芯片解密失敗的原因很多,有人為因素,也有客觀環(huán)境因素的影響等等,下面是集中常見的造成單片機(jī)失敗的原因:
1.DECAP存在失敗的可能(這種占解密失敗原因的絕大部分):
A.過腐蝕,PAD腐蝕壞,外部不能讀出程序
B.芯片流片工藝不好,DECAP的時(shí)候容易腐蝕PASSVATION表層(鈍化層),使管芯實(shí)效,外部無法讀出程序
C.開蓋的時(shí)候把PIN腳氧化(酸弄到管腳上了)
D.無意中弄斷AL線
E.單片機(jī)機(jī)使用特殊封裝材料,無法和酸反應(yīng)
F.管芯特殊封裝,不在芯片正中位置,極容易開壞(下圖是MCU由2個(gè)管芯組成,通常稱為MCM)
E:芯片封裝的時(shí)候有雜質(zhì),無法進(jìn)行化學(xué)反應(yīng)。
2.FIB存在失敗的可能:
A:芯片流片工藝小,位子沒有找正確
B:FIB連線過長,離子注入失效
C:離子注入強(qiáng)度沒有控制好
D:FIB設(shè)備存在問題
E:某些芯片破解,需要在同一小區(qū)域做多項(xiàng)FIB,或者在同一時(shí)間內(nèi),做多項(xiàng)FIB,那么就容易FIB出現(xiàn)問題。
審核編輯 黃昊宇
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