0
  • 聊天消息
  • 系統(tǒng)消息
  • 評(píng)論與回復(fù)
登錄后你可以
  • 下載海量資料
  • 學(xué)習(xí)在線課程
  • 觀看技術(shù)視頻
  • 寫文章/發(fā)帖/加入社區(qū)
會(huì)員中心
創(chuàng)作中心

完善資料讓更多小伙伴認(rèn)識(shí)你,還能領(lǐng)取20積分哦,立即完善>

3天內(nèi)不再提示

霍爾開關(guān)一致性標(biāo)準(zhǔn)評(píng)判

科之美霍爾 ? 來源:jf_01326265 ? 作者:jf_01326265 ? 2023-03-15 16:28 ? 次閱讀

怎樣判斷一個(gè)霍爾開關(guān)一致好與壞,在霍爾元件BOP觸發(fā)值不變的情況下,主要從以下幾個(gè)方面考慮:

1.電壓與BOP的關(guān)系

一個(gè)好的霍爾開關(guān),在差數(shù)范圍內(nèi),不同電壓值的時(shí)候,霍爾開關(guān)的BOP靈敏度應(yīng)該保持一致,不會(huì)因?yàn)殡妷鹤兓兓?/p>

2.工作溫度環(huán)境與BOP的關(guān)系

一個(gè)好的霍爾開關(guān),在工作溫度范圍內(nèi),都應(yīng)保持一樣的BOP靈敏度。

3.單顆芯片的BOP范圍值

一個(gè)好的霍爾開關(guān),BOP(S)和BOP(N)兩極感應(yīng)無限接近典型值,并且兩個(gè)極性的值相差不大,正常情況下正負(fù)3GS內(nèi)。

市面上一致性較好的例如安爾芯科技出品的全極微功耗霍爾開關(guān)AR127、AR160等等。

我們?cè)谶x型霍爾開關(guān)階段要注重產(chǎn)品的性能特點(diǎn),一個(gè)好的霍爾元件在整個(gè)電路中能發(fā)揮好的作用,一個(gè)一致性不好的霍爾開關(guān)會(huì)造成產(chǎn)品不良率上升。

審核編輯黃宇

聲明:本文內(nèi)容及配圖由入駐作者撰寫或者入駐合作網(wǎng)站授權(quán)轉(zhuǎn)載。文章觀點(diǎn)僅代表作者本人,不代表電子發(fā)燒友網(wǎng)立場(chǎng)。文章及其配圖僅供工程師學(xué)習(xí)之用,如有內(nèi)容侵權(quán)或者其他違規(guī)問題,請(qǐng)聯(lián)系本站處理。 舉報(bào)投訴
  • 電壓
    +關(guān)注

    關(guān)注

    45

    文章

    5542

    瀏覽量

    115506
  • 霍爾開關(guān)
    +關(guān)注

    關(guān)注

    2

    文章

    320

    瀏覽量

    23502
  • BOP
    BOP
    +關(guān)注

    關(guān)注

    0

    文章

    4

    瀏覽量

    1130
收藏 人收藏

    評(píng)論

    相關(guān)推薦

    一致性測(cè)試系統(tǒng)的技術(shù)原理和也應(yīng)用場(chǎng)景

    一致性測(cè)試系統(tǒng)是用來檢測(cè)零部件或系統(tǒng)實(shí)現(xiàn)是否符合相關(guān)標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范的測(cè)試流程,其技術(shù)原理和應(yīng)用場(chǎng)景具體如下:技術(shù)原理 基本框架:協(xié)議一致性測(cè)試的理論已經(jīng)相對(duì)成熟,主要代表是ISO制定的國際標(biāo)準(zhǔn)
    發(fā)表于 11-01 15:35

    異構(gòu)計(jì)算下緩存一致性的重要

    在眾多回復(fù)中,李博杰同學(xué)的回答被認(rèn)為質(zhì)量最高。他首先將緩存一致性分為兩個(gè)主要場(chǎng)景:是主機(jī)內(nèi)CPU與設(shè)備間的一致性;二是跨主機(jī)的一致性。
    的頭像 發(fā)表于 10-24 17:00 ?239次閱讀
    異構(gòu)計(jì)算下緩存<b class='flag-5'>一致性</b>的重要<b class='flag-5'>性</b>

