開(kāi)關(guān)電源32個(gè)測(cè)試項(xiàng)分析

1、功率因素和效率測(cè)試一、目的：測(cè)試S.M.P.S. 的功率因素POWER FACTOR， 效率EFFICIENCY（規(guī)格依客戶(hù)要求設(shè)計(jì)）。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 DIGITAL VOLTAGE METER （DVM） / 數(shù)字式電壓表;（4）。 AC POWER METER / 功率表;三。 測(cè)試條件：

四、測(cè)試方法：（1）。 依規(guī)格設(shè)定測(cè)試條件： 輸入電壓， 頻率和輸出負(fù)載。（2）。 從POWER METER 讀取Pin and PF 值， 并讀取輸出電壓， 計(jì)算Pout.（3）。 功率因素=PIN / （Vin*Iin）， 效率=Pout / Pin*100%；五。 測(cè)試回路圖：

2.能效測(cè)試一、目的：測(cè)試S.M.P.S. 能效值是否滿(mǎn)足相應(yīng)的各國(guó)能效等級(jí)標(biāo)準(zhǔn)要求（規(guī)格依各國(guó)標(biāo)準(zhǔn)要求定義）。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;三。 測(cè)試條件：（1）。 輸入電壓條件為115Vac/60Hz和230Vac/50Hz與220Vac/50Hz/60Hz條件。（2）。 輸出負(fù)載條件為空載、1/4 max. load、2/4 max. load、3/4 max. load、max. load五種負(fù)載條件。四、測(cè)試方法：（1）。在測(cè)試前將產(chǎn)品在在其標(biāo)稱(chēng)輸出負(fù)載條件下預(yù)熱30分鐘。（2）。 按負(fù)載由大到小順序分別記錄115Vac/60Hz與230Vac/50Hz輸入時(shí)的輸入功率（Pin），輸入電流（Iin），輸出電壓（Vo）， 功率因素（PF），然后計(jì)算各條件負(fù)載的效率。（3）。 在空載時(shí)僅需記錄輸入功率（Pin）與輸入電流（Iin）。（4）。計(jì)算115Vac/60Hz與230Vac/50Hz時(shí)的四種負(fù)載的平均效率，該值為能效的效率值五、標(biāo)準(zhǔn)定義：CEC / 美國(guó)EPA / 澳大利亞及新西蘭的能效規(guī)格值標(biāo)準(zhǔn)（IV等級(jí)）；（1）。 IV等級(jí)效率的規(guī)格是： 1）.Po《1W， Average Eff.≥0.5*Po;2）.1≤Po≤51W，Average Eff.≥0.09*Ln（Po）+0.5; 3）.Po》51，Average Eff.≥0.85.（2）。 輸入空載功率的規(guī)格是：1）.0《Po≤250W， Pin≤0.5W;（3）。 Po為銘牌標(biāo)示的額定輸出電壓與額定輸出電流的乘積;（4） 。實(shí)際測(cè)試的平均效率值和輸入空載功率值需同時(shí)滿(mǎn)足規(guī)格要求才可符合標(biāo)準(zhǔn)要求。六、計(jì)算方法舉例：（1）.12V/1A的能效效率=（0.09*ln12+0.5 ）*100%= （0.09*2.4849+0.5）*100%=72.36%;（2）。 輸入功率≤ 0.5W;

3. 輸入電流測(cè)試一、目的：測(cè)試S.M.P.S. 之輸入電流有效值INPUT CURRENT（規(guī)格依客戶(hù)要求設(shè)計(jì)）。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;三。 測(cè)試條件：

四、測(cè)試方法：（1）。 依規(guī)格設(shè)定測(cè)試條件： 輸入電壓， 頻率和輸出負(fù)載;（2）。 從功率計(jì)中記錄AC INPUT 電流值;

4.浪涌電流測(cè)試一、目的：測(cè)試S.M.P.S. 輸入浪涌電流INRUSH CURRENT， 是否符合SPEC.要求。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;三。 測(cè)試條件：（1）。依SPEC. 所要求（通常定義輸入電壓為100-240Vac/50-60Hz）。四、測(cè)試方法：（1）。 依SPEC. 要求設(shè)定好輸入電壓， 頻率， 將待測(cè)品輸出負(fù)載設(shè)定在MAX. LOAD.（2）。 SCOPE CH2 接CURRENT PROBE， 用以量測(cè)INRUSH CURRENT， CH1設(shè)定在DC Mode， VOLTS/DIV 設(shè)定視情況而定， CH1作為SCOPE 之TRIGGER SOURCE， TRIGGER SLOPE 設(shè)定為“+”， TIME/DIV 以5mS 為較佳， TRIGGER MODE 設(shè)定為“NORMAL”。（3）。 CH1 則接到AC 輸入電壓。（4）。 以上設(shè)定完成后POWER ON， 找出TRIGGER 動(dòng)作電流值（AT 90o 或270o POWER ON）。五、注意事項(xiàng)：（1）。 冷開(kāi)機(jī)（COLD-START）： 需在低（常）溫環(huán)境下且BULK Cap.電荷須放盡， 以及熱敏電阻亦處于常溫下， 然后僅能第一次開(kāi)機(jī)，若需第二次開(kāi)機(jī)須再待電荷放盡才可再開(kāi)機(jī)測(cè)試。（2）。 OSCILLOSCOPE 需使用隔離變壓器。六、測(cè)試回路圖：

