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模擬開關(guān)和多路復(fù)用器基礎(chǔ)參數(shù)簡介

電子設(shè)計 ? 來源:電子設(shè)計 ? 作者:電子設(shè)計 ? 2022-01-19 15:34 ? 次閱讀

Other Parts Discussed in Post: MUX36S08, TMUX6104

作者:現(xiàn)場應(yīng)用工程師 蘇智超 Rock Su

測試測量相關(guān)應(yīng)用中,模擬開關(guān)和多路復(fù)用器有著非常廣泛的應(yīng)用,例如運放的增益調(diào)節(jié)、ADC分時采集多路傳感器信號等等。雖然它的功能很簡單,但是仍然有很多細節(jié),需要大家在使用的過程中注意。所以,在這里為大家介紹一下模擬開關(guān)和多路復(fù)用器的基礎(chǔ)參數(shù)

在開始介紹基礎(chǔ)的參數(shù)之前,我們有必要介紹一下模擬開關(guān)和多路復(fù)用器的基本單元MOSFET開關(guān)的基本結(jié)構(gòu)。

一。 MOSFET開關(guān)的架構(gòu)

MOSFET開關(guān)常見的架構(gòu)有3種,如圖1所示。

1)NFET。

2)NFET和PFET。

3)帶有電荷泵的NFET。

三種架構(gòu)各有特點,詳細的介紹,可以參考《TI Precision Labs - Switches and Multiplexers》培訓視頻和《Selecting the Right Texas Instruments Signal Switch》應(yīng)用文檔。本文主要基于NFET和PFET架構(gòu)展開介紹和仿真,但是涉及到的概念在三種架構(gòu)中都是適用的。

poYBAGGKTaqAaCh7AAAiZoYGvlI739.png

poYBAGGKTa2AH7ChAAAdPrl92cw896.png

pYYBAGGKTa-AL_uuAAA3eRYogyk225.png

圖 1 MOSFET開關(guān)結(jié)構(gòu)

另外,需要注意的是,此處的MOSFET結(jié)構(gòu),S和D是對稱的,所以在功能上是可以互換的,也因此,開關(guān)是雙向的,為了便于討論,我們統(tǒng)一把S極作為輸入。

二。模擬開關(guān)和多路復(fù)用器直流參數(shù)介紹

1. 導通電阻 On Resistance

(1)。 定義

poYBAGGKTbGALSq0AAAmL9gwEfU845.png

圖 2 On Resistance 定義

(2)。 特點

1) 隨輸入信號電壓而改變:當芯片供電電壓固定時,對于NMOS而言,S級的電壓越高,導通電阻越來越大,對于PMOS而言,S級的電壓越高,導通電阻越來越小。

pYYBAGGKTbOAJTTzAAAhfTdiT4E989.png

pYYBAGGKTbWAExLbAAA8o7UBqpE144.png

圖 3 導通電阻隨輸入信號電壓變化的曲線

2) 導通電阻的阻值與溫度有關(guān):當VDD和VSS固定不變時,隨著溫度的升高,導通電阻的曲線整體向上平移。

poYBAGGKTbeATBseAACXRDc4nPg589.png

圖 4 導通電阻隨溫度變化的曲線

3) 導通電阻的平坦度:On-resistance flatness

pYYBAGGKTbmAeSTPAAA-91CA0zQ392.png

圖 5 On-resistance flatness

在一定的輸入電壓范圍內(nèi),導通電阻的最大值與最小值的差稱為導通電阻的平坦度,這個值越大,說明導通電阻的變化幅度越大。

(3)。 影響

在這里,我們通過一個仿真實例來觀察一下導通電阻及平坦度對于系統(tǒng)的影響,如圖6。為了更容易地觀察到影響,我們選擇設(shè)置R1和R2為100?。

poYBAGGKTbuAES9qAABG2QppFVk549.jpg

圖 6 MUX36S08仿真電路

pYYBAGGKTbyAK9xsAABHnz3_e2Q027.jpg

圖 7 輸入及輸出波形

從仿真的結(jié)果我們可以看出:

1) 輸出電壓并不是我們輸入電壓乘以放大比例后的結(jié)果,這是因為有導通電阻的存在。

pYYBAGGKTb6AYfp_AAAGsA2jDh4299.png

2) 輸出電壓隨輸入電壓的并不是線性關(guān)系,這是因為Ron隨著Vin在變化,會在輸出端引入非線性誤差。所以,Ron的平坦度越小,輸出的非線性誤差越小。

2.漏電流 Leakage current

(1)。 定義

1) Source off-leakage current: 在開關(guān)斷開時,從源極流入或流出的電流稱為poYBAGGKTcCAEx-iAAACMqvAEUo059.iso,如圖8。

2) Drain off-leakage current: 在開關(guān)斷開時,從漏極流入或流出的電流稱為poYBAGGKTcKAUPGKAAACKYlhW6k751.png ,如圖8

