IT8700P多通道電子負(fù)載測(cè)試轉(zhuǎn)換器的解密

問

AC／DC和DC／DC轉(zhuǎn)換器廣泛應(yīng)用在各行各業(yè)，比如手機(jī)、數(shù)碼相機(jī)、UPS電源內(nèi)部、電動(dòng)汽車等等。對(duì)于生產(chǎn)廠商來說，轉(zhuǎn)換器的性能、安全、轉(zhuǎn)換效率都是決勝市場(chǎng)的重要因素。所以從研發(fā)到生產(chǎn)每一步都需要去測(cè)試， 直流負(fù)載就是這些測(cè)試中必不可少的工具，不但可測(cè)試產(chǎn)品的正常工作電壓、電流及功率外，還可以輕易的測(cè)試產(chǎn)品在臨介值狀態(tài)、動(dòng)態(tài)變化及反應(yīng)時(shí)間等等。但是工程師在使用負(fù)載測(cè)試產(chǎn)品的保護(hù)功能時(shí)，會(huì)發(fā)現(xiàn)有時(shí)候無(wú)法正常使用負(fù)載，這又是什么原因造成的呢？

答

今天我們就使用ITECH近期升級(jí)的一款高性能電子負(fù)載產(chǎn)品，IT8700P多路輸入可編程直流電子負(fù)載來進(jìn)行測(cè)試一個(gè)DC／DC組件，實(shí)際測(cè)試解密一下。IT8700P為高性能可編程多路電子負(fù)載IT8700的升級(jí)版本，保持了原有的25KHZ的較高動(dòng)態(tài)測(cè)試速度，并且具備多個(gè)可選模塊以及功能強(qiáng)大的主控機(jī)箱，并為了一進(jìn)步滿足不同客戶的測(cè)試需求，可選配前置端子接線功能，并且對(duì)斜率速度，DAC 輸出速度，CV 環(huán)路速度進(jìn)行了一系列優(yōu)化升級(jí)，能更好的滿足測(cè)試需求。

解密測(cè)試

測(cè)試儀器

IT8732P（80V／60A／400W）＋I(xiàn)T8702P（主控單元）

測(cè)試背景

DC／DC組件正常工作輸出電壓為5V／1A。在電流上升超過2．8A時(shí)，產(chǎn)品會(huì)進(jìn)入OCP的保護(hù)模式，直到異常狀況排除后才會(huì)再回到正常工作模式。

測(cè)試問題1

1、Von設(shè)定為0．1V， latch設(shè)為off。

2、IT8732P設(shè)定為1A CC mode 拉載，待測(cè)物正常工作，輸出5V／1A。

3、拉載電流增加到3A，待測(cè)物應(yīng)該進(jìn)入OCP保護(hù)模式。但此時(shí)卻處于振蕩的狀態(tài)，電壓值由0V ～ 4．8V 振蕩。此時(shí)如果再將IT8732P的拉載電流降為1A，待測(cè)物則處于正常工作模式5V， 1A。

問題解密

造成振蕩原因是因?yàn)榇郎y(cè)物在進(jìn)入OCP后的電壓相互拉扯的結(jié)果。Von設(shè)定為0．1V， latch設(shè)為off。當(dāng)待測(cè)物進(jìn)入OCP后，電壓值低于0．1V時(shí)，負(fù)載也會(huì)泄載，拉載電流下降，待測(cè)物測(cè)到電流低于其設(shè)定值后即恢復(fù)正常，電壓回升后，負(fù)載又會(huì)進(jìn)行拉載，此時(shí)又造成待測(cè)物進(jìn)入OCP保護(hù)，如此循環(huán)就會(huì)造成振蕩現(xiàn)象。所以此時(shí)我們只要把Von設(shè)定為0．001V時(shí)，此現(xiàn)象就不再發(fā)生，當(dāng)然這也是和待測(cè)物設(shè)計(jì)特性有相關(guān)。

