電池測試設(shè)備數(shù)字控制解決方案

電池測試設(shè)備，是鋰離子電池生產(chǎn)線后處理系統(tǒng)的重要環(huán)節(jié)，對于鋰離子電池的質(zhì)量至關(guān)重要。電池測試設(shè)備的核心功能是對鋰離子電池進行高精度的恒流或恒壓充放電，傳統(tǒng)的控制方法以使用分立器件搭建的模擬控制方案為主。相比于傳統(tǒng)的模擬控制方案，采用 TI 的 C2000 為核心實現(xiàn)的數(shù)字控制方案，由于其低成本、高精度、更靈活、保密性較好等優(yōu)點，將成為未來電池測試設(shè)備主流的發(fā)展方向。本文中，將詳細(xì)介紹如何通過 TI 的 C2000 數(shù)字控制方案，有效降低系統(tǒng)成本，并保證極高的電流、電壓控制精度。

1. 低成本

采用 TI 的 C2000 數(shù)字控制方案的典型結(jié)構(gòu)：電流/電壓放大器對電池充放電的電流/電壓進行采樣，通過模數(shù)轉(zhuǎn)換器 ADC 將模擬信號轉(zhuǎn)化為數(shù)字信號并送入 C2000 中，C2000 根據(jù)恒流或恒壓指令與采樣信號進行環(huán)路計算，輸出一定占空比的 PWM 從而調(diào)節(jié) MOSFET 的開關(guān)，最終使得 buck/boost 變換器按照指令通過恒流或恒壓的方式對鋰電池進行充放電。

相比于模擬方案，由于電壓、電流指令和環(huán)路控制都在 C2000 中產(chǎn)生和完成，省去了高分辨率的數(shù)模轉(zhuǎn)換器 DAC 和誤差放大器，有效地降低了系統(tǒng)成本。

TMS320F280049 是具有 100MHz 主頻、256KB 閃存的 C2000 32 位 MCU，通過高分辨率的 16bit PWM，最多可以控制 8 個獨立通道的同步 buck/boost 變換器。采用 TMS320F280049 的數(shù)字控制方案，比傳統(tǒng)的模擬控制方案可以節(jié)省 30% 以上的 BOM 成本。

此外，由于鋰離子電池在 3C 產(chǎn)品、電動汽車、儲能等諸多領(lǐng)域都有廣泛應(yīng)用，各類鋰離子電池的電流往往差別很大。這導(dǎo)致了電池測試設(shè)備若采用模擬控制，往往需要根據(jù)電流大小選取不同的硬件方案，增加了研發(fā)周期與設(shè)備成本。如果采用 C2000 的數(shù)字控制方案，則可以在不改變硬件的前提下，在小電流或大電流模式間自由切換：在小電流時，8 各通道可以分別獨立運行；在大電流時，則將多個通道并聯(lián)運行，以輸出更大的電流。

在多通道并聯(lián)運行時，每個通道都將采用同一個恒壓環(huán)路，恒流環(huán)路則各自獨立，只需將輸出并聯(lián)后就可以實現(xiàn)更大的輸出電流范圍。因此，相比于模擬控制，采用 C2000 的數(shù)字控制方案，可以在不改變硬件的條件下適應(yīng)更廣泛的測試場景，大大減少了設(shè)備成本。

2. 高精度

通過校準(zhǔn)，電池測試設(shè)備往往可以除去大部分初始系統(tǒng)誤差。剩余難以被校準(zhǔn)的誤差來源主要包括：電流檢測電阻的溫漂，電流、電壓檢測放大器的失調(diào)與增益溫漂、輸入共模電壓變化帶來的失調(diào)，ADC 的非線性度，基準(zhǔn)電壓源的溫漂。在本文中，按照 ±5°C 的溫度變化范圍計算誤差值。

電流檢測電阻

電流檢測電阻的溫漂是總系統(tǒng)誤差的重要來源，對于 CC 控制，需要一個幾毫歐并且低溫度系數(shù)的高精度電流檢測電阻。本文采用高精密、電流感應(yīng)金屬條 SMD 功率電阻器，檢測電阻的阻值為 5m? ，溫漂值為 10ppm。那么，由于電流檢測電阻的溫漂造成的誤差為 50ppm。

