高速電路中串?dāng)_引發(fā)的損耗問題

編者注：本文內(nèi)容看似簡單，但是簡單結(jié)果的背后卻隱藏著很多深層次的問題，歡迎大家給出你們的答案。此類問題在多個行業(yè)產(chǎn)品當(dāng)中常常會出現(xiàn)。

隨著信號速率的提升，以及小型化產(chǎn)品的發(fā)展趨勢，如何減小串?dāng)_變得越來越棘手。眾所周知，串?dāng)_與很多因素有關(guān)系，比如傳輸線之間的間距，傳輸線耦合的長度，攻擊信號的上升時間，阻抗不連續(xù)等等。因?yàn)榇當(dāng)_問題比較復(fù)雜，要是解決不好，還有可能會影響到其它信號完整性的問題。

今天給大家分享一個串?dāng)_引發(fā)損耗變大的問題。這類問題經(jīng)常出現(xiàn)在小型化的產(chǎn)品、連接器、線纜等產(chǎn)品中。

首先在ADS原理圖中搭建一個仿真電路，掃描仿真間距為11mil和60mil兩種情況。

運(yùn)行仿真之后查看插入損耗的結(jié)果：

Disable電路圖上的R1和R2：

仿真如下圖所示：

從結(jié)果上分析來看，去掉電阻后，距離為60mil時，結(jié)果幾乎沒有變化，但是間距為11mil時，結(jié)果卻完全不一致，產(chǎn)生了三個非常大的諧振點(diǎn)。這就足以導(dǎo)致產(chǎn)品不滿足設(shè)計(jì)的要求。

從上面仿真結(jié)果中，我們可以看到解決這個問題有兩個非常便捷常用的方式，要么拉大距離、要么做好端接。大家可以相互討論下有沒有其它的解決方案呢？答案肯定是有的，大家可以多多討論下。

審核編輯：湯梓紅