傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試所需的ISN/AAN，電壓和電流探頭

有關(guān)《信息技術(shù)設(shè)備，多媒體設(shè)備和接收機(jī) 電磁兼容 第1部分：發(fā)射要求》GB/T 9254.1-2021，對(duì)應(yīng)的是CISPR32-2015已經(jīng)開(kāi)始執(zhí)行了。這個(gè)標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了針對(duì)信息技術(shù)設(shè)備，多媒體設(shè)備的電磁發(fā)射限值和測(cè)試方法，適用于信息技術(shù)設(shè)備，多媒體設(shè)備，專(zhuān)業(yè)用的多媒體設(shè)備。以前的GB/T 13837-2012，對(duì)應(yīng)的CISPR13-2009 《聲音和電視廣播接收機(jī)及有關(guān)設(shè)備的電磁騷擾特性的限值和測(cè)量方法》和GB/T 9254-2008，對(duì)應(yīng)的CISPR22-2006《信息技術(shù)設(shè)備的電磁騷擾特性的限值和測(cè)量方法》已被GB/T 9254.1-2021（CISPR32：2015）取代。

針對(duì)信息技術(shù)設(shè)備，多媒體設(shè)備的模擬/數(shù)字端口的傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試，GB/T 9254.1-2021（CISPR32：2015）中有如下規(guī)定：

表1：標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定的傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試方法

為了實(shí)現(xiàn)相關(guān)的傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試，除了需要用到本該無(wú)需被神話的符合指標(biāo)要求的不同廠家的接收機(jī)皆可，還需要用到以下的常用設(shè)備，這些設(shè)備都是根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，符合CISPR 16-1-2的要求的：

1. AAN: Asymmetric Artificial Network, 非對(duì)稱人工網(wǎng)絡(luò),

也叫做ISN(Impedance Stabilization Networks)，阻抗穩(wěn)定網(wǎng)絡(luò)。

1.1 針對(duì)非屏蔽平衡線對(duì)的3類(lèi)，5類(lèi)線

可采用圖1所示的ISN T8, 可用于1對(duì)，2對(duì)，3對(duì)，4對(duì)線纜的端口測(cè)試。兼容RJ11和RJ45。

注意，針對(duì)不同類(lèi)線纜，LCL (longitudinal conversion loss)是不同的，要用所對(duì)應(yīng)的LCL的ISN進(jìn)行測(cè)試。

1.2針對(duì)非屏蔽平衡線對(duì)的6類(lèi)線

可采用圖2所示的ISN T8-Cat6, 可用于1對(duì)，2對(duì)，3對(duì)，4對(duì)線纜的端口測(cè)試，也可當(dāng)作CDN用于IEC61000-4-6的。

注意，針對(duì)不同類(lèi)線纜，LCL (longitudinal conversion loss)是不同的，要用所對(duì)應(yīng)的LCL的ISN進(jìn)行測(cè)試。

1.3針對(duì)帶屏蔽的平衡線對(duì)的各類(lèi)線

可采用圖3所示的ISN ST08, 可用于1對(duì)，2對(duì)，3對(duì)，4對(duì)線纜的端口測(cè)試，

針對(duì)Ethernet 10 BaseT, 100 BaseT, 1000 BaseT, 10 GBaseT。也可當(dāng)作CDN用于IEC61000-4-6的。

2.電壓探頭 Capacitive Voltage Probe (CVP）

針對(duì)>4對(duì)線纜的EUT，可采用圖4所示的CVP2200進(jìn)行測(cè)試，探頭的頻率范圍是150 kHz 到30 MHz。

3.電流探頭Current Sensor Probe (CSP）

針對(duì)>4對(duì)線纜的EUT，可采用圖5所示的CSP 9160A進(jìn)行測(cè)試。探頭的頻率范圍是9 kHz 到 250 MHz。

綜上所述，根據(jù)表1中標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試方法，我們可以清晰地總結(jié)出對(duì)應(yīng)的實(shí)現(xiàn)相關(guān)測(cè)試的具體選擇，如下：

表2：根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)具體實(shí)現(xiàn)測(cè)試的選擇

采用ISN實(shí)現(xiàn)傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試的設(shè)置如圖6所述：

圖6：采用ISN實(shí)現(xiàn)傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試的設(shè)置

采用電壓和電流探頭實(shí)現(xiàn)傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試的設(shè)置如圖7所述：

圖7：采用電壓和電流探頭實(shí)現(xiàn)傳導(dǎo)發(fā)射測(cè)試的設(shè)置

針對(duì)這些ISN, 電壓，電流探頭，也會(huì)提供相關(guān)的校準(zhǔn)夾具，校準(zhǔn)數(shù)據(jù)，這些都是實(shí)現(xiàn)校準(zhǔn)和測(cè)試所必須要用到的。

審核編輯 ：李倩