5. 電壓調(diào)整率測(cè)試一、目的：測(cè)試S.M.P.S. OUTPUT LOAD 一定而AC LINE 變動(dòng)時(shí)， 其輸出電壓跟隨變動(dòng)之穩(wěn)定性（常規(guī)定義≤1%）。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 DIGITAL VOLTAGE METER （DVM） / 數(shù)字式電壓表;三。 測(cè)試條件：

四、測(cè)試方法：（1）。 依規(guī)格設(shè)定測(cè)試負(fù)載LOAD 條件。（2）。 調(diào)整輸入電壓AC LINE 和頻率FREQUENCY 值。（3）。 記錄待測(cè)品輸出電壓值是否在規(guī)格內(nèi)。（4）。 Line reg.=（輸出電壓的最大值（Vmax.）-輸出電壓的最小值（Vmin.））/Vrate volt.*100%.五。 注意事項(xiàng)：（1）。 測(cè)試前先將待測(cè)品熱機(jī)， 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進(jìn)行測(cè)試。（2）。 電壓調(diào)整率值是輸出負(fù)載不變，輸入電壓變動(dòng)時(shí)計(jì)算的值。

6.負(fù)載調(diào)整率測(cè)試一、目的：測(cè)試S.M.P.S. 在AC LINE 一定而OUTPUT LOAD 變動(dòng)時(shí)， 其輸出電壓跟隨變動(dòng)之穩(wěn)定性（常規(guī)定義≤±5%）。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 DIGITAL VOLTAGE METER （DVM） / 數(shù)字式電壓表;三。 測(cè)試條件：

四、測(cè)試方法：（1）。 依規(guī)格設(shè)定測(cè)試輸入電壓AC LINE 和頻率FREQUENCY 值。（2）。 調(diào)整輸出負(fù)載LOAD 值（3）。 記錄待測(cè)品輸出電壓值是否在規(guī)格內(nèi)。（4）。 Load reg.=（輸出電壓的最大/小值（Vmax/min.）-輸出電壓的額定值（Vrate））/Vrate volt.*100%.五。 注意事項(xiàng)：（1）。 測(cè)試前先將待測(cè)品熱機(jī)， 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進(jìn)行測(cè)試;（2）。 負(fù)載調(diào)整率值是輸入電壓不變，輸出負(fù)載變動(dòng)時(shí)計(jì)算的值。

7. 輸入緩慢變動(dòng)測(cè)試一、目的：驗(yàn)證當(dāng)輸入電壓偏低情形發(fā)生時(shí)， 待測(cè)品需能自我保護(hù)， 且不能有損壞現(xiàn)象;二。 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;三。 測(cè)試條件：（1）。 依SPEC. 要求： 設(shè)定輸入電壓為90Vac 或180Vac 和輸出負(fù)載Max. load;四、測(cè)試方法：（1）。 將待測(cè)品與輸入電源和電子負(fù)載連接好， 且設(shè)定好輸入電壓和輸出負(fù)載;（2）。 逐步調(diào)降輸入電壓， 每次3 Vac/每分鐘。（3）。 記錄電壓值（包括輸入電壓和輸出電壓）， 直到待測(cè)品自動(dòng)當(dāng)機(jī)為止。（4）。 設(shè)定好輸入電壓為0Vac，逐步調(diào)升輸入電壓， 每次3 Vac/每分鐘，直到待測(cè)品輸出電壓達(dá)到正常規(guī)格為止，記錄電壓?jiǎn)?dòng)時(shí)輸出電壓和輸入電壓值。五、注意事項(xiàng)：（1）。 待測(cè)品在正常操作情況下不應(yīng)有任何不穩(wěn)動(dòng)作發(fā)生， 以及失效情形;（2）。 產(chǎn)品當(dāng)機(jī)和啟動(dòng)時(shí)的輸入電壓需小于輸入電壓范圍下限值。

8. 紋波及噪聲測(cè)試一、目的：測(cè)試S.M.P.S. 直流輸出電壓之紋波RIPPLE 及噪聲NOISE（規(guī)格定義常規(guī)為≤輸出電壓的1%）;二。 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3） OSCILLOSCOPE / 示波器;（4） TEMP. CHAMBER / 溫控室;三。 測(cè)試條件：各種LINE 和LOAD 條件及溫度條件， 各種輸入電壓& 輸出負(fù)載（Min.-MAX. LOAD）。四、測(cè)試方法：（1）。 按測(cè)試回路接好各測(cè)試儀器，設(shè)備，以及待測(cè)品，測(cè)試電源在各種LINE 和LOAD，及溫度條件之RIPPLE &NOISE（下圖為一典型輸出RIPPLE & NOISE A： RIPPLE+NOISE; B： RIPPLE; C： NOISE五、注意事項(xiàng)：（1）。 測(cè)試前先將待測(cè)輸出并聯(lián)SPEC. 規(guī)定的濾波電容， （通常為10uF/47uF電解電容;或鉭電容及0.1uF陶瓷電容） 頻寬限制依SPEC. 而定（通常為20MHz）。（2）。 應(yīng)避免示波器探頭本身干擾所產(chǎn)生的雜訊.

