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電子元器件真?zhèn)螜z測(cè)案例展示

新陽(yáng)檢測(cè)中心 ? 來(lái)源:新陽(yáng)檢測(cè)中心 ? 作者:新陽(yáng)檢測(cè)中心 ? 2023-10-20 16:25 ? 次閱讀

引 言

說(shuō)到芯片真?zhèn)舞b別,這一直是困擾市場(chǎng)許久的問(wèn)題。其實(shí)不只是芯片,電子元器件的假冒偽造問(wèn)題同樣嚴(yán)峻。鑒于此形勢(shì),本篇文章以實(shí)際案例——鑒別芯片入手,分享了面對(duì)電子元器件的真?zhèn)舞b別,我們可以采取哪些檢測(cè)手段。

主要對(duì)象

電子元器件(SMD、分立器件、IC

檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)

AS6081 (Aerospace standard) 電子元器件欺詐/假冒檢測(cè)/評(píng)估方法

GJB 548B-2005 微電子器件試驗(yàn)方法和程序

應(yīng)用范圍

電子元器件選型鑒別

市場(chǎng)采購(gòu)料真?zhèn)?可靠性驗(yàn)證

電子物料失效排查

測(cè)試項(xiàng)目

AS6081檢測(cè)項(xiàng)目

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案例分享

芯片真?zhèn)舞b別檢測(cè)

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說(shuō)明:正常品外觀圖。

外部目檢

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說(shuō)明:外觀上存在明顯異常,有異物附著、印字模糊現(xiàn)象存在;芯片樣品印字標(biāo)記批號(hào)、日期與包裝標(biāo)簽上的不一致。

X-RAY

正常品X-RAY圖示

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異常品X-RAY圖示

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線距不同

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飛線交叉

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飛線錯(cuò)位

說(shuō)明:芯片內(nèi)部結(jié)構(gòu)不一致。內(nèi)部飛線狀態(tài)與鍵合點(diǎn)位置表現(xiàn)異常。

標(biāo)記和翻新的檢查

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說(shuō)明:經(jīng)過(guò)異丙醇+礦物酒精溶劑試驗(yàn)后,擦拭棉棒變黑,印字無(wú)明顯變化。

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說(shuō)明:經(jīng)過(guò)丙酮溶劑試驗(yàn)后,擦拭棉棒變黑,表面印字模糊。

開(kāi)封內(nèi)部檢查

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說(shuō)明:晶圓表面有品牌Logo及印字標(biāo)記,內(nèi)部鍵合線結(jié)構(gòu)存在明顯差異。

檢測(cè)結(jié)果

基于檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)、芯片規(guī)格書(shū)判斷,該樣品芯片不符合正品特征。綜合判斷該材料為翻新品。

騰昕檢測(cè)有話說(shuō):

本篇文章介紹了電子元器件真?zhèn)螜z測(cè)。如需轉(zhuǎn)載本篇文章,后臺(tái)私信獲取授權(quán)即可。若未經(jīng)授權(quán)轉(zhuǎn)載,我們將依法維護(hù)法定權(quán)利。原創(chuàng)不易,感謝支持!

騰昕檢測(cè)將繼續(xù)分享關(guān)于PCB/PCBA、汽車(chē)電子及相關(guān)電子元器件失效分析、可靠性評(píng)價(jià)、真?zhèn)舞b別等方面的專業(yè)知識(shí),點(diǎn)擊關(guān)注獲取更多知識(shí)分享與資訊信息。

審核編輯 黃宇

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