通過(guò)靜態(tài)時(shí)序分析驗(yàn)證設(shè)計(jì)的正確性

靜態(tài)時(shí)序分析介紹

傳統(tǒng)的電路設(shè)計(jì)分析方法是僅僅采用動(dòng)態(tài)仿真的方法來(lái)驗(yàn)證設(shè)計(jì)的正確性。隨著集成電路的發(fā)展，這一驗(yàn)證方法就成為了大規(guī)模復(fù)雜的設(shè)計(jì)驗(yàn)證時(shí)的瓶頸。

相對(duì)于動(dòng)態(tài)仿真方法，靜態(tài)時(shí)序分析方法要快很多，而且它能夠驗(yàn)證所有的門級(jí)電路設(shè)計(jì)的時(shí)序關(guān)系。

靜態(tài)時(shí)序分析最大的特點(diǎn)是不需要加入輸入測(cè)試向量，每一個(gè)時(shí)序路徑都自動(dòng)被檢測(cè)到。

靜態(tài)時(shí)序分析工具主要對(duì)設(shè)計(jì)電路中以下路徑進(jìn)行分析：

從原始輸入端到設(shè)計(jì)電路中的所有觸發(fā)器；

從觸發(fā)器到觸發(fā)器；

從觸發(fā)器到設(shè)計(jì)電路的原始輸出端口；

從設(shè)計(jì)電路的原始輸入端口到原始輸出端口。

時(shí)序路徑（Timing Path）

路徑1：從設(shè)計(jì)電路的原始輸入端口A到觸發(fā)器的數(shù)據(jù)端口D。

路徑2：從觸發(fā)器的CLK端到觸發(fā)器的數(shù)據(jù)輸入端口D。

路徑3：從觸發(fā)器的CLK端到設(shè)計(jì)電路的原始輸出端口Z。

路徑4：從設(shè)計(jì)電路的原始輸入端口A到設(shè)計(jì)電路的原始輸出端口Z。

觸發(fā)器的建立時(shí)間（Setup Time）：

指的是時(shí)鐘信號(hào)變化之前數(shù)據(jù)保持不變的時(shí)間

觸發(fā)器的保持時(shí)間（Hold Time）：

指的是時(shí)鐘信號(hào)變化之后數(shù)據(jù)保持不變的時(shí)間

時(shí)間裕量（Slack）

Slack是指信號(hào)在時(shí)序路徑上要求的時(shí)間和實(shí)際花費(fèi)的時(shí)間之差。

時(shí)鐘偏斜（Clock Skew）

時(shí)鐘偏斜是指從時(shí)鐘定義點(diǎn)到不同觸發(fā)器時(shí)鐘引腳的延時(shí)差。在可綜合的同步設(shè)計(jì)電路中，在一個(gè)時(shí)鐘沿第一個(gè)觸發(fā)器放出數(shù)據(jù)，此數(shù)據(jù)在另一個(gè)時(shí)鐘沿（通常是接下來(lái)的那個(gè)時(shí)鐘沿）被第二個(gè)觸發(fā)器接收到。如果這兩個(gè)時(shí)鐘沿（發(fā)出數(shù)據(jù)的時(shí)鐘沿和接收數(shù)據(jù)的時(shí)鐘沿）是同一個(gè)時(shí)鐘源放出的，則在理想狀態(tài)下，兩個(gè)時(shí)鐘沿相差一個(gè)時(shí)鐘周期。但是由于兩個(gè)觸發(fā)器的時(shí)鐘路徑的不同，路徑上的延時(shí)會(huì)有一定的差別，接收數(shù)據(jù)的時(shí)鐘沿可能早到或晚到，這樣的話就會(huì)產(chǎn)生時(shí)鐘偏斜。

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綜合與時(shí)序分析

PTPX功耗分析 | Average Power Analysis

PTPX功耗分析 | Peak Power Analysis

實(shí)例：用PrimeTime進(jìn)行時(shí)序分析

Primetime，縮寫為PT，是一個(gè)獨(dú)立的STA工具。它不僅能夠在設(shè)計(jì)電路所要求的約束條件下檢查時(shí)序，還能對(duì)設(shè)計(jì)電路進(jìn)行全面的靜態(tài)時(shí)序分析。

（1）讀取設(shè)計(jì)電路數(shù)據(jù)

把電路的設(shè)計(jì)代碼文件讀入PT中，以便PT進(jìn)行分析。值得注意的是，PT做靜態(tài)時(shí)序分析的時(shí)候只能讀映射過(guò)的文件。

read_db-netlist_only.db#dbformat
read_verilog.sv#verilogformat
read_vhdl.svhd#vhdlformat
read_edif.edf#EDIFformat

（2）創(chuàng)建設(shè)計(jì)電路的約束條件

對(duì)設(shè)計(jì)電路設(shè)置約束條件，這樣才能得到接近實(shí)際情況的分析結(jié)果。通常需要設(shè)置相關(guān)的時(shí)鐘信號(hào)和輸入/輸出延時(shí)

create_clock-period40-waveform{020}CLK
set_clock_latency-source0.2CLK
set_clock_uncertainty-setup0.5-hold0.5CLK
set_dont_touch_networkCLK
set_ideal_networkCLK

（3）指定環(huán)境分析條件

除了一些語(yǔ)法上輕微的差別，PT的環(huán)境的設(shè)置命令與DC一致。

下面是常用的設(shè)置環(huán)境的命令：

set_wire_load_model-name
set_wire_load_mode
set_operating_conditions
set_load50［all_outputs］
set_input_delay10.0-clock［all_inputs］
set_output_delay10.0-clock［all_outputs］

