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從第一篇文章,我們已經(jīng)大致了解整個(gè)POE的組成,這篇文章我們主要學(xué)習(xí) IEEE 802.3af 標(biāo)準(zhǔn)的 受電端電路。主要簡(jiǎn)化電路如下:(電路中省略了芯片等,只為一個(gè)大概的電路圖)
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從電路可以看出主要分為三個(gè)部分,具體過程如下:
在分級(jí)階段,PSE將向PD施加15~20V的電壓,并通過測(cè)量電流大小來(lái)確定PD的特定級(jí)別。在此階段,PD的電源部分將被欠壓鎖定(UVLO)電路維持在無(wú)源狀態(tài),以便隔離開關(guān)級(jí),直至特征和分級(jí)階段完成。一旦分級(jí)完成后,PSE將會(huì)向PD提供全額工作電壓。 當(dāng)在一個(gè)網(wǎng)絡(luò)中布置 PSE供電端設(shè)備時(shí),POE以太網(wǎng)供電工作過程如下所示:
首先PSE會(huì)發(fā)送一個(gè)測(cè)試電壓給在網(wǎng)設(shè)備以探測(cè)受電設(shè)備中的一個(gè)24.9kΩ共模電阻。測(cè)試信號(hào)開始為2.5V,然后提升到10V,這將有助于補(bǔ)償Cat-5電纜自身阻抗帶來(lái)的損失。因?yàn)檫@種電纜最長(zhǎng)可達(dá)100m。如果PSE檢測(cè)到來(lái)自PD的適當(dāng)阻抗特征(24.9kΩ),它便會(huì)繼續(xù)提升電壓。如果檢測(cè)不到特征阻抗,PSE將不會(huì)為電纜加電。受電設(shè)備電路中的齊納二極管會(huì)保證系統(tǒng)其余部分不受測(cè)試信號(hào)的干擾。
PD端設(shè)備分類:
當(dāng)檢測(cè)到受電端設(shè)備PD之后,PSE將向PD施加15~20V的電壓,并通過測(cè)量電流大小來(lái)確定PD的特定級(jí)別。如果除了探測(cè)到第一級(jí)的電阻外沒發(fā)現(xiàn)其他分級(jí)電路,該設(shè)備被定義成零級(jí)別。在此階段,PD的電源部分將被欠壓鎖定(UVLO)電路維持在無(wú)源狀態(tài),以便隔離開關(guān)級(jí),直至特征和分級(jí)階段完成。
開始供電:
分級(jí)完成后,在一個(gè)可配置時(shí)間(一般小于15μs)的啟動(dòng)期內(nèi),PSE設(shè)備開始從低電壓向PD設(shè)備a)供電,直至提供48V的直流電源。b)供電:為PD設(shè)備提供穩(wěn)定可靠48V的直流電,滿足PD設(shè)備不越過12.95W的功率消耗。c)斷電:若PD設(shè)備從網(wǎng)絡(luò)上斷開時(shí),PSE就會(huì)快速地(一般在300~400ms之內(nèi))停止為PD設(shè)備供電,并重復(fù)檢測(cè)過程以檢測(cè)線纜的終端是否連接PD設(shè)備。
檢測(cè)
首先電壓進(jìn)來(lái),經(jīng)過R31(24.9kΩ),內(nèi)部應(yīng)該會(huì)有一個(gè)芯片用于檢測(cè)R31上面的電流,通過對(duì)電流的區(qū)分,來(lái)對(duì)輸出的電壓進(jìn)行分級(jí)。
分級(jí)
分級(jí)電路中,D1起到濾波作用,下面的RC電路為濾波作用,Q6的主要作用為保護(hù)作用,與Q6并聯(lián)的D5主要作用為保護(hù),防止通過的電壓過大,打壞Q11。往后R32,R33,R34并聯(lián)的主要作用為了增加下一級(jí)電路的電流,從而保證整體電路都能達(dá)到正常工作的目的。
供電
供電電路中,D4起到保護(hù)作用,由下面的D3,R44,C4,Q62共同作用,對(duì)信號(hào)進(jìn)行濾波,首先從低電壓開始供電,直到提供到48V的直流電源,若PSE和PD斷開,二極管關(guān)閉,PSE快速的停止為PD供電,并重新開始檢測(cè)過程,看終端是否連接了PD設(shè)備。整個(gè)電路并不是從供電電路往分級(jí)電路和檢測(cè)電路倒回去,而是經(jīng)過一個(gè)環(huán)路,重新由檢測(cè)電路到分級(jí)電路最后到供電電路。
第二個(gè)圖檢測(cè)電路會(huì)首先給出一個(gè)5V的電壓,.進(jìn)行檢測(cè),然后提升電壓直到檢測(cè)到24.9KΩ的阻抗特征,這個(gè)過程大概會(huì)持續(xù)小于500MS,進(jìn)而進(jìn)入到分級(jí)階段供電電壓為18V,持續(xù)50MS后,最后提供48V的供電電壓。
后續(xù)我們會(huì)對(duì)MPS的MP3924進(jìn)行一系列的測(cè)試,包括對(duì)于其DEMO板的測(cè)試。
?審核編輯:湯梓紅
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