基于硅光電倍增管的直接ToF測(cè)距系統(tǒng)設(shè)計(jì)

本白皮書旨在協(xié)助開發(fā)基于硅光電倍增管(SiPM)的激光雷達(dá)(LiDAR，光探測(cè)和測(cè)距)系統(tǒng)。下面的章節(jié)包含了以下信息：直接飛行時(shí)間(ToF)測(cè)距儀的激光器、計(jì)時(shí)和光學(xué)參數(shù)的設(shè)計(jì)和實(shí)現(xiàn)，以及詳細(xì)分析將SiPM整合到此類系統(tǒng)中時(shí)必須考慮的關(guān)鍵方面。

前言

LiDAR是一種測(cè)距技術(shù)，正越來(lái)越多地用于移動(dòng)測(cè)距、汽車ADAS(先進(jìn)駕駛輔助系統(tǒng))、手勢(shì)識(shí)別和3D繪圖等應(yīng)用。與雪崩光電二極管(APD)、PIN二極管和PMT等替代性傳感器技術(shù)相比，采用硅光電倍增管(SiPM)作為光敏傳感器有許多優(yōu)勢(shì)，特別是對(duì)于移動(dòng)和大批量產(chǎn)品而言。

安森美(onsemi)的SiPM提供：

從250納米到1100納米的單光子探測(cè)

低電壓——易于實(shí)現(xiàn)系統(tǒng)要求

低功耗——較低的工作電壓和簡(jiǎn)單的讀出電子裝置實(shí)現(xiàn)低功耗設(shè)計(jì)

高帶寬和快速響應(yīng)時(shí)間——最小化測(cè)距時(shí)間

能夠利用低激光功耗直接ToF測(cè)距技術(shù)的優(yōu)勢(shì)

低噪聲和高增益——可實(shí)現(xiàn)好的信噪比(SNR)

標(biāo)準(zhǔn)CMOS制造工藝——成本低，高度一致性，可擴(kuò)展生產(chǎn)

小尺寸SMT封裝——可提供1毫米的傳感器

與其他傳感器相比，遷移到SiPM傳感器技術(shù)會(huì)帶來(lái)一系列不同的限制。本白皮書旨在幫助用戶充分利用該技術(shù)的優(yōu)勢(shì)，并盡快實(shí)現(xiàn)采用SiPM傳感器的工作設(shè)置。

為此，安森美創(chuàng)建了三個(gè)工具來(lái)幫助用戶;一個(gè)用于仿真的MATLAB測(cè)距模型，一個(gè)測(cè)距演示器硬件裝置，以及本文文件。

我們創(chuàng)建了一個(gè)直接ToF系統(tǒng)的詳細(xì)MATLAB模型，以便于仿真基于SiPM的測(cè)距應(yīng)用。該模型可用于支持測(cè)距系統(tǒng)的設(shè)計(jì)，并可進(jìn)行修改以仿真各種應(yīng)用和實(shí)施。

一個(gè)基于SiPM的LiDAR演示系統(tǒng)已建成。對(duì)這個(gè)“第一代”系統(tǒng)進(jìn)行了測(cè)量，并用于驗(yàn)證MATLAB模型的仿真結(jié)果。

本文文件旨在幫助新用戶開發(fā)基于SiPM的直接ToF測(cè)距系統(tǒng)。它討論了各種系統(tǒng)和環(huán)境因素對(duì)所產(chǎn)生的信噪比的影響。

直接ToF測(cè)距系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

一個(gè)直接的ToF測(cè)距系統(tǒng)所需的基本組件，如圖1所示

一個(gè)帶有準(zhǔn)直光學(xué)系統(tǒng)的脈波激光器

一個(gè)帶有檢測(cè)光學(xué)組件的傳感器

計(jì)時(shí)和數(shù)據(jù)處理電子裝置

圖1. 直接ToF測(cè)距技術(shù)概覽

本文檔聚焦激光器、傳感器、讀出器和應(yīng)用環(huán)境的系統(tǒng)設(shè)計(jì)。本白皮書中的單點(diǎn)、直接ToF基線工作可以擴(kuò)展到更復(fù)雜的掃描和成像系統(tǒng)。在直接ToF技術(shù)中，一個(gè)周期性的激光脈波被指向目標(biāo)，通常采用對(duì)眼睛安全的紅外區(qū)功率和波長(zhǎng)。

目標(biāo)擴(kuò)散并反射激光光子，一些光子被反射回傳感器。傳感器將檢測(cè)到的激光光子(和一些由于噪聲而檢測(cè)到的光子)轉(zhuǎn)換為電訊號(hào)，然后由計(jì)時(shí)電子裝置進(jìn)行時(shí)間標(biāo)記。這個(gè)飛行時(shí)間t，可用來(lái)計(jì)算到目標(biāo)的距離D，計(jì)算公式D=ct/2，其中c=光速，t=飛行時(shí)間。傳感器必須將返回的激光光子從噪聲(環(huán)境光)中區(qū)分出來(lái)。每個(gè)激光脈波至少捕獲一個(gè)時(shí)間標(biāo)記。這稱為單次測(cè)量。

結(jié)合許多單次測(cè)量的數(shù)據(jù)以產(chǎn)生一個(gè)測(cè)量值，信噪比可以得到極大的改善，從中可提取出檢測(cè)到的激光脈波計(jì)時(shí)，具有高精度。有幾種不同的讀出技術(shù)可從檢測(cè)到的激光光子脈波中獲取計(jì)時(shí)信息，總結(jié)如下：

測(cè)距讀出技術(shù)

LED(前緣識(shí)別)——涉及對(duì)多光子訊號(hào)的上升沿的檢測(cè)。計(jì)時(shí)的準(zhǔn)確性是由辨別返回的光訊號(hào)的上升沿的能力決定的。這種技術(shù)不受激光脈波寬度的影響。