9.上升時(shí)間測(cè)試一、目的：測(cè)試S.M.P.S. POWER ON 時(shí)，各組輸出從10% ~ 90% POINT 之上升時(shí)間（常規(guī)定義為≤20mS）。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器三。 測(cè)試條件：

四、測(cè)試方法：（1）。 依規(guī)格設(shè)定AC VOLTAGE， FREQUENCY AND LOAD 。（2）。 SCOPE 的CH1 接Vo， 并設(shè)為T(mén)RIGGER SOURCE， LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 較為妥當(dāng)， TRIGGER SLOPE 設(shè)定在“+”，TIME/DIV 和VOLTS/DIV 則視輸出電壓情況而定。（3）。 用CURSOR 中“TIME”， 量測(cè)待測(cè)品各組輸出從電壓10% 至90% 之上升時(shí)間。五. 注意事項(xiàng)：測(cè)試前先將待測(cè)品處于冷機(jī)狀態(tài)，待BUCK Cap. 電荷放盡后進(jìn)行測(cè)試.

10. 下降時(shí)間測(cè)試一、目的：測(cè)試S.M.P.S. POWER ON 時(shí)，各組輸出從90% ~ 10% POINT 之下降時(shí)間（常規(guī)定義≥5mS）;二。 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器三。 測(cè)試條件：

四、測(cè)試方法：（1）。 依規(guī)格設(shè)定AC VOLTAGE， FREQUENCY AND LOAD.（2）。 SCOPE 的CH1 接Vo， 并設(shè)為T(mén)RIGGER SOURCE， LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 較為妥當(dāng)， TRIGGER SLOPE 設(shè)定在“-”，TIME/DIV 和VOLTS/DIV 則視輸出電壓情況而定;（3）。 用CURSOR 中“TIME”， 量測(cè)待測(cè)品各組輸出從電壓90% 至10% 之下降時(shí)間。五. 注意事項(xiàng)：測(cè)試前先將待測(cè)品熱機(jī)， 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進(jìn)行測(cè)試.

11. 開(kāi)機(jī)延遲時(shí)間測(cè)試一、目的：測(cè)試S.M.P.S. POWER ON 時(shí)， 輸入電壓AC LINE 與輸出之時(shí)間差（常規(guī)定義為≤3000mS）。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器三。 測(cè)試條件：

四、測(cè)試方法：（1）。 測(cè)試時(shí)依規(guī)格設(shè)定AC LINE， FREQUENCY 和輸出負(fù)載（一般LOW LINE & MAX. LOAD時(shí)間最長(zhǎng)）。（2）。 OSCILLOSCOPE 的CH1 接Vo 為T(mén)RIGGER SOURCE， CH2 接AC LINE.（3）。 TRIGGER LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 間較為妥當(dāng)， TRIGGER SLOPE 設(shè)定在“+”，VOLTS/DIV 和TIME/DIV 則視實(shí)際情況而定。（4）。 用CURSOR 中“TIME”， 量測(cè)AC ON 至Vo LOW LIMIT 之時(shí)間差。五. 注意事項(xiàng)：（1）。 測(cè)試前先將待測(cè)品處于冷機(jī)狀態(tài)， 待BULK Cap. 電荷放盡后進(jìn)行測(cè)試;（2）。 示波器（OSCILLOSCOPE） 需使用隔離變壓器.

12. 關(guān)機(jī)維持時(shí)間測(cè)試一、目的：測(cè)試S.M.P.S. POWER OFF 時(shí)， 輸入電壓AC LINE 與輸出OUTPUT 之時(shí)間差（常規(guī)定義≥10mS/115Vac & ≥20mS/230Vac ）;二。 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器三。 測(cè)試條件：四、測(cè)試方法：（1）。 測(cè)試時(shí)依規(guī)格設(shè)定AC LINE， FREQUENCY 和輸出負(fù)載。（2）。 OSCILLOSCOPE 的CH1 接Vo 為T(mén)RIGGER SOURCE， CH2 接ACLINE.（3）。 TRIGGER LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 間較為妥當(dāng)， TRIGGER SLOPE 設(shè)定在“-”， VOLTS/DIV 和TIME/DIV 則視實(shí)際情況而定。（4）。 用CURSOR 中“TIME”， 量測(cè)AC ON 至Vo LOW LIMIT 之時(shí)間差。五. 注意事項(xiàng)：（1）。 測(cè)試前先將待測(cè)品熱機(jī)， 待其輸出電壓穩(wěn)定后再進(jìn)行測(cè)試;（2）。 示波器（OSCILLOSCOPE） 需使用隔離變壓器。

13. 輸出過(guò)沖幅度測(cè)試一、目的：測(cè)試S.M.P.S. POWER ON 時(shí)， 輸出DC OUTPUT 過(guò)沖幅度變化量（常規(guī)定義為≤10%）。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;三。 測(cè)試條件：依SPEC. 所要求，輸入電壓范圍與輸出負(fù)載（Min. – Max. load）。四、測(cè)試方法：（1）。 測(cè)試時(shí)依規(guī)格設(shè)定AC LINE， FREQUENCY 和輸出負(fù)載。（2）。 OSCILLOSCOPE 的CH1 接Vo 為T(mén)RIGGER SOURCE;（3）。 TRIGGER LEVEL 設(shè)定在Vo 的60% ~ 80% 間較為妥當(dāng)， TRIGGER SLOPE 設(shè)定在“+” 和“-”， VOLTS/DIV 和TIME/DIV 則視實(shí)際情況而定。（4）。 用CURSOR 中“VOLT”， 量測(cè)待測(cè)品輸出過(guò)沖點(diǎn)與穩(wěn)定值之關(guān)系。（5）。 ON / OFF 各做十次， 過(guò)沖幅度%=△V / Vo *100%;五、注意事項(xiàng)：產(chǎn)品在CC與CR模式都需滿(mǎn)足規(guī)格要求.