    LMK05318的ITU-T G.8262一致性測(cè)試結(jié)果

    電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《LMK05318的ITU-T G.8262一致性測(cè)試結(jié)果.pdf》資料免費(fèi)下載
    發(fā)表于 09-20 11:21 ?0次下載
    LMK05318的ITU-T G.8262<b class='flag-5'>一致性</b>測(cè)試結(jié)果

    級(jí)聯(lián)一致性和移相器校準(zhǔn)應(yīng)用手冊(cè)

    電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《級(jí)聯(lián)一致性和移相器校準(zhǔn)應(yīng)用手冊(cè).pdf》資料免費(fèi)下載
    發(fā)表于 08-29 10:48 ?0次下載
    級(jí)聯(lián)<b class='flag-5'>一致性</b>和移相器校準(zhǔn)應(yīng)用手冊(cè)

    電感值和直流電阻的一致性如何提高?

    提高電感值和直流電阻的一致性,可以從以下幾個(gè)方面入手: 、提高電感值的一致性 優(yōu)化磁芯選擇 : 磁芯是電感器的關(guān)鍵組成部分,其材料特性和尺寸直接影響電感值。選擇具有高磁導(dǎo)率、低磁阻和穩(wěn)定性能的材料
    的頭像 發(fā)表于 08-19 15:27 ?239次閱讀

    LIN一致性測(cè)試規(guī)范2.1

    電子發(fā)燒友網(wǎng)站提供《LIN一致性測(cè)試規(guī)范2.1.pdf》資料免費(fèi)下載
    發(fā)表于 08-15 17:14 ?3次下載

    新品發(fā)布 | 同星智能正式推出CAN總線一致性測(cè)試系統(tǒng)

    CAN總線一致性測(cè)試系統(tǒng)CANFD/CAN總線一致性測(cè)試系統(tǒng),在硬件系統(tǒng)上基于同星自主研發(fā)的總線分析工具,干擾儀,一致性測(cè)試機(jī)箱,并搭配程控電源,示波器,數(shù)字萬用表等標(biāo)準(zhǔn)外圍儀器設(shè)備;
    的頭像 發(fā)表于 07-06 08:21 ?446次閱讀
    新品發(fā)布 | 同星智能正式推出CAN總線<b class='flag-5'>一致性</b>測(cè)試系統(tǒng)

    銅線鍵合焊接一致性:如何突破技術(shù)瓶頸?

    在微電子封裝領(lǐng)域,銅線鍵合技術(shù)以其低成本、高效率和良好的電氣性能等優(yōu)勢(shì),逐漸成為芯片與基板連接的主流方式。然而,銅線鍵合過程中的焊接一致性問題是制約其進(jìn)步發(fā)展和應(yīng)用的關(guān)鍵難題。焊接一致性不僅
    的頭像 發(fā)表于 07-04 10:12 ?1620次閱讀
    銅線鍵合焊接<b class='flag-5'>一致性</b>:如何突破技術(shù)瓶頸?

    為什么主機(jī)廠愈來愈重視CAN一致性測(cè)試?

    新能源汽車迅猛發(fā)展下整車CAN網(wǎng)絡(luò)架構(gòu)日益復(fù)雜,總線故障等潛在問題時(shí)刻影響著運(yùn)行安全。整車零部件通過CAN一致性測(cè)試必將是安全保障的第道門檻。CAN一致性測(cè)試,就是要求整車CAN網(wǎng)絡(luò)中的節(jié)點(diǎn)都滿足
    的頭像 發(fā)表于 05-29 08:24 ?1073次閱讀
    為什么主機(jī)廠愈來愈重視CAN<b class='flag-5'>一致性</b>測(cè)試?

