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什么是USB4與為什么總受靜電干擾?及適合的ESD器件

電磁兼容EMC ? 來源:嘉峪檢測(cè)網(wǎng) ? 作者:嘉峪檢測(cè)網(wǎng) ? 2021-04-07 16:41 ? 次閱讀

近年來各品牌電腦、手機(jī)都邁入搭載USB-C接口行列。這對(duì)于廠商和用戶來說無疑都是一大好消息!據(jù)了解,USB4協(xié)議將基于Thunderbolt 3協(xié)議進(jìn)行開發(fā),這將使得USB-C接口的兼容性大大增加。從USB4的標(biāo)準(zhǔn)來看,統(tǒng)治長(zhǎng)達(dá)幾十年的Type-A可能正在走向消失,雖然USB4來的可能沒有那么快,但預(yù)計(jì)未來5年內(nèi)會(huì)登陸PC,屆時(shí)更為方便的Type-C將會(huì)廣泛出現(xiàn)在產(chǎn)品上,Type-A也就慢慢消失了實(shí)際上,從傳輸速率上看這次USB4 會(huì)非常符合未來5G的需求。眾所周知,5G將會(huì)在傳輸、運(yùn)營(yíng)商業(yè)務(wù)等方面有巨大的進(jìn)步,這次的USB4 顯然將會(huì)非常契合5G網(wǎng)絡(luò),USB4控制器必須采用先進(jìn)的半導(dǎo)體制造技術(shù)來制造。但是,這也導(dǎo)致ESD容忍度大大降低。

什么是USB4?

USB4內(nèi)置于USB Type-C的物理接口中。除了將最大數(shù)據(jù)速率提高到40 Gbit / s,USB-C PD還能以高達(dá)100W的功率對(duì)設(shè)備快速充電。在不久的將來,USB Type-C將迅速成為大多數(shù)消費(fèi)電子產(chǎn)品(如臺(tái)式機(jī),筆記本電腦,平板電腦和智能手機(jī))的主流接口。

USB4總受靜電干擾

與傳統(tǒng)的USB一樣,USB4端口也是可見的,用戶可以自由地將設(shè)備連接到系統(tǒng)或從系統(tǒng)斷開連接。最常見的應(yīng)用是即插即用。但是,熱插拔操作通常是導(dǎo)致電子系統(tǒng)崩潰的原因,甚至?xí)?dǎo)致USB Type-C控制器損壞,因?yàn)榇祟愂录赡軙?huì)導(dǎo)致意外的噪聲瞬變,例如ESD。在熱插拔中,帶電信號(hào)線作為接口端口處的帶電電線在與系統(tǒng)接觸時(shí)會(huì)放電。由熱插拔觸發(fā)的這種放電(通常稱為“直接放電”)與靜電放電相同,會(huì)嚴(yán)重?fù)p壞系統(tǒng)。在系統(tǒng)級(jí)ESD測(cè)試中,

在系統(tǒng)級(jí)ESD測(cè)試方面,一些品牌制造商甚至指定安裝在其產(chǎn)品上的USB Type-C連接器應(yīng)通過Direct-Pin Injection測(cè)試,以通過除IEC 61000-4-2標(biāo)準(zhǔn)以外的±8kV接觸放電的ESD沖擊。。因此,絕對(duì)有必要在USB Type-C接口上使用ESD保護(hù),以防止ESD引起的數(shù)據(jù)傳輸干擾。

電子產(chǎn)品已迅速到達(dá)世界各個(gè)角落。但是,許多地區(qū)的基礎(chǔ)設(shè)施薄弱和極端天氣事件增加了EOS(電應(yīng)力過大)電涌對(duì)電子設(shè)備造成損害的可能性,從而導(dǎo)致報(bào)告收益顯著增加。IEC 61000-4-5已被用作國(guó)際測(cè)試標(biāo)準(zhǔn),以模擬電源干擾,電源線上的噪聲或熱插拔引起的EOS事件,電壓波形為1.2/50μs,電流波形為8/20μs。除了將直接放電作為內(nèi)部ESD測(cè)試方法之外,一些品牌制造商還包括用于EOS浪涌測(cè)試的方法。