電流檢測放大器

為了減小大電流造成的溫升和功率損耗，電流檢測電阻的阻值一般較小，因此電流檢測放大器的輸入差分信號一般不超過幾十毫伏，往往選擇儀表放大器進行信號調(diào)理。儀表放大器的誤差主要來源于以下兩個方面：環(huán)境溫度改變時，失調(diào)電壓和增益的漂移；電池電壓改變時，由于輸入共模電壓變化造成的失調(diào)電壓。因此，在選擇儀表放大器時，應(yīng)該主要關(guān)注失調(diào)電壓漂移、增益漂移、CMRR 等參數(shù)。下表為 TI 主推的幾款應(yīng)用于電池測試設(shè)備的儀表放大器的關(guān)鍵參數(shù)：

INA821 作為一款高精密、低漂移的儀表放大器，失調(diào)電壓漂移最大值為 0.4μV/°C，那么 ±5°C 溫度偏移將會產(chǎn)生 2μV 失調(diào)電壓，即 40ppm 滿量程誤差；增益漂移為 5ppm/°C，那么 ±5°C 溫度偏移會產(chǎn)生 25ppm 誤差；共模電壓抑制比為 140dB，那么輸入共模電壓范圍在 0~5V 變化時，將產(chǎn)生 0.5μV 失調(diào)電壓。在 10A 充電電流下，滿量程采樣電阻的電壓信號為 50mV，即輸入共模電壓變化帶來 10ppm 滿量程誤差。

電壓檢測放大器

電壓檢測放大器的誤差來源同樣主要來源于失調(diào)電壓和增益的漂移，以及輸入共模電壓變化造成的失調(diào)電壓。因此，在選擇儀表放大器時，同樣應(yīng)該主要關(guān)注失調(diào)電壓漂移、增益漂移、CMRR 等參數(shù)。

TLV07 是一款成本敏感型、低噪聲、軌到軌輸出、精密運算放大器，失調(diào)電壓漂移的典型值為 0.9μV/°C，那么 ±5°C 溫度偏移將會產(chǎn)生 4.5μV 失調(diào)電壓，即 1ppm 滿量程誤差；增益漂移主要受輸入電阻與反饋電阻的漂移誤差的影響，在這里取 5ppm/°C，那么 ±5°C 溫度偏移會產(chǎn)生 25ppm 誤差。共模電壓抑制比最小值為 104dB，那么輸入共模電壓范圍在 0~5V 變化時，將產(chǎn)生 31.5μV 失調(diào)電壓，即 6ppm 滿量程誤差。

模數(shù)轉(zhuǎn)換器及基準(zhǔn)電壓源

模數(shù)轉(zhuǎn)換器 ADC 的誤差主要是由于非線性度和基準(zhǔn)電壓源的漂移造成的。ADS131M08 是 24位、32kSPS、8 通道同步采樣的 Δ-Σ 高精度 ADC，由于 ADS131M08 是差分輸入，可以有效減小由于各通道間串?dāng)_引起的誤差。從數(shù)據(jù)表中可以查到，ADS131M08 的非線性度 INL 僅為 7.5ppm 滿量程誤差。如果采用內(nèi)部基準(zhǔn)電壓源，溫漂最大值為 20ppm/°C，那么 ±5°C 溫度偏移會產(chǎn)生 100ppm 誤差。如果采用外部基準(zhǔn)電壓源 REF2025，溫漂最大值僅為 8ppm/°C，那么 ±5°C 溫度偏移誤差將會降至 40ppm。

誤差匯總

根據(jù)以上分析，將各誤差來源造成的誤差值匯總，即可計算得到在恒流、恒壓控制時，電池測試設(shè)備的系統(tǒng)總誤差如下圖所示?？梢钥吹?，采用 C2000 的數(shù)字控制方案，電流和電壓誤差范圍都在萬二以內(nèi)，達到了極高的控制精度。

綜上所述，在電池測試設(shè)備中采用 TI 的 C2000 數(shù)字控制方案，在降低系統(tǒng)成本的同時，可以保證極高的電流、電壓控制精度，非常適合在各類電池測試方案中的應(yīng)用。

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原文標(biāo)題：技術(shù)干貨 | 低成本、高精度的電池測試設(shè)備數(shù)字控制方案

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審核編輯：湯梓紅