（4）進(jìn)行靜態(tài)時(shí)序分析

report_timing：顯示時(shí)序路徑信息。
report_timing -delay max -from a -to z2
report_timing -delay min -from a -to z2

上述第一條命令用于建立時(shí)間沖突的檢查，第二條命令用于保持時(shí)間沖突的檢查。

report_constraint：顯示設(shè)計(jì)電路的相關(guān)約束信息。
report_constraint -all_violators

檢查時(shí)序沖突和修正沖突

由于靜態(tài)時(shí)序工具把整個(gè)設(shè)計(jì)電路打散成時(shí)序路徑，分析不同路徑的時(shí)序信息，得到建立時(shí)間和保持時(shí)間的計(jì)算結(jié)果。而靜態(tài)時(shí)序分析的精髓就在于判斷和分析這兩個(gè)參數(shù)的結(jié)果。

消除建立、保持時(shí)間的沖突方法

消除建立時(shí)間的沖突方法如下：

加強(qiáng)約束條件重新綜合設(shè)計(jì)電路或?qū)Ξa(chǎn)生沖突的時(shí)序路徑進(jìn)行進(jìn)一步的優(yōu)化；

通過(guò)做ECO（Engineering Change Order）來(lái)消除沖突；

如果以上方法都不能產(chǎn)生效果，那可能只好通過(guò)修改RTL代碼來(lái)實(shí)現(xiàn)。

消除保持時(shí)間沖突方法如下：

絕大多數(shù)的布局布線工具都具有自動(dòng)消除保持時(shí)間沖突的功能，可以通過(guò)這些工具來(lái)實(shí)現(xiàn)；

如果工具不能實(shí)現(xiàn)的話，可以在產(chǎn)生沖突的時(shí)序路徑上通過(guò)ECO添加緩沖器邏輯，使得數(shù)據(jù)到達(dá)的時(shí)間符合保持時(shí)間的檢查，以此消除沖突。

統(tǒng)計(jì)靜態(tài)時(shí)序分析

靜態(tài)時(shí)序分析很久以來(lái)都被看作是百萬(wàn)門級(jí)芯片時(shí)序分析的基本方法及設(shè)計(jì)完成的檢驗(yàn)。然而，隨著深亞微米技術(shù)進(jìn)一步下降到90 nm及其以下的線寬，設(shè)計(jì)者在進(jìn)行靜態(tài)時(shí)序分析時(shí)面臨著太多的不確定性。

用統(tǒng)計(jì)表態(tài)時(shí)序分析（SSTA，Statistical Static Timing Analysis）的方法有可能估計(jì)出許多不確定的現(xiàn)象，幫助設(shè)計(jì)者精調(diào)設(shè)計(jì)，減少不必要的過(guò)度設(shè)計(jì)，使得設(shè)計(jì)更可靠，進(jìn)而提高良率。

傳統(tǒng)的時(shí)序分析的局限

制程變異的來(lái)源有很多，主要包括每批晶圓的差異、晶圓與晶圓間的差異、裸片間的差異，以及裸片上的差異等。

將電路置于最好條件（Best Case）、最壞條件（Worst Case）等多種情況下進(jìn)行分析，但是對(duì)于晶片上的制程變異卻無(wú)能為力。因?yàn)樵谧顗臈l件分析時(shí)，靜態(tài)時(shí)序分析總是假定一個(gè)晶圓上的電路同時(shí)都處于最壞情況下，而實(shí)際上，同一個(gè)晶圓上的電路不可能同時(shí)都處于最壞的條件下（這可由分析版圖或者工藝得來(lái)）。

在一個(gè)芯片上不同位置上畫了兩個(gè)完全一樣的MOS管，制造出來(lái)后，兩只MOS管的性能很難保證完全一樣。當(dāng)工藝在90 nm以下時(shí)，誤差會(huì)高達(dá)20％～30％。傳統(tǒng)式的靜態(tài)時(shí)序分析是將芯片上所有器件按同一個(gè)工藝及工作條件下的時(shí)間路徑上的延時(shí)加起來(lái)，因而傳統(tǒng)式的靜態(tài)時(shí)序分析對(duì)于延遲的估計(jì)過(guò)于悲觀。

統(tǒng)計(jì)靜態(tài)時(shí)序分析的概念

在靜態(tài)時(shí)序分析中，信號(hào)的到達(dá)時(shí)間和門延遲都是確定的數(shù)值。

在統(tǒng)計(jì)靜態(tài)時(shí)序分析中，當(dāng)工藝參數(shù)的偏差用隨機(jī)變量建模后，作為工藝參數(shù)函數(shù)的門延遲、互連線延遲和門輸入端信號(hào)的到達(dá)時(shí)間自然也需要用帶有概率分布的隨機(jī)變量來(lái)描述。

統(tǒng)計(jì)靜態(tài)時(shí)序分析的步驟

首先，要有用于統(tǒng)計(jì)靜態(tài)時(shí)序分析的標(biāo)準(zhǔn)單元庫(kù)。

通過(guò)統(tǒng)計(jì)靜態(tài)時(shí)序分析，找出合適的時(shí)序窗（Timing Window），在此窗中，良率可以達(dá)到最高。

總之，統(tǒng)計(jì)靜態(tài)時(shí)序分析通過(guò)對(duì)制程變異進(jìn)行恰當(dāng)?shù)慕?，更好地解決了延遲的不確定性問(wèn)題，避免了過(guò)度的余量，提高了設(shè)計(jì)的性能及制造的良品率。

審核編輯：郭婷