0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

蝕刻硅晶片和(PE)CVD腔室清洗的生命周期環(huán)境影響

華林科納半導(dǎo)體設(shè)備制造 ? 來源:華林科納半導(dǎo)體設(shè)備制造 ? 作者:華林科納半導(dǎo)體設(shè) ? 2022-05-31 16:27 ? 次閱讀

半導(dǎo)體和光伏產(chǎn)業(yè)使用氟化氣體來蝕刻硅晶片和(PE)CVD室清潔,期望的結(jié)果是由于F原子和其他活性物質(zhì),但是未分解的PFC(全氟)氣體的排放是不希望的,因為它們具有高的全球變暖效應(yīng)和高的大氣壽命。在這項研究中,我們?nèi)A林科納使用了全生命周期評估,以便比較不同技術(shù)的環(huán)境影響,以及指出改進(jìn)方案。

生命周期中的步驟如下:化合物的合成、運輸、在工廠中的分配(氣瓶的連接)、在工藝中的使用、消除以銷毀未反應(yīng)的氣體以及氣瓶的回收,每個步驟的排放可以是直接的(來自氟化氣體的排放)或間接的(來自能源使用)。

部分基于最佳猜測的結(jié)果表明,合成過程中氟化氣體的逃逸性排放、減排系統(tǒng)的停工期和未完全清空的鋼瓶的清潔主導(dǎo)了生命周期全球變暖效應(yīng),這意味著氣體本身的全球變暖效應(yīng)決定了對SF6的影響最大,F(xiàn)2被證明明顯優(yōu)于其它氟化化合物,因為它的全球變暖潛能值為零,且合成努力適中,最大限度地減少氟化氣體的使用和排放的可能改進(jìn)方案是(1)嚴(yán)格的氣瓶連接程序,(2)完全使用或可靠地消除瓶中的氣體,(3)回收或可靠地消除工藝中未使用的氣體,以及(4)工藝的終點檢測。

圖1顯示了給出總體二氧化碳當(dāng)量排放量的標(biāo)準(zhǔn)情景,它顯示了在現(xiàn)場GWP效應(yīng)以六氟化硫 > 四氟化碳 > 三氟化氮 >> F2的順序遞減,然而合成和氣瓶回收過程中未過濾排放的估計非常保守,而生產(chǎn)使用過程中未過濾排放的貢獻(xiàn)可以更精確地估計。

poYBAGKV0XeAW3e2AAAmoOzrecs965.jpg

因此,我們?nèi)A林科納準(zhǔn)備了第二種方案,在合成和氣缸返回過程中,對未過濾的排放物采用不太保守的假設(shè),為了預(yù)測未來的改進(jìn),應(yīng)該有一種趨勢,即在未來的生產(chǎn)中,通過對現(xiàn)有設(shè)施進(jìn)行改造,大幅增加全氟化碳的減排比例。然后,基于給出的流量數(shù)據(jù),將導(dǎo)出的值應(yīng)用于四氟化碳、三氟化氮和F2室清潔配方之間的比較。

使用標(biāo)準(zhǔn)假設(shè)的方案顯示了生產(chǎn)中使用的主要影響,這種影響是由于未過濾的釋放,主要有兩個原因:首先,相當(dāng)一部分工廠沒有配備PFC設(shè)備,其次,安裝的標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備有很長的停機時間,導(dǎo)致在停機期間PFC的滑動,由于這些數(shù)字是基于安裝經(jīng)驗,因此可以認(rèn)為它們具有代表性。關(guān)于化學(xué)合成和鋼瓶回收的數(shù)據(jù)質(zhì)量不太精確,所以標(biāo)準(zhǔn)方案是基于保守的數(shù)字,假設(shè)后兩種來源的排放量更多(增加了3倍),則可獲得下圖。

pYYBAGKV0XiAZlZnAAAo45YMUro711.jpg

據(jù)觀察,總排放量增加了20%,并且在生產(chǎn)使用過程中,未過濾的排放量仍然占主導(dǎo)地位,為了估計未來開發(fā)可能獲得的最低排放量,通過減少使用過程中的排放進(jìn)行了改進(jìn)。假設(shè)未減排的晶圓廠數(shù)量減少10倍,減排后未過濾的排放量減少5倍,而通過使用資源導(dǎo)致二氧化碳當(dāng)量排放量的減排努力增加5倍,其他保持不變,這一套假設(shè)肯定是樂觀的,它顯著降低了總排放量,并且改變了對總排放量的相對貢獻(xiàn)權(quán)重。

