金屬-氧化物半導(dǎo)體場效晶體管簡稱金氧半場效晶體管(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,MOSFET),是一種可以廣泛使用在模擬電路與數(shù)字電路的場效晶體管(field-effect transistor)。在電源設(shè)計中,MOSFET往往是最容易被工程師忽視的電子元器件。
MOSFET是電源設(shè)計中必不可少的一種電子元器件,大部分工程師對MOSFET的使用普遍停留在MOSFET元器件的一些基本參數(shù),比如Vds,Id,Rds(on),零件封裝。但其實MOSFET元器件還有許多重要的參數(shù)需要嚴謹思考和確認,包括Ciss,Coss,EAS,Ptot,Trr,SOA,Crss等參數(shù)。這些參數(shù)對電源產(chǎn)品的性能,穩(wěn)定性,壽命都有極其重要的影響和作用。
MOSFET的主要參數(shù)
1、VDS,即漏源電壓,這是MOSFET的一個極限參數(shù),表示MOSFET漏極與源極之間能夠承受的最大電壓值。需要注意的是,這個參數(shù)是跟結(jié)溫相關(guān)的,通常結(jié)溫越高,該值最大。
2、RDS(on),漏源導(dǎo)通電阻,它表示MOSFET在某一條件下導(dǎo)通時,漏源極之間的導(dǎo)通電阻。這個參數(shù)與MOSFET結(jié)溫,驅(qū)動電壓Vgs相關(guān)。在一定范圍內(nèi),結(jié)溫越高,Rds越大;驅(qū)動電壓越高,Rds越小。
3、Id,漏極電流,漏極電流通常有幾種不同的描述方式。這個參數(shù)同樣是MOSFET的一個極限參數(shù),但此最大電流值并不代表在運行過程中漏極電流能夠達到這個值。它表示當(dāng)殼溫在某一值時,如果MOSFET工作電流為上述最大漏極電流,則結(jié)溫會達到最大值。所以這個參數(shù)還跟器件封裝,環(huán)境溫度有關(guān)。
4、RDS(ON),是場效應(yīng)管FET漏極D與源極S之間導(dǎo)通時D、S之間的電阻,ON表示導(dǎo)通。
5、Qg,柵極電荷,是在驅(qū)動信號作用下,柵極電壓從0V上升至終止電壓(如15V)所需的充電電荷。也就是MOSFET從截止?fàn)顟B(tài)到完全導(dǎo)通狀態(tài),驅(qū)動電路所需提供的電荷,是一個用于評估MOSFET的驅(qū)動電路驅(qū)動能力的主要參數(shù)。
6、Eoss,輸出容能量,表示輸出電容Coss在MOSFET存儲的能量大小。由于MOSFET的輸出電容Coss有非常明顯的非線性特性,隨Vds電壓的變化而變化。
7、Vgs,柵源極最大驅(qū)動電壓,這也是MOSFET的一個極限參數(shù),表示MOSFET所能承受的最大驅(qū)動電壓,一旦驅(qū)動電壓超過這個極限值,即使在極短的時間內(nèi)也會對柵極氧化層產(chǎn)生永久性傷害。
8、Ciss/Coss/Crss
Ciss=Cgs+Cgd此為截止?fàn)顟B(tài)下閘極輸入電荷容量包括Gate端至source端和+Gate端至Drain端之和。
Coss=Cds+Cgd此為Drain端至Source端電荷容量之和,也可以說是寄生二極管逆偏壓容量。
Crss=Cgd此為Gate端至Drain端的電荷容量,此參數(shù)對于高頻切換動作影響較大。
9、SOA,安全工作區(qū),每種MOSFET都會給出其安全工作區(qū)域,不同雙極型晶體管,功率MOSFET不會表現(xiàn)出二次擊穿,因此安全運行區(qū)域只簡單從導(dǎo)致結(jié)溫達到最大允許值時的耗散功率定義。
10、BUDS,漏源擊穿電壓。是指柵源電壓UGS一定時,場效應(yīng)管正常工作所能承受的最大漏源電壓。這是一項極限參數(shù),加在場效應(yīng)管上的工作電壓必須小于BUDS。
11、PDSM,最大耗散功率。也是一項極限參數(shù),是指場效應(yīng)管性能不變壞時所允許的最大漏源耗散功率。使用時,場效應(yīng)管實際功耗應(yīng)小于PDSM并留有一定余量。
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