EMC摸底測試以及確定問題點(diǎn)

一產(chǎn)品介紹

隨著汽車行業(yè)飛速發(fā)展，應(yīng)用在汽車上的電子器件也隨著不斷的迭代，而行車記錄儀作為一款“多功能高科技智能攝像機(jī)”，可以在我們行駛的過程中記錄著發(fā)生的一切。我們常見的行車記錄儀組成一般是由三部分組成：主板、攝像頭、以及顯示屏

二摸底測試以及確定問題點(diǎn)

因?yàn)樵摍C(jī)器屬于車載產(chǎn)品，所以采用GB/T 18655 CLASS 3標(biāo)準(zhǔn)來測試。EMC摸底可以借助電波暗室進(jìn)行測試，并結(jié)合頻譜儀等設(shè)備，可以協(xié)助我們快速分析出機(jī)器的EMC問題或者噪聲的傳輸途徑。

結(jié)合上圖的測試數(shù)據(jù)可以判斷出機(jī)器的問題點(diǎn)主要是時(shí)鐘問題。可以從機(jī)器板上的時(shí)鐘進(jìn)行排查。

排查過程：

拔掉后端攝像頭，保留前端攝像頭，測試數(shù)據(jù)基本不變；拔掉兩端攝像頭，時(shí)鐘問題消失；再拔掉前端攝像頭，保留后端攝像頭，時(shí)鐘問題還是存在。所以可以判斷出時(shí)鐘問題是由前攝像頭的時(shí)鐘問題輻射超標(biāo)。

三整改過程

通過排查可以判斷出機(jī)器的EMC問題是由前攝的MCLK時(shí)鐘超標(biāo)。機(jī)器結(jié)構(gòu)方面，前攝是通過排線和主板連接，客戶有對(duì)排線包屏蔽處理，效果不明顯，措施圖和效果對(duì)比如下圖所示：

從數(shù)據(jù)可以看得出來有所下降，但是不能完全解決時(shí)鐘問題。

因?yàn)镸CLK時(shí)鐘是由機(jī)器的MCU提供，所以對(duì)CLK主時(shí)鐘加展頻IC（SSDCI3128AF-08-CT）進(jìn)行處理。

加了展頻IC后的測試數(shù)據(jù)和沒加展頻對(duì)比如下：

可以看到，加了展頻IC后的測試數(shù)據(jù)有明顯下降。

四展頻IC在其他方案的應(yīng)用

展頻的兼容性很強(qiáng)，不僅可以在聯(lián)詠方案上使用，同時(shí)也有在其他方案上成功應(yīng)用的案例。

五總結(jié)

其實(shí)在整改的過程中，可以通過借助電波暗室、頻譜儀、示波器等工具設(shè)備幫助我們快速的確定問題點(diǎn)。針對(duì)較復(fù)雜的機(jī)器，還要進(jìn)行模塊化的問題分析，這些設(shè)備工具是必不可少的。只有確定了問題點(diǎn)，才能快速的做出相應(yīng)對(duì)策，給出解決方案。

注：以上僅為本人觀點(diǎn)，如有不足之處，敬請指教。

責(zé)任編輯：haq