獨立于所有這些假設(shè),F(xiàn)2現(xiàn)場發(fā)電是迄今為止最生態(tài)的解決方案,除了基于kg CO2/kg PFC的考慮之外,使用氣體CF4、NF3和F2的清潔步驟也分別需要不同量(流量和時間)的相應(yīng)氣體,基于給出的數(shù)據(jù),進(jìn)行了以下比較,假設(shè)過度蝕刻是適度的(< 10%),或者使用終點檢測來避免工藝中更高的排放,在引用的研究中,氟/惰性氣體混合物取自瓶子,這一事實對于工藝結(jié)果和消耗并不重要,當(dāng)通過現(xiàn)場生產(chǎn)提供所討論的氟時,它也可以用于評估環(huán)境影響。

所用CF4和NF3的流速由工具制造商給出,F(xiàn)2混合物由調(diào)查人員優(yōu)化,評估中未包括的事實是,在這些環(huán)境和流量下,F(xiàn)2混合物顯示出最高的蝕刻速率,而CF4氣體最低,因此,如果適用,可以減少F2的流量,或者必須增加CF4的流量,以達(dá)到相同的性能結(jié)果??紤]到這一點,距離會更大,因為這種變化會偏離制造商的配方,所以它沒有在排放的基礎(chǔ)上增加,可以清楚地看到(對數(shù)標(biāo)度),在減排的基礎(chǔ)上,F(xiàn)2清潔比下一個最佳方案NF3清潔好20倍,如果不減少PFC,差距甚至?xí)?。盡管CF4作為PFC在kg的基礎(chǔ)上甚至略好于NF3,但是在引用的配方中所需的較高流量使得CF4清潔的總體GWP平衡比NF3清潔的差。這必須從一個應(yīng)用程序到另一個應(yīng)用程序逐例進(jìn)行檢查。

在引用的例子中使用的配方是典型的配方,在200mm晶片上使用舊設(shè)備,結(jié)果看起來很典型,但不一定與其他潛在的應(yīng)用相似,因此對于每個預(yù)期的應(yīng)用,必須檢查各個室清潔氣體的相對消耗,然而,F(xiàn)2的優(yōu)勢是巨大的,它將允許改進(jìn)大量的應(yīng)用。

盡管并非所有GWP排放量估算的基礎(chǔ)數(shù)據(jù)都準(zhǔn)確可用,但關(guān)于減排及其特性的最穩(wěn)定數(shù)據(jù)允許確定與太陽能和半導(dǎo)體行業(yè)使用全氟化碳相關(guān)的GWP排放量的主要部分,雖然SF6的影響最大,但長期使用的CF4的影響并不高于每公斤NF3的影響,只要在類似的過程中使用較少的NF3,那么NF3就有優(yōu)勢,正確設(shè)計具有高正常運行時間的工廠,并涵蓋工廠中的所有PFC源,是當(dāng)今顯著減少排放的關(guān)鍵,對于未來的下一步減少,必須審查合成和氣瓶返回,并配備更好的預(yù)防措施,防止未經(jīng)過濾的釋放,根據(jù)樂觀的假設(shè)對未來的預(yù)測顯示,盡管與今天相比大幅減少,但全氟化碳的使用會產(chǎn)生大量的GWP排放,F(xiàn)2現(xiàn)場發(fā)電優(yōu)于所有其他替代方案,但它不適合或至少不能替代當(dāng)今所有的應(yīng)用,F(xiàn)2現(xiàn)場發(fā)電廣泛替代傳統(tǒng)PFC應(yīng)用將對GWP減排產(chǎn)生最大效益。

審核編輯:符乾江

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請聯(lián)系本站處理。 舉報投訴
  • 半導(dǎo)體
    +關(guān)注

    關(guān)注

    334

    文章

    26860

    瀏覽量

    214356
  • CVD
    CVD
    +關(guān)注

    關(guān)注

    1

    文章

    72

    瀏覽量

    10709
收藏 人收藏

    評論

    相關(guān)推薦

    PLM助力企業(yè)實現(xiàn)產(chǎn)品全生命周期管理與智能化升級

    PLM系統(tǒng)管理產(chǎn)品全生命周期,整合設(shè)計、制造、維護(hù)等,提高生產(chǎn)效率,優(yōu)化供應(yīng)鏈和產(chǎn)品溯源。與固定資產(chǎn)管理和RFID技術(shù)結(jié)合,助力企業(yè)數(shù)字化轉(zhuǎn)型和精細(xì)化運營。
    的頭像 發(fā)表于 10-25 17:48 ?129次閱讀