14. 輸出暫態(tài)響應(yīng)測(cè)試一、目的：測(cè)試S.M.P.S. 輸出負(fù)載快速變化時(shí)， 其輸出電壓跟隨變動(dòng)之穩(wěn)定性（規(guī)格定義電壓最大與最小值不超過(guò)輸出規(guī)格的±10%）。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;三。 測(cè)試條件：依SPEC.所規(guī)定： 輸入電壓AC LINE， 變化的負(fù)載LOAD， 頻率及升降斜率SR/F 值。四、測(cè)試方法：（1）。 測(cè)試時(shí)設(shè)定好待測(cè)品輸入電壓AC LINE 和頻率FREQUENCY.（2）。 測(cè)試時(shí)設(shè)定好待測(cè)品輸出條件： 變化負(fù)載和變化頻率及升降斜率。（3）。 OSCILLOSCOPE CH1 接到OUTPUT 偵測(cè)點(diǎn)， 量其電壓之變化。（4）。 CH2 接CURRENT PROBE 測(cè)試輸出電流， 作為OSCILLOSCOPE 之TRIGGER SOURCE.（5）。 TRIGGER MODE設(shè)定為“AUTO.”。五、注意事項(xiàng)：（1）。 注意使用CURRENT PROBE 時(shí)，每改變VOLTS/DIV 刻度PROBE 皆須歸零ZERO，（2）。 須經(jīng)常對(duì)CURRENT PROBE 進(jìn)行消磁DEGAUSS 和歸零ZERO.

15. 過(guò)流保護(hù)測(cè)試一、目的：測(cè)試S.M.P.S. 輸出電流過(guò)高時(shí)是否保護(hù)， 保護(hù)點(diǎn)是否在規(guī)格要求內(nèi)， 及是否會(huì)對(duì)S.M.P.S. 造成損傷（常規(guī)定義過(guò)流點(diǎn)為輸出額定負(fù)載的1.2-2.5倍/ CV模式產(chǎn)品初外）。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;三。 測(cè)試條件：依SPEC. 所規(guī)定： 輸入電壓AC LINE 和電子負(fù)載。四、測(cè)試方法：（1）。 將待測(cè)組輸出負(fù)載設(shè)在MAX. LOAD.（2）。 以一定的斜率（通常為1.0A/S） 遞增， 加大輸出電流直至電源保護(hù)， 當(dāng)保護(hù)后， 將所加大之電流值遞減， 視其輸出是否會(huì)自動(dòng)RECOVERY.（3）。 OSCILLOSCOPE CH2 接上CURRENT PROBE， 以PROBE 檢測(cè)輸出電流。（4）。 CH1 則接到待測(cè)輸出電壓， 作為OSCILLOSCOPE 之TRIGGER SOURCE.（5）。 TRIGGER SLOPE 設(shè)定為“-”， TRIGGER MODE 設(shè)定為“AUTO”， TIME/DIV 視情況而定。五、注意事項(xiàng)：（1）。 注意使用CURRENT PROBE 時(shí)，每改變VOLTS/DIV 刻度PROBE 皆須歸零ZERO，（2）。 須經(jīng)常對(duì)CURRENT PROBE 進(jìn)行消磁DEGAUSS 和歸零ZERO.（3）。 產(chǎn)品不能有安全危險(xiǎn)產(chǎn)生.

16. 短路保護(hù)測(cè)試一、目的：測(cè)試S.M.P.S. 輸出端在開(kāi)機(jī)前或在工作中短路時(shí)， 產(chǎn)品是否有保護(hù)功能。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;（4）。 低阻抗短路夾三。 測(cè)試條件：依SPEC. 所規(guī)定： 輸入電壓AC LINE 和負(fù)載LOAD 值和低阻抗短路夾。四、測(cè)試方法：（1）。 依規(guī)格設(shè)定測(cè)試條件： 輸入電壓AC LINE 和負(fù)載LOAD 值（一般為MAX.LOAD）。（2）。 各組輸出相互短路或?qū)Φ囟搪罚?偵測(cè)輸出特性。（3）。 開(kāi)機(jī)后短路TURN ON THEN SHORT & 短路后開(kāi)機(jī)SHORT THEN TURN ON 各十次。五、注意事項(xiàng)：（1）。當(dāng)SHORT CIRCUIT 排除之后， 檢測(cè)待測(cè)品是否自動(dòng)恢復(fù)或需重新啟動(dòng)（視SPEC 要求），并測(cè)試產(chǎn)品是否正?；蛴袩o(wú)零件損壞（產(chǎn)品要求應(yīng)正常）。（2）。 產(chǎn)品不能有安全危險(xiǎn)產(chǎn)生.