全波形數(shù)字化——全波形被數(shù)字化，可以過(guò)采樣以提高精度。對(duì)于短激光脈波或高重復(fù)率源來(lái)說(shuō)，可能難以實(shí)現(xiàn)。

TCSPC(時(shí)間相關(guān)的單光子計(jì)數(shù))——提供最高的精度和最大的環(huán)境光抑制。這種技術(shù)要求每個(gè)激光脈波檢測(cè)不到一個(gè)訊號(hào)光子。這種技術(shù)可以不受環(huán)境光的影響，但需要短脈波時(shí)間、高重復(fù)率和快速計(jì)時(shí)電子裝置，以實(shí)現(xiàn)快速和準(zhǔn)確的測(cè)量。

SPSD(單光子同步檢測(cè))——TCSPC的一種形式，提供高環(huán)境光抑制。必須設(shè)計(jì)電子裝置來(lái)處理范圍模糊的問(wèn)題。

建模一個(gè)直接ToF測(cè)距系統(tǒng)

我們創(chuàng)建了一個(gè)直接ToF系統(tǒng)的MATLAB模型。該模型的框圖如圖2所示。該模型給定一組與表1中所示相似的系統(tǒng)參數(shù)，目的是預(yù)測(cè)系統(tǒng)的整體性能。第一步包括分析計(jì)算傳感器的光照度(包括環(huán)境光和激光)，給定一個(gè)選定的光學(xué)場(chǎng)景，可以通過(guò)改變相應(yīng)的系統(tǒng)參數(shù)來(lái)改變。通過(guò)比較計(jì)算出的光照度與傳感器的飽和極限，可以驗(yàn)證所選擇的設(shè)置是否適合測(cè)距。在特定設(shè)置不適合測(cè)距的情況下，可以通過(guò)改變系統(tǒng)參數(shù)來(lái)評(píng)估設(shè)置本身的改進(jìn)。

該模型的第二部分包括一個(gè)Monte Carlo 仿真器，其中傳感器的隨機(jī)特性，主要是光子探測(cè)效率(PDE)和時(shí)間抖動(dòng)，被再現(xiàn)。這一步允許通過(guò)仿真獲得傳感器的現(xiàn)實(shí)輸出。與分析部分相比，這一步考慮到了計(jì)時(shí)信息，如采集時(shí)間、激光的重復(fù)率和激光脈波寬度。Monte Carlo 仿真的結(jié)果被傳遞給一個(gè)讀出模型，通常是一個(gè)鑒別器，然后是一個(gè)TDC(時(shí)間到數(shù)字轉(zhuǎn)換器)，它產(chǎn)生一個(gè)時(shí)間戳的柱狀圖，從中可以提取一個(gè)范圍測(cè)量。

圖2. 光照度的計(jì)算結(jié)合Monte Carlo仿真器，從而可以再現(xiàn)完整的系統(tǒng)輸出。

表1. SiPM直接ToF測(cè)距系統(tǒng)中的變量

測(cè)距直方圖

每次發(fā)出激光脈波時(shí)，采集系統(tǒng)都會(huì)進(jìn)行一次單次測(cè)量。取決于許多因素，包括激光功率和與目標(biāo)的距離，每個(gè)脈波檢測(cè)到的激光光子數(shù)量可能很低。理想情況下，每個(gè)檢測(cè)到的光子都會(huì)用時(shí)間標(biāo)記。但每個(gè)單次測(cè)量的時(shí)間標(biāo)記數(shù)量可能受到TDC死區(qū)時(shí)間的限制。通常情況下，許多單次測(cè)量的時(shí)間，各包含一個(gè)或多個(gè)時(shí)間標(biāo)記，結(jié)合起來(lái)可產(chǎn)生一幀。在一幀過(guò)程中獲得的完整計(jì)時(shí)數(shù)據(jù)可以以直方圖的形式繪制出來(lái)，如圖3所示。

系統(tǒng)測(cè)距性能受到直方圖數(shù)據(jù)質(zhì)量的限制，而直方圖又受到系統(tǒng)參數(shù)的影響。從第7頁(yè)“改變系統(tǒng)變量的影響”一節(jié)中詳述的系統(tǒng)參數(shù)分析中可以看出，有一些限制因素和一些可以作出的取舍。下面使用的測(cè)距直方圖也提供了一個(gè)直觀的表示，這對(duì)于描述各種參數(shù)對(duì)所采集數(shù)據(jù)的影響是很有用的?；局狈綀D訊號(hào)和計(jì)時(shí)參數(shù)說(shuō)明如下。

直方圖的信噪比，SNRH，是訊號(hào)峰值與最大噪聲峰值之比。SNRH = 訊號(hào)峰值/噪聲峰值。

在模型中，以下術(shù)語(yǔ)適用于測(cè)量時(shí)間：f = 激光頻率。

激光重復(fù)率限制了可以測(cè)量的最大ToF，無(wú)失真，這定義了每次單次測(cè)量的時(shí)間。

單次測(cè)量時(shí)間，tss = 1/f。

幀大小是指每張直方圖的單次測(cè)量數(shù)。較大的幀大小可以提高SNRH，產(chǎn)生更好質(zhì)量的直方圖。測(cè)距速度由幀率定義：幀率=每秒測(cè)距次數(shù) = 1/ tacq

圖3. 顯示訊號(hào)、噪聲和飛行時(shí)間的仿真直方圖實(shí)例

原文標(biāo)題：硅光電倍增管用于直接飛行時(shí)間測(cè)距應(yīng)用(一)：直接ToF測(cè)距系統(tǒng)的設(shè)計(jì)

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審核編輯：湯梓紅