測(cè)試問題2

1、Von設(shè)定為0．001V， latch設(shè)為off。

2、IT8732P設(shè)定為1A CC mode 拉載，待測(cè)物正常工作，輸出5V／1A。拉載電流增加到3A，待測(cè)物進(jìn)入OCP保護(hù)模式。

3、拉載電流回到1A，待測(cè)物沒有恢復(fù)成工作模式5V／1A。必須要先把IT8732P泄載切到OFF后，再加載切為ON時(shí)，待測(cè)物才會(huì)再處于正常的工作模式。

問題解密

待測(cè)物在進(jìn)入OCP后的電壓值約為0．017V，電流值約為0．81A。而IT8732P的最小工作電壓為0．15V at 6A，相當(dāng)于0．025V at 1A。所以當(dāng)拉載電流由3A回到1A時(shí)，由于待測(cè)物電壓值尚在0．017V低于0．025V，加上待測(cè)物本身設(shè)計(jì)OCP釋放的關(guān)系，導(dǎo)致Load回到1A時(shí)，待測(cè)物仍無(wú)法正常工作，必須滿足拉載電流低于0．8A及大于load最小工作電壓，待測(cè)物才能恢復(fù)正常工作。

測(cè)試問題3

1、Von設(shè)定為0．001V， latch設(shè)為off。

2、待測(cè)物正常工作5V／1A時(shí)，執(zhí)行Short功能，電壓降至約0V。

3、當(dāng)Short功能OFF時(shí)，負(fù)載設(shè)定值恢復(fù)，待測(cè)物電壓并未回到5V。必須把IT8732P泄載切到OFF后，再加載切為ON時(shí)，待測(cè)物才會(huì)再處于正常的工作模式。

問題解密

執(zhí)行SHORT功能后，待測(cè)物約為0．017V／0．81A。在SHORT功能OFF時(shí)，應(yīng)該是要恢復(fù)回5V／1A，但當(dāng)SHORT功能恢復(fù)時(shí)，即回到設(shè)定值的1A拉載，其值仍高于0．81A，故待測(cè)物仍處于未釋放的狀態(tài)，所以 SHORT功能OFF時(shí)，其值仍為電壓0．017V，電流0．81A。當(dāng)load泄載后，待測(cè)物才能恢復(fù)正常。

從以上的測(cè)試我們可以看到，不同的待測(cè)物由于其不同的設(shè)計(jì)特性，在進(jìn)入保護(hù)后其電壓值與電流值的關(guān)系與負(fù)載的性能會(huì)有些許沖突，導(dǎo)致測(cè)試時(shí)發(fā)生異常。所以我們?cè)跍y(cè)試時(shí)要了解待測(cè)物與測(cè)試儀器本身的規(guī)格、特性與限制，才能避免造成誤判，發(fā)揮測(cè)試儀器的最大效用。比如以上案例，我們只需在待測(cè)物進(jìn)入OCP后，先將IT8732P的拉載電流降到0．8A以下，使得待測(cè)物釋放后再進(jìn)行下一個(gè)測(cè)試程序，即可完成測(cè)試。

關(guān)于ITECH

艾德克斯電子一直致力于“功率電子”產(chǎn)品為核心的相關(guān)產(chǎn)業(yè)測(cè)試領(lǐng)域的研究，IT8700P系列多路輸入可編程直流電子負(fù)載繼承了艾德克斯產(chǎn)品一貫的高性能、高品質(zhì)，采取模塊化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，擁有全球獨(dú)創(chuàng)動(dòng)態(tài)分配功率的技術(shù)，可應(yīng)用于多路或單路輸出的AC／DC、DC／DC電源轉(zhuǎn)換器、充電器等電源類電子元器件性能的測(cè)試，也可應(yīng)用于ATE測(cè)試系統(tǒng)、太陽(yáng)能電池、LED、通訊測(cè)試、航空航天等領(lǐng)域。