jī)構(gòu)、照射箱組件和擾流機(jī)構(gòu)組成,同時(shí)配備吸塵除塵組件。
    的頭像 發(fā)表于 05-28 10:06 ?342次閱讀
    華瑞微電子科技榮獲<b class='flag-5'>離子注入</b>機(jī)專利

    日本住友重工將推出SiC離子注入機(jī)

    住友重工離子技術(shù)公司,作為住友重工的子公司,計(jì)劃在2025年向市場(chǎng)推出專為碳化硅(SiC)功率半導(dǎo)體設(shè)計(jì)的離子注入機(jī)。SiC制程雖與硅生產(chǎn)線有諸多相似之處,但由于其高硬度等獨(dú)特性質(zhì),對(duì)生產(chǎn)設(shè)備提出了特殊要求。
    的頭像 發(fā)表于 05-20 14:31 ?767次閱讀

    住友重工2025年擬推碳化硅離子注入機(jī)

    盡管SiC制造過程中的多數(shù)設(shè)備與常規(guī)硅類通用,但因其具備高硬度特性,需要專屬設(shè)備支持,包括高級(jí)別的高溫離子注入機(jī)、強(qiáng)效的碳膜濺射儀以及大規(guī)模的高溫退火爐等。其中,能否擁有高溫離子注入機(jī)被視為衡量SiC生產(chǎn)線水平的關(guān)鍵指標(biāo)。
    的頭像 發(fā)表于 05-17 09:47 ?509次閱讀

    SiC與GaN 功率器件中的離子注入技術(shù)挑戰(zhàn)

    碳化硅(SiC)和氮化鎵(GaN)等寬帶隙(WBG)半導(dǎo)體預(yù)計(jì)將在電力電子器件中發(fā)揮越來越重要的作用。與傳統(tǒng)硅(Si)設(shè)備相比,它們具有更高的效率、功率密度和開關(guān)頻率等主要優(yōu)勢(shì)。離子注入是在硅器件
    的頭像 發(fā)表于 04-29 11:49 ?743次閱讀
    SiC與GaN 功率器件中的<b class='flag-5'>離子注入</b>技術(shù)挑戰(zhàn)

    離子注入機(jī)的簡(jiǎn)易原理圖

    本文介紹了離子注入機(jī)的相關(guān)原理。 離子注入機(jī)的原理是什么?
    的頭像 發(fā)表于 04-18 11:31 ?1481次閱讀
    <b class='flag-5'>離子注入</b>機(jī)的簡(jiǎn)易原理圖

    凱世通交付首臺(tái)面向CIS的大束流離子注入機(jī)

    據(jù)了解,到2024年第一季度為止,該公司已陸續(xù)向多個(gè)特定客戶發(fā)出了多個(gè)離子注入機(jī)訂單,單季度就完成了八臺(tái)離子注入機(jī)的客戶端上線工作,呈現(xiàn)出迅猛增長(zhǎng)的發(fā)展態(tài)勢(shì),取得了良好開局。
    的頭像 發(fā)表于 03-30 09:34 ?550次閱讀

    介紹離子注入在電容極板和濕法腐蝕自停止技術(shù)上的應(yīng)用

    在MEMS電容式壓力傳感器、平面硅電容器和RF MEMS開關(guān)中,離子注入均有應(yīng)用。
    的頭像 發(fā)表于 02-23 10:47 ?588次閱讀
    介紹<b class='flag-5'>離子注入</b>在電容極板和濕法腐蝕自停止技術(shù)上的應(yīng)用

    什么是離子注入離子注入的應(yīng)用介紹

    離子注入是將高能離子注入半導(dǎo)體襯底的晶格中來改變襯底材料的電學(xué)性能的摻雜工藝。通過注入能量、角度和劑量即可控制摻雜濃度和深度,相較于傳統(tǒng)的擴(kuò)散工藝
    的頭像 發(fā)表于 02-21 10:23 ?4086次閱讀
    什么是<b class='flag-5'>離子注入</b>?<b class='flag-5'>離子注入</b>的應(yīng)用介紹

    離子注入中的劑量和濃度之間有何關(guān)系呢?

