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如何有效找到失效的電子元器件并更換?

e9Zb_gh_8734352 ? 來(lái)源:FPGA技術(shù)聯(lián)盟 ? 作者:FPGA技術(shù)聯(lián)盟 ? 2021-04-07 09:46 ? 次閱讀

電子元器件主要包括元件和器件,電子元件是生產(chǎn)加工過(guò)程中分子成分不被改變的成品,比如:電容、電阻和電感等。電子器件是生成加工過(guò)程中分子結(jié)構(gòu)發(fā)生變化的成品,比如:電子管、集成電路等。

電阻類元器件

電阻類元器件出現(xiàn)故障在電子設(shè)備中占很大的比例,電阻可以分為分流、降壓、負(fù)載、阻抗匹配等功能。根據(jù)構(gòu)造的不同,電阻類元器件可以分為線繞電阻、非線繞電阻。

電阻類元器件失效的主要方式有接觸損壞、開路以及引線機(jī)械損傷。

溫度變化對(duì)電阻的影響主要是溫度升高時(shí),電阻的熱噪聲增加,阻值偏離標(biāo)稱值,允許耗散概率下降等。但我們也可以利用電阻的這一特性,比如,有經(jīng)過(guò)特殊設(shè)計(jì)的一類電阻:PTC(正溫度系數(shù)熱敏電阻)和NTC(負(fù)溫度系數(shù)熱敏電阻),它們的阻值受溫度的影響很大。

機(jī)械振動(dòng)會(huì)使焊點(diǎn)、壓線點(diǎn)發(fā)生松動(dòng),導(dǎo)致接觸不良等機(jī)械損傷。

電容類元器件

電容類元器件失效的主要方式有擊穿、機(jī)械損傷、電解液泄露等。

電容出現(xiàn)擊穿的原因主要有:

1、介質(zhì)存在缺陷、雜質(zhì)和導(dǎo)電離子;

2、介質(zhì)出現(xiàn)老化;

3、介質(zhì)材料存在電、氣隙擊穿;

4、制造加工時(shí)介質(zhì)有機(jī)械損傷;

5、介質(zhì)分子結(jié)構(gòu)出現(xiàn)變化;

6、金屬離子遷移構(gòu)成導(dǎo)電溝道或邊緣飛弧放電。

電容失效也可能是開路造成的,引出線與電容接觸點(diǎn)氧化導(dǎo)致低電平開路,引出線與電極接觸不良,電解電容器陽(yáng)極引出金屬箔由于機(jī)械折斷等造成開路故障。此為,電容也可能因?yàn)殡妳?shù)退化故障而導(dǎo)致失效,比如:電極材料金屬離子出現(xiàn)遷移、材料金屬化電極自愈效應(yīng)、電極的電解腐化與化學(xué)腐化、潮濕、表面污染等都可能造成電容的電參數(shù)退化。

電感類元器件

電感類元器件涉及到變壓器、電感、濾波線圈、震蕩線圈等。電感類元器件的大部分故障是外界因素導(dǎo)致的,比如:變壓器的溫度升高、負(fù)載短路使線圈經(jīng)過(guò)的電流過(guò)大等,都會(huì)使線圈出現(xiàn)短路、短路以及擊穿等故障。

在集成電路中,不論哪一部分出現(xiàn)問題,整體都無(wú)法正常運(yùn)行,比如:電極短路、開路、機(jī)械磨損、可焊接性差等都會(huì)失效。失效主要分為徹底損壞和熱穩(wěn)定性不良等,熱穩(wěn)定性失效主要出現(xiàn)在高溫或者低溫,超出了器件的工作溫度范圍而失效。

解決方法

那如何有效的找到失效的電子元器件,并更換或者修復(fù)問題呢?

在調(diào)試中,出現(xiàn)電路無(wú)法工作或工作不正常的問題時(shí)。首先通過(guò)動(dòng)態(tài)觀察法,就是將線路設(shè)備通電的情況下,聽、看、摸、聞等方法對(duì)電子元器件的故障進(jìn)行判斷。比如:聽設(shè)備是不是有異常的聲音’仔細(xì)看電路內(nèi)有沒有冒煙、火花等情況;摸一摸元器件、電路有沒有發(fā)燙的情況;聞一聞?dòng)袥]有焦糊等味道。

也可通過(guò)萬(wàn)用表測(cè)量電路中通斷情況,通過(guò)測(cè)量正常與不正常電路中各類值來(lái)判斷。

原文標(biāo)題:電子元器件失效原因有哪些?

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責(zé)任編輯:haq

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原文標(biāo)題:電子元器件失效原因有哪些?

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