對(duì)于USB4等高速接口,選擇ESD / EOS保護(hù)組件時(shí)需要考慮以下幾點(diǎn):

1.為了確保通過USB4傳遞高速信號(hào)完整性,選擇該器件時(shí)需要使用具有較低寄生電容的ESD保護(hù)組件。推薦使用低于0.2pF的寄生電容。

2.選擇一種具有高ESD耐電壓能力的保護(hù)組件,至少要承受IEC 61000-4-2中規(guī)定的8kV接觸放電的ESD沖擊。

3. ESD鉗位電壓是必不可少的參數(shù)。較低的鉗位電壓表示更好的保護(hù)性能。這意味著將ESD能量鉗位到較低的電壓,以防止干擾或損壞系統(tǒng)的內(nèi)部電路。這使得鉗位電壓成為限定ESD保護(hù)組件效率的最重要參數(shù)。

4. USB PD的充電技術(shù)支持5V,9V,15V和20V四個(gè)電壓等級(jí)。但是,頻繁的熱插拔到電源很容易引起ESD / EOS靜電浪涌事件,因此有必要針對(duì)外部浪涌?jī)?yōu)化ESD / EOS保護(hù)解決方案。

適合USB4的ESD器件

雷卯電子根據(jù)客戶需求,研發(fā)ESD推出型號(hào)ULC0511CDN,尤其是USB4。為了避免寄生電容限制差分信號(hào)在USB4上的傳輸,ULC0511CDN的寄生電容低于0.2pF,從而成功通過了40 Gbit / s的眼圖測(cè)試。最好的部分是ULC0511CDN具有極低的ESD鉗位電壓,能夠在直接引腳注入測(cè)試中有效地協(xié)助USB4接口承受±8kV ESD沖擊(接觸放電)。通過TLP測(cè)量的ULC0511CDN的電流-電壓曲線表明,在IEC 61000-4-2中規(guī)定的8kV接觸放電的ESD沖擊下,鉗位電壓很低(等效的TLP電流約為16A),可以有效避免數(shù)據(jù)錯(cuò)誤,

隨著更輕,更薄,更小的電子產(chǎn)品的發(fā)展趨勢(shì),印刷電路板(PCB)也不斷縮小。在功能強(qiáng)大的要求下,在小型PCB上的電路布局變得更加復(fù)雜和困難,并增加了產(chǎn)品設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)。帶有超小封裝DFN1006的ULC0511CDN的尺寸僅為1.0mm x 0.6mm,主要用于保護(hù)USB4上的4個(gè)差分對(duì)(TX和RX)。此外,使用單個(gè)ULC3344P8能夠保護(hù)其余的信號(hào)線(D + / D- / CC / SBU)。特別是,ULC3344P8的引腳配置為交錯(cuò)排列,以便于PCB布局上的穿通設(shè)計(jì),從而避免布線困難。它不僅可以加快設(shè)計(jì)階段的PCB布局設(shè)計(jì)流程,而且最小化PCB尺寸以降低系統(tǒng)成本。該接口還提供快速充電。工程師可能只需要在電源端口上從SD0571P6W,SMDA05CCN中選擇合適的EOS組件作為保護(hù)即可完美保護(hù)接口免受ESD / EOS事件的影響。

下圖顯示了用于USB4接口完整布線的ESD / EOS保護(hù)解決方案。

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編輯:lyn

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原文標(biāo)題:適合USB4的EMC靜電、浪涌保護(hù)設(shè)計(jì)

文章出處:【微信號(hào):EMC_EMI,微信公眾號(hào):電磁兼容EMC】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。

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