羅德與施瓦茨推出新的低成本多DUT同時(shí)測試方案

用戶在測試5G FR1介質(zhì)濾波器、隔離器這類無源器件的S參數(shù)時(shí)，由于產(chǎn)品自身物理特性的限制，通常每個(gè)器件都需要調(diào)試。

測試挑戰(zhàn)

元器件生產(chǎn)調(diào)試時(shí)間長，需求很多VNA調(diào)試工位，測試成本長期居高不下

為了滿足批量生產(chǎn)的需求，用戶需要布置很多工位來調(diào)試這些器件的S參數(shù)指標(biāo)。傳統(tǒng)的做法是在每個(gè)工位獨(dú)立配置一臺(tái)二端口VNA，這樣整個(gè)車間會(huì)需求大量的VNA，導(dǎo)致用戶的測試成本長期居高不下。如何進(jìn)一步降低測試成本，成為用戶當(dāng)前最大的挑戰(zhàn)。

傳統(tǒng)測試方案帶來大量的資源閑置

在調(diào)試這類無源器件時(shí)，通常只需觀測一個(gè)測量畫面下的曲線變化情況，與儀器相關(guān)的參數(shù)配置基本固定不變。而現(xiàn)代VNA測量功能非常強(qiáng)大，可以同時(shí)配置多組測量通道(Channel)和測量顯示界面（Diagram），各測量通道之間的切換速度非常之快，肉眼幾乎無法辨別。顯然，一臺(tái)VNA只對應(yīng)一個(gè)DUT的傳統(tǒng)測試方案，會(huì)造成儀器測量資源大量閑置。為了提高儀器的使用效率，迫切需要對儀器資源進(jìn)行復(fù)用

羅德與施瓦茨推出新的解決方案

羅德與施瓦茨提供更具性價(jià)比的多端口方案，用于多個(gè)DUT同時(shí)測試

針對以上情況，為了進(jìn)一步降低測試成本，羅德與施瓦茨提供了一種更具性價(jià)比的測試方案：基于R&SZNB矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀和R&SZN-Z84開關(guān)矩陣的多端口擴(kuò)展方案，該方案可對一臺(tái)R&SZNB主機(jī)進(jìn)行多工位復(fù)用。

方案特點(diǎn)：

多端口同時(shí)測試

測試速度快，成本低

可多屏呈現(xiàn)且互不干擾

R&SZN-Z84即插即用，與主機(jī)連接方便

R&SZN-Z84采用固態(tài)開關(guān)，開關(guān)切換速度快

用戶界面友好，用戶無需對R&SZN-Z84進(jìn)行額外操作

本視頻中，基于一臺(tái)二端口矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀R&SZNB 和一臺(tái)二進(jìn)六出開關(guān)矩陣R&SZN-Z84，可將測量端口擴(kuò)展成六個(gè)。用戶可以將這六個(gè)測量端口劃分為3組二端口測試，同時(shí)在R&SZNB中創(chuàng)建三個(gè)Channel 并顯示成三個(gè)獨(dú)立的畫面，每個(gè)Channel分別對應(yīng)一個(gè)二端口DUT 測試（如Channel1對應(yīng)Port1/Port2 …. Channel3對應(yīng)Port5/Port6）。借助外置的商用視頻切割器，將三個(gè)測試畫面切割并獨(dú)立輸出顯示，這樣每個(gè)測量工位只顯示自己DUT的測量畫面。

三個(gè)DUT通過共用一臺(tái)網(wǎng)絡(luò)分析儀，實(shí)現(xiàn)了獨(dú)立調(diào)試和獨(dú)立顯示、互不干擾，從而大大降低了產(chǎn)線成本。同時(shí)，測試速度和測試精度俱佳。

同理，如果開關(guān)矩陣配置為最大24個(gè)端口，用戶可以將24個(gè)端口劃分為12個(gè)二端口測試，最多同時(shí)調(diào)試12個(gè)二端口器件。

責(zé)任編輯：xj

原文標(biāo)題：【方案介紹】低成本多DUT同時(shí)測試方案

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