01—背景
某個(gè)多功能芯片Spec要求是使用+/-5V供電,而內(nèi)部部分單元需要用到一些特殊電壓的供電,因此需要設(shè)計(jì)一個(gè)LDO,由于是GaAs pHEMT工藝,只有N-Channel型晶體管,再加之作者主要設(shè)計(jì)MMIC,本來也沒有什么電源的理論基礎(chǔ),所以設(shè)計(jì)不了結(jié)構(gòu)很復(fù)雜的LDO。第一版時(shí),僅僅使用了電阻分壓+源極跟隨器的方式,非常簡單,測試功能也是正常的。
但是擔(dān)心容易受高低溫、工藝波動(dòng)等因素影響,所以第二版時(shí),就異想天開地改了個(gè)結(jié)構(gòu),增加了負(fù)反饋,自以為能改善電源性能:
電源一共有三路,其中+5V生成了一路+1V/5mA輸出,-5V生成了一路-4V/15mA和一路-3V/5mA輸出。完整的原理圖如下圖所示,排列是從上到下依次+5V,GND,-5V,打叉的是濾波電容(實(shí)際上沒有加):
02—問題
測試件單獨(dú)加-5V時(shí),電壓電流都在正常范圍內(nèi),單加+5V時(shí),電流1~2mA,好像也沒啥問題。如果同時(shí)加上±5V,雖然電流也在正常范圍內(nèi),但如果用萬用表筆測GND和-3V網(wǎng)絡(luò),會(huì)發(fā)現(xiàn)電壓劇烈波動(dòng),同時(shí)-5V的供電電流也在8~18mA范圍內(nèi)波動(dòng)。
(左)+5V/2mA(中)-5V10mA(右)無關(guān)
開始以為是萬用表表筆引入了外界干擾,直到后來用示波器看到了+5V/GND/+1V的網(wǎng)絡(luò)上存在明顯的振蕩波形!例如下圖是某一次在測試件的GND上看到的波形,大概有150mVpp@24.7MHz:
經(jīng)過反復(fù)測試確認(rèn),外接電源用的導(dǎo)線不同方式擺放或纏繞時(shí),振蕩幅度或者頻率會(huì)變化,由于測試板做得很粗糙,僅僅是將所有IO PAD鍵合到PCB上,外圍完全沒有放置任何電源濾波電容,所以懷疑與此相關(guān),于是給PCB上的±5V對地分別添加了一個(gè)10uF的電解電容,振蕩消失。
03—分析
事后,開始在網(wǎng)上瘋狂搜索LDO穩(wěn)定性相關(guān)的文章,找教程學(xué)習(xí)環(huán)路穩(wěn)定性相關(guān)的仿真,在ADS中使用AC仿真,在反饋路徑中注入擾動(dòng)信號(hào),掃頻分析得到環(huán)路的增益和相位特性,即Bode圖
上圖中的元件參數(shù)和下面的仿真結(jié)果都是通過仿真嘗試得到的,使結(jié)果與實(shí)際情況接近。其中電感是模擬的外接電纜、PCB走線、鍵合線在內(nèi)的寄生電感。
對數(shù)掃頻時(shí)的Bode圖如下,增益0dB、相位0(180)deg剛好在25.7MHz附近:
如果通過Bode圖看增益和相位還不是很直觀,那么下面這個(gè)輸出電壓隨掃頻信號(hào)的變化就非常明顯了:25.7MHz振蕩了。
下面兩張圖與上面基本一致,只是將頻率由對數(shù)坐標(biāo)軸改為線性坐標(biāo)軸,便于觀察幾十MHz附近的變化:
去掉環(huán)路仿真的掃頻信號(hào),直接進(jìn)行Transient仿真,可以看到振蕩波形及其頻譜分布:
在Virtuoso環(huán)境中搭建testbench,在輸出晶體管的柵極上插入了一個(gè)電流探頭IPRB0:
使用ADE中的STB仿真計(jì)算環(huán)路的頻率響應(yīng),它可以自動(dòng)判斷穿越頻率、增益裕度和相位裕度。
由于Virtuoso的PDK是沒有仿真用的電路模型,這里的模型是我大致參考原ADS PDK的晶體管參數(shù)自定義的VerilogA模型,但是也能得到相似的仿真結(jié)果。下圖是無+5V電源濾波電容時(shí)的閉環(huán)特性,顯然28MHz附近發(fā)生了振蕩:
電源輸入增加濾波電容后:
04—結(jié)論
結(jié)論就是吃了沒有電源基礎(chǔ)知識(shí)的虧,LDO還是有非常深的門道的,業(yè)余選手要謹(jǐn)慎踩坑……
這里有一個(gè)值得思考的問題就是:如果你當(dāng)前的設(shè)計(jì)不完美但能工作正常,你是否會(huì)考慮一個(gè)未知的改進(jìn)方案?
審核編輯:湯梓紅
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原文標(biāo)題:經(jīng)驗(yàn)分享——我把LDO做成了OSC
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