    鋰電池組裝及維修的關(guān)鍵:電芯一致性的重要

    鋰電池組裝及維修過程中,電芯一致性個(gè)至關(guān)重要的概念。電芯一致性指的是在同電池組中,各個(gè)電芯在性能參數(shù)上的接近程度。這些性能參數(shù)包括電壓、容量、內(nèi)阻、自放電率等。電芯
    的頭像 發(fā)表于 04-15 10:57 ?920次閱讀
    鋰電池組裝及維修的關(guān)鍵:電芯<b class='flag-5'>一致性</b>的重要<b class='flag-5'>性</b>

     QSFP一致性測(cè)試的專業(yè)測(cè)試設(shè)備

    、高速度的光纖接口模塊,廣泛應(yīng)用于數(shù)據(jù)中心、高速以太網(wǎng)和光纖通信等領(lǐng)域。本文將詳細(xì)探討QSFP一致性測(cè)試的目的、測(cè)試內(nèi)容、測(cè)試方法以及測(cè)試的重要等方面。 QSFP一致性測(cè)試的目的是確保光模塊的性能符合相關(guān)
    的頭像 發(fā)表于 03-14 10:40 ?516次閱讀
     QSFP<b class='flag-5'>一致性</b>測(cè)試的專業(yè)測(cè)試設(shè)備

    銅線鍵合焊接一致性:微電子封裝的新挑戰(zhàn)

    在微電子封裝領(lǐng)域,銅線鍵合技術(shù)以其低成本、高效率和良好的電氣性能等優(yōu)勢(shì),逐漸成為芯片與基板連接的主流方式。然而,銅線鍵合過程中的焊接一致性問題是制約其進(jìn)步發(fā)展和應(yīng)用的關(guān)鍵難題。焊接一致性不僅
    的頭像 發(fā)表于 03-13 10:10 ?1246次閱讀
    銅線鍵合焊接<b class='flag-5'>一致性</b>:微電子封裝的新挑戰(zhàn)

    企業(yè)數(shù)據(jù)備份體系化方法論的七大原則:深入理解數(shù)據(jù)備份的關(guān)鍵原則:應(yīng)用一致性與崩潰一致性的區(qū)別

    在數(shù)字化時(shí)代,數(shù)據(jù)備份成為了企業(yè)信息安全的核心環(huán)節(jié)。但在備份過程中,兩個(gè)關(guān)鍵概念——應(yīng)用一致性和崩潰一致性,常常被誤解或混淆。本文旨在闡明這兩個(gè)概念的差異,并分析它們?cè)跀?shù)據(jù)備份中的重要,以便讀者
    的頭像 發(fā)表于 03-11 14:05 ?410次閱讀
    企業(yè)數(shù)據(jù)備份體系化方法論的七大原則:深入理解數(shù)據(jù)備份的關(guān)鍵原則:應(yīng)用<b class='flag-5'>一致性</b>與崩潰<b class='flag-5'>一致性</b>的區(qū)別

    深入理解數(shù)據(jù)備份的關(guān)鍵原則:應(yīng)用一致性與崩潰一致性的區(qū)別

    深入理解數(shù)據(jù)備份的關(guān)鍵原則:應(yīng)用一致性與崩潰一致性的區(qū)別 在數(shù)字化時(shí)代,數(shù)據(jù)備份成為了企業(yè)信息安全的核心環(huán)節(jié)。但在備份過程中,兩個(gè)關(guān)鍵概念——應(yīng)用一致性和崩潰一致性,常常被誤解或混淆。
    的頭像 發(fā)表于 03-11 11:29 ?816次閱讀
    深入理解數(shù)據(jù)備份的關(guān)鍵原則:應(yīng)用<b class='flag-5'>一致性</b>與崩潰<b class='flag-5'>一致性</b>的區(qū)別

    DDR一致性測(cè)試的操作步驟

    DDR一致性測(cè)試的操作步驟? DDR(雙數(shù)據(jù)率)一致性測(cè)試是對(duì)DDR內(nèi)存模塊進(jìn)行測(cè)試以確保其性能和可靠。在進(jìn)行DDR一致性測(cè)試時(shí),需要遵循
    的頭像 發(fā)表于 02-01 16:24 ?1309次閱讀