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芯片設(shè)計(jì)之門級仿真

倩倩 ? 來源:《IC設(shè)計(jì)與方法》 ? 作者:《IC設(shè)計(jì)與方法》 ? 2022-08-15 14:50 ? 次閱讀

經(jīng)過邏輯綜合過程后,Verilog代碼被轉(zhuǎn)化成門級網(wǎng)單,轉(zhuǎn)化后的門級網(wǎng)單需要被驗(yàn)證與Verilog代碼功能是否一致,需要進(jìn)行門級仿真。

Verilog代碼的仿真可以被稱為功能仿真,可以驗(yàn)證Verilog代碼功能與設(shè)計(jì)需求是否一致。

驗(yàn)證Verilog代碼過程中需要編寫測試平臺文件tb.vhd,該平臺文件仍可以在門級仿真中使用。門級仿真所用的仿真器(仿真工具,如

Modelsim)與功能仿真相同,門級仿真還需要邏輯綜合保存的文件:門級網(wǎng)表文件和時(shí)序反標(biāo)文件(時(shí)序相關(guān)信息),門級網(wǎng)表文件所用的底層電路(如:與門)的特性信息在庫文件中,庫文件由芯片制造公司提供,各個(gè)芯片制造公司的庫文件因其元器件性能的差異而不同。

綜上,門級仿真基于測試平臺文件、門級網(wǎng)表文件、時(shí)序反標(biāo)文件、庫文件,可以進(jìn)行更精確的仿真。設(shè)計(jì)人員除了可以通過門級仿真驗(yàn)證門級網(wǎng)單與Verilog代碼功能是否一致,還可以檢查門級電路的時(shí)序是否正確。

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圖片來源:學(xué)堂在線《IC設(shè)計(jì)與方法》

門級仿真的過程與功能仿真過程相類似,不同之處在于需要將庫文件重新編譯,庫文件編譯結(jié)束后,依次編譯門級網(wǎng)單、測試平臺、時(shí)序反標(biāo)文件,并編寫時(shí)序反標(biāo)的命令文件。

如果仿真工具采用Modelsim,時(shí)序反標(biāo)文件可以內(nèi)嵌在Modelsim工具中,不需編譯。如果采用NC仿真工具,還需要進(jìn)行Elborate(個(gè)人理解Elborate步驟是進(jìn)行精細(xì)化的設(shè)定)。

最后進(jìn)行仿真并檢查結(jié)果。

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圖片來源:學(xué)堂在線《IC設(shè)計(jì)與方法》

編譯庫文件時(shí),需將底層門級電路單獨(dú)建立庫,而不能將庫文件混入到芯片設(shè)計(jì)代碼中。這是因?yàn)閹煳募杏袛?shù)百個(gè)元器件,混入芯片設(shè)計(jì)代碼中,難以定位由設(shè)計(jì)人員自主設(shè)計(jì)的部分。

因?yàn)樵O(shè)計(jì)方案最終確定前需要反復(fù)修改,所以編譯過程會反復(fù)進(jìn)行,庫文件也需要重新編譯,需要及時(shí)清理過去編譯的內(nèi)容。

因?yàn)殚T級網(wǎng)單的仿真步長(根據(jù)網(wǎng)絡(luò)資料理解:連續(xù)系統(tǒng)仿真中設(shè)置的最小時(shí)間間隔)和庫文件的仿真步長不一定相同,需要設(shè)置統(tǒng)一的仿真步長。底層單元庫(庫文件)仿真步長通常設(shè)置在ps(皮秒,1s=10-12s)量級,設(shè)計(jì)人員編寫的芯片代碼仿真步長通常設(shè)置在ns(納秒,1ns=10-9s)量級。

進(jìn)行門級仿真前,時(shí)序反標(biāo)信息需要標(biāo)注到門級網(wǎng)單中。標(biāo)注方式采用Verilog代碼中$sdfannotate系統(tǒng)任務(wù),$sdfannotate系統(tǒng)任務(wù)可以向仿真工具輸入門級網(wǎng)單的時(shí)序信息。

下圖是門級仿真的結(jié)果。偏上的圖片中,延時(shí)顯示的是1ns,長于門元器件的延時(shí),意味著時(shí)序反標(biāo)可能不正確。當(dāng)時(shí)序反標(biāo)不正確時(shí),庫文件會采用默認(rèn)延時(shí),即該庫文件的默認(rèn)延時(shí)是1ns。時(shí)序反標(biāo)不正確的原因可能是反標(biāo)文件名錯(cuò)誤、反標(biāo)流程錯(cuò)誤等。

偏下的圖片是反標(biāo)正確的結(jié)果,延時(shí)在0.1ns左右。正常情況下,下圖所映射的電路輸出應(yīng)該從3直接變?yōu)?,但實(shí)際輸出由3變?yōu)?,再變?yōu)?,再變?yōu)?,所對應(yīng)的波形會顯示出毛刺。如果該輸出只作為狀態(tài)信號(只在信號穩(wěn)定時(shí)作為輸入)或輸出指示(如指示發(fā)光二極管發(fā)光),沒有什么影響,其他情況需要考慮毛刺的影響。

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圖片來源:學(xué)堂在線《IC設(shè)計(jì)與方法》

審核編輯 :李倩

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原文標(biāo)題:芯片設(shè)計(jì)相關(guān)介紹(26)——門級仿真

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