日前,2021年西門子EDA系列線上技術(shù)研討會(huì)最后一場圓滿收官。本次系列研討會(huì)共開啟三個(gè)熱門專場,通過AI Megachip、車用半導(dǎo)體設(shè)計(jì)、破解先進(jìn)制程的挑戰(zhàn)三個(gè)主題,針對(duì)如何提升IC設(shè)計(jì)、驗(yàn)證,IC制造與效能,如何實(shí)現(xiàn)快速敏捷的復(fù)雜系統(tǒng)設(shè)計(jì)及仿真等當(dāng)前業(yè)界最重要的課題,分享了前沿的洞察及破局之道,協(xié)助產(chǎn)業(yè)界應(yīng)對(duì)未來日益復(fù)雜的電子設(shè)計(jì)挑戰(zhàn)。
本次系列研討會(huì),共邀請(qǐng)20余位業(yè)內(nèi)專家講師進(jìn)行了精彩的線上演講。和大家一起回顧這三場行業(yè)盛宴的精彩內(nèi)容。
芯片危機(jī)下,電子設(shè)計(jì)效率如何提升?
2020年,新冠疫情席卷全球。疫情的影響催生了以數(shù)字化為基礎(chǔ)的新常態(tài)的工作、生活方式。數(shù)字化的強(qiáng)勁需求推動(dòng)了全球集成電路/半導(dǎo)體跨越式增長。此外,隨著新技術(shù)與應(yīng)用場景的快速起飛,全球的半導(dǎo)體芯片全面短缺,同時(shí)半導(dǎo)體工藝向極限演進(jìn),使得芯片開發(fā)對(duì)失敗容忍度越來越低,傳統(tǒng)軟件仿真工具已經(jīng)無法滿足工程師對(duì)仿真時(shí)間效益的需求,電子設(shè)計(jì)效率的提升迫在眉睫。
5月28日在“AI Megachip”研討會(huì)上,西門子專家講師從“使用HLS方法學(xué)對(duì)AI設(shè)計(jì)的系統(tǒng)級(jí)性能進(jìn)行早期設(shè)計(jì)和驗(yàn)證”、“著力提升初始RTL的設(shè)計(jì)質(zhì)量”、“流掃描結(jié)構(gòu)網(wǎng)絡(luò),針對(duì)復(fù)雜芯片測試的一種高效的數(shù)據(jù)封裝網(wǎng)絡(luò)”、“機(jī)器學(xué)習(xí)應(yīng)用程序以確保質(zhì)量”、“藉由 Calibre Recon 來強(qiáng)化設(shè)計(jì)者工作效率,縮短芯片驗(yàn)證周期”、“完備的硬件輔助驗(yàn)證平臺(tái)”6個(gè)方面深入解析從芯片設(shè)計(jì)早期到項(xiàng)目后期所面臨的困難及挑戰(zhàn),以及如何借助新的仿真工具及有效利用硬件仿真加速技術(shù)特有的高速、高可見性與準(zhǔn)確性等優(yōu)勢,來提升驗(yàn)證效率,應(yīng)對(duì)Megachip未來挑戰(zhàn)。
車企改革迫在眉睫,如何形成研發(fā)閉環(huán)?
