基于Verilog的開關(guān)級建模

開關(guān)級建模是比門級建模更為低級抽象層次上的設(shè)計。 在極少數(shù)情況下，設(shè)計者可能會選擇使用晶體管作為設(shè)計的底層模塊。 隨著電路設(shè)計復(fù)雜度及相關(guān)先進(jìn)工具的出現(xiàn)，以開關(guān)為基礎(chǔ)的數(shù)字設(shè)計慢慢步入黃昏。 目前，Verilog 僅僅提供了用邏輯值 0、1、x、z 作為相關(guān)驅(qū)動強(qiáng)度的數(shù)字設(shè)計能力，因此，Verilog 中晶體管也僅被當(dāng)做導(dǎo)通或截止的開關(guān)。

MOS 開關(guān)

MOS 開關(guān)有 2 種，用如下關(guān)鍵字聲明：

nmos（N 類型 MOS 管） pmos（P 類型 MOS 管）

rnmos （帶有高阻抗的 NMOS 管） rpmos（帶有高阻抗的 PMOS 管）

MOS 管用來為開關(guān)邏輯建模，數(shù)據(jù)從輸入流入輸出，可通過適當(dāng)設(shè)置來開、關(guān)數(shù)據(jù)流。

帶有阻抗的 MOS 管，源極到漏極的阻抗較高，且在傳遞信號時會減小信號的強(qiáng)度。

MOS 管開關(guān)結(jié)構(gòu)圖如下所示。

例化時，MOS 管第一個端口為輸出端，第二個端口為數(shù)據(jù)輸入端，第三個端口為控制輸入端。

//tri
   pmos pmos1           (OUTX, IN1, CTRL1) ;
   //no instantiation name
   nmos                 (OUTX1, IN1, CTRL2) ;

MOS 管真值表如下所示，與三態(tài)門非常相似。

CMOS 開關(guān)

CMOS 開關(guān)用關(guān)鍵字 cmos 和 rcmos （帶有高阻抗）聲明。

CMOS 有一個數(shù)據(jù)輸出，一個數(shù)據(jù)輸入和 2 個控制輸入，結(jié)構(gòu)示意圖如下：

信號 PControl 與 Ncontrol 通常是互補的。 當(dāng)信號 Ncontrol 為 1 且 PControl 為 0 時，開關(guān)導(dǎo)通。 當(dāng)信號 Ncontrol 為 0 且 PControl 為 1 時，開關(guān)輸出為高阻。 可以將 CMOS 開關(guān)看做是 NMOS 與 PMOS 開關(guān)的組合體。

例化時，CMOS 管第一個端口為輸出端，第二個端口為數(shù)據(jù)輸入端，第三個端口為 Ncontrol 控制輸入端，第四個端口為 Pcontrol 控制輸入端。

CMOS 開關(guān)例化格式如下。

//coms
   cmos c1              (OUTY, IN1, NCTRL, PCTRL) ;
   //no instantiation name
   cmos                 (OUTY1, IN1, NCTRL, PCTRL) ;

既然 CMOS 可以看做是 NMOS 與 PMOS 開關(guān)的組合體，所以還可以用這兩種 MOS 開關(guān)去搭建 CMOS 開關(guān)，如下：

//the same 2-way instantiation of cmos
   nmos n2              (OUTY, IN1, NCTRL) ;
   pmos p2              (OUTY, IN1, PCTRL) ;

CMOS 真值表與 MOS 開關(guān)類似，注意 Ncontrol 與 Pcontrol 信號的互補性。

雙向開關(guān)

NMOS、PMOS、CMOS 開關(guān)門都是從漏極向源極導(dǎo)通，方向是單向的。 Verilog 中還提供了雙向?qū)ǖ拈_關(guān)器件，數(shù)據(jù)可以雙向流動，兩邊的信號都可以是驅(qū)動信號。

雙向開關(guān)及其阻抗模式的關(guān)鍵字聲明如下：

Tran tranif1 tranif0 rtran rtranif1 rtranif0

雙向開關(guān)結(jié)構(gòu)圖如下：

tran 開關(guān)為兩個信號直接的緩存，inout1 或 inout2 均可以是驅(qū)動信號。

tranif1 僅當(dāng) control 信號為 1 時，開關(guān)兩邊的信號導(dǎo)通。 當(dāng) control 為 0 時，兩個信號斷開，有驅(qū)動源的信號會和驅(qū)動源保持一致的信號值，沒有驅(qū)動源的信號則呈現(xiàn)為高阻狀態(tài)。

tranif0 同理。

因此，雙向開關(guān)常用來進(jìn)行總線或信號之間的隔離。

例化時，雙向開關(guān)前兩個端口為數(shù)據(jù)端，第三個端口為 control 控制輸入端。

雙向開關(guān)例化舉例如下：

tranif0 tr0              (inout1, inout2, control) ;
   //no instantiation name
   tranif1                  (inout1, inout2, control) ;

電源和地

晶體管級電路需要源極（Vdd， 邏輯 1）與地極（Vss, 邏輯 0），分別用關(guān)鍵字

supply1 和 supply0 來定義。用法如下：
   supply1              VDD ;
   supply0              GND ;
   wire                 siga = VDD ; //siga is connected to logic 1
   wire                 sigb = GND ; //sign is connected to logic 0