17. 過(guò)壓保護(hù)測(cè)試一、目的：測(cè)試S.M.P.S. 輸出電壓過(guò)高時(shí)是否保護(hù)， 保護(hù)點(diǎn)是否在規(guī)格要求內(nèi)， 及是否會(huì)對(duì)S.M.P.S. 造成損傷（常規(guī)定義：Vout《12V，過(guò)壓保護(hù)點(diǎn)為1.8倍輸出電壓; Vout≥12V，。過(guò)壓保護(hù)點(diǎn)為1.5倍輸出電壓）。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;（4）。 DC SOURCE / 直流電源;三。 測(cè)試條件：依SPEC. 所規(guī)定： 輸入電壓AC LINE 和負(fù)載LOAD 值。四、測(cè)試方法：（1）。 測(cè)試方式一： 拿掉待測(cè)品回授FEEDBACK， 找出過(guò)壓保護(hù)OVP 點(diǎn)，（2）。 測(cè)試方式二： 外加一可變電壓于操作待測(cè)品的輸出， 緩慢增大電壓值， 找出過(guò)壓保護(hù)OVP 點(diǎn)，（3）。 OSCILLOSCOPE CH1 接到OVP 偵測(cè)點(diǎn)， 測(cè)量其電壓之變化。（4）。 CH2 則接到其它一組輸出電壓， 作為OSCILLOSCOPE 之TRIGGER SOURCE.（5）。 TRIGGER SLOPE 設(shè)定為“-”， TRIGGER MODE 設(shè)定為“NORMAL”。五、注意事項(xiàng)：產(chǎn)品不能有安全危險(xiǎn)產(chǎn)生.

18. 重輕載變化測(cè)試一、目的：測(cè)試S.M.P.S. 的輸出負(fù)載在重輕載切換時(shí)對(duì)輸出電壓的影響（規(guī)格定義電壓最大與最小值不超過(guò)輸出規(guī)格的±10%）。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;三。 測(cè)試條件：依SPEC. 所規(guī)定： 輸入電壓AC LINE 和負(fù)載LOAD（MIN. AND MAX.） 值。四、測(cè)試方法：（1）。 依規(guī)格設(shè)定AC VOLTAGE， FREQUENCY AND LOAD （MAX. LOAD 和MIN. LOAD）。（2）。 SCOPE 的CH1 接Vo， 并設(shè)為T(mén)RIGGER SOURCE， LEVEL 設(shè)定在Vo 的90% ~ 100% 較為妥當(dāng)， TRIGGER SLOPE 設(shè)定在“+”，VOLTS/DIV 則視輸出電壓情況而定。（3）。 TIME/DIV 設(shè)定為1S/DIV 或2S/DIV，為滾動(dòng)狀態(tài)。（4）。 在輸入電壓穩(wěn)定時(shí)，變化輸出負(fù)載（最大/最小）。（5）。 在設(shè)定電壓下測(cè)試輸出電壓的最大和最小值。五、注意事項(xiàng)：無(wú)

19. 輸入電壓變動(dòng)測(cè)試一、目的：測(cè)試S.M.P.S. 的輸入電壓在規(guī)格要求內(nèi)變動(dòng)時(shí)，是否會(huì)對(duì)S.M.P.S. 造成損傷或輸出不穩(wěn)定。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;三。 測(cè)試條件：依SPEC. 所規(guī)定： 輸入電壓AC LINE 和負(fù)載LOAD 值。四、測(cè)試方法：（1）。 將待測(cè)輸出負(fù)載設(shè)在MAX. LOAD 和MIN. LOAD.（2）。 TRIGGER SLOPE 設(shè)定為“+”， TRIGGER MODE 設(shè)定為“AUTO”， TIME/DIV 視情況而定1S/DIV 或2S/DIV.（3）。 變動(dòng)輸入電壓，如：90Vac-180Vac;115Vac-230Vac;132Vac-264Vac;0-90Vac…… 0-264Vac.（4）。 測(cè)試輸出電壓在輸入電壓變動(dòng)時(shí)的最大值和最小值。五、注意事項(xiàng)：輸出電壓變動(dòng)的范圍應(yīng)在規(guī)格電壓要求內(nèi).

20.電源開(kāi)關(guān)循環(huán)測(cè)試一、目的：測(cè)試S.M.P.S. 是否能承受連續(xù)開(kāi)關(guān)操作下的沖擊。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 OSCILLOSCOPE / 示波器;（4） POWER ON/OFF TESTER / 電源開(kāi)關(guān)測(cè)試儀;三。 測(cè)試條件：（1）。 輸入電壓： 115Vac/230Vac 輸出負(fù)載： 滿(mǎn)載。（2）。 ON/OFF時(shí)間： ON 5秒/ OFF 5秒ON/OFF CYCLE：AT LEAST 5000 CYCLE.（3）。 環(huán)境溫度： 室溫。四、測(cè)試方法：（1）。 連接待測(cè)品到電源開(kāi)/關(guān)測(cè)試儀及電源。 （115Vac和230Vac &滿(mǎn)載， 或依客戶(hù)規(guī)格執(zhí)行）（2）。 S.M.P.S OFF 5秒及ON 5秒為一周期，總共測(cè)試周期： 5000 CYCLES.（3）。 測(cè)試過(guò)程中每完成1000周期時(shí)，記錄產(chǎn)品的輸入功率和輸出電壓。（4）。 待試驗(yàn)結(jié)束后，確定待測(cè)品在試驗(yàn)前后電氣性能是否有差異。五、注意事項(xiàng)：測(cè)試過(guò)程中或測(cè)試完成階段， 待測(cè)品都需能正常操作且不應(yīng)有任何性能降低情況發(fā)生。