隨著汽車市場電動(dòng)化、智慧化的發(fā)展趨勢,不只車用芯片需求量提升,也為汽車電子設(shè)計(jì)領(lǐng)域帶來巨大挑戰(zhàn)。自動(dòng)駕駛需求的日益迫切,對(duì)車載電子模塊、控制系統(tǒng)等的開發(fā)提出了更高的要求,汽車研發(fā)流程亟待全面升級(jí),如何構(gòu)筑生命周期全階段設(shè)計(jì)自動(dòng)化,關(guān)系到車企在汽車“新四化”浪潮中取得制勝的先機(jī)。
本次系列研討會(huì)安排了汽車主題專場研討會(huì),6月25日,西門子EDA亞太地區(qū)技術(shù)總監(jiān)Lincoln Lee發(fā)表歡迎致辭,6位在汽車電子芯片設(shè)計(jì)、電路開發(fā)、方針等領(lǐng)域有著豐富的經(jīng)驗(yàn)積累的行業(yè)專家從芯片設(shè)計(jì)、功能驗(yàn)證、制造測試到PCB板設(shè)計(jì),探討話題深度覆蓋汽車電子設(shè)計(jì)全系列。此外來自諾博汽車的嘉賓李岳助陣,李岳認(rèn)為,電子產(chǎn)品集成到汽車中以滿足自動(dòng)駕駛、ADAS 和信息娛樂需求的趨勢迫使公司進(jìn)行業(yè)務(wù)轉(zhuǎn)型,否則其市場領(lǐng)導(dǎo)地位將受到威脅。
西門子EDA持續(xù)致力于發(fā)展電子設(shè)計(jì)自動(dòng)化技術(shù),從芯片設(shè)計(jì)端一路延伸至系統(tǒng)產(chǎn)品端,提供包括芯片分析除錯(cuò)、良率提升、縮短驗(yàn)證周期、模擬、自動(dòng)檢查、靜態(tài)分析、汽車安全架構(gòu)、汽車制造測試、電源功率分析與優(yōu)化等等完整的解決方案,以汽車產(chǎn)品生命周期全階段設(shè)計(jì)自動(dòng)化,助力車企形成研發(fā)閉環(huán)。
先進(jìn)制程下,如何提升開發(fā)效能?
隨著AI時(shí)代的到來,市場上對(duì)大數(shù)據(jù)處理速度的需求越來越高。工藝制程的進(jìn)步是實(shí)現(xiàn)高性能計(jì)算最為有效的途徑之一。隨著電路集成度越來越高,芯片制程的不斷微縮,EDA軟件成為后摩爾時(shí)代越來越重要的關(guān)鍵設(shè)備。
西門子EDA如何破解先進(jìn)制程最新挑戰(zhàn)?
從宏觀戰(zhàn)略布局上通過三大重點(diǎn)協(xié)助客戶全面提高設(shè)計(jì)品質(zhì),加速產(chǎn)品導(dǎo)入市場:
①技術(shù)節(jié)點(diǎn)縮小,啟用新工藝節(jié)點(diǎn)和3D集成;
②設(shè)計(jì)規(guī)模擴(kuò)大,充分利用技術(shù)節(jié)點(diǎn)縮小提供的更多功能;
③系統(tǒng)規(guī)模擴(kuò)寬,能夠在整體系統(tǒng)中進(jìn)行有效的驗(yàn)證。
從微觀戰(zhàn)術(shù)的落地上,不只是Calibre一個(gè)產(chǎn)品線的與時(shí)俱進(jìn),同樣在Design Creation方面有優(yōu)化功耗的PowerPro產(chǎn)品,在library cell 優(yōu)化方面有優(yōu)化標(biāo)準(zhǔn)單元庫性能的Solido產(chǎn)品,在Design-for-Test方面有更高壓縮倍數(shù)的Testkompress SSN產(chǎn)品,以及能夠做到Cell-Aware- Diagnosis的RCAD產(chǎn)品Tessent Diagnosis。通過全產(chǎn)品線的與時(shí)俱進(jìn),助力改善設(shè)計(jì),提高良率,加速市場導(dǎo)入。
原文標(biāo)題:無懼挑戰(zhàn)、把握先機(jī),西門子 EDA 系列研討會(huì)圓滿收官
文章出處:【微信公眾號(hào):Mentor明導(dǎo)】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
-
半導(dǎo)體
+關(guān)注
關(guān)注
334文章
26326瀏覽量
210100 -
西門子
+關(guān)注
關(guān)注
93文章
2958瀏覽量
114849 -
eda
+關(guān)注
關(guān)注
71文章
2654瀏覽量
172188 -
電子設(shè)計(jì)
+關(guān)注
關(guān)注
39文章
779瀏覽量
48450
原文標(biāo)題:無懼挑戰(zhàn)、把握先機(jī),西門子 EDA 系列研討會(huì)圓滿收官
文章出處:【微信號(hào):MPS芯源系統(tǒng),微信公眾號(hào):MPS芯源系統(tǒng)】歡迎添加關(guān)注!文章轉(zhuǎn)載請(qǐng)注明出處。
發(fā)布評(píng)論請(qǐng)先 登錄
相關(guān)推薦
評(píng)論