3) On-leakage current: 當開關(guān)閉合時,從漏極流入或流出的電流稱為pYYBAGGKTcSATo8rAAACKkPD2Uc679.png ,如圖8。

pYYBAGGKTcWAMOf0AAAjLCjO5i8646.png

poYBAGGKTceAf5IfAAAhZ7UU7Ak860.png

圖 8 漏電流定義

(2)。 特點

漏電流隨溫度變化劇烈。

pYYBAGGKTcmAYRWTAAB0UYyIDxM563.png

圖 9 漏電流隨溫度變化的曲線

(3)。 影響

在很多數(shù)據(jù)采集系統(tǒng)中,接入MUX前的傳感器有可能是高阻抗的傳感器。這時,漏電流的影響就會凸顯出來。

例如,在圖10的仿真中,輸入源有1M?的源阻抗,我們對這個電阻進行直流參數(shù)掃描,觀察它從1M?變化至10M?時,對輸出電壓的影響,結(jié)果可以看到,漏電流通過傳感器的內(nèi)阻會給輸出電壓帶來一個直流誤差。所以,在為高輸出阻抗的傳感器選擇MUX時,要盡可能選取低漏電流的芯片。

poYBAGGKTcuACeS7AABHVjwbfDo115.jpg

圖 10 漏電流仿真電路

pYYBAGGKTcyAIix-AABQCYoUZbE969.jpg

圖 11 漏電流仿真結(jié)果

三。 模擬開關(guān)和多路復(fù)用器動態(tài)參數(shù)介紹

1. 導通電容 On Capacitance

(1)。 定義

CS和CD代表了開關(guān)在斷開時的源極和漏極電容。當開關(guān)導通時,CON等于源極的電容和漏極的電容之和,如圖12。

poYBAGGKTc6AE0rHAABJ15BmWc8619.png

pYYBAGGKTdCANninAABdYSLfNZo466.png

圖 12 On Capacitance

(2)。 影響

pYYBAGGKTdKABNANAABgZ2WpC78412.png

圖 13 MUX36S08 示例

當MUX在不同通道之間切換時,CD也會隨著通道的切換被充電或者放電。例如,當S1閉合時,CD會被充電至V1。那么此時CD上的電荷QD1:

poYBAGGKTdOATIg6AAAD9ax9v0E361.png

當MUX從S1切換至S2時,CD會被充電至V2。那么此時CD上的電荷QD2:

poYBAGGKTdWAb3boAAAEIRTJZow780.png

那么兩次CD上的電荷差就需要V2來提供,所以這時候,MUX輸出就會需要一定的時間來穩(wěn)定。

pYYBAGGKTdeAEuSUAAAE2yZd9k0589.png

對于一個N-bit的ADC:

pYYBAGGKTdmAN1ojAAAPQCGRavQ550.png

K其實是代表RC電路中,電壓到達目標誤差以內(nèi)時所需要的時間常數(shù)的數(shù)量,例如10-bit accuracy (LSB % FS= 0.0977), K= -ln (0.0977/100)=6.931。

接下來用一個仿真來說明這種現(xiàn)象:

為了更明顯地觀察到這種現(xiàn)象,在Vout 端加入一個電容C1,可以理解為增加了CD,也可以理解為負載電容和CD的并聯(lián)。

poYBAGGKTduAIzDKAABMDnFzCM0161.jpg

圖 14 On Capacitance對輸出影響的仿真示例電路

pYYBAGGKTd2AHDiUAAACq067VV8260.png時,整個回路的時間常數(shù)較大,需要更長時間穩(wěn)定,所以在開關(guān)導通20uS之后,輸出電壓仍然沒有穩(wěn)定到信號源的電壓。

poYBAGGKTd6AbYUFAABdX7bAUDo383.jpg

圖 15 C1=50pF 仿真結(jié)果

poYBAGGKTeCAC_7lAAACfJowO74509.png 時,整個回路的時間常數(shù)較小,需要較短時間穩(wěn)定,所以在開關(guān)導通20uS之內(nèi),輸出電壓穩(wěn)定到了信號源的電壓。

pYYBAGGKTeKAUSSjAABcVY4f7OY157.jpg

圖 16 C1=10pF 仿真結(jié)果

2. 注入電荷 Charge Injection

(1)。 定義

注入電荷指的是從控制端EN耦合至輸出端的電荷。

(2)。 影響

因為在開關(guān)導通的通道上,缺乏消耗這部分電荷的通路,所以當這部分電荷流入漏極電容和輸出電容上時,會在輸出產(chǎn)生一個電壓誤差。

pYYBAGGKTeSAcs8aAAA33eSg6Qo330.png

pYYBAGGKTeaAA_HHAACf4-3Mags260.png

圖 17 Charge Injection過程示意圖

過程如下:

