淺析驗(yàn)證的激勵(lì)生成流程

在定向測(cè)試用例中，我們就是在不同的時(shí)刻將“0”或者“1”驅(qū)動(dòng)到接口總線上。如果我們希望提高這個(gè)總線操作的順序，會(huì)將相同的操作序列封裝成task（bfm model）。

在現(xiàn)代驗(yàn)證環(huán)境中，激勵(lì)的生成要復(fù)雜得多，我們需要創(chuàng)建更真實(shí)的芯片外界環(huán)境。激勵(lì)生成的語(yǔ)言要更加抽象，我們需要

隨機(jī)某些字段

隨機(jī)某個(gè)數(shù)據(jù)驅(qū)動(dòng)到接口的次數(shù)

在輸入數(shù)據(jù)流中注入錯(cuò)誤

按照一定順序運(yùn)行各種操作，同時(shí)并發(fā)運(yùn)行其他操作

每一顆都會(huì)有相對(duì)固定的流程，所以激勵(lì)流程必須遵守這個(gè)流程才讓讓芯片正常work。但是這個(gè)事情并不簡(jiǎn)單，當(dāng)我們和設(shè)計(jì)溝通、當(dāng)你讀規(guī)格或者使用手冊(cè)時(shí)會(huì)發(fā)現(xiàn)這個(gè)流程的驗(yàn)證空間的復(fù)雜度非常爆炸。

問(wèn)題越來(lái)越多，再怎么厲害的大腦也覺(jué)得復(fù)雜度不受控。

太多的選擇，太多的如果

事實(shí)上，“芯片的一天”也不是完全失控，其中會(huì)存在很多個(gè)基本的流程，復(fù)雜的事情都是在這個(gè)基本的流程下組合而來(lái)的。例如，芯片可能在復(fù)位后加載指令、執(zhí)行任務(wù)、等待中斷等等。

團(tuán)隊(duì)中的每個(gè)工程師（設(shè)計(jì)和驗(yàn)證）都應(yīng)該知道這個(gè)基本流程。對(duì)于驗(yàn)證來(lái)說(shuō)，應(yīng)該先從基本的流程開(kāi)始測(cè)試，然后擴(kuò)展到各種復(fù)雜的場(chǎng)景隨機(jī)用例。

審核編輯：劉清