    對(duì)器件設(shè)計(jì)工程師來講,離子注入的濃度往往是需要關(guān)心的參數(shù),什么樣的濃度對(duì)應(yīng)什么樣的方阻,器件仿真參數(shù)輸入的是濃度,通過DSIMS測(cè)出來的也是濃度和深度的關(guān)系。
    的頭像 發(fā)表于 01-26 13:37 ?2024次閱讀
    <b class='flag-5'>離子注入</b>中的劑量和濃度之間有何關(guān)系呢?

    離子注入涉及到的隧道效應(yīng)為什么需要7°角?

    隧道效應(yīng),又稱溝道效應(yīng),對(duì)晶圓進(jìn)行離子注入時(shí),當(dāng)注入離子的方向與晶圓的某個(gè)晶向平行時(shí),其運(yùn)動(dòng)軌跡將不再是無規(guī)則的碰撞,而是將沿溝道(原子之間的縫隙)運(yùn)動(dòng)并且很少受到原子核的碰撞
    的頭像 發(fā)表于 01-08 10:25 ?1134次閱讀
    <b class='flag-5'>離子注入</b>涉及到的隧道效應(yīng)為什么需要7°角?

    原位摻雜、擴(kuò)散和離子注入的相關(guān)原理及其區(qū)別介紹

    半導(dǎo)體改變電阻率的方式有三種,原位摻雜、擴(kuò)散和離子注入,這三種方式分別過程如何,有何區(qū)別呢?
    的頭像 發(fā)表于 01-05 18:21 ?3946次閱讀
    原位摻雜、擴(kuò)散和<b class='flag-5'>離子注入</b>的相關(guān)原理及其區(qū)別介紹

    碳化硅離子注入和退火工藝介紹

    統(tǒng)的硅功率器件工藝中,高溫?cái)U(kuò)散和離子注入是最主要的摻雜控制方法,兩者各有優(yōu)缺點(diǎn)。一般來說,高溫?cái)U(kuò)散工藝簡(jiǎn)單,設(shè)備便宜,摻雜分布輪廓為等向性,且高溫?cái)U(kuò)散工藝引入的晶格損傷低。
    的頭像 發(fā)表于 12-22 09:41 ?2475次閱讀
    碳化硅<b class='flag-5'>離子注入</b>和退火<b class='flag-5'>工藝</b>介紹

    離子注入仿真用什么模型

    離子注入是一種重要的半導(dǎo)體工藝,用于在材料中引入離子,改變其物理和化學(xué)性質(zhì)。離子注入仿真是對(duì)離子注入
    的頭像 發(fā)表于 12-21 16:38 ?848次閱讀

    什么是離子注入?離子注入相對(duì)于擴(kuò)散的優(yōu)點(diǎn)?

    想要使半導(dǎo)體導(dǎo)電,必須向純凈半導(dǎo)體中引入雜質(zhì),而離子注入是一種常用的方法,下面來具體介紹離子注入的概念。
    的頭像 發(fā)表于 12-11 18:20 ?3263次閱讀
    什么是<b class='flag-5'>離子注入</b>?<b class='flag-5'>離子注入</b>相對(duì)于擴(kuò)散的優(yōu)點(diǎn)?

    探討碲鎘汞紅外探測(cè)器工藝注入溫度的影響

    本文從離子注入工藝的溫度控制出發(fā),研究了離子注入工藝中的束流、注入能量、接觸面粗糙度等因素對(duì)溫控的影響,并結(jié)合器件的I-V曲線,探究了碲鎘汞
    的頭像 發(fā)表于 09-29 10:45 ?2611次閱讀
    探討碲鎘汞紅外探測(cè)器<b class='flag-5'>工藝</b>中<b class='flag-5'>注入</b>溫度的影響