當在EN端有一個階躍信號時,這個階躍電壓會通過柵極和漏極之間的寄生電容CGD,耦合至輸出端,輸出電壓的改變?nèi)Q于注入電荷QINJ,CD和CL。

所以,當注入的電荷越小時,在輸出端引入的誤差會越小。

但同時,要注意到,注入電荷是一個與供電電壓、輸入信號都有關(guān)的一個參數(shù)。因此,當輸入信號的電壓在變化時,會在輸出端產(chǎn)生一個非線性的誤差。所以在選在MUX時,除了要注意charge injection的值以外,也要注意charge injection在輸入范圍內(nèi)的平坦度。

poYBAGGKTeiACvTqAAA-tguqqvc340.jpg

圖 18 MUX36S08 charge injection 曲線

TMUX6104精密模擬多路復(fù)用器使用特殊的電荷注入消除電路,可將源極-漏極電荷注入在VSS = 0 V時降至-0.35 pC,在整個信號范圍內(nèi)降至-0.41 pC。

pYYBAGGKTeqAM4elAABAaIcTF-Y986.jpg

圖 19 TMUX6104 Charge Injection 曲線

3. 帶寬Bandwidth

(1)。 定義

當開關(guān)打開時,在漏極的輸出刪減至源極輸入衰減3dB時的頻率,如圖20所示。

pYYBAGGKTeyAXXv6AABJ1rD3ZvY171.png

圖 20 帶寬定義

(2)。 計算方法

poYBAGGKTe6Af4NWAABPThe7oYg597.png

圖 21 簡化的MUX內(nèi)部的開關(guān)模型

為了簡化分析,我們忽略RS和CS。根據(jù)圖21中的阻容網(wǎng)絡(luò),我們可以寫出該電路的傳遞函數(shù):

pYYBAGGKTfCAMcU4AAAOBBM-W9U023.png

其中,3dB cut off frequency:

pYYBAGGKTfKAYe31AAAIqVKsFUU723.png

根據(jù)這個公式,結(jié)合MUX和負載的參數(shù),我們就可以算出來在當前條件下MUX的帶寬了。

4. 通道間串擾 Channel to Channel crosstalk

(1)。 定義

poYBAGGKTfSAJBaVAAAzuTA0Er8249.png

圖 22 通道間串擾示意圖

通道間串擾定義為當已知信號施加到導通通道的源極引腳時,在截止通道的源極引腳上出現(xiàn)的電壓。

poYBAGGKTfWASDxNAAALfXiPfgI483.png

(2)。 特點

pYYBAGGKTfeAQ0aBAACs2n3CdHk333.png

圖 23 簡化的MUX內(nèi)部的開關(guān)模型及通道間串擾隨信號頻率的變化

Channel to Channel crosstalk是和頻率有關(guān)的一種現(xiàn)象。主要是由于關(guān)斷狀態(tài)下寄生電容導致的。有時,也會由于布局技術(shù)不佳而引入了寄生電容,表現(xiàn)為串擾。

CSS表示兩個輸入通道之間的寄生電容。 這可能是傳輸信號的兩個輸入走線之間的電容,或者是多路復(fù)用器的兩個輸入引腳之間的電容。

在較低頻率的時候,從S1到OUTPUT的阻抗是RON ,因為S2是斷開的,從S2到OUTPUT的阻抗非常高。隨著施加到S1的輸入信號的頻率增加,寄生電容CSD的阻抗變得更低,并在S2引入了一部分S1的輸入信號。

相同的原理,寄生電容CSS隨頻率的增加也會將一部分輸入信號直接耦合到斷開的通道S2。

減少雜散電容的電路板布局技術(shù)也會有助于通道間的串擾問題。

5. 關(guān)斷隔離 Off isolation

(1)。 定義

關(guān)斷隔離定義為當在關(guān)閉通道的源極引腳上施加已知信號時在多路復(fù)用器輸出引腳上引入的電壓。

pYYBAGGKTfmAEI9NAABJNIXgq7I577.png

圖 24 關(guān)斷隔離示意圖

pYYBAGGKTfuAfGlTAAAKv6NG86s760.png

(2)。 特點

pYYBAGGKTf2Af2i1AACnXXbytpo860.png

圖 25 簡化的MUX內(nèi)部的開關(guān)模型及關(guān)斷隔離隨信號頻率的變化

像串擾一樣,關(guān)斷隔離也是一種與頻率相關(guān)的現(xiàn)象,由于模擬開關(guān)或多路復(fù)用器的OFF狀態(tài)寄生電容CSD而發(fā)生。而開關(guān)在截止狀態(tài)的寄生電容又取決于多個因素,例如器件封裝、引出線、制造工藝以及電路板布局技術(shù)。

較低的負載電阻將產(chǎn)生更好的OFF隔離,但由于導通電阻的存在,如果負載電阻過低,會引入失真。 較大的負載電容和漏極電容也將有助于更好的OFF隔離,但會限制多路復(fù)用器的帶寬。

關(guān)斷隔離和串擾規(guī)范都會分為相鄰和不相鄰?fù)ǖ纼深悺?/p>

審核編輯:金巧

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