PAD 模型仿真

在《Verilog 教程》的《5.1 Verilog 模塊與端口》一節(jié)中，涉及過 PAD 模型的編寫與仿真。 下面，利用三態(tài)門對 PAD 模型進(jìn)行重塑，上下拉功能固定，并利用雙向開關(guān)對 PAD 連接性進(jìn)行測試。

利用三態(tài)門編寫的帶有 pullup 功能的 pad 模型如下，pulldown 功能的 pad 模型切換下注釋即可。

module PADUP(
   //DIN, pad driver when pad configured as output
   //OEN, pad direction(1-input, o-output)
   input        DIN, OEN ,
   inout        PAD ,
   //pad load when pad configured as input
   output       DOUT
  );
   //input:(not effect pad external input logic), output: DIN->PAD
   bufif0 (PAD, DIN, OEN) ;     //0-output
   bufif1 (DOUT, PAD, OEN) ;    //1-input
   pullup (PAD);
   //pulldown (PAD);   //pulldown
endmodule

利用雙向開關(guān)控制 PAD IO 連接性的 testbench 編寫如下。

測試流程為 PAD0/1 互連，然后 PAD0 作為輸出，PAD1 作為輸入，驅(qū)動 PAD0, 讀取 PAD1 的值。 然后兩者方向各自取反，驅(qū)動 PAD1 讀取 PAD0 的值。

PAD2/3 測試過程完全一樣。

`timescale 1ns/1ns
module test ;
   parameter    PULL_UP         = 1 ;
   parameter    PULL_DOWN       = 0 ;
   parameter    IO0_OUT         = 0 ;
   parameter    IO1_OUT         = 1 ;
   parameter    IO2_OUT         = 2 ;
   parameter    IO3_OUT         = 3 ;
   parameter    IO0_IN          = 0 ;
   parameter    IO1_IN          = 1 ;
   parameter    IO2_IN          = 2 ;
   parameter    IO3_IN          = 3 ;


   reg [3:0]    DIN, OEN ;
   wire [3:0]   DOUT ;
   wire [3:0]   PAD ;


   //test connection control, using tranif1
   reg [1:0]    con_ena ;
   tranif1 (PAD[0], PAD[1], con_ena[0]);
   tranif1 (PAD[2], PAD[3], con_ena[1]);


   reg err = 0;
   task test_io_conn;
      //test pull
      input             pull_type ;
      //test conn
      input [1:0]       xout ;     //output postion
      input [1:0]       yin ;     //output postion


      DIN[xout]         = ~pull_type ;
      # 20 ;
      if (DOUT[yin] != ~pull_type) begin
         $display("write value and get value is: %h, %h", ~pull_type, DOUT[yin]);
         err        |= 1 ;
      end


      DIN[xout]         = pull_type;
      # 20 ;
      if (DOUT[yin] != pull_type) begin
         $display("write value and get value is: %h, %h", pull_type, DOUT[yin]);
         err        |= 1 ;
      end
   endtask


   initial begin
      con_ena   = 2'b01 ;
      OEN       = 4'b1111 ;
      #13 ;
      //test between io0/io1
      OEN[0]    = 0 ;
      OEN[1]    = 1 ; //gpio0 -> gpio1
      test_io_conn(PULL_UP, IO0_OUT, IO1_IN);
      OEN[1]    = 0 ;
      OEN[0]    = 1 ; //gpio0 -> gpio1
      test_io_conn(PULL_UP, IO1_OUT, IO0_IN);
      OEN       = 4'b1111 ;
      con_ena   = 2'b10 ;
      OEN[2]    = 1'b0 ;
      OEN[3]    = 1'b1 ;
      test_io_conn(PULL_DOWN, IO2_OUT, IO3_IN);
      OEN[3]    = 1'b0 ;
      OEN[2]    = 1'b1 ;
      test_io_conn(PULL_DOWN, IO3_OUT, IO2_IN);
   end


   PADUP        u_pad_up0( DIN[0], OEN[0], PAD[0], DOUT[0]) ;
   PADUP        u_pad_up1( DIN[1], OEN[1], PAD[1], DOUT[1]) ;
   PADDOWN      u_pad_down3( DIN[2], OEN[2], PAD[2], DOUT[2]) ;
   PADDOWN      u_pad_down4( DIN[3], OEN[3], PAD[3], DOUT[3]) ;


   initial begin
      forever begin
         #100;
         //$display("---gyc---%d", $time);
         if ($time >= 1000) begin
            $finish ;
         end
      end
   end


endmodule

仿真結(jié)果如下。

由圖可知，13ns 之內(nèi)，4 個 PAD 均為輸入時，PAD 值均與 pull 功能對應(yīng)，即 PAD0-1 均有上拉功能，PAD2-3 均有下拉功能。

13-53ns 之內(nèi)，PAD0 作為輸出，PAD1 作為輸入，并且相連，兩者的邏輯值變化一致。 同理，53ns-93ns 之內(nèi)，PAD1 作為輸出，PAD0 作為輸入， 相連狀態(tài)下兩者邏輯值也是一致的。 這說明 PAD0/1 的輸入輸出功能都是正常的。

PAD2/3 結(jié)果也類似，這里不再做說明。