    如何確保車規(guī)級芯片全生命周期的安全

    為保障質(zhì)量、安全性和可靠性,汽車行業(yè)始終如一地貫徹著嚴(yán)苛的標(biāo)準(zhǔn)。然而,這種對汽車安全性和可靠性的堅定追求,也催生了對預(yù)測性維護(hù)的迫切需要,即在芯片生命周期管理(SLM)中,使用先進(jìn)的監(jiān)測和分析技術(shù)來預(yù)測和預(yù)防半導(dǎo)體組件的故障。
    的頭像 發(fā)表于 08-12 10:47 ?349次閱讀
    如何確保車規(guī)級芯片全<b class='flag-5'>生命周期</b>的安全

    半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)背后的“守護(hù)者”:全生命周期測試設(shè)備解析

    半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)作為現(xiàn)代電子工業(yè)的核心,其產(chǎn)品的全生命周期測試對于確保產(chǎn)品質(zhì)量、提高生產(chǎn)效率和降低成本具有重要意義。半導(dǎo)體全生命周期測試設(shè)備涵蓋了從原材料檢測到最終產(chǎn)品測試的一系列設(shè)備,本文將對這些設(shè)備進(jìn)行詳細(xì)介紹。
    的頭像 發(fā)表于 08-10 10:05 ?314次閱讀
    半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)背后的“守護(hù)者”:全<b class='flag-5'>生命周期</b>測試設(shè)備解析

    半導(dǎo)體全生命周期測試:哪些設(shè)備在默默守護(hù)你的電子產(chǎn)品?

    半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)作為現(xiàn)代電子工業(yè)的核心,其產(chǎn)品的全生命周期測試對于確保產(chǎn)品質(zhì)量、提高生產(chǎn)效率和降低成本具有重要意義。半導(dǎo)體全生命周期測試設(shè)備涵蓋了從原材料檢測到最終產(chǎn)品測試的一系列設(shè)備,本文將對這些設(shè)備進(jìn)行詳細(xì)介紹。
    的頭像 發(fā)表于 07-01 09:38 ?296次閱讀
    半導(dǎo)體全<b class='flag-5'>生命周期</b>測試:哪些設(shè)備在默默守護(hù)你的電子產(chǎn)品?

    鴻蒙開發(fā)組件:DataAbility的生命周期

    應(yīng)用開發(fā)者可以根據(jù)業(yè)務(wù)場景實現(xiàn)data.js/data.ets中的生命周期相關(guān)接口。DataAbility生命周期接口說明見下表。
    的頭像 發(fā)表于 06-20 09:39 ?372次閱讀

    鴻蒙開發(fā):【PageAbility的生命周期

    PageAbility生命周期是PageAbility被調(diào)度到INACTIVE、ACTIVE、BACKGROUND等各個狀態(tài)的統(tǒng)稱。PageAbility生命周期流轉(zhuǎn)及狀態(tài)說明見如下圖1、表1所示。
    的頭像 發(fā)表于 06-17 10:05 ?651次閱讀
    鴻蒙開發(fā):【PageAbility的<b class='flag-5'>生命周期</b>】

    設(shè)備全生命周期管理流程有哪些?

    采購與安裝階段設(shè)備全生命周期管理系統(tǒng)對設(shè)備需求進(jìn)行分析,記錄設(shè)備信息,確保設(shè)備正確安裝并達(dá)到預(yù)期性能。維護(hù)保養(yǎng)階段制定科學(xué)維護(hù)計劃,定期檢查和保養(yǎng)。性能優(yōu)化與升級階段通過分析數(shù)據(jù)發(fā)現(xiàn)問題,優(yōu)化設(shè)備性能。
    的頭像 發(fā)表于 06-13 15:21 ?600次閱讀
    設(shè)備全<b class='flag-5'>生命周期</b>管理流程有哪些?