21.元件溫升測(cè)試一、目的：測(cè)試S.M.P.S. 在規(guī)格操作環(huán)境， 電壓， 頻率和負(fù)載條件時(shí)， 元件的溫升狀況。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 HYBRID RECORDER / 混合記錄儀（DR130）;（4）。 TEMP. CHAMBER / 溫控室;三。 測(cè)試條件：依SPEC. 規(guī)定： 輸入電壓AC LINE， 頻率FREQUENCY， 輸出負(fù)載LOAD 及環(huán)境溫度。四、測(cè)試方法：（1）。 依線(xiàn)路情況先確定溫升較高的元件， 后用溫升線(xiàn)粘貼所確定的元件。（2）。 依規(guī)格設(shè)定好測(cè)試條件（AC LINE AND OUTPUT LOAD） 再開(kāi)機(jī)， 并記錄輸入功率和輸出電壓。（3）。 用混合記錄儀HYBRID RECORDER 記錄元件的溫升曲線(xiàn)， 待元件溫升完全穩(wěn)定后打印結(jié)果，并記錄輸入功率和輸出電壓。五、注意事項(xiàng)：（1）。 溫升線(xiàn)耦合點(diǎn)應(yīng)盡量貼著元件測(cè)試點(diǎn)， 溫升線(xiàn)走勢(shì)應(yīng)盡量避免影響S.M.P.S 元件的散熱。（2）。 測(cè)試的樣品應(yīng)模擬其實(shí)際的或在系統(tǒng)中的擺放狀態(tài)。（3）。 針對(duì)于無(wú)風(fēng)扇（ NO FAN）的產(chǎn)品， 測(cè)試時(shí)應(yīng)盡量避免外界風(fēng)流動(dòng)對(duì)它的影響。

22. 高溫操作測(cè)試一、目的：測(cè)試高溫環(huán)境對(duì)S.M.P.S. 操作過(guò)程中的結(jié)構(gòu)， 元件及整機(jī)電氣的影響， 用以考量S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;（4）。 TEMP. CHAMBER / 溫控室;（5）。 HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀三。 測(cè)試條件：（1）。 依SPEC.要求： 輸入條件（RATED VOLTAGE）， 輸出負(fù)載（FULL LOAD） 和操作溫度OPERATION TEMP （通常為溫度： 40℃）;（2）。 試驗(yàn)時(shí)間： 4Hrs.四、測(cè)試方法：（1）。 將待測(cè)品置于溫控室內(nèi)， 依規(guī)格設(shè)定好輸入輸出測(cè)試條件， 然后開(kāi)機(jī);（2）。 依規(guī)格設(shè)定好溫控室的溫度和濕度，然后啟動(dòng)溫控室;（3）。 定時(shí)記錄待測(cè)品輸入功率和輸出電壓，以及待測(cè)品是否有異常;（4）。 做完測(cè)試后回溫到室溫，再將待測(cè)品從溫控室中移出， 在常溫環(huán)境下至少恢復(fù)4小時(shí)。五、注意事項(xiàng)：（1）。 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后，產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象。（2）。 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測(cè)試需符合規(guī)格書(shū)要求。

23. 高溫高濕儲(chǔ)存測(cè)試一、目的：測(cè)試高溫高濕儲(chǔ)存環(huán)境對(duì)S.M.P.S. 的結(jié)構(gòu)， 元件及整機(jī)電氣的影響， 以考量S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;（4）。 TEMP. CHAMBER / 溫控室;（5）。 HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀三。 測(cè)試條件：儲(chǔ)存高溫高濕條件： 通常為溫度70±2℃， 濕度90-95% 試驗(yàn)時(shí)間24Hrs（非操作條件）。四、測(cè)試方法：（1）。 試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率， 輸出電壓及HI-POT 狀況;（2）。 將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi)， 依規(guī)格設(shè)定其溫度和濕度，然后啟動(dòng)溫控室;（3）。 試驗(yàn)24Hrs， 試驗(yàn)結(jié)束后在空氣中放置至少4Hrs，再確認(rèn)待測(cè)品外觀， 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常。五、注意事項(xiàng)：（1）。 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后，產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象。（2）。 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測(cè)試需符合規(guī)格書(shū)要求。

24. 低溫操作測(cè)試一、目的：測(cè)試低溫環(huán)境對(duì)S.M.P.S. 操作過(guò)程中的結(jié)構(gòu)， 元件及整機(jī)電氣的影響， 用以考量S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;（4）。 TEMP. CHAMBER / 溫控室;（5）。 HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀;三。 測(cè)試條件：（1）。 依SPEC.要求： 輸入條件（RATED VOLTAGE）， 輸出負(fù)載（FULL LOAD） 和操作溫度（OPERATION TEMP.），通常溫度為：（0℃）。（2）。 試驗(yàn)時(shí)間： 4Hrs.四、測(cè)試方法：（1）。 將待測(cè)品置于溫控室內(nèi)， 依規(guī)格設(shè)定好輸入輸出測(cè)試條件， 然后開(kāi)機(jī)。（2）。 依規(guī)格設(shè)定好溫控室的溫度，然后啟動(dòng)溫控室。（3）。 定時(shí)記錄待測(cè)品輸入功率和輸出電壓，以及待測(cè)品是否有異常;（4）。 做完測(cè)試后將待測(cè)品從溫控室中移出， 在常溫環(huán)境下恢復(fù)至少4小時(shí)，然后確認(rèn)其外觀和電氣性能有無(wú)異常。五、注意事項(xiàng)：（1）。 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后，產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象。（2）。 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測(cè)試需符合規(guī)格書(shū)要求。

