“聯(lián)合甄選，專(zhuān)注科學(xué)”系列 新品分享—磁光克爾綜合測(cè)試平臺(tái)

自旋電子學(xué)經(jīng)過(guò)數(shù)十年的發(fā)展，在許多領(lǐng)域都有了卓著的表現(xiàn)。從傳感器，到非易失性磁存儲(chǔ)，再到新材料的特性研究，自旋電子學(xué)不僅是當(dāng)前科學(xué)研究的熱點(diǎn)，也被工業(yè)界廣泛重視。磁疇的直接觀測(cè)與記錄，對(duì)于材料的研究有著重要的意義；對(duì)磁疇運(yùn)動(dòng)過(guò)程的剖析，不僅直觀的展現(xiàn)了磁性翻轉(zhuǎn)，而且有助于分析物理過(guò)程的機(jī)理。

相較于傳統(tǒng)的單點(diǎn)磁滯回線測(cè)量?jī)x，磁光克爾綜合測(cè)試平臺(tái)，可以追蹤平面內(nèi)數(shù)百萬(wàn)點(diǎn)的實(shí)時(shí)磁性動(dòng)態(tài)信息。結(jié)合該測(cè)試平臺(tái)提供的直流探針，高頻探針，樣品的測(cè)試無(wú)比便捷。當(dāng)下自旋電子學(xué)或磁學(xué)的研究，已經(jīng)由磁性驅(qū)動(dòng)的翻轉(zhuǎn)，發(fā)展到了直流電流驅(qū)動(dòng)、脈沖電流驅(qū)動(dòng)、微波脈沖驅(qū)動(dòng)、光驅(qū)動(dòng)等一系列的激勵(lì)源作用下的深度研究。

產(chǎn)品型號(hào): TTT-02-Kerr Microscope

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

? 高質(zhì)量磁疇成像

? 多激勵(lì)源/多功能測(cè)試平臺(tái)

? 高穩(wěn)定性，操作便捷

托托科技提供的標(biāo)準(zhǔn)系統(tǒng)按照性能優(yōu)先，穩(wěn)定性?xún)?yōu)先的設(shè)計(jì)思路，可以滿足實(shí)驗(yàn)室研究及工業(yè)生產(chǎn)中各種相關(guān)材料的測(cè)試需求。標(biāo)準(zhǔn)設(shè)備中提供了磁場(chǎng)激勵(lì)、電流激勵(lì)等多種選項(xiàng)，是客戶(hù)在自旋特性研究中的得力測(cè)試平臺(tái)。

系統(tǒng)的典型測(cè)試結(jié)果

更多的選項(xiàng)可以根據(jù)客戶(hù)需求選擇升級(jí)。

系統(tǒng)升級(jí)模塊：

（基本型）：

1）低溫系統(tǒng)；

2）集成激光激勵(lì)；

3）ST-FMR；

4）面內(nèi)任意角度矢量電磁鐵。

（高級(jí)型）：

1）矢量成像；

2）低溫+真空+腔內(nèi)探針。

應(yīng)用實(shí)例：

01、垂直磁各向異性薄膜顯微磁疇測(cè)量

（鐵磁性、亞鐵磁性薄膜磁疇翻轉(zhuǎn)）

(a)為樣品Ta(4nm)/CoFeB (0.7nm)/MgO(2nm)/Ta(2nm)在磁場(chǎng)的驅(qū)動(dòng)實(shí)現(xiàn)磁疇運(yùn)動(dòng)和翻轉(zhuǎn)，樹(shù)枝狀磁疇，磁矩“1”和“0”信息狀態(tài)清晰可見(jiàn)。彩色環(huán)帶表示磁疇壁，白色小箭頭表示的是奈爾疇壁中磁矩方向，表示磁疇運(yùn)動(dòng)方向。

(b)為樣品 CoTb(6nm)/SiN(4nm)在零磁場(chǎng)附近出現(xiàn)迷宮疇以及孤立斯格明子磁泡結(jié)構(gòu) (Skyrmions Bubble)，圖中單個(gè)穩(wěn)定的Skyrmions Bubble的尺寸為1μm。為研究基于SK-RM賽道存儲(chǔ)器提供光學(xué)無(wú)損傷探測(cè)支持。

02、面內(nèi)磁各向異性薄膜顯微磁疇測(cè)量

(a)面內(nèi)磁各向異性樣品，縱向-磁光克爾測(cè)試裝置示意圖。

(b)為樣品Pt(4nm)/Co (5nm)/Ta(2nm)在磁場(chǎng)的驅(qū)動(dòng)實(shí)現(xiàn)磁疇運(yùn)動(dòng)和翻轉(zhuǎn)，磁矩“1”和“0” 信息狀態(tài)清晰可見(jiàn)。

(c)為樣品的磁滯回線，縱坐標(biāo)為歸一化的磁光克爾信號(hào)，橫坐標(biāo)為面內(nèi)掃描磁場(chǎng)。

03、電流驅(qū)動(dòng)的磁性翻轉(zhuǎn)

(a) FePt(10nm)樣品電輸運(yùn)表征與磁光克爾實(shí)現(xiàn)同步測(cè)試裝置示意圖。

(b)和(c)電流驅(qū)動(dòng)磁矩翻轉(zhuǎn)和磁疇運(yùn)動(dòng)。沿FePt薄膜生長(zhǎng)方向出現(xiàn)分層，呈現(xiàn)階段式翻轉(zhuǎn)，如同神經(jīng)突觸收到多個(gè)閾值信息產(chǎn)生信息傳遞。

施加不同方向輔助場(chǎng)Hx，樣品磁疇翻轉(zhuǎn)極性發(fā)生轉(zhuǎn)變，如上圖(b)所示。

磁疇成像輔助測(cè)量，有助于實(shí)現(xiàn)多角度解釋電輸運(yùn)信號(hào)中的反常信號(hào)，以及閾值電流下的磁疇取向與狀態(tài)。

閃光科技與托托科技簽署國(guó)內(nèi)授權(quán)代理協(xié)議，雙方在技術(shù)、產(chǎn)品、市場(chǎng)、銷(xiāo)售渠道、服務(wù)等多方面通力合作，優(yōu)勢(shì)互補(bǔ)，逐步形成更深入的戰(zhàn)略合作關(guān)系，進(jìn)一步為國(guó)內(nèi)客戶(hù)提供更為優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。

“聯(lián)合甄選，專(zhuān)注科學(xué)”系列是由東方閃光傾力打造的材料科學(xué)儀器專(zhuān)欄。旨在聯(lián)合業(yè)內(nèi)資深同道，以技術(shù)高適用為目標(biāo)，以整體解決方案為方向，打通國(guó)內(nèi)外頂尖技術(shù)及產(chǎn)品資源共享，對(duì)標(biāo)國(guó)際高度，助力中國(guó)科學(xué)研究。材料科學(xué)領(lǐng)域是東方閃光的關(guān)鍵布局。未來(lái)，我們將通過(guò)“聯(lián)合甄選，專(zhuān)注科學(xué)”系列專(zhuān)欄相繼發(fā)布材料科學(xué)相關(guān)新品介紹。歡迎新老客戶(hù)點(diǎn)贊關(guān)注，聯(lián)系選購(gòu)~

審核編輯黃宇