    鴻蒙Ability Kit(程序框架服務(wù))【UIAbility組件生命周期】實例

    本文檔主要描述了應(yīng)用運行過程中UIAbility和自定義組件的生命周期。對于UIAbility,描述了Create、Foreground、Background、Destroy四種生命周期。對于頁面
    的頭像 發(fā)表于 05-31 15:03 ?1003次閱讀
    鴻蒙Ability Kit(程序框架服務(wù))【UIAbility組件<b class='flag-5'>生命周期</b>】實例

    如何保護(hù)電子元器件以延長生命周期

    在電子電力領(lǐng)域,許多關(guān)鍵應(yīng)用要求設(shè)備必須運行很長一段時間,甚至幾十年。尤其是對于航空航天、國防、能源和醫(yī)療行業(yè)方面而言,為了保持設(shè)備正常運行,必須在其整個生命周期內(nèi)持續(xù)供應(yīng)組件。那么,如何保護(hù)電子
    的頭像 發(fā)表于 05-31 13:59 ?409次閱讀
    如何保護(hù)電子元器件以延長<b class='flag-5'>生命周期</b>

    Traveo II B-H中的SECURE和SECURE_WITH_DEBUG生命周期階段有何不同?

    Traveo II B-H 中的 SECURE 和 SECURE_WITH_DEBUG 生命周期階段有何不同?
    發(fā)表于 05-21 07:07

    HarmonyOS開發(fā)案例:【UIAbility和自定義組件生命周期

    本文檔主要描述了應(yīng)用運行過程中UIAbility和自定義組件的生命周期。對于UIAbility,描述了Create、Foreground、Background、Destroy四種生命周期。對于頁面
    的頭像 發(fā)表于 05-10 15:31 ?1122次閱讀
    HarmonyOS開發(fā)案例:【UIAbility和自定義組件<b class='flag-5'>生命周期</b>】

    什么是設(shè)備全生命周期管理系統(tǒng)?

    設(shè)備全生命周期管理系統(tǒng)是一款能夠?qū)υO(shè)備進(jìn)行全周期數(shù)字化管理的軟件平臺,它通過將設(shè)備信息電子化,使得設(shè)備的管理和監(jiān)督更加便捷。這個系統(tǒng)不僅涵蓋了設(shè)備的采購、使用、維修、報廢等各個階段,還能夠?qū)υO(shè)備
    的頭像 發(fā)表于 02-26 14:21 ?1066次閱讀
    什么是設(shè)備全<b class='flag-5'>生命周期</b>管理系統(tǒng)?

    半導(dǎo)體測試設(shè)備大盤點:全生命周期無死角檢測

    半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)作為現(xiàn)代電子工業(yè)的核心,其產(chǎn)品的全生命周期測試對于確保產(chǎn)品質(zhì)量、提高生產(chǎn)效率和降低成本具有重要意義。半導(dǎo)體全生命周期測試設(shè)備涵蓋了從原材料檢測到最終產(chǎn)品測試的一系列設(shè)備,本文將對這些設(shè)備進(jìn)行詳細(xì)介紹。
    的頭像 發(fā)表于 02-02 09:46 ?2281次閱讀
    半導(dǎo)體測試設(shè)備大盤點:全<b class='flag-5'>生命周期</b>無死角檢測

    IBM ELM—系統(tǒng)工程全生命周期管理平臺

    Engineering Lifecycle Management是IBM提供的工程全生命周期管理組合工具,幫助企業(yè)降低開發(fā)成本,應(yīng)對開發(fā)挑戰(zhàn)并更快地發(fā)展其流程和實踐。Engineering
    的頭像 發(fā)表于 11-22 18:27 ?1143次閱讀
    IBM ELM—系統(tǒng)工程全<b class='flag-5'>生命周期</b>管理平臺

    北方華創(chuàng)“半導(dǎo)體晶片處理及半導(dǎo)體處理設(shè)備”專利獲授權(quán)

    根據(jù)發(fā)明專利要點,該公司提供的一種半導(dǎo)體晶片處理及半導(dǎo)體處理設(shè)備;半導(dǎo)體晶片處理包括腔體
    的頭像 發(fā)表于 11-15 10:38 ?673次閱讀
    北方華創(chuàng)“半導(dǎo)體<b class='flag-5'>晶片</b>處理<b class='flag-5'>腔</b><b class='flag-5'>室</b>及半導(dǎo)體處理設(shè)備”專利獲授權(quán)