硬件的單元測試：DDR3測試

注意示波器的探頭和示波器本身的帶寬能夠滿足測試要求。

測試點(diǎn)的選擇要注意選到盡量靠近信號的接受端。由于 DDR 信令比較復(fù)雜，因此為了能快速測試、調(diào)試和解決信號上的問題，我們希望能簡單地分離讀/寫比特。

此時(shí)，最常用的是通過眼圖分析來幫助檢查 DDR 信號是否滿足電壓、定時(shí)和抖動(dòng)方面的要求。觸發(fā)模式的設(shè)置有幾種，首先可以利用前導(dǎo)寬度觸發(fā)器分離讀/寫信號。

根據(jù) JEDEC 規(guī)范，讀前導(dǎo)的寬度為 0.9 到 1.1 個(gè)時(shí)鐘周期，而寫前導(dǎo)的寬度規(guī)定為大于 0.35 個(gè)時(shí)鐘周期，沒有上限。第二種觸發(fā)方式是利用更大的信號幅度觸發(fā)方法分離讀/寫信號。通常，讀/寫信號的信號幅度是不同的，因此我們可以通過在更大的信號幅度上觸發(fā)示波器來實(shí)現(xiàn)兩者的分離。測試中要注意信號的幅度，時(shí)鐘的頻率，差分時(shí)鐘的交叉點(diǎn)，上升沿是否單調(diào)，過沖等。

1、DDR3SDRAM信號按功能分類

2、DDR3中的幾種采樣關(guān)系

地址控制信號ADDR/CMD與系統(tǒng)時(shí)鐘CK的時(shí)序關(guān)系

數(shù)據(jù)信號DQ/DM與數(shù)據(jù)選通信號DQS的時(shí)序關(guān)系

寫周期

讀周期

幾種時(shí)序關(guān)系，后續(xù)會(huì)做詳解

3、DDR時(shí)鐘信號（CK、DQS）測試：

時(shí)鐘信號過沖要求

寫方向

CK

DQS

讀方向