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電容負(fù)荷對(duì)上升時(shí)間的影響

PRBTEK ? 來(lái)源:PRBTEK ? 作者:PRBTEK ? 2022-06-28 16:18 ? 次閱讀

隨著信號(hào)頻率或轉(zhuǎn)換速率提高,阻抗的電容成分變成主要因素。結(jié)果,電容負(fù)荷成為主要問(wèn)題。特別是電容負(fù)荷會(huì)影響快速轉(zhuǎn)換波形上的上升時(shí)間和下降時(shí)間及波形中高頻成分的幅度,那么示波器探頭對(duì)測(cè)量電容負(fù)荷有哪些影響呢?

對(duì)上升時(shí)間的影響

為說(shuō)明電容負(fù)荷,讓我們考慮一下上升時(shí)間非常快的脈沖發(fā)生器,如圖4.3所示,其中理想發(fā)生器輸出上的脈沖的上升時(shí)間為零(t r=0)。但是,信號(hào)源阻抗負(fù)荷相關(guān)的電阻和電容改變了這個(gè)零上升時(shí)間。

RC積分網(wǎng)絡(luò)一直產(chǎn)生2.2RC的10-90%上升時(shí)間。這從電容器的通用時(shí)間常數(shù)曲線中推導(dǎo)得出。取值2.2是C通過(guò)R充電,把脈沖幅度從10%提高到90%所需的RC時(shí)間。

在圖4.3的情況下,50歐姆和20 pF的信號(hào)源阻抗導(dǎo)致2.2 ns的脈沖上升時(shí)間。這個(gè)2.2RC值是脈沖可以擁有的最快上升時(shí)間。

pYYBAGK6vaaAFeirAAA_XL4BlOY021.png

4.3.脈沖發(fā)生器的上升時(shí)間取決于其RC負(fù)荷

在探測(cè)脈沖發(fā)生器的輸出時(shí),示波器探頭的輸入電容和電阻加到脈沖發(fā)生器的值中,如圖4.4所示,其中增加了10兆歐和11 pF的典型示波器探頭。由于示波器探頭10兆歐電阻要遠(yuǎn)遠(yuǎn)大于發(fā)生器的50歐姆電阻,因此示波器探頭的電阻可以忽略不計(jì)。但是,探頭的電容與負(fù)荷電容大體持平,直接增加得到31 pF的負(fù)荷電容。這提高了2.2RC的值,導(dǎo)致測(cè)得的上升時(shí)間提高到3.4 ns,而探測(cè)前的上升時(shí)間為2.2 ns。

通過(guò)使用示波器探頭規(guī)定電容與已知或估算源電容之比,可以估計(jì)探頭尖端電容對(duì)上升時(shí)間的影響。使用圖4.4中的值,可以估算上升時(shí)間的百分比變化如下:

C探頭尖端/C1 x 100%=11 pF/20 pF x 100%=55%

poYBAGK6vbeAa5HNAABRJaW7O3g571.png

4.4.探頭增加的電容提高了RC值,同時(shí)提高了測(cè)得的上升時(shí)間

從上面可以清楚地看出,探頭選擇、尤其是示波器探頭電容的選擇會(huì)影響上升時(shí)間測(cè)量。對(duì)無(wú)源探頭,一般來(lái)說(shuō),衰減比率越大,頭部電容越低。從表4.1中可以看出這一點(diǎn),其中介紹了各種無(wú)源探頭的部分探頭電容實(shí)例。

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表4.1.探頭尖端電容

在需要較小的頭部電容時(shí),應(yīng)使用有源FET輸入探頭。根據(jù)具體的示波器有源探頭模型,可以提供小于等于1 pF的頭部電容。

對(duì)幅度和相位的影響

除影響上升時(shí)間外,電容負(fù)荷還影響著波形中高頻成分的幅度和相位。對(duì)此要記住,所有波形都是由正弦曲線成分構(gòu)成的。50 MHz方波擁有超過(guò)100 MHz的有效諧波成分。所以不僅要考慮波形基礎(chǔ)頻率上的負(fù)荷效應(yīng),而且要考慮超過(guò)基礎(chǔ)頻率幾倍的頻率上的負(fù)荷效應(yīng)。

負(fù)荷取決于探頭尖端上的總阻抗。這稱為Z p,Z p由電阻成分R p和電抗成分X p組成。電抗成分主要是電容,但在探頭中可以設(shè)計(jì)電感單元,以部分偏移電容負(fù)荷。

一般來(lái)說(shuō),Z p會(huì)隨著頻率提高而下降。大多數(shù)探頭儀器手冊(cè)會(huì)編制探頭R p數(shù)據(jù),文檔中包括顯示Z p與頻率的關(guān)系曲線。圖4.5是普通有源探頭的實(shí)例。注意,1兆歐阻抗幅度固定在接近100 kHz。這通過(guò)認(rèn)真設(shè)計(jì)示波器探頭的相關(guān)電阻單元、電容單元和電感單元實(shí)現(xiàn)。

pYYBAGK6vdiATxdxAAB5dkCcpe0908.png

4.5.有源探頭典型的輸入阻抗隨頻率變化

圖4.6說(shuō)明了探頭曲線的另一個(gè)實(shí)例。在這種情況下,顯示了典型10兆歐無(wú)源探頭的Rp和X p與頻率關(guān)系。虛線(Xp)說(shuō)明了電容電抗隨頻率變化。注意,X p在DC上開(kāi)始下降,但R p直到100 kHz時(shí)才開(kāi)始明顯滾降。通過(guò)認(rèn)真設(shè)計(jì)相關(guān)R、C和L單元,再次可以偏移總負(fù)荷。

pYYBAGK6veWAIW4DAABjvAJbb6M917.png

4.6.典型10兆歐無(wú)源探頭的Xp和Rp與頻率關(guān)系

如果沒(méi)有得到示波器探頭的阻抗曲線,可以使用下述公式估算最壞情況下的負(fù)荷:

X p=1/2πfC

其中:

X p=電容電抗

f=頻率

C=探頭尖端電容

如,頭部電容為11 pF的標(biāo)準(zhǔn)無(wú)源10兆歐探頭的電容電抗(X p)在50 MHz時(shí)大約為290歐姆。根據(jù)信號(hào)源阻抗,這種負(fù)荷可能會(huì)給信號(hào)幅度帶來(lái)很大影響(通過(guò)簡(jiǎn)單的分路器動(dòng)作),其甚至可能會(huì)影響被探測(cè)的電路操作。

以上就是關(guān)于示波器探頭對(duì)測(cè)量電容負(fù)荷影響的相關(guān)介紹,如果使用中還有其他問(wèn)題,歡迎登陸普科電子科技

審核編輯:湯梓紅

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