25.低溫儲(chǔ)存測(cè)試一、目的：測(cè)試低溫儲(chǔ)存環(huán)境對(duì)S.M.P.S. 的結(jié)構(gòu)， 元件及整機(jī)電氣的影響， 用以考量S.M.P.S. 結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)及零件選用的合理性。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;（4）。 TEMP. CHAMBER / 溫控室;（5）。 HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀;三。 測(cè)試條件：儲(chǔ)存低溫條件： 通常為溫度-30℃， 試驗(yàn)時(shí)間24Hrs（非操作條件）。四、測(cè)試方法：（1）。 試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率， 輸出電壓及HI-POT 狀況。（2）。 將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi)， 依規(guī)格設(shè)定其溫度，然后啟動(dòng)溫控室。（3）。 試驗(yàn)24Hrs， 試驗(yàn)結(jié)束后在空氣中放置至少4Hrs， 再將待測(cè)品做HI-POT 測(cè)試， 記錄測(cè)試結(jié)果， 之后確認(rèn)待測(cè)品的外觀， 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常。五、注意事項(xiàng)：（1）。 產(chǎn)品試驗(yàn)期間與試驗(yàn)后，產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象。（2）。 試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻測(cè)試需符合規(guī)格書(shū)要求。

26. 低溫啟動(dòng)測(cè)試一、目的：測(cè)試低溫儲(chǔ)存環(huán)境對(duì)S.M.P.S. 的整機(jī)電氣的影響， 用以考量S.M.P.S. 電氣及零件選用的合理性。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;（4）。 TEMP. CHAMBER / 溫控室;三。 測(cè)試條件：儲(chǔ)存低溫條件： 通常為操作溫度0℃ 條件下降低到-10 ±2℃， 儲(chǔ)存時(shí)間至少4Hrs.四、測(cè)試方法：（1）。 試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率， 輸出電壓及HI-POT 狀況。（2）。 將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi)， 依規(guī)格設(shè)定其溫度，然后啟動(dòng)溫控室。（3）。 試驗(yàn)溫度儲(chǔ)存至少4Hrs， 然后分別在115Vac/60Hz & 230Vac/50Hz和輸出最大負(fù)載條件下開(kāi)關(guān)機(jī)各20 次， 確認(rèn)待測(cè)品電氣性能是否正常。五、注意事項(xiàng)：（1）。 在產(chǎn)品性能測(cè)試期間或測(cè)試之后，產(chǎn)品性能不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象。（2）。 設(shè)定的環(huán)境溫度為操作低溫的溫度再降-10度。

27. 溫度循環(huán)測(cè)試一、目的：測(cè)試針對(duì)S.M.P.S. 所有組成零件的加速性測(cè)試， 用來(lái)顯露出在實(shí)際操作中所可能出現(xiàn)的問(wèn)題。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;（4）。 TEMP. CHAMBER / 溫控室;（5）。 HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀;三。 測(cè)試條件：操作溫度條件： 通常為低溫度-40 ℃ 、25℃、33℃和高溫度66 ℃（濕度： 50-90%）， 試驗(yàn)至少24個(gè)循環(huán)。四、測(cè)試方法：（1）。 試驗(yàn)前記錄待測(cè)品輸入功率， 輸出電壓及HI-POT 狀況。（2）。 將確認(rèn)后的待測(cè)品置入恒溫恒濕機(jī)內(nèi)， 以無(wú)包裝，非操作狀態(tài)下。（3）。 設(shè)定溫度順序?yàn)?6±2 ℃保持1小時(shí)， 33±2 ℃和濕度90±2%保持1小時(shí)， -40±2 ℃保持1小時(shí)， 25±2 ℃和濕度50±2%保持30分鐘，為一個(gè)循環(huán)。（4）。 啟動(dòng)恒溫恒濕機(jī)， 然后記錄其溫度與時(shí)間的圖形， 監(jiān)視系統(tǒng)所記錄的過(guò)程，（5）。 試驗(yàn)完成后， 溫度回到室溫再將待測(cè)物從恒溫恒濕機(jī)中移出， 放置樣品在空氣中4Hr 再確認(rèn)外觀， 結(jié)構(gòu)及電氣性能是否有異常。五、注意事項(xiàng)：（1）。 經(jīng)過(guò)冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象。（2）。 經(jīng)過(guò)冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書(shū)要求。

28. 冷熱沖擊測(cè)試一、目的：測(cè)試高， 低溫度沖擊對(duì)S.M.P.S. 的影響，用來(lái)揭露各組成元件的弱點(diǎn)。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;（4）。 TEMP. CHAMBER / 溫控室;（5）。 HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀;三。 測(cè)試條件：（1）。 依SPEC. 要求： 儲(chǔ)存最高（70℃）， 低溫度（-30℃）， 測(cè)試共10 個(gè)循環(huán)， 高低溫轉(zhuǎn)換時(shí)間為《2min;（2）。 依客戶(hù)所提供的試驗(yàn)條件。四、測(cè)試方法：（1）。 在溫控室內(nèi)待測(cè)品由常溫25 ℃向低溫通常為-30 ℃轉(zhuǎn)變，并低溫烘烤1Hr.（2）。 溫控室由低溫-30 ℃向高溫通常為70 ℃轉(zhuǎn)變，轉(zhuǎn)變時(shí)間為2min.， 并高溫烘烤1Hr.（3）。 在高溫70 ℃ 和低溫-30 ℃ 之間循環(huán)10 個(gè)周期后， 溫度回到常溫將S.M.P.S. 取出（至少恢復(fù)4小時(shí)）。（4）。 確認(rèn)待測(cè)品的標(biāo)簽、外殼、耐壓和電氣性能有無(wú)與測(cè)試前的差異。五、注意事項(xiàng)：（1）。 經(jīng)過(guò)冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的性能與外觀不能出現(xiàn)降級(jí)與退化現(xiàn)象。（2）。 經(jīng)過(guò)冷熱沖擊試驗(yàn)后產(chǎn)品的介電強(qiáng)度與絕緣電阻應(yīng)符合規(guī)格書(shū)要求。（3）。 產(chǎn)品為非操作條件。

