凱智通DDR DIMM雙面彈測(cè)試治具的5大優(yōu)點(diǎn)

DDR4測(cè)試進(jìn)行對(duì)比：

凱智通最新發(fā)布DDR DIMM雙面彈測(cè)試治具適用于DDR?/5測(cè)試的，與之前常用的導(dǎo)電膠，從材質(zhì)還是工作原理都各不相同，我們今天就來(lái)比較一下這兩款的區(qū)別。

圖1 DDR4*8導(dǎo)電膠測(cè)試座

圖2 DDR4*16 DIMM雙面彈測(cè)試治具

凱智通DDR DIMM雙面測(cè)試治具的5大優(yōu)點(diǎn)

1.壽命長(zhǎng)

采用臺(tái)灣著名廠家生產(chǎn)的內(nèi)存顆粒測(cè)試專用PCB，金手指，IC焊盤鍍金層是普通PCB的5倍，保證測(cè)試治具有更好的導(dǎo)通和耐磨性，相比同類產(chǎn)品具有更好的超頻性能及機(jī)械壽命。

2.測(cè)試穩(wěn)定，不傷錫球

測(cè)試穩(wěn)定性：采用專利的彈片設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu)，彈片和錫球球面接觸，減少對(duì)錫球的損壞，同時(shí)增加與錫球接觸面，測(cè)試更加穩(wěn)定。

3.操作方便

采用手動(dòng)翻蓋滾軸式結(jié)構(gòu)，操作省力方便，相比同類產(chǎn)品減少磨損，達(dá)到更高的機(jī)械壽命，同時(shí)限位框采用吸鐵固定，更換更加簡(jiǎn)便。

4.效率高

采用帶定位孔內(nèi)存顆粒測(cè)試專用PCB。探針版與PCB孔精確定位，保證探針與PCB精確定位，如有損壞用戶可自行更換自行更換維修，簡(jiǎn)單方便，減少返廠維修為客戶爭(zhēng)取寶貴時(shí)間。

5.測(cè)試頻率高

雙面彈接觸彈片較短（1.9mm），減少芯片與原PCBA的信號(hào)傳輸距離，支持高頻測(cè)試；

雙面彈膠芯/導(dǎo)電膠/探針性能對(duì)比

圖3 對(duì)比圖

審核編輯 黃昊宇