2022年,集成電路半導(dǎo)體行業(yè)最熱的頭條是“EDA被全面封鎖”。如何突破EDA封鎖,成為行業(yè)發(fā)展的關(guān)鍵詞,也是群體焦慮。在全球市場,有人比喻EDA是“芯片之母”,如果沒有了芯片,工業(yè)發(fā)展和社會進步將處處受制,EDA的重要性也上升到了戰(zhàn)略性高度。盡管國際封鎖形勢嚴峻,但睿智的中國科技人擅于把危機化為機會,從《加快自動研發(fā)應(yīng)用,讓工業(yè)軟件不再卡脖子》,到《破解科技卡脖子要打好三張牌》,即一要打好“基礎(chǔ)牌”,提升基礎(chǔ)創(chuàng)新能力;二要打好“應(yīng)用牌”,加強對高精尖國貨的應(yīng)用;三是要打好“人才牌”,讓人才留得住、用得上、有發(fā)展……,各種政策、舉措和實際行動,處處彰顯了我們中國科技的發(fā)展韌性。
我們EDA探索頻道,今天迎來了第9期的精彩內(nèi)容——控制閾值電壓,下面就跟著小編一起來開啟今天的探索之旅吧~
MOSFET的最重要參數(shù)之一便是閾值電壓,理想的閾值電壓由以下公式給出。
然而,當我們考慮到固定氧化物電荷的影響和功函數(shù)的差異時,就會出現(xiàn)一個平帶電壓移動。
此外,襯底偏壓也能影響閾值電壓。當在襯底和源極之間施加反向偏壓時,耗盡區(qū)被加寬,實現(xiàn)反轉(zhuǎn)所需的閾值電壓也必須增加,以適應(yīng)更大的Qsc。
考慮到這些因素,得到的閾值電壓表達式為:
圖:NMOS與PMOS管在不同柵極條件下的計算結(jié)果。柵氧化層為5nm, VBS=0, Qf=0
引自S.M.Sze“SemiconductorDevicesPhysicsandTechnology”
上圖是一個計算結(jié)果,對應(yīng)的是不同柵極的NMOS和PMOS的閾值電壓與襯底摻雜的關(guān)系。本征的多晶硅柵極相當于4.61eV的功函數(shù)。
精確控制集成電路中MOSFET的閾值電壓對電路的可靠性至關(guān)重要。通常情況下,閾值電壓是通過向溝道區(qū)的離子注入來調(diào)整的。例如,經(jīng)過表面氧化層的硼注入通常被用來調(diào)整n溝道MOSFET的閾值電壓(帶p型襯底)。通過增大溝道的摻雜濃度來提升閾值電壓。由于離子注入的能量和劑量是可以精確控制的,可以由此實現(xiàn)對閾值電壓的精確控制。同理,向p型溝道注入少量的硼可以減少VT。
我們還可以通過改變氧化物的厚度來控制VT。隨著氧化層厚度的增加,n溝道MOSFET的閾值電壓變得更正,p溝道MOSFET的閾值電壓變得更負。這是由于在一定的柵極電壓下,氧化物越厚,相應(yīng)的場強越小。這種方法被廣泛用于隔離在芯片上的晶體管。下圖顯示了隔離氧化層(也稱為場氧化層)在n+擴散區(qū)和n阱之間的橫截面。
圖:寄生的場區(qū)晶體管橫截面示意圖
引自S.M.Sze“SemiconductorDevicesPhysicsandTechnology”
n+擴散區(qū)是n型溝道區(qū)或者MOSFET的源區(qū)或漏區(qū)。MOSFET的柵極氧化物要比場氧化物薄得多。當電力線在場氧化層上形成時,就會產(chǎn)生一個寄生的MOSFET,也稱為“場區(qū)晶體管”,其n+擴散區(qū)和n阱區(qū)分別作為源極和漏極。
場區(qū)晶體管的VT通常比正常的薄柵氧化物的VT大一個數(shù)量級。在電路正常運行時,場效應(yīng)晶體管不會被打開。因此,場氧化層在n+擴散區(qū)和n孔區(qū)之間提供了良好的隔離。
襯底偏壓也可以用來調(diào)整閾值電壓。源極和襯底可能不在同一電位上。在器件正常工作時,源和襯底之間的p-n結(jié)必須是零或反向偏壓。如果VBS為零,襯底的表面電位為2ψB。當施加反向襯底-源極偏壓(VBS>0)時,溝道中的電子電勢則會拉高到高于源極的電勢的水平。溝道中的電子將被橫向推到源極。如果要保持在強反型條件下溝道中的電子密度保持不變,柵極電壓必須提高到2ψB+VBS。
審核編輯 :李倩
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原文標題:EDA探索丨第9期:控制閾值電壓
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