29. 冷熱沖擊測(cè)試一、目的：測(cè)試S.M.P.S. 在規(guī)格耐壓和時(shí)間條件下， 是否產(chǎn)生電弧ARCING， 其CUT OFF CURRENT 是否滿(mǎn)足SPEC. 要求， 及是否會(huì)對(duì)S.M.P.S.造成損傷。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;（4）。 HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀;三。 測(cè)試條件：依SPEC. 要求： 耐壓值（4242Vdc / 3000Vac）、操作時(shí)間（1 minute）和CUT OFF CURRENT（3.5mA） 值;四、測(cè)試方法：（1）。 依SPEC. 設(shè)定好耐壓WITHSTANDING VOLTAGE， 操作時(shí)間TIME， CUT OFF CURRENT 值。（2）。 將待測(cè)品與耐壓測(cè)試儀依要求連接， 進(jìn)行耐壓測(cè)試， 觀察是否有產(chǎn)生電弧ARCING， 及漏電流CUT OFF CURRENT 是否過(guò)大。（3）。 耐壓測(cè)試后， 確認(rèn)待測(cè)品輸入功率與輸出電壓是否正常。五、注意事項(xiàng)：（1）。 測(cè)試前應(yīng)先設(shè)定好耐壓測(cè)試儀的測(cè)試條件， 待測(cè)品的輸入與輸出分別應(yīng)與測(cè)試儀接觸良好。（2）。 耐壓的規(guī)格值設(shè)定參考安規(guī)要求。

30. 跌落測(cè)試一、目的：了解S.M.P.S. 由一定高度， 不同面進(jìn)行跌落DROP， 其結(jié)構(gòu)， 電氣等特性的變化狀況。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;（4）。 HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀;三。 測(cè)試條件：依SPEC. 要求： 規(guī)定的跌落高度、跌落次數(shù)和剛硬的水平面。四、測(cè)試方法：（1）。 所有待測(cè)品需先經(jīng)過(guò)電氣上的測(cè)試及目視檢查，以保證測(cè)試前沒(méi)任何可見(jiàn)的損壞存在。（2）。 確定六個(gè)面（小-大）順序依次進(jìn)行跌落。（3）。 使待測(cè)品由規(guī)定的高度及項(xiàng)（2） 所確定的測(cè)試點(diǎn)各進(jìn)行一次跌落， 每跌落一次均須對(duì)其電氣及絕緣等進(jìn)行確認(rèn)，記錄正?；虍惓＝Y(jié)果.

31.絕緣阻抗測(cè)試一、目的：測(cè)量待測(cè)物帶電部件與輸出電路之間和帶電部件與膠殼之間的絕緣阻抗值。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;（3）。 AC POWER METER / 功率表;（4）。 HI-POT TESTER / 高壓測(cè)試儀;三。 測(cè)試條件：（1）。 依SPEC. 要求： 施加500V直流電壓后進(jìn)行測(cè)試的絕緣阻抗值要高10MOhm（常規(guī)定義）。四、測(cè)試方法：（1）。 確認(rèn)好電氣性能后， 在絕緣阻抗測(cè)試儀中設(shè)定好施加的電壓（500Vdc）和測(cè)試的時(shí)間（1 Minute）。（2）。 將待測(cè)物輸入端和輸出端分別短路連接， 然后分別連接測(cè)試儀對(duì)應(yīng)端進(jìn)行測(cè)試。（3）。 再將待測(cè)物輸入端和外殼之間分別與測(cè)試儀對(duì)應(yīng)端連接進(jìn)行測(cè)試。（4）。 確認(rèn)待測(cè)物的測(cè)試絕緣阻抗值是否高于SPEC.要求值10MOhm.五、注意事項(xiàng)：（1）。 阻抗要求值依安規(guī)標(biāo)準(zhǔn)要求定義。

32. 額定電壓輸出電流測(cè)試一、目的：測(cè)試S.M.P.S. 在AC LINE 及OUTPUT VOLT. 一定時(shí)， 其輸出電流值。二. 使用儀器設(shè)備：（1）。 AC SOURCE / 交流電源;（2）。 ELECTRONIC LOAD / 電子負(fù)載;三。 測(cè)試條件：

四、測(cè)試方法：（1）。 固定輸入電壓與頻率，依條件設(shè)定CV 模式下的輸出電壓。（2）。 開(kāi)機(jī)后待輸出穩(wěn)定時(shí)記錄輸出電流值。（3）。 切換輸入電壓與頻率，記錄不同輸入電壓時(shí)的輸出電流值。（4）。 在輸出電壓值不同條件下分別記錄輸出電流值。五、注意事項(xiàng)：記錄輸出電流值前待測(cè)品電流值需穩(wěn)定。

原文標(biāo)題：干貨 | 解析開(kāi)關(guān)電源32個(gè)測(cè)試項(xiàng)：測(cè)試所需工具、測(cè)試方法、波形

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