eVue顯微鏡 概述
體驗數(shù)字成像的未來
eVue IV 數(shù)字成像系統(tǒng)集非凡的光學(xué)性能與更高的生產(chǎn)率于一身。
它的革命性多透鏡設(shè)計在光學(xué)分辨率、數(shù)字變焦和實時運動視頻之間提供了理想的平衡。該系統(tǒng)能以前所未有的速度和智能水平對器件進(jìn)行導(dǎo)航、觀察和測量,并支持 FormFactor 獨特的 Contact Intelligence?。
新型高速聚焦系統(tǒng)可提高工作速度,從而在極短的時間里提供高度準(zhǔn)確的測量數(shù)據(jù)。先進(jìn)的智能型透鏡支架能檢測無意識的機(jī)械接觸并改善自動化安全性。
eVue IV 數(shù)字顯微鏡為您的 Cascade 探針臺提供了完美的補(bǔ)充。
eVue顯微鏡 主要特征
多路CCD設(shè)計
簡便快捷的探針針尖導(dǎo)航
最大限度擴(kuò)大了視野
高放大倍數(shù)
長工作距離
Z 軸驅(qū)動器能夠在與載物臺相同的范圍內(nèi)工作
在 DUT 處于聚焦?fàn)顟B(tài)的情況下可實現(xiàn)較高的分離間隙
使獨特的 ScopeFollowMode 更加強(qiáng)大
實現(xiàn)了更快和更準(zhǔn)確的探針針尖放置
相應(yīng)特征的無陰影視圖
智能物鏡支架
-
自動地配置和優(yōu)化性能
-
簡易的透鏡更換
-
eVue 自動識別目標(biāo)參數(shù)并將它們傳遞至 Velox? 探針臺控制軟件
延長使用壽命
-
每天 24 小時、每周 7 天的不間斷運行
-
增加了平均故障間隔時間 (MTBF)
-
無需內(nèi)部維護(hù)
智能碰撞檢測系統(tǒng)
-
保護(hù)測量設(shè)置
-
防止透鏡和探針之間的無意識機(jī)械接觸
-
增強(qiáng)了自動化安全性
審核編輯:符乾江
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